クリスタル・イズ,インコーポレイテッドにより出願された特許
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ドープされた窒化アルミニウム結晶及びそれを製造する方法
【課題】高濃度のドーパントを含有し、高い導電率及び移動度を有し且つ大きなスケールのAlN又はAlGaN結晶を製造する方法を提供する。
【解決手段】複数の不純物種を含む混晶を形成し、その混晶の少なくとも一部中において、1つの不純物種を電気的に活性化させる。混晶の形成には、多結晶ソースを用いた昇華−再凝縮法を利用する。その際、複数の不純物種を含むソース化合物を多結晶ソースに含有させるか、又はソース化合物のガス前駆体を蒸気混合物に導入することによって行う。
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厚みのある擬似格子整合型の窒化物エピタキシャル層
予測臨界厚みを上回る歪みエピタキシャル層を有する半導体構造を製造する。 (もっと読む)
窒化アルミニウムバルク結晶を制御可能にドーピングする方法
ドープされた及びドープされていない化学量論的な高純度の多結晶AlNセラミックスの製造が、例えばAlペレットを窒素ガスと反応させることによって行われる。このような多結晶AlNセラミックスは、高純度のAlN単結晶の製造で使用することができ、このAlN単結晶は、その導電性を増大させるためにアニールすることがでる。 (もっと読む)
ドープされた窒化アルミニウム結晶及びそれを製造する方法
高い導電率及び移動度を有するドープされたAlN結晶及び/又はAlGaNエピタキシャル層の製造を、例えば、複数の不純物種を含む混晶を形成し、この結晶の少なくとも一部を電気的に活性化させることによって達成する。 (もっと読む)
低欠陥の大きな窒化アルミニウム結晶及びそれを製造する方法
AlN中のマイクロボイド(MV)密度を低減することによって、結晶成長時のクラック生成、研磨時のエッチピット生成、AlNウェハ中の光学透過性の低減、並びに場合によってはAlN及び/又はGaNのエピタキシャル成長時の成長ピット密度に関連する多くの問題が排除される。これによって、実際の結晶製造上の方針、並びに低欠陥密度、例えば104cm−3を下回る転位密度及び104cm−3を下回るインクルージョン密度及び/又は104cm−3を下回るMV密度を有する大きなバルクAlN結晶を得ることが容易となる。 (もっと読む)
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