試験装置
【課題】複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位を特定することができるように工夫された試験装置を提供する。
【解決手段】本発明にかかる試験装置（１）は、試験の対象（１８）に対して複数の種類の試験を行う試験装置であって、前記試験の対象に対して前記複数の試験を、順次、行う試験手段（１０，１２，１４，１６）と、予め与えられた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果と、前記試験の対象に対して行われた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果とを比較する結果比較手段（Ｓ１０４，Ｓ１１６）と、前記比較の結果に基づいて、この比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する選択手段（Ｓ１０６，Ｓ１１８）とを有する。
【解決手段】本発明にかかる試験装置（１）は、試験の対象（１８）に対して複数の種類の試験を行う試験装置であって、前記試験の対象に対して前記複数の試験を、順次、行う試験手段（１０，１２，１４，１６）と、予め与えられた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果と、前記試験の対象に対して行われた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果とを比較する結果比較手段（Ｓ１０４，Ｓ１１６）と、前記比較の結果に基づいて、この比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する選択手段（Ｓ１０６，Ｓ１１８）とを有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象の機器を試験する試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１は、試験対象の機器の故障部位を特定する試験装置を開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−３０４１２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明は、上述した背景からなされたものであって、複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位（構成部分）を特定することができるように工夫された試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明にかかる試験装置（１）は、試験の対象（１８）に対して複数の種類の試験を行う試験装置であって、前記試験の対象に対して前記複数の試験を、順次、行う試験手段（１０，１２，１４，１６）と、予め与えられた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果と、前記試験の対象に対して行われた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果とを比較する結果比較手段（Ｓ１０４，Ｓ１１６）と、前記比較の結果に基づいて、この比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する選択手段（Ｓ１０６，Ｓ１１８）とを有する。
【０００６】
好適には、前記複数の試験それぞれは、それぞれに第２の結果が得られる複数の試験構成部分（図９（Ｂ））を含み、前記試験手段は、前記試験対象に対して、前記複数の試験それぞれに含まれる試験構成部分それぞれを行って、この試験に含まれる複数の構成部分の第２の結果の集合を、この試験の前記第１の結果とし、前記予め与えられた複数の試験の組み合わせの第１の結果それぞれは、この試験に含まれる前記複数の試験構成部分の第２の結果の少なくとも１つ以上を含み、前記結果比較手段は、前記予め与えられた複数の試験の組み合わせの第１の結果（図９（Ａ））と、前記複数の試験の組み合わせの実行により得られた第１の結果とを比較し、前記予め与えられた第１の結果（図９（Ａ））および予め与えられた第１の結果に含まれる１つ以上の第２の結果（９（Ｂ））と、前記複数の試験の組み合わせの実行により得られた第１の結果および第１の結果に含まれる前記１つ以上の第２の結果とを比較し、前記選択手段は、前記第１の結果の比較結果と、前記第１の比較結果および第２の結果の比較結果とに基づいて、これらの比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する。
なお、この部分においては、構成部分と、本願明細書・図面に付された符号および図番とが対応付けられているが、これは、本願請求項と明細書・図面の記載との対応関係の明確化のみを目的とし、本願発明の技術的範囲の限定を目的としない。
【発明の効果】
【０００７】
本発明にかかる試験装置によれば、複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位（構成部分）を特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本願発明が適用される機器試験システムの構成を例示する図である。
【図２】図１に示した操作制御装置が試験対象装置の試験を行うために必要とされるパラメータを定義し、操作制御装置のメモリなどに記憶される第１のパラメータテーブルを例示する図表である。
【図３】（Ａ）は、図２に示した第１のパラメータテーブルにおいて、試験３に対して設定された試験条件１を例示する図表であり、（Ｂ）は、図２に示したパラメータテーブルにおいて、試験６に対して設定された試験条件７を例示する図表である。
【図４】図２，図３（Ａ），（Ｂ）に示したパラメータテーブルおよび試験条件に従った機器試験システムの第１の試験動作（Ｓ１０）を示すフローチャートである。
【図５】（Ａ）は、図１に示した操作制御装置が試験対象装置の試験を行うために必要とされるパラメータを定義し、操作制御装置のメモリなどに記憶される第２のパラメータテーブルを例示する図表であって、（Ｂ）は、第２のパラメータテーブルにおいて試験判定を示す情報として設定された０〜２の値が示す内容を定義する判定テーブルを例示する図表である。
【図６】（Ａ）は、操作制御装置が試験として機能試験Ａ〜Ｅを行うことを例示する図であり、（Ｂ）は、（Ａ）に示した試験の結果を例示する図であり、（Ｃ）は、操作制御装置のメモリなどに試験前に予め記憶される複数の試験Ａ〜Ｅの結果の組み合わせを示す情報テーブルを例示する図表であり、（Ｄ）は、（Ｃ）に組み合わせた図表に示された試験Ａ〜Ｅの結果の組み合わせから特定される試験Ａ〜Ｅの試験対象装置の故障箇所の候補を示す候補テーブルを例示する図表である。
【図７】図１に示した機器試験システムにおける図５，図６（Ａ），（Ｂ）に示したパラメータテーブルおよび試験条件に従った機器試験システムの第２の試験動作（Ｓ１２）を示すフローチャートである。
【図８】図７に示したＳ１２０−１〜１２０−７において実行される試験対象装置に対する試験動作（Ｓ１２０）を示すフローチャートである。
