Array ( [0] => その他の電気的手段による材料の調査、分析 [1] => イオン化後の処理 ) その他の電気的手段による材料の調査、分析 | イオン化後の処理
説明

Fターム［2G041KA00］の内容

その他の電気的手段による材料の調査、分析 (22,023) | イオン化後の処理 (407)

Fターム［2G041KA00］の下位に属するFターム

断片化させるもの、ＣＩＤ (363)
断片化防止（マトリックスを除く） (6)
不要な成分を排除 (23)
その他 (14)

Fターム［2G041KA00］に分類される特許

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高スループット四重極イオントラップ

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