【課題】低抵抗で耐久性が高く、電極間の狭ピッチ化に対応可能な高周波デバイス検査用のコンタクトプローブを提供する。
【解決手段】電極に接触する第１のプランジャーと、第１のプランジャーと連結する第２のプランジャーとからなり、第１のプランジャーは、電極に接触する先端部と、先端部から延設され、第２のプランジャーと連結する連結部と、フランジ部と、連結部から延出する胴体部とを備え、第２のプランジャーは、一端が開放した有底円筒状の鞘部であって、開放端側筒部と、底側筒部と、底側筒部と開放端側筒との間に配置されるコイル状のバネ部とを含み、長手方向に収縮可能な収縮鞘部と、収縮鞘部と一体に形成され、先端が前記端子に接触する接触部とからなり、第１のプランジャーと第２のプランジャーとは、胴体部を収縮鞘部に収容させつつ連結し、バネ部が収縮した際に、前記胴体部の端部外周が前記底側筒部の内周に接触する。 （もっと読む）

【課題】高温中で使用されてもその直径によることなく抵抗値の上昇を抑制可能なコンタクトプローブを提供する。
【解決手段】円筒状のバレルと、前記バレルの端部に設けられるプランジャーと、前記バレル内に収納されて前記プランジャーを外方に向かって付勢する弾性体とを含むコンタクトプローブにおいて、前記プランジャーは、基材と、前記基材の表面に形成されたＮｉメッキ膜と、前記Ｎｉメッキ膜上に形成されたＡｕメッキ膜と、前記Ｎｉメッキ膜と前記Ａｕメッキ膜との間に介在し、Ａｕ、Ｐｄ及びＣｏを含有する合金膜であって、真空雰囲気中で加熱されてなる合金中間膜と、を備え、前記バレルは、その内周を形成するＡｕ層と、前記バレルの外周を形成するＮｉ層と、を含み、前記バレルは、所定の直径を有する芯線の外周面に電鋳法により形成される。 （もっと読む）

【課題】交換性を容易し、安価に製造できる検査プローブを有するプリント基板配線検査用冶具を提供すること。
【解決手段】
検査ボードに配設された検査プローブをプリント基板の端子部に接触させることにより、プリント基板に配設された配線の導通の有無を検査するプリント基板配線検査用冶具であって、上記検査プローブは、被覆リード線の先端部に配設された円筒状のターミナルと、同ターミナルの上部に設けられた接触載置面に接触載置されるスプリングと、同スプリングの上部に接触配置され、プリント基板の端子部に接触させる円筒状のプランジャーと、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】プローブを交換しながら使用する場合において、より長期間に亘り使用することのできるＩＣソケットの提供。
【解決手段】プローブ３０は、一方側に湾曲するとともに、湾曲部３１外方側に凸部３２を突設し、サイドブロック２０は、端面にプローブ３０の凸部３２が嵌入する凹部２１を形成し、メインブロック１０は、端面にプローブ３０の湾曲部内側面を押圧する突片１２を形成しており、プローブ３０をメインブロック１０とサイドブロック２０との間に挟持した際に、プローブ３０の凸部３２がサイドブロック２０の凹部２１に嵌入するとともに、メインブロック１０の突片１２とサイドブロック２０の端面とによってプローブ３０の湾曲部３１が挟持された状態となることを特徴とするＩＣソケット１。 （もっと読む）

【課題】実際の使用に即した高耐久性を有する検査治具および検査治具の接続電極保持部の製造方法の実現。
【解決手段】被検査物の電気的特性を検査するために被検査物の電極とテスタとを電気的に接続する検査治具であって、一方の端が電極に導電接触する複数のプローブ101を保持するヘッド部102と、一方の端が複数のプローブと導電接触し、他方の端がテスタのターミナルに接続される複数の接続電極105が挿通される保持孔111を有し、ヘッド部に隣接配置される接続電極保持部103と、を備え、複数のプローブは、可撓性を有し、両端が両側表面から突出しており、接続電極の一方の端は接続電極保持部の表面より凹んでおり、プローブの他方の端は接続電極保持部の保持孔内に存在するように構成される。 （もっと読む）

【課題】ボードの複数のガイド孔に可撓性のプローブピンを挿通させたプローブカードにおいて、より確実なスクラブ効果が得られるようにする。
【解決手段】複数のプローブ6を、複数のガイド孔を有するボードで案内するプローブカードであって、複数のガイド孔51を有するトップボード部1A,1B;11A,11Bと、複数のガイド孔を有するボトムボード部と、スペーサ2;12と、トップボード部のガイド孔51とボトムボード部の対応するガイド孔に挿通する可撓性の複数のプローブピン6とを備え、トップボード部とボトムボード部の少なくとも一方は、複数のガイド孔を有する２枚のボード3A,3B;13A,13Bを備え、２枚のボードの対応するガイド孔52,53の位置がずれており、挿通したプローブピン6は、プローブカードの表面に対して垂直方向から傾いて突出している。 （もっと読む）

【課題】 組み立てが容易で、接続不良の生じない垂直型プローブカードの実現。
【解決手段】 一方の側に複数のテスタ端子接続部を、他方の側に複数のヘッド接続部102を、内部に配線を有するプローブボード41と、複数のスプリングプローブ91を有するプローブヘッド71と、スプリングプローブと接触する複数のプローブ接触部66を、他方の側に複数のヘッド接続部102と接触する複数のボード接触部62を、内部に配線を有する配線変換部材61とを有する垂直型プローブカードであって、配線変換部材61は、フレキシブル基板であり、プローブボード41と配線交換部材61の間に設けられた異方導電加圧ゴム板51を更に備え、複数のヘッド接続部102と複数のボード接触部62は、異方導電加圧ゴム板51を介して接続される。 （もっと読む）

【課題】 コネクタを有している被検査物の回路動作の検査を行う時に、コネクタとテスタの端子の接続が容易に行える電気回路検査用プローブ装置の実現。
【解決手段】 回路及び回路に接続されるコネクタ104を有する被検査物100のコネクタと、被検査物の回路の動作を検査するテスタの端子と、を接続するプローブ装置であって、コネクタに接触するスプリングプローブ31を備える。 （もっと読む）