【課題】過去に取得したデータを含めて、再度のシュムーデータの取得なしに複数のＤＵＴのシュムーデータの全体的傾向を把握することが容易なデバイステスタを提供。
【解決手段】本発明の構成は、被試験デバイス（ＤＵＴ１４０）の電気的試験を行うデバイステスタ１００であって、被試験デバイスのシュムーデータを取得するシュムー取得部２２０と、取得したシュムーデータをファイルに保存するデータ保存部２２２と、ファイルからシュムーデータを読み出すデータ読出部２２８と、取得したシュムーデータおよびファイルから読み出したシュムーデータから１または２以上のシュムーデータをユーザに選択させるデータ選択部２２６と、選択された１または２以上のシュムーデータ同士をプロット単位で論理計算し、計算された重畳シュムーデータを表示部２１２に表示する重畳表示部２３０と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】テスタコントローラと測定モジュールとの間のデータ転送を高速且つ正確に行うことを目的とする。
【解決手段】ＤＵＴの試験を行う測定モジュール２と測定モジュール２の制御を行うテスタコントローラ３との間でデータの転送を行う半導体試験装置１は、測定モジュール２を試験するためのテストアプリケーションの要求に基づいて、測定モジュール２に転送して制御を行うための転送データを順次記憶するキューである転送データキュー１３と、転送データキュー１３から転送データを取り出すことが可能になったときに転送データを取り出して測定モジュール２に転送させる制御を行う転送制御部１６と、測定モジュール２から転送の処理が終了した旨の転送終了通知を入力したときに、その旨を転送制御部１６に通知するための割込みを行う割り込みハンドラ１５と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】テストプログラムやテストデータの機密性を保持することが可能な半導体試験システムを実現する。
【解決手段】テストプログラムに基づいて被試験対象デバイスの試験を行い、試験で得られたテストデータを管理する半導体試験システムにおいて、暗号化されたテストプログラムをパスワードを用いて復号化し、復号化されたテストプログラムに基づいて被試験対象デバイスの試験を行い、試験で得られたテストデータをパスワードを用いて暗号化して送信する半導体試験装置と、パスワードを発行し、テストプログラムをパスワードを用いて暗号化して半導体試験装置に送信し、半導体試験装置から受信した暗号化されたテストデータをパスワードを用いて復号化する量産サーバとを備える。 （もっと読む）

【課題】多様な試験を実行できる試験装置
【解決手段】被試験デバイスとの間で信号を伝送して被試験デバイスを試験するテストモジュールと、プロセッサおよびメモリを有し、テストモジュールを制御するテストコントローラと、テストモジュールおよびテストコントローラの間の通信パケットを転送するネットワークと、を備え、テストコントローラは、テストモジュールからテストコントローラへの割り込みを要求する割込パケットをネットワークを介して受け取る受信部と、割込パケットに含まれる割込情報をメモリに書き込むメモリ書込部と、プロセッサに割り込みを通知して、メモリに書き込んだ割込情報を参照させる割込通知部と、を有する試験装置提供する。 （もっと読む）