【図９】（Ａ）は、図６（Ｃ）に示した複数の試験の組み合わせの結果を示す情報テーブル（メインマトリクス）を例示する図表であり、（Ｂ）は、各試験について個別に管理される複数の試験構成部分の組み合わせの結果を示す情報テーブル（サブマトリクス）を例示する図表であり、（Ｃ）は、（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを統合した情報テーブルを例示する図表である。
【図１０】図９（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを使用した試験１〜３（試験要素部分１−１〜３−２）を実行するために用いられる第３のパラメータテーブルを例示する図表である。
【図１１】ユーザが、図９（Ａ）〜（Ｃ）に示した情報テーブル（マトリクス）を編集するためのＵＩ(User Interface)画像を例示する図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［第１の実施形態］
以下、本願発明の第１の実施形態を説明する。
図１は、本願発明が適用される機器試験システム１の構成を例示する図である。
図１に示すように、機器試験システム１は、制御操作装置１０−１〜１０−ｎ、測定器１２−１〜１２−ｎおよび信号切替器１６−１〜１６−ｎから構成される。
なお、ｎは１以上の整数を示すが、常に同じ数を示すとは限らない。
また、操作制御装置１０−１〜１０−ｎなど、複数あり得る構成部分のいずれかを特定せずに示すときには、単に操作制御装置１０と記す。
また、操作制御装置１０など、機器試験システム１の各構成部分をノードと総称することがある。
【００１０】
機器試験システム１において、操作制御装置１０、測定器１２および信号切替器１６は、ＬＡＮ１４０を介して相互に接続され、操作制御装置１０および測定器１２は、装置間
信号線１４２を介して相互に接続され、測定器１２と信号切替器１６とは、測定線１４４を介して相互に接続される。
操作制御装置１０は、ＣＰＵ１０２、メモリ１０４およびこれらの周辺回路などを含む本体１００、表示装置、キーボードおよびマウスなどを含む入出力装置１０６、他のノードとの間の通信を行う通信装置１１０、および、記録媒体１１４に対してデータ・情報を記憶し、読み出す記録装置１１２を含む（ソフトウェア制御が行われる測定器１２および試験対象装置１８、および、機器試験システム１において情報処理の主体となりうる全てのノードについて同様）。
つまり、操作制御装置１０およびその他のノードは、情報処理および通信機能を有するコンピュータとしての構成部分を含む。
以下に説明する試験のための各処理は、情報処理の主体となりうるノードに、記録媒体１１４などを介して供給され、メモリ１０４にロードされて、各ノードのハードウェア資源を具体的に利用して実行されるプログラムにより実現される。
【００１１】
機器試験システム１は、これらの構成部分により、１つ以上の構成部分１８０を含む試験対象装置１８−１−１〜１８−ｎ−ｎの試験およびその故障箇所の特定を行う。
つまり、機器試験システム１においては、操作制御装置１０の制御により、信号切替器１６内の接続を変更して、試験に必要とされる測定器１２と、試験の対象となる試験対象装置１８とを接続して、試験対象装置１８の測定（例えば、試験対象装置１８が無線機の場合には受信感度、送信出力、受信信号のノイズ測定、周波数案程度および電源動作など）を行い、この測定結果を解析して、試験対象装置１８が正常に動作しているか否か、および、試験対象装置１８が正常に動作していないときには、故障が試験対象装置１８のいずれの構成部分１８０（電源装置、増幅装置、冷却装置および制御装置など）の不具合に起因するかが特定され、試験結果とされる。
なお、機器試験システム１においては、いずれの操作制御装置１０も、試験レシピに従って、全ての試験対象装置１８の試験を行うことができ、通常は、試験結果は共有データ記憶装置２０に記憶されるが、共有データ記憶装置２０が存在しない場合、ＬＡＮ１４０に障害が起きたときには、試験を行った操作制御装置１０に記憶される。
【００１２】
図２は、図１に示した操作制御装置１０が試験対象装置１８の試験を行うために必要とされるパラメータを定義し、操作制御装置１０のメモリ１０４などに記憶される第１のパラメータテーブルを例示する図表である。
図３（Ａ）は、図２に示した第１のパラメータテーブルにおいて、試験３に対して設定された試験条件１を例示する図表であり、（Ｂ）は、図２に示したパラメータテーブルにおいて、試験６に対して設定された試験条件７を例示する図表である。
図２に示すように、第１のパラメータテーブルにおいて、大項目番号０〜６および大項目番号５に対する小項目番号１，２に対応して、試験１〜５，６−１，６−２，７のパラメータが定義される。
【００１３】
つまり、図２に示すように、試験１〜５，６−１，６−２、７それぞれに対して、これらの試験を実行するために必要とされ、操作制御装置１０のメモリ１０４などに記憶されたパラメータファイルの名称が設定され、さらに、これらの試験それぞれの結果を判定するための基準（要求基準）とその単位、結果を正常と判断するための基準の上限値および下限値が設定される。
なお、以下に示す各テーブル・データなどは、図２に示したパラメータファイルおよびパラメータテーブルと同様に、操作制御装置１０のメモリ１０４に記憶される。
さらに、図２に点線で示すように、試験３，７に対しては、図３（Ａ），（Ｂ）に示すように、これらの試験が実行されるための条件が定義される。
つまり、図３（Ａ）に示すように、試験３は、試験１，２の両方の結果が正常（良）と判断されたときにのみ実行され、これらの一方でも不正常（否）と判定されたときには実
行されない。
また、図３（Ｂ）に示すように、試験７は、少なくとも試験６−１，６−２の一方の結果が不正常（否）と判定されたときにのみ実行され、これらの両方が良と判断されたときには実行されない。
【００１４】
以下、機器試験システム１における試験動作を説明する。
図４は、図２，図３（Ａ），（Ｂ）に示したパラメータテーブルおよび試験条件に従った機器試験システム１の第１の試験動作（Ｓ１０）を示すフローチャートである。
図４に示すように、ステップ１００（Ｓ１００）において、操作制御装置１０は、信号切替器１６の接続を変更して、試験対象装置１８−ｉ（１≦ｉ≦ｎ；以下同様）と、その試験において用いられる測定器１２とを接続させ、測定器１２の測定結果を解析し、例えば構成部分１８０−ｉ−１に関する第１の試験を行う。
操作制御装置１０は、第１の試験の結果が、パラメータテーブルに設定された基準を満たすか満たさないか（良否）を判断する。
ステップ１０２（Ｓ１０２）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００においてど同様な処理を行い、例えば構成部分１８０−ｉ−２に関する試験２を実行してその結果の良否を判断する。
【００１５】
ステップ１０４（Ｓ１０４）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００，Ｓ１０２の処理において行われた試験１，２の結果と、図３（Ａ）に示された試験条件１の内容とを比較する。
つまり、操作制御装置１０は、パラメータテーブル（図２）に設定された試験条件１（図３（Ａ））を参照して、試験６−１，６−２の両方の結果が良であったか（試験６−１，６−２のいずれの結果にも否がなかったか）否かを判断する。
ステップ１０６（Ｓ１０６）において、操作制御装置１０は、試験１，２の結果が試験条件１に適合しているか否かを判断し、試験１，２の結果が試験条件１に適合しているとき（試験１，２の結果の両方が良のとき）にはＳ１１０の処理に進み、それ以外のときにはＳ１０８の処理に進む。
