Fターム[2G040BA21]の内容

熱的手段による材料の調査、分析 (9,035) | 一次試料 (1,279) | 一次試料の形状、形態 (847)

Fターム[2G040BA21]の下位に属するFターム

Fターム[2G040BA21]に分類される特許

1 - 2 / 2


【課題】
薄膜試料測定上の特徴を有する熱物性顕微鏡、すなわち薄膜試料熱物性測定装置の操作をより簡便にして使い勝手をよくする。
【解決手段】
可変の加熱周波数に対する熱反射信号との位相差を模式的に示す曲線であって、該曲線が変曲部分を持つ参照用の加熱周波数−加熱周波数に対する熱反射信号の位相差を示す画面が基板における既知の熱浸透率に対し熱浸透率の小さい薄膜試料,熱浸透率の大きな薄膜試料および熱浸透率の不確定な薄膜試料のいずれかを画面上の指定項目で指定することによって指定に対応してそれぞれ表示され、かつ該画面には試料名,基板名,変曲点,熱浸透率,熱伝導率および単位体積当たりの熱容量が表示される画像表示装置を備える。 (もっと読む)


【課題】 溶接金属部のアシキュラーフェライト変態率を精度良く簡便に予測することができる方法を提供する。
【解決手段】 単一パスまたは複数パスによって形成される溶接金属部のアシキュラーフェライト変態率を予測する方法であって、(a)規定の基礎情報を算出する手段と、(b)溶接金属部のアシキュラーフェライト変態率予測手段を包含しており、
前記(b)は、前記(a)における冷却温度履歴を微小時間に区切り、該微小時間毎における温度Tでのアシキュラーフェライト変態率XAF(T)を順次算出することにより、最終溶接パス終了時における溶接金属部のアシキュラーフェライト変態率を予測するものであり、該アシキュラーフェライト(AF)の形状は、側面積A(m2)と板厚(m)の積で表され、該XAF(T)は、式(1)に基づいて算出する方法である。
XAF(T)=1−exp(−AT×PT×WT) … (1) (もっと読む)


1 - 2 / 2