説明

エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョンにより出願された特許

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分光分析法によって単細胞または単ビーズなどの粒子を連続分析するための装置(100)。該装置、すなわち元素フローサイトメーターは、粒子を連続的に導入する手段(102)と、粒子または該粒子上の分析対象物に結合した元素タグを気化、原子化および励起またはイオン化させる手段(104)と、気化、原子化、励起またはイオン化された粒子の元素成分または該粒子に結合した元素タグを分析する手段(106)とを含む。さらに、分光分析法によって単細胞または単ビーズなどの粒子を連続分析する方法も開示される。
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試料を分析するシステムおよび方法を記載する。本システムは、各々別個の検出領域で検出される複数のイオンビームを形成するイオンソースおよび偏向器を含む。検出システムは、検出領域から得られる情報を使用して試料を分析する。

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