【課題】基本モードと第１高次モードとの損失差の波長特性が緩やかな光ファイバに対しても遮断波長を特定可能とすること。
【解決手段】広帯域光源１で発せられた光波から所定の波長の光波を分光器２により取り出して被測定光ファイバＡの一端に入射し、マルチモード励振させた状態で可変開口部３における開口角を逐次変化させた時に受光部４から出力される光パワーに基づいてモードフィールド径を算出し、これを分光器２により取り出す波長を変えて繰り返してマルチモード励振時のモードフィールド径の波長特性を測定し、高次モード除去器７を分光器２と被測定光ファイバＡの一端との間に挿入して単一モード励振時のモードフィールド径の波長特性を同様にして測定し、両者の比較値が所定の値となる波長を遮断波長とする。 （もっと読む）

【課題】ソーラシミュレータ等の強い光の分光放射スペクトルを測定する分光放射計等のディテクタのリニアリティを検査するリニアリティ検査装置及びリニアリティ検査方法を提供すること。
【解決手段】波長毎に切り替え可能であって複数種類の波長毎のソーラシミュレータ級の強い光が出力可能な光源２と、光源２からの光出力を透過する動的透過率が確定している複数種類の動的透過率を有する回転円板９又は開口板と、回転円板９又は開口板を透過した光を受光する前記波長毎の切り替えに対応して切り替え可能に設けられた複数種類の波長毎の基準ディテクタ１２とを備え、波長毎の、基準ディテクタ１２において検出された受光量に対する、回転円板９又は開口板を透過した光を受光する未知ディテクタ１６で検出された受光量を取得して、未知ディテクタ１６のリニアリティを検査することを特徴とするリニアリティ検査装置である。 （もっと読む）

【課題】任意の光ファイバにおいて特定の波長で実効的な単一モード条件が満たされていることを確認する方法を提供することにある。
【解決手段】対象となる光ファイバ２３の一方の端部２３ａに、波長λａの光パルスを出射し、後方散乱光を測定する光パルス試験器２１を配置すると共に、光ファイバ２３と光パルス試験器２１との間に、波長λ_aの伝搬モードＬＰ01を高次モードＬＰ11に変換するモード変換器２４を配置して、光ファイバ２３中のＬＰ11の損失α₁₁を測定し、光ファイバ２３の一方の端部２３ａに光パルス試験器２１を接続して配置して、光ファイバ２３中のＬＰ01の損失α₀₁を測定し、ＬＰ11の損失α₁₁と前記ＬＰ01の損失α₀₁の損失比ｋ＝α₁₁−α₀₁（ｄＢ）を演算し、前記損失比ｋが設定した閾値Ｑ（ｄＢ）の値以上であるとき前記光ファイバが単一モード伝送であると判定した。 （もっと読む）

【課題】曲げ参照法またはマルチモード参照法によるカットオフ波長測定が困難である光ファイバについても容易に高次モードのカットオフ波長を測定することができる方法を提供する。
【解決手段】マルチモード光ファイバ２，対象光ファイバ１，マルチモード光ファイバ３の順に光を伝搬させて、第１パワースペクトルＳ１を所定波長範囲で求める。マルチモード光ファイバ２，参照光ファイバ６，マルチモード光ファイバ３の順に光を伝搬させて、第２パワースペクトルＳ２を求める。参照光ファイバ６は、対象光ファイバ１の曲げ損失より大きい曲げ損失を有し、対象光ファイバ１のカットオフ波長λｃより短いカットオフ波長を有する。第１パワースペクトルＳ１から第２パワースペクトルＳ２を減じて得られる差分スペクトルに基づいて対象光ファイバ１のカットオフ波長を求める。 （もっと読む）

【課題】測定者の熟練度に拘わらず、マンドレルとの接触圧によって光ファイバが受ける側圧を一定以下に抑えて、測定精度を向上させることのできる曲げ法によるカットオフ波長の測定方法を提供すること。
【解決手段】所定長の光ファイバ１に直径２８０ｍｍの曲げと直径６０ｍｍの曲げとを加えたときの透過光パワーＰ１と、光ファイバ１に直径２８０ｍｍの曲げのみを加えたときの透過光パワーＰ２とを測定し、これらの透過光パワーの比からカットオフ波長λｃを測定するカットオフ波長の測定方法において、第１及び第２のマンドレル５の内、少なくとも第１のマンドレル３には、巻き付けた時に光ファイバ１に作用する側圧を低減する側圧低減機構２１を備えたことで、側圧の影響によって励起状態が不安定になって測定精度が低下することを防止できる。 （もっと読む）

【課題】従来の測定方法では不可能であった曲げ損失の小さい光ファイバでも遮断波長を測定できる遮断波長測定方法および装置を提供する。
【解決手段】被測定光ファイバ（１０３）を超音波振動部（１０５）で発生させた超音波で振動させることによって生じる光損失の波長依存性（図２）を、超音波の周波数を掃引しながら波長スペクトル解析部（１０９）で測定し、光損失が最大となる波長と超音波の周波数との関係において（図３）、光損失が極大となる波長が１つから２つ以上に分岐する点の波長を遮断波長として波長スペクトル解析部（１０９）で測定する。 （もっと読む）

【課題】 曲げ法によって被測定光ファイバのカットオフ波長を正確に測定することのできるカットオフ波長の測定方法を提供すること。
【解決手段】 マンドレル１に巻き付けて所定径に維持した状態の被測定光ファイバ２の入射端に所定波長の測定光を入射し、被測定光ファイバ２の出射端において検出される前記測定光の損失−波長の波形ｆから前記被測定光ファイバ２のカットオフ波長λｃを求めるカットオフ波長λｃの測定方法であって、前記損失−波長の波形ｆから所定領域の損失に対する波長間隔を算出し、この波長間隔が予め事前に設定した基準値の４８．２ｎｍを超えないように、前記マンドレル１への巻き付けを調整する。 （もっと読む）

【課題】 光ファイバの周波数特性の測定に際して、被測定光ファイバを傷つけることなく、且つ、同種の複数の被測定光ファイバについて周波数特性測定を行う場合に測定に要する時間を短縮する。
【解決手段】 信号発生器１により高周波信号で変調された光源２からの出射光を励振光学系３を介して被測定プラスチック光ファイバ９の一方端面より入射させ、他方端面からの出射光を受光側光学系４を介して受光する光検出器５の出力を信号発生器１と信号線７を介して同期作動するスペクトラムアナライザ６で検出する。先ず、この測定系を用いて被測定光ファイバ９と同種で長さ５ｍ以下の校正用プラスチック光ファイバ８を測定して校正用周波数特性を得た後に、光ファイバ８を測定系から取り外す。測定系を用いて測定した被測定光ファイバ９の周波数特性を校正用周波数特性で校正して校正済周波数特性を得る。 （もっと読む）