試験システム
【課題】ハードウエアの知識がなくても、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することを、容易に行うことができることのできる試験システムを提供する。
【解決手段】複数の測定器と、複数の測定器と複数の被試験器との間の接続状態を切り換える複数のリレーと、複数のリレーを制御する制御装置とを備え、複数の測定器を用いて複数の被試験器に対して試験を行う試験システムを、制御装置が、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとするリレー設定状態を記憶するリレー設定状態記憶部と、使用する測定器と被試験器を前記パラメータを用いて指定する試験プログラムを動作させる制御部とを備え、制御部が、試験プログラム中の前記パラメータを読み取るパラメータ読取部と、該パラメータ読取部で読み取ったパラメータに基づき複数のリレーの接続状態を設定するリレー設定部を備えるよう構成する。
【解決手段】複数の測定器と、複数の測定器と複数の被試験器との間の接続状態を切り換える複数のリレーと、複数のリレーを制御する制御装置とを備え、複数の測定器を用いて複数の被試験器に対して試験を行う試験システムを、制御装置が、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとするリレー設定状態を記憶するリレー設定状態記憶部と、使用する測定器と被試験器を前記パラメータを用いて指定する試験プログラムを動作させる制御部とを備え、制御部が、試験プログラム中の前記パラメータを読み取るパラメータ読取部と、該パラメータ読取部で読み取ったパラメータに基づき複数のリレーの接続状態を設定するリレー設定部を備えるよう構成する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験器に対し測定器を接続して測定や試験を行うための試験システムに関し、特に、複数の測定器と複数の被試験器との間を、リレー等の切換器により接続する試験システムにおいて、測定器と被試験器との間の接続切換を容易にすることのできる試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
所定の試験手順に従って測定器等の動作を制御し、試験対象である被試験器からの出力信号を測定する試験システムが知られている（例えば特許文献１参照）。この試験システムでは、試験システムの制御部が、各測定器の構成配置図を有しており、該構成配置図に基づいて、各測定器に関する表示や各被試験器の測定結果に関する表示を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２９２７２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記の従来の試験システムにおいては、制御部の保存する各測定器の構成配置図は固定されており、かつ、各測定器と制御部との接続関係も固定されていた。そして、制御部のソフトウエアにより、例えば図４に示すように、測定器と被試験器との間をリレーにより接続する場合は、被試験器の試験項目毎に、図５に示すようなリレー設定表を作成し、このリレー設定表に基づき、試験プログラムのソフトウエアを作成し、該試験プログラムによりリレーのＯＮ／ＯＦＦ制御を行っていた。
【０００５】
図４は、測定器と被試験器との間のリレーの接続例を示す図である。図４において、１１（１）、１１（２）は測定器であり、１３（１）、１３（２）は、それぞれ切換器であるリレーユニット１、リレーユニット２である。１２は、被試験器であり、テスト中の被試験器（ＤＵＴ：Device under test）である。リレーユニット１は、内部に、リレー１１、リレー１２、リレー１３を備える。リレーユニット２は、内部に、リレー２１、リレー２２、リレー２３を備える。
【０００６】
図５は、従来例に係るリレー設定表の構成例を示す図である。図５においては、被試験器の試験項目毎に、リレーが設定されている。例えば、試験項目１の場合は、リレーユニット１のリレー１１をＯＮ、リレー１２をＯＦＦ、リレー１３をＯＮし、リレーユニット２のリレー２１をＯＮ、リレー２２をＯＦＦ、リレー２３をＯＮすることにより、測定器１１（１）の端子と、被試験器１２のＤＵＴ１の端子Ａを接続する。図５において、（Ａ００１）〜（Ｂ００３）は、それぞれ、リレー１１〜リレー２３を表すパラメータであり、このパラメータは、試験プログラム中で用いられるものである。例えば、上述した試験項目１の場合は、「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ ＯＮ Ａ００１／Ａ００３／Ｂ００１／Ｂ００３」のように、試験プログラム中に記述される。制御部は、このパラメータ記述を解読して、図４のようにリレー接続状態を設定するようにしている。
【０００７】