ステップ１０８（Ｓ１０８）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００，Ｓ１０２においてと同様の処理を行い、例えば構成部分１８０−ｉ−３に関する試験３を実行してその結果の良否を判定する。
【００１６】
ステップ１１０〜１１４−２（Ｓ１１０〜１１４−２）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００，Ｓ１０２などにおいてと同様の処理を行い、例えば構成部分１８０−ｉ−４〜１８０−ｉ−（６−１），１８０−ｉ−（６−２）に関する試験４〜６−２を実行してその結果の良否を判定する。
ステップ１１６（Ｓ１１６）において、操作制御装置１０は、Ｓ１１０〜Ｓ１１４−２の処理において行われた試験４〜６−２の結果と、図３（Ｂ）に示された試験条件２の内容とを比較する。
つまり、操作制御装置１０は、パラメータテーブル（図２）に設定された試験条件２（図３（Ｂ））を参照して、試験６−１，６−２の両方の結果が良であったか否かを判断する。
【００１７】
ステップ１１８（Ｓ１１８）において、操作制御装置１０は、試験６−１，６−２の結果が試験条件２に適合しているか否かを判断し、試験６−１，６−２の結果が試験条件２に適合しているときには処理を終わり、これ以外のときにはＳ１２０の処理に進む。
ステップ１２０（Ｓ１２０）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００，Ｓ１０２においてと同様の処理を行い、例えば構成部分１８０−７に関する試験７を実行してその結果の良否を判定し、処理を終了する。
【００１８】
以上説明したように機器試験システム１を動作させると、各試験の以前の試験の結果に応じて必要な試験のみが実行されるので、各試験を何らの判断もせずに順次、実行する場合と比べて、試験時間が短くて済む。
また、以上説明したように機器試験システム１を動作させると、故障が発生したときにのみその原因を詳細に調べるための試験を実施して、故障の原因となっている構成部分１８０を容易に特定できるようになる。
【００１９】
［第２実施形態］
以下、本発明の第２実施形態を説明する。
図５（Ａ）は、図１に示した操作制御装置１０が試験対象装置１８の試験を行うために必要とされるパラメータを定義し、操作制御装置１０のメモリ１０４などに記憶される第２のパラメータテーブルを例示する図表であって、（Ｂ）は、第２のパラメータテーブルにおいて試験判定を示す情報として設定された０〜２の値が示す内容を定義する判定テーブルを例示する図表である。
図５（Ａ）に示すように、第２のパラメータテーブルは、図２に示した第１のパラメータテーブルの内容に加えて、試験判定を０〜２の数値で示す情報が設定される。
なお、この第２のパラメータテーブルには、第１のパラメータテーブルと同様に、各試験に対して試験条件が設定可能なので、第２のパラメータテーブルと、図３（Ａ），（Ｂ）に示した試験条件テーブルとを組み合わせることにより、図４に示したような試験シーケンスの制御も可能である。
【００２０】
図５（Ｂ）に示すように、試験判定の値０は、第２のパラメータテーブルに定義された試験１〜５，６（６−１，６−２），７それぞれに設定されたときに、この値が設定された試験（当該試験）を実行し、次の試験に進むことを示す。
また、試験判定の値１は、この値が設定された当該試験を実行し、さらに、故障部位の特定を行うことを示す。
また、試験判定の値２は、故障部位の特定を行い、特定できなかったときにのみ当該試験を実行することを示す。
【００２１】
図６（Ａ）は、操作制御装置１０が試験として機能試験Ａ〜Ｅを行うことを例示する図であり、（Ｂ）は、（Ａ）に示した試験の結果を例示する図であり、（Ｃ）は、操作制御装置１０のメモリ１０４などに試験前に予め記憶される複数の試験Ａ〜Ｅの結果の組み合わせを示す情報テーブルを例示する図表であり、（Ｄ）は、（Ｃ）に組み合わせた図表に示された試験Ａ〜Ｅの結果の組み合わせから特定される試験Ａ〜Ｅの試験対象装置１８の故障箇所の候補を示す候補テーブルを例示する図表である。
なお、図６（Ａ）〜（Ｄ）において、図２〜図５（Ａ），（Ｂ）などの他の図面とは異なり、試験１〜７との用語ではなく、試験Ａ〜Ｅとの用語が使用されているが、これは、図時の関係上の問題で、本願発明の本質とは関係がない。
【００２２】
図６（Ａ）に示すように、試験対象の試験対象装置１８−ｉに対して試験Ａ〜Ｅが行われると、例えば、図６（Ｂ）に示す結果が得られる。
例えば、試験Ａ〜Ｅの実行に先立つ検討により、あるいは、それまでの試験による故障部位の特定の結果に基づいて、図６（Ｃ）に示すように、試験対象装置１８−ｉの故障部位（構成部分１８０）の特定に役立つ試験結果の組み合わせを示す情報テーブルが予め求められ、操作制御装置１０の入出力装置１０６に記憶される。
さらに、例えば、図６（Ｄ）に示すように、図６（Ａ）に示した試験対象装置１８−ｉに対する組み合わせ番号１〜６の試験結果の組み合わせそれぞれに対応して、故障の原因として特定されるべき試験対象装置１８−ｉの構成部分１８０−ｉ−ｊ（１≦ｊ≦ｎ）の候補と、その可能性の高さの順番（１，２，・・・；数値が少ない方が可能性が高い）が、例えば図６（Ｃ）に示した情報テーブルに含まれる複数の試験の組み合わせの結果と同
様に、試験Ａ〜Ｅの実行に先立つ検討により、あるいは、それまでの試験による故障部位の特定の結果に基づいて求められ、操作制御装置１０の入出力装置１０６に、候補テーブルとして記憶される。
【００２３】
図７は、図１に示した機器試験システム１における図５，図６（Ａ），（Ｂ）に示したパラメータテーブルおよび試験条件に従った機器試験システム１の第２の試験動作（Ｓ１２）を示すフローチャートである。
図８は、図７に示したＳ１２０−１〜１２０−７において実行される試験対象装置１８−ｉに対する試験動作（Ｓ１２０）を示すフローチャートである。
図７に示すように、図２〜図４に示した第１の試験動作（Ｓ１０）と組み合わされない場合には、例えば、ステップ１２０−１〜１２０−７（Ｓ１２０−１〜１２０−７）において、試験対象装置１８−ｉに対する試験１〜７が順次、実行される。
【００２４】
図８に示すように、Ｓ１２０−ｋ（ここでは１≦ｋ≦７）に対応する試験ｋのステップ１２２（Ｓ１２２）において、操作制御装置１０は、その試験において、図５（Ａ）に示した試験判定の結果に定義されている値を判断する。
操作制御装置１０は、図５（Ｂ）に定義された試験判定の結果に対応した試験の実行の態様に従って、試験判定の結果の値が０または１であるときにはＳ１３０の処理に進み、この値が２であるときにはＳ１２２の処理に進む。
ステップ１２２（Ｓ１２２）において、操作制御装置１０は、図６（Ｃ）に示した複数の試験の組み合わせの結果を示す情報テーブルと、図６（Ｄ）に示した候補テーブルにより特定される故障部位とを比較し、試験対象装置１８−ｉの故障部位を特定する。
ステップ１２４（Ｓ１２４）において、操作制御装置１０は、Ｓ１２２の処理において、故障部位が特定されたときには次の処理（試験（ｋ＋１）または処理終了）にすすみ、これ以外のときにはＳ１２６の処理に進む。
ステップ１２６（Ｓ１２６）において、操作制御装置１０は、試験ｋを実行する。
【００２５】
ステップ１３０（Ｓ１３０）において、操作制御装置１０は、試験ｋを実行する。
ステップ１３２（Ｓ１３２）において、操作制御装置１０は、図５（Ｂ）に定義された試験判定の値が０のときには次の処理に進み、この値が１のときにはＳ１３４の処理に進む。
