説明

インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングにより出願された特許

31 - 40 / 43


スニッファセンサ(10)はスニッファ・チップ(12)を備えた手持ち装置(11)を有している。スニッファ・チップ(12)にスニッファ・チップ(12)の、披検体からの予め定めた距離を求めるための距離検知器が設けられている。テスト動作のトリガは正しい距離が存在しているときにだけ行われる。このような仕方で、スニッファセンサ(10)の誤った手動の位置決めが原因で生じる誤測定が回避される。更にkスニッファセンサ(10)が安定保持されているときにだけテスト動作をトリガする加速度検知器(33)を設けることができる。
(もっと読む)


当該リーク探査機器は携帯機器(11)を有していて、この携帯機器(11)が操作者の身体に固定できるホルダ(10)に取り付けられている。携帯機器(11)からフレキシブルな毛細管路が、スニッファプローブ(13)に繋がっていて、このスニッファプローブ(13)は前方の端部にガス流入口(14)を有している。携帯機器(11)はベース機器(16)に結合されていて、このベース機器(16)は真空ポンプを内蔵している。携帯機器(11)内にはテストガスデテクタが配置されている。比較的短い毛細管路(12)により、ガス分析器の迅速な反応特性が得られる。スニッファプローブ(13)は、小型でかつ軽量であるので、疲れることなく比較的長時間にわたって取り扱うことができる。
(もっと読む)


本発明は、試験ガス漏れ検出装置(1)であって、試験ガスの存在について検査しようとするガスのための入口(2)が設けられており、試験ガス検出器(22)が設けられており、該試験ガス検出器(22)に接続された高真空ポンプシステム(15)が設けられており、該高真空ポンプシステム(15)において、試験ガスの存在について検査しようとするガスの供給に役立つ中間入口(14)が設けられており、高真空ポンプ(15)に接続された予備真空ポンプ(8)が設けられており、試験ガス漏れ検出装置(1)の入口(2)と予備真空ポンプ(8)との間に、弁(5)を備えた管路区分(3,6)が設けられている形式のものに関する。このような形式の試験ガス漏れ検出装置を、迅速かつ高感度にするために、試験ガス漏れ検出装置(1)の入口(2)と高真空ポンプ(15)の中間入口(14)との間に別の高真空ポンプ(11)が設けられており、該高真空ポンプ(11)の出口(12)が、弁(17)を備えた管路区分を介して、予備真空ポンプ(8)の入口(7)に接続されている。
(もっと読む)


漏洩検知では、試験ガスにより発生した信号に、タンク内の真空形成につれて低下する妨害量が重畳する。そこで、量信号MSの負の勾配に応じて、通知下限AGを算出する。ゼロ機能を活動化させると、量信号MSはゼロに低下するのではなく、通知下限AGのレベルまでしか低下しない。通知限界を上回れば、それは漏洩として識別される。それゆえ、どの時点においても、可能な限り最も高い漏洩通知の感度が保証される。
(もっと読む)


リークテスト装置であって、周囲に対して気密に閉鎖された室(10)を有しており、該室(10)内には、テストガス(14)が充填されたテスト対象物(12)が配置される。室(10)には、テストガス(14)には反応するが充填ガス(11)には反応しない分圧センサ(15)が配置されている。これにより高真空および質量分析計を用いずに簡単な手段でリークテストを行うことができる。
(もっと読む)


ガスセンサは検出室(11)を有しており、この検出室はゲッタポンプ(30)と絞り通路(20)を介して接続されている。検出室(11)は、水素に関してのみ選択的に透過性の壁(12,13)によって閉鎖されている。ゲッタポンプ(30)は検出室(11)から水素を吸い出す。前記壁(12,13)を通って水素が検出室(11)内へ拡散されると、このことは高感度の圧力センサ(14)によって検出される。このガスセンサは簡単な構成であり、質量分析計は不要である。
(もっと読む)


サンプリングゾンデは接近するのが困難であり、かつ見通しの悪い環境で漏れガスを検出するためにしばしば使用される。例えば自動車の冷却装置のガス漏れを発見するために使用される。本発明の課題は、サンプリングゾンデの取り扱いを改善することである。この課題は本発明により、サンプリングゾンデ(11)の手持ち操作部(14)に照明装置(25)が設けられており、この照明装置によって被検領域が照明されることによって解決される。これにより接近するのが困難であり、照明の悪い領域でのサンプリングゾンデの取り扱いが格段に簡単になる。
(もっと読む)


本発明は、選択的に働くガス流過面を有するガストランスミッタであって、多数の流過開口(2)を備えた、半導体材料から成る保持円板(3)と、当該保持円板(3)における前記流過開口(2)を覆い、選択的に働くガス流過面(4)を形成するダイヤフラム(5)と、該ダイヤフラム(5)を温度調整する手段とを有する形式のものに関する。公知の温度調整手段を簡易化するために、前記保持円板(3)自体が前記ダイヤフラム(5)の温度を調整する手段として用いられている。
(もっと読む)


本発明はスニフティングチップ(8)と制御ユニット(6)と有するスニフティング漏れ探査器(1)のための試験漏れ装置(14)に関する。すなわち試験漏れ装置(14)はガスリザーブ(31)と、少なくとも校正の間、規定されたガス値が流出する狭窄部(33)とを備えている。試験漏れ装置(14)の特徴は狭窄部(33)の領域にスニフティングチップの接近を認識するセンサ(42)があり、試験漏れ装置がセンサ信号をスニフティング漏れ探査器の制御ユニット(6)に伝送する伝送手段を備えていることである。
(もっと読む)


スニッファプローブを備えた漏れ検出器においては、絞り作用を有する毛管管路として構成されたスニッファチューブ(12)が真空室(13)に通じていて、長手方向で変化する内側横断面を有している。前記横断面は、吸い込まれたガスの流れ方向、つまり入口端部(11)から真空室に向かって大きくなっている。これによって、無駄時間、つまりスニッファチューブ(12)を貫流するガスの所要時間が短縮される。
(もっと読む)


31 - 40 / 43