そのため、試験システムの構成を再構築して、測定器と被試験器との間の接続状態を変更する場合は、リレー設定表と制御ソフトウエアを修正しなければならず、その際は、どのリレーを接続すべきか回路図から追っていくことになる。したがって、ハードウエアの知識が必要となり、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することが容易でないという課題があった。
本発明の目的は、上記の課題を解決し、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することが容易にできる試験システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するための、本願発明の試験システムの代表的な構成は、次のとおりである。すなわち、
複数の測定器と、複数の測定器と複数の被試験器との間の接続状態を切り換える複数のリレーと、複数の測定器と前記複数のリレーを制御する制御装置とを備え、複数の測定器を用いて複数の被試験器に対して試験を行う試験システムであって、
前記制御装置は、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとするリレー設定状態を記憶するリレー設定状態記憶部と、使用する測定器と被試験器を前記パラメータを用いて指定する試験プログラムを動作させる制御部とを備え、
前記制御部は、前記試験プログラム中の前記パラメータを読み取るパラメータ読取部と、該パラメータ読取部で読み取ったパラメータに基づきリレーの接続状態を設定するリレー設定部を備えることを特徴とする試験システム。
【発明の効果】
【０００９】
このような構成によれば、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することを、容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明に係る試験システムの構成例を示す図である。
【図２】本発明に係る制御装置の機能ブロックの構成例を示す図である。
【図３】本発明に係るリレー設定状態記憶部の構成例を示す図である。
【図４】測定器と被試験器との間のリレーの接続例を示す図である。
【図５】従来例に係るリレー設定表の構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明に係る試験システムの実施例について、図面を参照して説明する。図１は、本発明に係る試験システムの構成例を示す図である。図１の例では、試験システムは、制御装置１０、複数の測定器１１、試験対象である電子機器等の複数の被試験器１２、被試験器１２に接続する測定器１１を、複数の測定器１１の中から選択して切り換えるための切換器１３を備えている。切換器１３は、複数のリレーにより、複数の測定器１１と複数の被試験器１２との間の測定経路の切換を行うものである。
複数の測定器１１（１）〜（ｎ）には、特定の被試験器専用の専用試験器や、信号発生器やスペクトルアナライザ等の汎用測定器が含まれる。
【００１２】
制御装置１０と測定器１１との間、制御装置１０と切換器１３との間、切換器１３と被試験器１２との間は、ＬＡＮ（Local Erea Netowork）、あるいはＧＰ―ＩＢ（General Purpose Interface Bus）によりケーブル接続され、制御信号を通信可能としている。本例では、制御装置１０は、無線機等の被試験器１２に対し、試験信号を出力して、予め決められた測定項目について自動的に試験を行い、試験で得た測定値に基づいて被試験器１２の動作が正常であるか否かを判定し、その判定結果を、被試験器１２の実際の配置位置に対応させて表示する。測定器１１や被試験器１２は、例えば、ラック等の収容架に多段に配置されている。
【００１３】
本実施例における制御装置１０の機能ブロック図を図２に示す。図２は、本発明に係る制御装置１０の機能ブロックの構成例を示す図である。制御装置１０は、本実施例においては、試験システム全体の制御、測定結果の良否判定、切換器１３の切り換え状態の制御等を行う制御部（コンピュータ）２０と、測定器１１の配置位置等を表示する表示手段としての表示部１８と、キーボードやマウスなどの操作部１７と、後述する記憶部３０などを備えている。
【００１４】
制御部２０は、本実施例においては、ＣＰＵ（Central ProcessingUnit）とメモリをハードウェア構成として備えている。このメモリには、被試験器１２の試験手順が記述された試験プログラムや、測定器１１や被試験器１２のそれぞれを表す画像を測定器１１や被試験器１２の実際の配置位置に対応させて表示させる表示動作の処理手順が記述された配置位置表示プログラムなどが記憶されている。
メモリに記憶された各プログラムは、ＣＰＵに読み込まれて実行される。なお、各プログラムは、後述する記憶部３０に記憶するようにしてもよい。表示部１８には、ＣＰＵで実行されるプログラム処理に応じ、測定項目や測定結果などの情報が表示される。操作部１７は、操作者による各種の指示入力を受け付けるものであり、タッチパネルのように表示部１８と一体に構成してもよい。