ステップ１３４（Ｓ１３４）において、操作制御装置１０は、Ｓ１２２における処理と同様に、Ｓ１３０において実行された試験ｋの結果と、それ以前の試験１〜（ｋ−１）との結果の組み合わせに基づいて、故障部位の特定を行う。
【００２６】
［複数の試験の組み合わせの結果を示す情報の管理方法］
以下、機器試験システム１の第２の試験動作における複数の試験の組み合わせの結果を示す情報の管理方法を説明する。
図９（Ａ）は、図６（Ｃ）に示した複数の試験の組み合わせの結果を示す情報テーブル（メインマトリクス）を例示する図表であり、（Ｂ）は、各試験について個別に管理される複数の試験構成部分の組み合わせの結果を示す情報テーブル（サブマトリクス）を例示する図表であり、（Ｃ）は、（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを統合した情報テーブルを例示する図表である。
図６（Ｃ）に示した複数の試験結果の組み合わせは、例えば、各試験が複数の試験の集合（試験構成部分）から構成されており、これら複数の試験構成部分を実行することにより、各試験が実現されるような場合には、１つのテーブルで、複数の試験結果の組み合わせと、複数の試験結果それぞれの試験構成部分の結果とを定義することは複雑で難しくなってしまう。
【００２７】
このようなときには、この情報テーブルを部分ごと、例えば、図９（Ａ），（Ｂ）に示
すように、全試験１〜３の組み合わせの結果を項目として含むが、実際には、試験１，２に含まれる試験構成部分１−１〜２−２の組み合わせの結果のみを示す情報テーブル（メインマトリクス）と、試験３に含まれる試験構成部分３−１，３−２の組み合わせの結果を抜粋して示す情報テーブル（サブマトリクス）とが分けられて定義されうると便利である。
操作制御装置１０は、図９（Ａ）に示すメインマトリクスのみを、試験１（試験構成部分１−１）の開始時から試験２（試験要素２−２）の終了時まで参照して試験１，２を実行し、試験３（試験構成部分３−１）が実行される時点で、さらに、図９（Ｂ）に示すサブマトリクスを参照し、これらを図９（Ｃ）に示すように統合して用いて試験３（試験構成部分３−１，３−２）を実行する。
なお、各試験１〜３において、操作制御装置１０は、図９（Ａ），（Ｃ）に示した情報テーブルと、これとは別途設けられた故障箇所の特定をするための候補テーブル（図示せず；図６（Ｄ）を参照）とを参照して、故障箇所を特定する。
【００２８】
図１０は、図９（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを使用した試験１〜３（試験要素部分１−１〜３−２）を実行するために用いられる第３のパラメータテーブルを例示する図表である。
図９（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを使用した試験１〜３（試験要素部分１−１〜３−２）を実行するためには、図５に示した第２のパラメータテーブルに、図１０に示すように、サブマトリクスを用いて行われる試験項目（図９（Ａ）〜（Ｃ），図１０においては試験３）に対応して、その試験からに用いられるサブマトリクスを内容とし、操作制御装置１０のメモリ１０４に記憶されるサブマトリクスファイル名が追加された第３のパラメータテーブルが用いられる。
このような手順で試験を行うためには、操作制御装置１０は、第３のパラメータテーブルに従って、図７，８に示したように、まず、メインマトリクスを用いて試験１〜３を実行し、図７に示したＳ１２０−３の処理を開始するときに、サブマトリクスをさらに用いて試験３を行えばよい。
【００２９】
［マトリクスの編集］
図１１は、ユーザが、図９（Ａ）〜（Ｃ）に示した情報テーブル（マトリクス）を編集するためのＵＩ(User Interface)画像を例示する図である。
なお、図１１には、図９（Ｂ）に示した試験３のサブマトリクスの他に、試験１のサブマトリクスが存在し、メインマトリクスと試験１，３のサブマトリクスが統合されて表示されている場合が例示されている。
操作制御装置１０は、例えば、図１０に示した第３のパラメータテーブルを、入出力装置１０６に表示してユーザに示す。
ユーザが、表示されたパラメータテーブルの試験項目をクリックすると、操作制御装置１０は、クリックされた試験項目において用いられる図９（Ａ）〜（Ｃ）のいずれかに示された情報テーブル（マトリクス）を、図１１に示すように、入出力装置１０６にＵＩ画像として表示する。
ユーザは、表示されたＵＩ画像を用いて、パラメータテーブルおよび各マトリクスなどの編集を行い、ユーザが編集を終了させるための操作を行うと、操作制御装置１０は、編集されたパラメータテーブルおよび各マトリクスを、メモリ１０４に記憶する。
【００３０】
［機器試験システム１の特徴］
以上説明したように、機器試験システム１によれば、不具合が発生した場合の電子機器などの試験対象装置１８において、故障の原因となっている構成部分１８０を容易に特定できる。
つまり、機器試験システム１によれば、予め用意された情報テーブル（マトリクス）と候補テーブルとを用いて試験が行うので、故障箇所が短時間で効率よく特定されうる。
また、機器試験システム１においては、情報テーブルが、メインテーブルとサブテーブルに分けて定義できるので、情報テーブルへの項目の追加および削除が容易であり、ユーザは、試験の目的に応じて、適宜、各マトリクスを編集して試験の内容を変更・更新して実行することができる。
【産業上の利用可能性】
【００３１】
本願発明は、電子装置などの機器の試験のために利用可能である。
【符号の説明】
【００３２】
１・・・機器試験システム，１０・・・操作制御装置，１００・・・本体，１０２・・・ＣＰＵ，１０４・・・メモリ，１０６・・・入出力装置，１１０・・通信装置，１２・・・測定器，１４０・・・ＬＡＮ，１４２・・・装置間信号線，１４４・・・測定線システム，１６・・・信号切替器，１８・・・試験対象装置，１８０・・・構成部分，
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象の機器を試験する試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１は、試験対象の機器の故障部位を特定する試験装置を開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−３０４１２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明は、上述した背景からなされたものであって、複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位（構成部分）を特定することができるように工夫された試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明にかかる試験装置（１）は、試験の対象（１８）に対して複数の種類の試験を行う試験装置であって、前記試験の対象に対して前記複数の試験を、順次、行う試験手段（１０，１２，１４，１６）と、予め与えられた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果と、前記試験の対象に対して行われた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果とを比較する結果比較手段（Ｓ１０４，Ｓ１１６）と、前記比較の結果に基づいて、この比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する選択手段（Ｓ１０６，Ｓ１１８）とを有する。