【課題】複数の試験モジュールを制御する。
【解決手段】被試験デバイスを試験する試験モジュール部と、試験モジュール部を制御する制御パケットを生成する試験制御部と、試験制御部から制御パケットを受けて試験モジュール部に送信する接続部とを備え、試験モジュール部は、第１のパケット構造の制御パケットに応じて動作する第１試験モジュールと、第１のパケット構造の制御パケットに拡張領域が追加された第２のパケット構造の制御パケットに応じて動作する第２試験モジュールとを有する試験装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】複数の試験モジュールの試験を同期させる。
【解決手段】被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験する複数の試験モジュールと、複数の試験モジュールのそれぞれに接続されて、複数の試験モジュールを同期させる同期モジュールと、複数の試験モジュールおよび同期モジュールに接続されて、複数の試験モジュールおよび同期モジュールを制御する試験制御部と、を備え、同期モジュールは、複数の試験モジュールのそれぞれから、当該試験モジュールの状態を示す状態信号を受信する受信部と、受信部が受信した各状態信号を集約して集約状態信号を生成する集約部と、集約状態信号に応じた動作を指示する制御信号を複数の試験モジュールに対して送信する送信部と、を有する試験装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】データ分析に関する発明を提供すること。
【解決手段】本発明の種々の局面による半導体のテスト方法およびテスト装置は、２つ以上のデータセットからのデータを分析するよう構成された複合データ分析要素を備えるテストシステムを含んでいる。このテストシステムを、出力レポートにデータをもたらすように構成することができる。複合データ分析要素は、空間分析を適切に実行して、複合データセット内におけるパターンおよび不規則性を特定する。さらに、複合データ分析要素は、複合データ分析を洗練させるため、クラスタ検出システムおよび除外システムなど、他のさまざまな分析システムと関連して動作できる。さらに、複合データを、他のデータとマージすることができる。 （もっと読む）

【課題】従来は制御装置側で行なっていた判定処理を計測モジュール側で行なえるようにして、トータルのテスト時間を短縮できるようにした半導体テスト装置を提供する。
【解決手段】制御装置（ＴＳＣ）と複数の計測モジュール（ＭＭ１，ＭＭ２）とを備えた半導体テスト装置において、測定結果の判定をする前に測定結果を加工するために用いる変換式を予め制御装置側で計測モジュール側のＣＰＵが実行できる形態の変換式に分解して計測モジュールへ渡しておいて、各計測モジュールがテスト項目に応じて測定した結果を、モジュール側で変換式を用いて加工して判定を行ない、全テスト終了後に判定結果および測定結果を制御装置が読み出すようにした。 （もっと読む）

【課題】ピンエレクトロニクスカードの測定データを格納するメモリ領域を増大させることなく制御ユニットに全ピンエレクトロニクスカードの測定データを収集するための処理時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。
【解決手段】制御ユニット１２により制御される多数のピンエレクトロニクスカード１１を介して、多数の被測定対象の測定データを前記制御ユニット１２に取り込むように構成された半導体試験装置において、前記各ピンエレクトロニクスカード１１は、それぞれの測定データを前記制御ユニット１２に直接書き込む。 （もっと読む）

【課題】ある試験測定機器が検出したイベントにより、他の試験測定機器の取り込みをトリガする際に、正確な同期をとれるようにする。
【解決手段】ハブ１８は、複数の試験測定機器１２〜１５の各々に結合されている。各試験測定機器は、ハブから受けたハブ・イベントに応答して取り込みをトリガする。この際、各試験測定機器は、機器イベントを発生し、ハブは、これら機器イベントを組合せてハブ・イベントを発生する。各試験測定機器は、ハブから入力部までのコミュニケーションの時間遅延にほぼ類似の出力部からハブまでのコミュニケーションの時間遅延がある。構成モードでは、ハブが試験測定機器から受けたイベントを試験測定機器に戻し、試験測定機器がハブから戻るイベントの時間を測定する。 （もっと読む）

複数のテストサイト（１０２〜１０８）でテストリソース（１１２）を共有する方法であって、該方法は、複数のテストサイト（１０２〜１０８）で時間をオフセットしつつ各テストフローを実行し、前記各テストフロー（１１６〜１２２）はテストフロー（１１６〜１２２）内の所定の位置（１１６ｂ〜１２２ｂ）でテストリソース１１２にアクセスする。 （もっと読む）

【課題】 半導体試験システムを管理するホストコンピュータから、各半導体試験ユニットが備える冷却装置の情報を一元的に管理することを可能とした半導体試験システムを実現する。
【解決手段】 夫々が半導体試験装置、試験管理プロセッサ、冷却装置を備える複数の半導体試験ユニットがホストコンピュータと通信すると共に、前記冷却装置がコントローラにより制御される熱交換器を備える半導体試験システムにおいて、
前記コントローラと前記ホストコンピュータ間に双方向通信手段を設ける。 （もっと読む）