【００１５】
図２に示すように、制御装置１０の記憶部３０は、切換器１３の設定状態、例えば、リレー設定状態を、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとして記憶する、リレー設定状態記憶部３１を備える。リレー設定状態記憶部３１の一例を、図３に示す。
図３は、図４のように測定器と被試験器との間のリレー接続を行った場合の、リレー状態記憶部３１の構成例を示す図である。図４は、前述したとおり、測定器と被試験器との間のリレーの接続例を示す図であり、１１（１）、１１（２）は測定器であり、１３（１）、１３（２）はリレーユニット１、リレーユニット２であり、１２は被試験器、例えば、テスト中の被試験器（ＤＵＴ：Device under test）である。
【００１６】
図３においては、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとして、リレーの接続状態が設定されている。図３において、（ＤＵＴ１ Ａ）は、被試験器１２の接続端子Ａを表すパラメータであり、（ＤＵＴ１ Ｂ）は、被試験器１２の接続端子Ｂを表すパラメータである。また、（ＯＳＣ ＣＨ１）は、測定器１１（１）であるオシロスコープの第1チャネルの接続端子を表すパラメータであり、（ＡＤＡ ＩＮ）は、測定器１１（２）であるオーディオアナライザの入力接続端子を表すパラメータである。
例えば、被試験器１２の接続端子Ａ（パラメータ：ＤＵＴ１ Ａ）と、オシロスコープの第1チャネルの接続端子（パラメータ：ＯＳＣ ＣＨ１）とをリレーで接続する場合は、図３の左上欄に示すように、リレーユニット１のリレー１１をＯＮ、リレー１２をＯＦＦ、リレー１３をＯＮとし、リレーユニット２のリレー２１をＯＮ、リレー２２をＯＦＦ、リレー２３をＯＮとするよう、リレーを設定する。図３においては、ＯＮとするリレーのみが記載され、ＯＦＦとするリレーは記載されていない。
【００１７】
これらの測定器の接続端子と被試験器の接続端子を表すパラメータは、試験プログラムにおいて用いられるものである。例えば、上述した被試験器１２の接続端子Ａとオシロスコープの第1チャネルの接続端子とをリレーで接続する場合は、試験プログラムにおいて、「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ ＯＮ ＯＳＣ ＣＨ１−ＤＵＴ１ Ａ」のように記述される。これらのパラメータは、後述する制御部２０のパラメータ読取部２１により読み取られ、該読み取られたパラメータに基づき、後述するリレー設定部２２が、リレー状態記憶部３１を参照して、リレーの接続状態を設定する。
【００１８】
次に、制御装置１０の制御部２０について説明する。図２に示すように、制御部２０は、試験プログラム中のパラメータを読み取るパラメータ読取部２１と、パラメータ読取部２１で読み取ったパラメータに基づき複数のリレーの接続状態を設定するリレー設定部２２とを備えている。制御部２０は、測定器１１と被試験器１２を指定し使用する試験プログラムを動作させるものであり、該試験プログラム中では、使用する測定器１１と被試験器１２を、前記リレー設定状態記憶部３１に記憶した、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子を表すパラメータを用いて指定するものである。
試験プログラムが動作中において、測定器の接続端子と被試験器の接続端子を表すパラメータを用いてリレーの設定状態を記述したプログラム部分が現れると、パラメータ読取部２１が、該現れたパラメータを読み取り、リレー設定部２２が、前記読み取ったパラメータに基づいて、複数のリレーの接続状態を設定する。このようにして、例えば、図４に示すようなリレー接続が行われるものである。
【００１９】
以上述べた本発明の構成によれば、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することを、容易に行うことができる。
なお、本発明は、本発明に係る処理を実行するシステムとしてだけでなく、方法や装置として、或いは、このような方法やシステムを実現するためのプログラムや当該プログラムを記録する記録媒体として把握することもできる。
【符号の説明】
【００２０】
１０：制御装置、１１：測定器、１２：被試験器、１３：切換器、１７：操作部、１８：表示部、２０：制御部、２１：パラメータ読取部、２２：リレー設定部、３０：記憶部、３１：リレー設定状態記憶部。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験器に対し測定器を接続して測定や試験を行うための試験システムに関し、特に、複数の測定器と複数の被試験器との間を、リレー等の切換器により接続する試験システムにおいて、測定器と被試験器との間の接続切換を容易にすることのできる試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