【０００６】
好適には、前記複数の試験それぞれは、それぞれに第２の結果が得られる複数の試験構成部分（図９（Ｂ））を含み、前記試験手段は、前記試験対象に対して、前記複数の試験それぞれに含まれる試験構成部分それぞれを行って、この試験に含まれる複数の構成部分の第２の結果の集合を、この試験の前記第１の結果とし、前記予め与えられた複数の試験の組み合わせの第１の結果それぞれは、この試験に含まれる前記複数の試験構成部分の第２の結果の少なくとも１つ以上を含み、前記結果比較手段は、前記予め与えられた複数の試験の組み合わせの第１の結果（図９（Ａ））と、前記複数の試験の組み合わせの実行により得られた第１の結果とを比較し、前記予め与えられた第１の結果（図９（Ａ））および予め与えられた第１の結果に含まれる１つ以上の第２の結果（９（Ｂ））と、前記複数の試験の組み合わせの実行により得られた第１の結果および第１の結果に含まれる前記１つ以上の第２の結果とを比較し、前記選択手段は、前記第１の結果の比較結果と、前記第１の比較結果および第２の結果の比較結果とに基づいて、これらの比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する。
なお、この部分においては、構成部分と、本願明細書・図面に付された符号および図番とが対応付けられているが、これは、本願請求項と明細書・図面の記載との対応関係の明確化のみを目的とし、本願発明の技術的範囲の限定を目的としない。
【発明の効果】
【０００７】
本発明にかかる試験装置によれば、複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位（構成部分）を特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本願発明が適用される機器試験システムの構成を例示する図である。
【図２】図１に示した操作制御装置が試験対象装置の試験を行うために必要とされるパラメータを定義し、操作制御装置のメモリなどに記憶される第１のパラメータテーブルを例示する図表である。
【図３】（Ａ）は、図２に示した第１のパラメータテーブルにおいて、試験３に対して設定された試験条件１を例示する図表であり、（Ｂ）は、図２に示したパラメータテーブルにおいて、試験６に対して設定された試験条件７を例示する図表である。
【図４】図２，図３（Ａ），（Ｂ）に示したパラメータテーブルおよび試験条件に従った機器試験システムの第１の試験動作（Ｓ１０）を示すフローチャートである。
【図５】（Ａ）は、図１に示した操作制御装置が試験対象装置の試験を行うために必要とされるパラメータを定義し、操作制御装置のメモリなどに記憶される第２のパラメータテーブルを例示する図表であって、（Ｂ）は、第２のパラメータテーブルにおいて試験判定を示す情報として設定された０〜２の値が示す内容を定義する判定テーブルを例示する図表である。
【図６】（Ａ）は、操作制御装置が試験として機能試験Ａ〜Ｅを行うことを例示する図であり、（Ｂ）は、（Ａ）に示した試験の結果を例示する図であり、（Ｃ）は、操作制御装置のメモリなどに試験前に予め記憶される複数の試験Ａ〜Ｅの結果の組み合わせを示す情報テーブルを例示する図表であり、（Ｄ）は、（Ｃ）に組み合わせた図表に示された試験Ａ〜Ｅの結果の組み合わせから特定される試験Ａ〜Ｅの試験対象装置の故障箇所の候補を示す候補テーブルを例示する図表である。
【図７】図１に示した機器試験システムにおける図５，図６（Ａ），（Ｂ）に示したパラメータテーブルおよび試験条件に従った機器試験システムの第２の試験動作（Ｓ１２）を示すフローチャートである。
【図８】図７に示したＳ１２０−１〜１２０−７において実行される試験対象装置に対する試験動作（Ｓ１２０）を示すフローチャートである。
【図９】（Ａ）は、図６（Ｃ）に示した複数の試験の組み合わせの結果を示す情報テーブル（メインマトリクス）を例示する図表であり、（Ｂ）は、各試験について個別に管理される複数の試験構成部分の組み合わせの結果を示す情報テーブル（サブマトリクス）を例示する図表であり、（Ｃ）は、（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを統合した情報テーブルを例示する図表である。
【図１０】図９（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを使用した試験１〜３（試験要素部分１−１〜３−２）を実行するために用いられる第３のパラメータテーブルを例示する図表である。
【図１１】ユーザが、図９（Ａ）〜（Ｃ）に示した情報テーブル（マトリクス）を編集するためのＵＩ(User Interface)画像を例示する図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［第１の実施形態］
以下、本願発明の第１の実施形態を説明する。
図１は、本願発明が適用される機器試験システム１の構成を例示する図である。
図１に示すように、機器試験システム１は、制御操作装置１０−１〜１０−ｎ、測定器１２−１〜１２−ｎおよび信号切替器１６−１〜１６−ｎから構成される。
なお、ｎは１以上の整数を示すが、常に同じ数を示すとは限らない。
また、操作制御装置１０−１〜１０−ｎなど、複数あり得る構成部分のいずれかを特定せずに示すときには、単に操作制御装置１０と記す。
また、操作制御装置１０など、機器試験システム１の各構成部分をノードと総称することがある。
【００１０】
機器試験システム１において、操作制御装置１０、測定器１２および信号切替器１６は、ＬＡＮ１４０を介して相互に接続され、操作制御装置１０および測定器１２は、装置間
信号線１４２を介して相互に接続され、測定器１２と信号切替器１６とは、測定線１４４を介して相互に接続される。
操作制御装置１０は、ＣＰＵ１０２、メモリ１０４およびこれらの周辺回路などを含む本体１００、表示装置、キーボードおよびマウスなどを含む入出力装置１０６、他のノードとの間の通信を行う通信装置１１０、および、記録媒体１１４に対してデータ・情報を記憶し、読み出す記録装置１１２を含む（ソフトウェア制御が行われる測定器１２および試験対象装置１８、および、機器試験システム１において情報処理の主体となりうる全てのノードについて同様）。
つまり、操作制御装置１０およびその他のノードは、情報処理および通信機能を有するコンピュータとしての構成部分を含む。
以下に説明する試験のための各処理は、情報処理の主体となりうるノードに、記録媒体１１４などを介して供給され、メモリ１０４にロードされて、各ノードのハードウェア資源を具体的に利用して実行されるプログラムにより実現される。
【００１１】
機器試験システム１は、これらの構成部分により、１つ以上の構成部分１８０を含む試験対象装置１８−１−１〜１８−ｎ−ｎの試験およびその故障箇所の特定を行う。
つまり、機器試験システム１においては、操作制御装置１０の制御により、信号切替器１６内の接続を変更して、試験に必要とされる測定器１２と、試験の対象となる試験対象装置１８とを接続して、試験対象装置１８の測定（例えば、試験対象装置１８が無線機の場合には受信感度、送信出力、受信信号のノイズ測定、周波数案程度および電源動作など）を行い、この測定結果を解析して、試験対象装置１８が正常に動作しているか否か、および、試験対象装置１８が正常に動作していないときには、故障が試験対象装置１８のいずれの構成部分１８０（電源装置、増幅装置、冷却装置および制御装置など）の不具合に起因するかが特定され、試験結果とされる。
