説明

上野精機株式会社により出願された特許

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【課題】リード部との接触面積を十分に確保できない電子部品であっても大電流テストが可能な電子部品測定装置を提供する。
【解決手段】電子部品測定装置1は、複数のリード部S1が突出するとともに、当該リード部S1よりも幅広の金属板S2が底面に貼着され、少なくとも一本のリード部S1aが当該金属板S2と接続された電子部品Sの特性測定を行う。この電子部品測定装置1は、このような電子部品Sが載置されるホールドピン6と、各リード部S1に接触するコンタクト21,22と、コンタクト21,22よりも幅広の金属板用コンタクト22bを備える。金属板用コンタクト22bは、金属板S2に接触させる。 (もっと読む)


【課題】低コストで且つ結果的に1電子部品あたりの曲げ動作を短縮することで装置動作の高速化を可能にした工程処理装置を提供する。
【解決手段】工程処理装置は、連続する複数の停止位置のそれぞれに予備曲げ処理を行う予備曲げ装置44aを1機ずつ複数配置し、またその後段に本曲げ処理を行う本曲げ装置44bを1機ずつ複数配置し、各予備曲げ装置44aと本曲げ装置44bは、装置の配置数と同数のサイクルごとに1度のリード成形処理を行う。 (もっと読む)


【課題】電子部品の位置決め時間や処理時間を確保して処理精度の低下を回避
し、さらに電子部品の保持手段の配置数や工程処理ユニットの制約を緩和させることで電子部品の搬送効率を高めることができ、また、生産効率の向上を図って優れた信頼性と経済性を獲得可能である電子部品の搬送機構及びそれを備えた電子部品検査装置を提供する。
【解決手段】ターンテーブルTの外周に沿って等間隔離間して複数の保持ユニット1が取り付けられる。保持ユニット1の配置間隔は、ターンテーブルTの1ピッチの回転角度と等しく設定されている。保持ユニット1ごとに、2本の吸着ノズル2a、2bが設置されている。 (もっと読む)


【課題】登録するために製品を正しい姿勢にする必要がない位置補正装置、電気部品収納装置および電気部品検査装置に関する。
【解決手段】ターンテーブルTの接線方向をX軸、半径方向をY軸としXY軸との原点O’と、搬送された電子部品の中点とのずれを検出する第1の検出手段と、XY軸の原点O’とターンテーブルの中心とを結ぶθ基準線に対する電子部品Wの角度のずれを検出する第2の検出手段と、前記搬送された電子部品を載置するステージSと、第1の検出手段及び第2の検出手段で検出したズレを戻す方向にステージSを移動させることにより、電子部品Wの姿勢を補正する移動手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】電気テストを行うコンタクトに対して高い精度で電子部品を載置する電気テストユニット及びそれを備えた電気部品検査装置を提供する。
【解決手段】電気テストユニットEの前工程を終えた電子部品Wが、電気テストユニットEを構成するコンタクトCの垂直軸上に位置し停止し、吸着ノズルV1に保持された電子部品WがコンタクトCの直上に位置する。この電子部品Wに対して電気テストを行うコンタクトCに電子部品Wを搬送する搬送手段から電子部品の供給をうける電気テストユニットEであって、コンタクトCの近傍に配置され、コンタクトCと電子部品Wの姿勢を認識する姿勢認識手段2とを有する。姿勢認識手段2の検出結果に基づき、コンタクトCと電子部品Wの姿勢のずれを補正する制御手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】コストを削減するとともに電子部品の生産速度を向上させた電子部品検査装置及びトレイ移載装置を提供する。
【解決手段】トレイ100から電子部品Dを取得して第2の位置415で離脱させる保持手段3aと、回転軌跡上に第1の位置414と第2の位置415を含み、第2の位置415で離脱した電子部品Dを受け取って第1の位置414へ回転させる載替テーブル416とを備えることで、電子部品Dを供給するためのアクチュエータを載替テーブル416を回転させるダイレクトドライブモータ417まで削減する。 (もっと読む)


【課題】キャリアテープポケットに挿入された電子部品の外観検査を行い、不良品を効率よく良品と交換するテーピングユニット及び電子部品検査装置を提供。
【解決手段】電子部品を収容したキャリアテープTを間欠的に移送する駆動ローラ65と、収容された電子部品の不良を撮像して検知する外観検査部8と、電子部品をキャリアテープTに設けられたポケットに収容する位置Pと電子部品の不良を撮像して検知する位置Qとの間を、キャリアテープTの移動方向に沿ってテーピングユニット本体部4を移動させるテーピングユニット駆動部とを備える。テーピングユニット駆動部は、外観検査部8において電子部品の不良が検知された場合に、テーピングユニット本体部4を移送して、外観検査位置Qにあるポケットを収容除去位置Pまで戻すことにより、不良品を吸着保持して排出する。 (もっと読む)


【課題】ピックアップ部材がピックアップカメラの光路を遮るまでのピックアップ部材の回転角度を拡大して、ピックアップ部材の回転速度を速めても、ピックアップカメラによりデバイスの画像を確実に取り込むことができる、動作信頼性及び生産性に優れたロータリー式ピックアップ機構及びそれを備えた半導体処理装置を提供する。
【解決手段】ロータリー式ピックアップ機構6では、ピックアップ部材であるピックアップヘッド61が4本、駆動軸60に対し円周等配位置に、十字状に延びて取り付けられている。各ピックアップヘッド61は、少なくとも中心線が、駆動軸60を中心とした円(図2にて一点鎖線にて図示)の半径の延長線よりも回転方向と逆方向にずらして配置されている。 (もっと読む)


【課題】ボウルと直進フィーダーとの間の部品搬送方向の隙間を無くし、且つ直進フィーダー側で部品を整列させることにより、搬送ミスの発生や隙間への部品詰まりを防止して、歩留まりおよび稼働率の向上を図った部品供給装置を提供する。
【解決手段】マグネット13が、ボウル1側ではなく、直進フィーダー12内に設置されている。ボウル1の上縁部には、直進フィーダー12への部品Aの乗り継ぎ部分に、下面および一方の側面から部品Aをガイドする2方向のガイド14が設けられている。ガイド14の端縁部は直進フィーダー12の上方に被るようにして配置されている。 (もっと読む)


【課題】搬送制御の高速処理及び装置の簡易化を図ることができる電子部品の処理装置及びその処理方法を提供する。
【解決手段】電子部品の処理装置1は、ダイレクトドライブモータ2により進行と停止のサイクルを繰り返しながら回転するターンテーブル3と、パーツフィーダ等の搬送手段から送られる電子部品Sを供給する供給機構4と、ターンテーブル3の円周上等間隔に配置され電子部品Sに工程処理を施す各種の工程処理ユニット5a〜5kとを備える。電気特性検査、特性分類、マーキング、外観検査等の工程処理のうち処理時間が相対的に長いマーキングユニット5f及び外観検査ユニット5iとの間にはターンテーブル3からマーキングユニット5fと外観検査ユニット5iに電子部品Sを受け渡す衛星テーブル10が設けられている。 (もっと読む)


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