所定の試験手順に従って測定器等の動作を制御し、試験対象である被試験器からの出力信号を測定する試験システムが知られている（例えば特許文献１参照）。この試験システムでは、試験システムの制御部が、各測定器の構成配置図を有しており、該構成配置図に基づいて、各測定器に関する表示や各被試験器の測定結果に関する表示を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２９２７２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記の従来の試験システムにおいては、制御部の保存する各測定器の構成配置図は固定されており、かつ、各測定器と制御部との接続関係も固定されていた。そして、制御部のソフトウエアにより、例えば図４に示すように、測定器と被試験器との間をリレーにより接続する場合は、被試験器の試験項目毎に、図５に示すようなリレー設定表を作成し、このリレー設定表に基づき、試験プログラムのソフトウエアを作成し、該試験プログラムによりリレーのＯＮ／ＯＦＦ制御を行っていた。
【０００５】
図４は、測定器と被試験器との間のリレーの接続例を示す図である。図４において、１１（１）、１１（２）は測定器であり、１３（１）、１３（２）は、それぞれ切換器であるリレーユニット１、リレーユニット２である。１２は、被試験器であり、テスト中の被試験器（ＤＵＴ：Device under test）である。リレーユニット１は、内部に、リレー１１、リレー１２、リレー１３を備える。リレーユニット２は、内部に、リレー２１、リレー２２、リレー２３を備える。
【０００６】
図５は、従来例に係るリレー設定表の構成例を示す図である。図５においては、被試験器の試験項目毎に、リレーが設定されている。例えば、試験項目１の場合は、リレーユニット１のリレー１１をＯＮ、リレー１２をＯＦＦ、リレー１３をＯＮし、リレーユニット２のリレー２１をＯＮ、リレー２２をＯＦＦ、リレー２３をＯＮすることにより、測定器１１（１）の端子と、被試験器１２のＤＵＴ１の端子Ａを接続する。図５において、（Ａ００１）〜（Ｂ００３）は、それぞれ、リレー１１〜リレー２３を表すパラメータであり、このパラメータは、試験プログラム中で用いられるものである。例えば、上述した試験項目１の場合は、「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ ＯＮ Ａ００１／Ａ００３／Ｂ００１／Ｂ００３」のように、試験プログラム中に記述される。制御部は、このパラメータ記述を解読して、図４のようにリレー接続状態を設定するようにしている。
【０００７】
そのため、試験システムの構成を再構築して、測定器と被試験器との間の接続状態を変更する場合は、リレー設定表と制御ソフトウエアを修正しなければならず、その際は、どのリレーを接続すべきか回路図から追っていくことになる。したがって、ハードウエアの知識が必要となり、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することが容易でないという課題があった。
本発明の目的は、上記の課題を解決し、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することが容易にできる試験システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するための、本願発明の試験システムの代表的な構成は、次のとおりである。すなわち、
複数の測定器と、複数の測定器と複数の被試験器との間の接続状態を切り換える複数のリレーと、複数の測定器と前記複数のリレーを制御する制御装置とを備え、複数の測定器を用いて複数の被試験器に対して試験を行う試験システムであって、
前記制御装置は、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとするリレー設定状態を記憶するリレー設定状態記憶部と、使用する測定器と被試験器を前記パラメータを用いて指定する試験プログラムを動作させる制御部とを備え、
前記制御部は、前記試験プログラム中の前記パラメータを読み取るパラメータ読取部と、該パラメータ読取部で読み取ったパラメータに基づきリレーの接続状態を設定するリレー設定部を備えることを特徴とする試験システム。
【発明の効果】
【０００９】
このような構成によれば、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することを、容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明に係る試験システムの構成例を示す図である。
【図２】本発明に係る制御装置の機能ブロックの構成例を示す図である。
【図３】本発明に係るリレー設定状態記憶部の構成例を示す図である。
【図４】測定器と被試験器との間のリレーの接続例を示す図である。