なお、機器試験システム１においては、いずれの操作制御装置１０も、試験レシピに従って、全ての試験対象装置１８の試験を行うことができ、通常は、試験結果は共有データ記憶装置２０に記憶されるが、共有データ記憶装置２０が存在しない場合、ＬＡＮ１４０に障害が起きたときには、試験を行った操作制御装置１０に記憶される。
【００１２】
図２は、図１に示した操作制御装置１０が試験対象装置１８の試験を行うために必要とされるパラメータを定義し、操作制御装置１０のメモリ１０４などに記憶される第１のパラメータテーブルを例示する図表である。
図３（Ａ）は、図２に示した第１のパラメータテーブルにおいて、試験３に対して設定された試験条件１を例示する図表であり、（Ｂ）は、図２に示したパラメータテーブルにおいて、試験６に対して設定された試験条件７を例示する図表である。
図２に示すように、第１のパラメータテーブルにおいて、大項目番号０〜６および大項目番号５に対する小項目番号１，２に対応して、試験１〜５，６−１，６−２，７のパラメータが定義される。
【００１３】
つまり、図２に示すように、試験１〜５，６−１，６−２、７それぞれに対して、これらの試験を実行するために必要とされ、操作制御装置１０のメモリ１０４などに記憶されたパラメータファイルの名称が設定され、さらに、これらの試験それぞれの結果を判定するための基準（要求基準）とその単位、結果を正常と判断するための基準の上限値および下限値が設定される。
なお、以下に示す各テーブル・データなどは、図２に示したパラメータファイルおよびパラメータテーブルと同様に、操作制御装置１０のメモリ１０４に記憶される。
さらに、図２に点線で示すように、試験３，７に対しては、図３（Ａ），（Ｂ）に示すように、これらの試験が実行されるための条件が定義される。
つまり、図３（Ａ）に示すように、試験３は、試験１，２の両方の結果が正常（良）と判断されたときにのみ実行され、これらの一方でも不正常（否）と判定されたときには実
行されない。
また、図３（Ｂ）に示すように、試験７は、少なくとも試験６−１，６−２の一方の結果が不正常（否）と判定されたときにのみ実行され、これらの両方が良と判断されたときには実行されない。
【００１４】
以下、機器試験システム１における試験動作を説明する。
図４は、図２，図３（Ａ），（Ｂ）に示したパラメータテーブルおよび試験条件に従った機器試験システム１の第１の試験動作（Ｓ１０）を示すフローチャートである。
図４に示すように、ステップ１００（Ｓ１００）において、操作制御装置１０は、信号切替器１６の接続を変更して、試験対象装置１８−ｉ（１≦ｉ≦ｎ；以下同様）と、その試験において用いられる測定器１２とを接続させ、測定器１２の測定結果を解析し、例えば構成部分１８０−ｉ−１に関する第１の試験を行う。
操作制御装置１０は、第１の試験の結果が、パラメータテーブルに設定された基準を満たすか満たさないか（良否）を判断する。
ステップ１０２（Ｓ１０２）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００においてど同様な処理を行い、例えば構成部分１８０−ｉ−２に関する試験２を実行してその結果の良否を判断する。
【００１５】
ステップ１０４（Ｓ１０４）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００，Ｓ１０２の処理において行われた試験１，２の結果と、図３（Ａ）に示された試験条件１の内容とを比較する。
つまり、操作制御装置１０は、パラメータテーブル（図２）に設定された試験条件１（図３（Ａ））を参照して、試験６−１，６−２の両方の結果が良であったか（試験６−１，６−２のいずれの結果にも否がなかったか）否かを判断する。
ステップ１０６（Ｓ１０６）において、操作制御装置１０は、試験１，２の結果が試験条件１に適合しているか否かを判断し、試験１，２の結果が試験条件１に適合しているとき（試験１，２の結果の両方が良のとき）にはＳ１１０の処理に進み、それ以外のときにはＳ１０８の処理に進む。
ステップ１０８（Ｓ１０８）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００，Ｓ１０２においてと同様の処理を行い、例えば構成部分１８０−ｉ−３に関する試験３を実行してその結果の良否を判定する。
【００１６】
ステップ１１０〜１１４−２（Ｓ１１０〜１１４−２）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００，Ｓ１０２などにおいてと同様の処理を行い、例えば構成部分１８０−ｉ−４〜１８０−ｉ−（６−１），１８０−ｉ−（６−２）に関する試験４〜６−２を実行してその結果の良否を判定する。
ステップ１１６（Ｓ１１６）において、操作制御装置１０は、Ｓ１１０〜Ｓ１１４−２の処理において行われた試験４〜６−２の結果と、図３（Ｂ）に示された試験条件２の内容とを比較する。
つまり、操作制御装置１０は、パラメータテーブル（図２）に設定された試験条件２（図３（Ｂ））を参照して、試験６−１，６−２の両方の結果が良であったか否かを判断する。
【００１７】
ステップ１１８（Ｓ１１８）において、操作制御装置１０は、試験６−１，６−２の結果が試験条件２に適合しているか否かを判断し、試験６−１，６−２の結果が試験条件２に適合しているときには処理を終わり、これ以外のときにはＳ１２０の処理に進む。
ステップ１２０（Ｓ１２０）において、操作制御装置１０は、Ｓ１００，Ｓ１０２においてと同様の処理を行い、例えば構成部分１８０−７に関する試験７を実行してその結果の良否を判定し、処理を終了する。
【００１８】
以上説明したように機器試験システム１を動作させると、各試験の以前の試験の結果に応じて必要な試験のみが実行されるので、各試験を何らの判断もせずに順次、実行する場合と比べて、試験時間が短くて済む。
また、以上説明したように機器試験システム１を動作させると、故障が発生したときにのみその原因を詳細に調べるための試験を実施して、故障の原因となっている構成部分１８０を容易に特定できるようになる。
【００１９】
［第２実施形態］
以下、本発明の第２実施形態を説明する。
図５（Ａ）は、図１に示した操作制御装置１０が試験対象装置１８の試験を行うために必要とされるパラメータを定義し、操作制御装置１０のメモリ１０４などに記憶される第２のパラメータテーブルを例示する図表であって、（Ｂ）は、第２のパラメータテーブルにおいて試験判定を示す情報として設定された０〜２の値が示す内容を定義する判定テーブルを例示する図表である。
図５（Ａ）に示すように、第２のパラメータテーブルは、図２に示した第１のパラメータテーブルの内容に加えて、試験判定を０〜２の数値で示す情報が設定される。
なお、この第２のパラメータテーブルには、第１のパラメータテーブルと同様に、各試験に対して試験条件が設定可能なので、第２のパラメータテーブルと、図３（Ａ），（Ｂ）に示した試験条件テーブルとを組み合わせることにより、図４に示したような試験シーケンスの制御も可能である。
【００２０】
図５（Ｂ）に示すように、試験判定の値０は、第２のパラメータテーブルに定義された試験１〜５，６（６−１，６−２），７それぞれに設定されたときに、この値が設定された試験（当該試験）を実行し、次の試験に進むことを示す。
