説明

株式会社フォトニックラティスにより出願された特許

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【課題】 本発明は,光の損失の少ない偏光コンバーターを有する光源又は光源モジュールを提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は,基本的には,2つの波長板部分を交互に有するアレイを2枚対向させ,これら2枚のアレイ間に伝搬層を設け,この伝搬層の厚さを所定のものとすることで,偏光コンバーターの損失を効果的に防止できるという知見に基づくものである。偏光コンバーターは,第1の波長板アレイ103と,第2の波長板アレイ115と,伝搬層120と,を有する。第1の波長板アレイ103は,帯状の第1の波長板101と,帯状の第2の波長板102とを交互に複数有する。第2の波長板アレイ115は,第3の波長板113と第4の波長板114とを交互に複数有する。 (もっと読む)


【課題】微小な領域の薄膜の厚さや光学定数の2次元分布を高速かつ高精細に計測することのできる測定機の提供。
【解決手段】入射・受光光学系と偏光測定モジュール105と解析装置とを具えるエリプソメータで、入射光学系は平行光ビームを出射する機構と光ビームの偏光状態を定める偏光子102あるいは波長板を有し、受光光学系は測定試料103から反射された光ビームを受光し、測定試料面の像を前記偏光計測モジュールに含まれるエリアセンサ106に結像させるレンズ系、偏光計測モジュールは波長板アレイ107と、均一偏光子108と、エリアセンサとを含む。波長板アレイは1次又は2次元的に繰り返し配置された複数の単位ユニットを含み、該ユニットは同異方性軸の方向が異なる少なくとも4種類の波長板を含む。均一偏光子は一方向の透過軸を有し、エリアセンサは前記波長板アレイおよび前記均一偏光子の順に通過した光を独立にその強度を測定できる。 (もっと読む)


【課題】小型化が実現可能な偏光多重光コヒーレント通信用90°ハイブリッドを提供することにある。
【解決手段】 領域ごとに透過軸方向の選択可能な偏光分離作用のあるフォトニック結晶偏光子や、領域ごとに遅相軸方向の選択可能な偏光回転作用のあるフォトニック結晶波長板を、石英系光導波路チップの導波路上に挿入することで、偏光多重光コヒーレント通信用90°ハイブリッドを小型にする。 (もっと読む)


【課題】 構造複屈折を周期的に実現することで機能する回折格子における設計の自由度を高める。
【解決手段】 周期構造の持つ構造複屈折を用いるにあたり、一方向の周期性だけではなく2次元の周期性を活用することで、より高い自由度が得られる。 (もっと読む)


【課題】 構造複屈折を用いた位相板において、設計の自由度を高める。
【解決手段】 構造複屈折を用いた位相板において、1方向の周期性だけではなく2次元の周期性を用いることで、設計の自由度を高める。 (もっと読む)


【課題】 所定領域の歪の値を迅速に測定することを可能にする。
【解決手段】 成形し徐冷されて移動するガラスリボンの帯状領域を、既知の偏光光を通過させ、この帯状領域の各点を通過した光の偏光方位の変化を画素単位で検出して算出し、前記算出した各点の偏光方位の変化量から前記ガラスリボンの帯状領域の各点の歪を一度に求め、前記ガラスリボンの移動にあわせて所定の間隔で、前記帯状領域の歪を求めることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】小型、高速、広ダイナミックレンジ、周辺環境変化に対して冗長であることを同時に満たすストークスパラメータを取得できる光計測装置を提供する
【解決手段】2次元三角格子状に複数配列した光ファイバと、周期構造体群を含み、各光ファイバと周期構造体群を1対1で直列に配置してなる光学複合部品を用いる。かつ2次元または3次元の周期構造体群は、同種の周期構造体群が隣り合わず、かつ同種の周期構造体群が2次元長方形格子状の並進対称性を有して配列する。さらに1つの周期構造体群は6つの周期構造体群と隣接する光学複合部品を用いる。 (もっと読む)


【課題】 本発明は,光源からの光ビームの位置がずれるなど入射光の強度分布に変化が生じた場合であっても,適切に偏光面や位相差を測定できる偏光測定器や測定システムなどを提供することを目的とする。
【解決手段】 上記の課題は,偏光子アレイを具備する偏光測定器や測定システムであって,偏光子アレイが複数の行を有し,各行は,透過偏光軸が所定の方向から180(1/n)°,180(2/n)°,・・・,及び180{(n−1)/n}°ずれた領域を有するものにより解決される。また,上記課題は,波長板アレイを具備する偏光測定器や測定システムであって,波長板アレイが複数の行を有し,各行は,波長板の光軸が所定の方向から180(1/n)°,180(2/n)°,・・・,及び180{(n−1)/n}°ずれた領域を有するものにより解決される。
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【課題】基板の欠陥が表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを区別できる検査装置を提供することにある。
【解決手段】 反射光の偏光依存性の最も大きくなるブリュースター角に近くなるよう設置した光源と、その反射光を撮影する偏光カメラを用いて、表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを判別する。 (もっと読む)


【課題】偏光の2次元分布を高速あるいは高精細に計測することのできる計測器を提供することにある。
【解決手段】 透過する偏光の方向が異なる少なくとも2種類の偏光子を交互に繰り返し配置した微小な偏光子アレイと、各偏光子を通過した光の強度を独立に受光することのできるリニアセンサとで構成された偏光計測器を用いる。 (もっと読む)


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