説明

浜松ホトニクス株式会社により出願された特許

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【課題】上記問題点を解消する為になされたものであり、小型化可能な光源装置を提供する。
【解決手段】光源装置1は、面発光レーザ素子10および光位相変調部20を備える。面発光レーザ素子10は、基板11上にDBR層12、活性層15およびDBR層18等が形成されたものであり、レーザ発振させるための共振器がDBR層12,18により構成されている。光位相変調部20は、面発光レーザ素子10の出射面上に設けられ、入力する光のビーム断面上の位置に応じて該光を位相変調して透過させ、その位相変調後の光を出力する。光位相変調部20に入力される光のビーム断面上において、所定位置を中心とするp個の円周によって区分される(p+1)個の領域を設定したときに、(p+1)個の領域それぞれの径方向の幅が外側の領域ほど広く、(p+1)個の領域それぞれにおいて位相変調量が一定であり、(p+1)個の領域のうち隣り合う2つの領域の間で位相変調量がπだけ異なる。 (もっと読む)


【課題】半導体発光素子のサブマウント実装時において、メサ部に加わる応力を低減できる光源装置および光半導体素子を提供する。
【解決手段】本発明に係る光源装置3において、サブマウント90と第1の電極部50aとの間に空隙70が形成されてなることから、サブマウント90は、補強部材40の上面40aに形成された第2の電極部50bとのみ接触し、メサ部20の上面20aに形成された第1の電極部50aとは接触しない構造となる。これにより、半導体発光素子1をサブマウント90に実装する際、サブマウント90から基板11方向に加わる応力は、サブマウント90と接する第2の電極部50bのみに加わり、第2の電極部50bを介して補強部材40へ伝わる。よって、サブマウント90実装時において、第1の電極部50aを介してメサ部20に応力が加わることを低減することができる。 (もっと読む)


【課題】 構造を単純化することができるテラヘルツアンテナモジュールを提供する。
【解決手段】 テラヘルツアンテナモジュール1では、光導電アンテナ素子17が配線基板9に固定され、配線基板9の信号配線を介して電気信号入出力用ポート23の電気信号入出力用ピン24と電気的に接続されている。また、緩衝部材7、半球状レンズ8、光導電アンテナ素子17及び配線基板9がベース2の開口6側からこの順序でベース2の凹部3に配置され、ベース2へのカバー25の取付けによって、配線基板9、光導電アンテナ素子17及び半球状レンズ8が緩衝部材7に対して押圧されている。更に、半球状レンズ8の光軸OAが光導電アンテナ素子17の光導電アンテナ部を通るように、凹部4によって配線基板9が位置決めされ、緩衝部材7によって半球状レンズ8が位置決めされている。 (もっと読む)


【課題】 半導体素子と配線基板での対応する導電路とが良好に接続される半導体装置を用いた放射線検出器を提供する。
【解決手段】 入力面20a側で開口面積が大きくなるテーパ部20dを有する貫通孔20cが設けられたガラス基板、及び貫通孔20cの内壁に形成された導電性部材21からなる配線基板20を用いる。この配線基板20の入力面20a上に形成された導電性部材21の入力部21aに対し、PDアレイ15の出力面15b上に導電性部材21に対応して設けられたバンプ電極17を接続して、半導体装置5とする。そして、PDアレイ15の光入射面15aに光学接着剤11を介してシンチレータ10を接続し、配線基板20の出力面20bにバンプ電極31を介して信号処理素子30を接続して、半導体検出器を構成する。 (もっと読む)


【課題】 半導体素子と配線基板での対応する導電路とが良好に接続される半導体装置を提供する。
【解決手段】 入力面20a側で開口面積が大きくなるテーパ部20dを有する貫通孔20cが設けられたガラス基板、及び貫通孔20cの内壁に形成された導電性部材21からなる配線基板20を用いる。この配線基板20の入力面20a上に形成された導電性部材21の入力部21aに対し、PDアレイ15の出力面15b上に導電性部材21に対応して設けられたバンプ電極17を接続して、半導体装置5とする。そして、PDアレイ15の光入射面15aに光学接着剤11を介してシンチレータ10を接続し、配線基板20の出力面20bにバンプ電極31を介して信号処理素子30を接続して、半導体検出器を構成する。 (もっと読む)