また、試験判定の値１は、この値が設定された当該試験を実行し、さらに、故障部位の特定を行うことを示す。
また、試験判定の値２は、故障部位の特定を行い、特定できなかったときにのみ当該試験を実行することを示す。
【００２１】
図６（Ａ）は、操作制御装置１０が試験として機能試験Ａ〜Ｅを行うことを例示する図であり、（Ｂ）は、（Ａ）に示した試験の結果を例示する図であり、（Ｃ）は、操作制御装置１０のメモリ１０４などに試験前に予め記憶される複数の試験Ａ〜Ｅの結果の組み合わせを示す情報テーブルを例示する図表であり、（Ｄ）は、（Ｃ）に組み合わせた図表に示された試験Ａ〜Ｅの結果の組み合わせから特定される試験Ａ〜Ｅの試験対象装置１８の故障箇所の候補を示す候補テーブルを例示する図表である。
なお、図６（Ａ）〜（Ｄ）において、図２〜図５（Ａ），（Ｂ）などの他の図面とは異なり、試験１〜７との用語ではなく、試験Ａ〜Ｅとの用語が使用されているが、これは、図時の関係上の問題で、本願発明の本質とは関係がない。
【００２２】
図６（Ａ）に示すように、試験対象の試験対象装置１８−ｉに対して試験Ａ〜Ｅが行われると、例えば、図６（Ｂ）に示す結果が得られる。
例えば、試験Ａ〜Ｅの実行に先立つ検討により、あるいは、それまでの試験による故障部位の特定の結果に基づいて、図６（Ｃ）に示すように、試験対象装置１８−ｉの故障部位（構成部分１８０）の特定に役立つ試験結果の組み合わせを示す情報テーブルが予め求められ、操作制御装置１０の入出力装置１０６に記憶される。
さらに、例えば、図６（Ｄ）に示すように、図６（Ａ）に示した試験対象装置１８−ｉに対する組み合わせ番号１〜６の試験結果の組み合わせそれぞれに対応して、故障の原因として特定されるべき試験対象装置１８−ｉの構成部分１８０−ｉ−ｊ（１≦ｊ≦ｎ）の候補と、その可能性の高さの順番（１，２，・・・；数値が少ない方が可能性が高い）が、例えば図６（Ｃ）に示した情報テーブルに含まれる複数の試験の組み合わせの結果と同
様に、試験Ａ〜Ｅの実行に先立つ検討により、あるいは、それまでの試験による故障部位の特定の結果に基づいて求められ、操作制御装置１０の入出力装置１０６に、候補テーブルとして記憶される。
【００２３】
図７は、図１に示した機器試験システム１における図５，図６（Ａ），（Ｂ）に示したパラメータテーブルおよび試験条件に従った機器試験システム１の第２の試験動作（Ｓ１２）を示すフローチャートである。
図８は、図７に示したＳ１２０−１〜１２０−７において実行される試験対象装置１８−ｉに対する試験動作（Ｓ１２０）を示すフローチャートである。
図７に示すように、図２〜図４に示した第１の試験動作（Ｓ１０）と組み合わされない場合には、例えば、ステップ１２０−１〜１２０−７（Ｓ１２０−１〜１２０−７）において、試験対象装置１８−ｉに対する試験１〜７が順次、実行される。
【００２４】
図８に示すように、Ｓ１２０−ｋ（ここでは１≦ｋ≦７）に対応する試験ｋのステップ１２２（Ｓ１２２）において、操作制御装置１０は、その試験において、図５（Ａ）に示した試験判定の結果に定義されている値を判断する。
操作制御装置１０は、図５（Ｂ）に定義された試験判定の結果に対応した試験の実行の態様に従って、試験判定の結果の値が０または１であるときにはＳ１３０の処理に進み、この値が２であるときにはＳ１２２の処理に進む。
ステップ１２２（Ｓ１２２）において、操作制御装置１０は、図６（Ｃ）に示した複数の試験の組み合わせの結果を示す情報テーブルと、図６（Ｄ）に示した候補テーブルにより特定される故障部位とを比較し、試験対象装置１８−ｉの故障部位を特定する。
ステップ１２４（Ｓ１２４）において、操作制御装置１０は、Ｓ１２２の処理において、故障部位が特定されたときには次の処理（試験（ｋ＋１）または処理終了）にすすみ、これ以外のときにはＳ１２６の処理に進む。
ステップ１２６（Ｓ１２６）において、操作制御装置１０は、試験ｋを実行する。
【００２５】
ステップ１３０（Ｓ１３０）において、操作制御装置１０は、試験ｋを実行する。
ステップ１３２（Ｓ１３２）において、操作制御装置１０は、図５（Ｂ）に定義された試験判定の値が０のときには次の処理に進み、この値が１のときにはＳ１３４の処理に進む。
ステップ１３４（Ｓ１３４）において、操作制御装置１０は、Ｓ１２２における処理と同様に、Ｓ１３０において実行された試験ｋの結果と、それ以前の試験１〜（ｋ−１）との結果の組み合わせに基づいて、故障部位の特定を行う。
【００２６】
［複数の試験の組み合わせの結果を示す情報の管理方法］
以下、機器試験システム１の第２の試験動作における複数の試験の組み合わせの結果を示す情報の管理方法を説明する。
図９（Ａ）は、図６（Ｃ）に示した複数の試験の組み合わせの結果を示す情報テーブル（メインマトリクス）を例示する図表であり、（Ｂ）は、各試験について個別に管理される複数の試験構成部分の組み合わせの結果を示す情報テーブル（サブマトリクス）を例示する図表であり、（Ｃ）は、（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを統合した情報テーブルを例示する図表である。
図６（Ｃ）に示した複数の試験結果の組み合わせは、例えば、各試験が複数の試験の集合（試験構成部分）から構成されており、これら複数の試験構成部分を実行することにより、各試験が実現されるような場合には、１つのテーブルで、複数の試験結果の組み合わせと、複数の試験結果それぞれの試験構成部分の結果とを定義することは複雑で難しくなってしまう。
【００２７】
このようなときには、この情報テーブルを部分ごと、例えば、図９（Ａ），（Ｂ）に示
すように、全試験１〜３の組み合わせの結果を項目として含むが、実際には、試験１，２に含まれる試験構成部分１−１〜２−２の組み合わせの結果のみを示す情報テーブル（メインマトリクス）と、試験３に含まれる試験構成部分３−１，３−２の組み合わせの結果を抜粋して示す情報テーブル（サブマトリクス）とが分けられて定義されうると便利である。
操作制御装置１０は、図９（Ａ）に示すメインマトリクスのみを、試験１（試験構成部分１−１）の開始時から試験２（試験要素２−２）の終了時まで参照して試験１，２を実行し、試験３（試験構成部分３−１）が実行される時点で、さらに、図９（Ｂ）に示すサブマトリクスを参照し、これらを図９（Ｃ）に示すように統合して用いて試験３（試験構成部分３−１，３−２）を実行する。
なお、各試験１〜３において、操作制御装置１０は、図９（Ａ），（Ｃ）に示した情報テーブルと、これとは別途設けられた故障箇所の特定をするための候補テーブル（図示せず；図６（Ｄ）を参照）とを参照して、故障箇所を特定する。
【００２８】
図１０は、図９（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを使用した試験１〜３（試験要素部分１−１〜３−２）を実行するために用いられる第３のパラメータテーブルを例示する図表である。
図９（Ａ），（Ｂ）に示したメインマトリクスとサブマトリクスとを使用した試験１〜３（試験要素部分１−１〜３−２）を実行するためには、図５に示した第２のパラメータテーブルに、図１０に示すように、サブマトリクスを用いて行われる試験項目（図９（Ａ）〜（Ｃ），図１０においては試験３）に対応して、その試験からに用いられるサブマトリクスを内容とし、操作制御装置１０のメモリ１０４に記憶されるサブマトリクスファイル名が追加された第３のパラメータテーブルが用いられる。