【図５】従来例に係るリレー設定表の構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明に係る試験システムの実施例について、図面を参照して説明する。図１は、本発明に係る試験システムの構成例を示す図である。図１の例では、試験システムは、制御装置１０、複数の測定器１１、試験対象である電子機器等の複数の被試験器１２、被試験器１２に接続する測定器１１を、複数の測定器１１の中から選択して切り換えるための切換器１３を備えている。切換器１３は、複数のリレーにより、複数の測定器１１と複数の被試験器１２との間の測定経路の切換を行うものである。
複数の測定器１１（１）〜（ｎ）には、特定の被試験器専用の専用試験器や、信号発生器やスペクトルアナライザ等の汎用測定器が含まれる。
【００１２】
制御装置１０と測定器１１との間、制御装置１０と切換器１３との間、切換器１３と被試験器１２との間は、ＬＡＮ（Local Erea Netowork）、あるいはＧＰ―ＩＢ（General Purpose Interface Bus）によりケーブル接続され、制御信号を通信可能としている。本例では、制御装置１０は、無線機等の被試験器１２に対し、試験信号を出力して、予め決められた測定項目について自動的に試験を行い、試験で得た測定値に基づいて被試験器１２の動作が正常であるか否かを判定し、その判定結果を、被試験器１２の実際の配置位置に対応させて表示する。測定器１１や被試験器１２は、例えば、ラック等の収容架に多段に配置されている。
【００１３】
本実施例における制御装置１０の機能ブロック図を図２に示す。図２は、本発明に係る制御装置１０の機能ブロックの構成例を示す図である。制御装置１０は、本実施例においては、試験システム全体の制御、測定結果の良否判定、切換器１３の切り換え状態の制御等を行う制御部（コンピュータ）２０と、測定器１１の配置位置等を表示する表示手段としての表示部１８と、キーボードやマウスなどの操作部１７と、後述する記憶部３０などを備えている。
【００１４】
制御部２０は、本実施例においては、ＣＰＵ（Central ProcessingUnit）とメモリをハードウェア構成として備えている。このメモリには、被試験器１２の試験手順が記述された試験プログラムや、測定器１１や被試験器１２のそれぞれを表す画像を測定器１１や被試験器１２の実際の配置位置に対応させて表示させる表示動作の処理手順が記述された配置位置表示プログラムなどが記憶されている。
メモリに記憶された各プログラムは、ＣＰＵに読み込まれて実行される。なお、各プログラムは、後述する記憶部３０に記憶するようにしてもよい。表示部１８には、ＣＰＵで実行されるプログラム処理に応じ、測定項目や測定結果などの情報が表示される。操作部１７は、操作者による各種の指示入力を受け付けるものであり、タッチパネルのように表示部１８と一体に構成してもよい。
【００１５】
図２に示すように、制御装置１０の記憶部３０は、切換器１３の設定状態、例えば、リレー設定状態を、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとして記憶する、リレー設定状態記憶部３１を備える。リレー設定状態記憶部３１の一例を、図３に示す。
図３は、図４のように測定器と被試験器との間のリレー接続を行った場合の、リレー状態記憶部３１の構成例を示す図である。図４は、前述したとおり、測定器と被試験器との間のリレーの接続例を示す図であり、１１（１）、１１（２）は測定器であり、１３（１）、１３（２）はリレーユニット１、リレーユニット２であり、１２は被試験器、例えば、テスト中の被試験器（ＤＵＴ：Device under test）である。
【００１６】
図３においては、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとして、リレーの接続状態が設定されている。図３において、（ＤＵＴ１ Ａ）は、被試験器１２の接続端子Ａを表すパラメータであり、（ＤＵＴ１ Ｂ）は、被試験器１２の接続端子Ｂを表すパラメータである。また、（ＯＳＣ ＣＨ１）は、測定器１１（１）であるオシロスコープの第1チャネルの接続端子を表すパラメータであり、（ＡＤＡ ＩＮ）は、測定器１１（２）であるオーディオアナライザの入力接続端子を表すパラメータである。
例えば、被試験器１２の接続端子Ａ（パラメータ：ＤＵＴ１ Ａ）と、オシロスコープの第1チャネルの接続端子（パラメータ：ＯＳＣ ＣＨ１）とをリレーで接続する場合は、図３の左上欄に示すように、リレーユニット１のリレー１１をＯＮ、リレー１２をＯＦＦ、リレー１３をＯＮとし、リレーユニット２のリレー２１をＯＮ、リレー２２をＯＦＦ、リレー２３をＯＮとするよう、リレーを設定する。図３においては、ＯＮとするリレーのみが記載され、ＯＦＦとするリレーは記載されていない。
【００１７】