【課題】クラック発生を防止し、転位密度も低減することのできる窒化物半導体基板を提供する。
【解決手段】窒化物半導体基板1は、下地層4上に成長し、厚み方向に沿った断面が略三角形状であって、かつ周期的なストライプ状をなし、ストライプの斜面61上に凹凸面62を設けられたGaN系半導体層6と、GaN系半導体層6上に形成されたAlGaN又はInAlGaNからなる埋め込み層7とを備える。凹凸面62は、水平断面における斜面の垂線方向が多方向にわたる多数の細斜面からなる。 (もっと読む)


【課題】小型化が可能な全反射テラヘルツ波測定装置を提供する。
【解決手段】全反射テラヘルツ波測定装置1は、テラヘルツ波を用いて全反射測定法により測定対象物Sの情報を取得するものであって、光源11、分岐部12、チョッパ13、光路長差調整部14、偏光子15、ビームスプリッタ17、テラヘルツ波発生素子20、内部全反射プリズム31、テラヘルツ波検出素子40、1/4波長板51、偏光分離素子52、光検出器53A、光検出器53B、差動増幅器54およびロックイン増幅器55を備える。内部全反射プリズム31は、いわゆる無収差プリズムであって、入射面31a,出射面31bおよび反射面31cを有する。内部全反射プリズム31の入射面31aにテラヘルツ波発生素子20が一体に設けられ、内部全反射プリズム31の出射面31bにテラヘルツ波検出素子40が一体に設けられている。 (もっと読む)


【課題】 散乱成分をより効率良く分離可能なエネルギー閾値を決定できる閾値決定方法を提供する。
【解決手段】線源2からの放射線Rをコリメータ6を通して放射線検出器3で光子計数法により検出し、その検出データに基づいて、検出器の検出領域のうち、放射線の直進成分の検出領域を第1領域Aとし、散乱成分の検出領域を第2領域B1,B2とし、第1領域内及び第2領域内のカウント値の平均値の比(第1カウント比)を算出する。次に、検出器のエネルギー閾値を上げながら被照射物5を通過した放射線を検出器によって検出し、各エネルギー閾値の検出データに基づき、第1領域内及び第2領域内のカウント値の平均値の比(第2カウント比)を算出する。次いで、複数のエネルギー閾値のうち第1カウント比に基づいた所定の条件により第2カウント比を選択し、その第2カウント比に対するエネルギー閾値を直進成分弁別用閾値とする。 (もっと読む)


【課題】透過測定法と全反射測定法との間の切り替えが容易であって安定した測定条件で測定を行うことができるテラヘルツ波測定装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波測定装置1は、透過測定法と全反射測定法との間の切り替えが可能でテラヘルツ波を用いて測定対象物の情報を取得するものであって、光源11、分岐部12、チョッパ13、光路長差調整部14、偏光子15、合波部16、テラヘルツ波発生素子20、第1プリズム310、第2プリズム320およびテラヘルツ波検出素子40等を備える。第1プリズム310は、入射面310a,出射面310b,反射面310c,凹部を形成する第1副反射面310dおよび第2副反射面310eを有する。第2プリズム320は、第1プリズム310の凹部に嵌合し得る形状を有する凸部を形成する入射面320aおよび出射面320b、内部空間320cを有する。 (もっと読む)


【課題】 レーザ光の幅広い波長領域に渡って、発光素子の評価試験を精度よく行なうことができるとともに、装置の小型化と低コスト化に資することのできる光検出素子と、それを用いた発光素子試験装置を提供する。
【解決手段】 第1導電型の半導体基板101と、半導体基板の上面の一部に形成された第2導電型の不純物半導体領域104と、第2導電型の不純物半導体領域の上面側の受光面に、多数の開口を有する積層体を備え、積層体は、下層を形成する光反射性金属膜106、及び上層を形成して表面の多数の凹凸により光反射を低減する光無反射性のメッキ黒色膜107から成ることを特徴とする。 (もっと読む)


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