このような手順で試験を行うためには、操作制御装置１０は、第３のパラメータテーブルに従って、図７，８に示したように、まず、メインマトリクスを用いて試験１〜３を実行し、図７に示したＳ１２０−３の処理を開始するときに、サブマトリクスをさらに用いて試験３を行えばよい。
【００２９】
［マトリクスの編集］
図１１は、ユーザが、図９（Ａ）〜（Ｃ）に示した情報テーブル（マトリクス）を編集するためのＵＩ(User Interface)画像を例示する図である。
なお、図１１には、図９（Ｂ）に示した試験３のサブマトリクスの他に、試験１のサブマトリクスが存在し、メインマトリクスと試験１，３のサブマトリクスが統合されて表示されている場合が例示されている。
操作制御装置１０は、例えば、図１０に示した第３のパラメータテーブルを、入出力装置１０６に表示してユーザに示す。
ユーザが、表示されたパラメータテーブルの試験項目をクリックすると、操作制御装置１０は、クリックされた試験項目において用いられる図９（Ａ）〜（Ｃ）のいずれかに示された情報テーブル（マトリクス）を、図１１に示すように、入出力装置１０６にＵＩ画像として表示する。
ユーザは、表示されたＵＩ画像を用いて、パラメータテーブルおよび各マトリクスなどの編集を行い、ユーザが編集を終了させるための操作を行うと、操作制御装置１０は、編集されたパラメータテーブルおよび各マトリクスを、メモリ１０４に記憶する。
【００３０】
［機器試験システム１の特徴］
以上説明したように、機器試験システム１によれば、不具合が発生した場合の電子機器などの試験対象装置１８において、故障の原因となっている構成部分１８０を容易に特定できる。
つまり、機器試験システム１によれば、予め用意された情報テーブル（マトリクス）と候補テーブルとを用いて試験が行うので、故障箇所が短時間で効率よく特定されうる。
また、機器試験システム１においては、情報テーブルが、メインテーブルとサブテーブルに分けて定義できるので、情報テーブルへの項目の追加および削除が容易であり、ユーザは、試験の目的に応じて、適宜、各マトリクスを編集して試験の内容を変更・更新して実行することができる。
【産業上の利用可能性】
【００３１】
本願発明は、電子装置などの機器の試験のために利用可能である。
【符号の説明】
【００３２】
１・・・機器試験システム，１０・・・操作制御装置，１００・・・本体，１０２・・・ＣＰＵ，１０４・・・メモリ，１０６・・・入出力装置，１１０・・通信装置，１２・・・測定器，１４０・・・ＬＡＮ，１４２・・・装置間信号線，１４４・・・測定線システム，１６・・・信号切替器，１８・・・試験対象装置，１８０・・・構成部分，
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験の対象に対して複数の種類の試験を行う試験装置であって、
前記試験の対象に対して前記複数の試験を、順次、行う試験手段と、
予め与えられた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果と、前記試験の対象に対して行われた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果とを比較する結果比較手段と、前記比較の結果に基づいて、この比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する選択手段と
を有する試験装置。
【請求項２】
前記複数の試験それぞれは、それぞれに第２の結果が得られる複数の試験構成部分を含み、
前記試験手段は、前記試験対象に対して、前記複数の試験それぞれに含まれる試験構成部分それぞれを行って、この試験に含まれる複数の構成部分の第２の結果の集合を、この試験の前記第１の結果とし、
前記予め与えられた複数の試験の組み合わせの第１の結果それぞれは、
この試験に含まれる前記複数の試験構成部分の第２の結果の少なくとも１つ以上
を含み、
前記結果比較手段は、前記予め与えられた複数の試験の組み合わせの第１の結果と、前記複数の試験の組み合わせの実行により得られた第１の結果とを比較し、
前記選択手段は、前記予め与えられた第１の結果および予め与えられた第１の結果に含まれる１つ以上の第２の結果と、前記複数の試験の組み合わせの実行により得られた第１の結果および第１の結果に含まれる前記１つ以上の第２の結果とを比較し、
前記選択手段は、前記第１の結果の比較結果と、前記第１の比較結果および第２の結果の比較結果とに基づいて、これらの比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する
請求項１に記載の試験装置。
【請求項１】
試験の対象に対して複数の種類の試験を行う試験装置であって、
前記試験の対象に対して前記複数の試験を、順次、行う試験手段と、
予め与えられた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果と、前記試験の対象に対して行われた前記複数の試験の組み合わせの第１の結果とを比較する結果比較手段と、前記比較の結果に基づいて、この比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する選択手段と
を有する試験装置。
【請求項２】
前記複数の試験それぞれは、それぞれに第２の結果が得られる複数の試験構成部分を含み、
前記試験手段は、前記試験対象に対して、前記複数の試験それぞれに含まれる試験構成部分それぞれを行って、この試験に含まれる複数の構成部分の第２の結果の集合を、この試験の前記第１の結果とし、
前記予め与えられた複数の試験の組み合わせの第１の結果それぞれは、
この試験に含まれる前記複数の試験構成部分の第２の結果の少なくとも１つ以上
を含み、
前記結果比較手段は、前記予め与えられた複数の試験の組み合わせの第１の結果と、前記複数の試験の組み合わせの実行により得られた第１の結果とを比較し、
前記選択手段は、前記予め与えられた第１の結果および予め与えられた第１の結果に含まれる１つ以上の第２の結果と、前記複数の試験の組み合わせの実行により得られた第１の結果および第１の結果に含まれる前記１つ以上の第２の結果とを比較し、
前記選択手段は、前記第１の結果の比較結果と、前記第１の比較結果および第２の結果の比較結果とに基づいて、これらの比較の後に前記試験手段に行わせる試験を選択する
請求項１に記載の試験装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【公開番号】特開２０１１−１６３９５６（Ｐ２０１１−１６３９５６Ａ）
【公開日】平成２３年８月２５日（２０１１．８．２５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２７４６４（Ｐ２０１０−２７４６４）
【出願日】平成２２年２月１０日（２０１０．２．１０）
【出願人】（０００００１１２２）株式会社日立国際電気 (5,007)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年８月２５日（２０１１．８．２５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年２月１０日（２０１０．２．１０）
【出願人】（０００００１１２２）株式会社日立国際電気 (5,007)
【Ｆターム（参考）】
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