これらの測定器の接続端子と被試験器の接続端子を表すパラメータは、試験プログラムにおいて用いられるものである。例えば、上述した被試験器１２の接続端子Ａとオシロスコープの第1チャネルの接続端子とをリレーで接続する場合は、試験プログラムにおいて、「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ ＯＮ ＯＳＣ ＣＨ１−ＤＵＴ１ Ａ」のように記述される。これらのパラメータは、後述する制御部２０のパラメータ読取部２１により読み取られ、該読み取られたパラメータに基づき、後述するリレー設定部２２が、リレー状態記憶部３１を参照して、リレーの接続状態を設定する。
【００１８】
次に、制御装置１０の制御部２０について説明する。図２に示すように、制御部２０は、試験プログラム中のパラメータを読み取るパラメータ読取部２１と、パラメータ読取部２１で読み取ったパラメータに基づき複数のリレーの接続状態を設定するリレー設定部２２とを備えている。制御部２０は、測定器１１と被試験器１２を指定し使用する試験プログラムを動作させるものであり、該試験プログラム中では、使用する測定器１１と被試験器１２を、前記リレー設定状態記憶部３１に記憶した、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子を表すパラメータを用いて指定するものである。
試験プログラムが動作中において、測定器の接続端子と被試験器の接続端子を表すパラメータを用いてリレーの設定状態を記述したプログラム部分が現れると、パラメータ読取部２１が、該現れたパラメータを読み取り、リレー設定部２２が、前記読み取ったパラメータに基づいて、複数のリレーの接続状態を設定する。このようにして、例えば、図４に示すようなリレー接続が行われるものである。
【００１９】
以上述べた本発明の構成によれば、測定器と被試験器との間の接続状態を変更することを、容易に行うことができる。
なお、本発明は、本発明に係る処理を実行するシステムとしてだけでなく、方法や装置として、或いは、このような方法やシステムを実現するためのプログラムや当該プログラムを記録する記録媒体として把握することもできる。
【符号の説明】
【００２０】
１０：制御装置、１１：測定器、１２：被試験器、１３：切換器、１７：操作部、１８：表示部、２０：制御部、２１：パラメータ読取部、２２：リレー設定部、３０：記憶部、３１：リレー設定状態記憶部。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の測定器と、複数の測定器と複数の被試験器との間の接続状態を切り換える複数のリレーと、複数の測定器と前記複数のリレーを制御する制御装置とを備え、複数の測定器を用いて複数の被試験器に対して試験を行う試験システムであって、
前記制御装置は、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとするリレー設定状態を記憶するリレー設定状態記憶部と、使用する測定器と被試験器を前記パラメータを用いて指定する試験プログラムを動作させる制御部とを備え、
前記制御部は、前記試験プログラム中の前記パラメータを読み取るパラメータ読取部と、該パラメータ読取部で読み取ったパラメータに基づきリレーの接続状態を設定するリレー設定部を備えることを特徴とする試験システム。
【請求項１】
複数の測定器と、複数の測定器と複数の被試験器との間の接続状態を切り換える複数のリレーと、複数の測定器と前記複数のリレーを制御する制御装置とを備え、複数の測定器を用いて複数の被試験器に対して試験を行う試験システムであって、
前記制御装置は、各測定器の接続端子と各被試験器の接続端子をパラメータとするリレー設定状態を記憶するリレー設定状態記憶部と、使用する測定器と被試験器を前記パラメータを用いて指定する試験プログラムを動作させる制御部とを備え、
前記制御部は、前記試験プログラム中の前記パラメータを読み取るパラメータ読取部と、該パラメータ読取部で読み取ったパラメータに基づきリレーの接続状態を設定するリレー設定部を備えることを特徴とする試験システム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２０１１−２２０７９９（Ｐ２０１１−２２０７９９Ａ）
【公開日】平成２３年１１月４日（２０１１．１１．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−８９３９７（Ｐ２０１０−８９３９７）
【出願日】平成２２年４月８日（２０１０．４．８）
【出願人】（０００００１１２２）株式会社日立国際電気 (5,007)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１１月４日（２０１１．１１．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年４月８日（２０１０．４．８）
【出願人】（０００００１１２２）株式会社日立国際電気 (5,007)
【Ｆターム（参考）】
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