【課題】 並列試験システム全体の構成を小型にし、当該並列試験システムの拡張性を高める。
【解決手段】 パーソナルコンピュータ１は、並列試験プログラムＰ−１〜Ｐ−Ｎを生成して並列試験装置２−１〜２−Ｎにそれぞれ送信した後、試験開始信号Ｃ−１〜Ｃ−Ｎを並列試験装置２−１〜２−Ｎにそれぞれ送信する。これに応答して、並列試験装置２−１〜２−Ｎはそれぞれ、並列試験プログラムＰ−１〜Ｐ−Ｎを実行して、計測用装置３−１〜３−Ｎを用いてＤＵＴ４に対する試験処理を行う。 （もっと読む）

【課題】デバッグの修正内容を元のソースファイルに自動的に反映させることのできるバックアノテーション処理機能を備えた試験システムを提供する。
【解決手段】デバイスの試験を行うための試験システムであって、試験を行うためのプログラムを記述したテストプランのソースファイルと、ソースファイルを一以上のブロックに分割した単位で形成される一以上のエレメント２０と、ソースファイルのオブジェクトをデバッグしたときに、当該デバッグによる修正内容を、当該デバッグの箇所に対応するエレメントに関連付けて管理するアノテータブル・オブジェクト１８と、デバッグ後に、エレメント２０及びアノテータブル・オブジェクト１８に基づいて、エレメント単位でソースファイルをデバッグ後の内容に書き換えるコントローラと、を備える。 （もっと読む）

【課題】マスタ・スレーブ方式のモジュール制御において、モジュール制御ドライバ等が、リソースとポート番号との関係を含むスレーブ・モジュールのリソース定義を特定可能な試験システムを提供する。
【解決手段】被試験デバイス１１２に試験信号を供給可能な複数のモジュール１０８と、複数のモジュール１０８それぞれのリソースとポート番号に関する情報を含むモジュール設定ファイル１３０と、モジュール設定ファイル１３０に含まれる情報に基づいて複数のモジュール１０８のリソースとポート番号との関係を特定し、ポート番号を利用して、複数のモジュール１０８の各々のリソースを個別に制御することのできるモジュール制御ドライバ１０５と、を備える。 （もっと読む）

【課題】測定／試験アクセス制御装置及び方法並びにそのプログラムに関し、１つの測定系アプリケーションソフトウェアに対して複数の操作端末からのアクセスを可能にし、かつ、他の操作端末の測定／試験の実施によって測定設定が破壊されないようにする。
【解決手段】ソケット調停管理部１−２１は、測定系アプリケーションソフトウェア１−２と操作端末ＰＣ１〜ＰＣ３との間を接続するソケットとして、マスタソケット１−３１を１台の操作端末の接続にのみ生成し、他のソケットを全てスレーブソケット１−３２，１−３３として生成する。マスタ処理部１−２２は、マスタソケットで送受される制御コマンド及び測定コマンドを制限することなく処理し、スレーブ処理部１−２３は、スレーブソケットで送受されるコマンドのうち、機能限定規則によって許可されたコマンドのみを処理し、機能限定規則によって許可されたコマンド以外のコマンドを破棄する。 （もっと読む）

【課題】テスタモジュールに組み込まれるファームウェアにおけるハードウェア設定情報の管理と設定を効率よく行うことができるＬＳＩテスタを提供する。
【解決手段】テスタメインフレームからテスタモジュール内のファームウェアに複数の設定項目を転送格納するとともに、ハードウェアへの設定を有効にするタイミングとしてトリガを入力するように構成されたＬＳＩテスタにおいて、トリガの種類別に手順の段数を示す複数のステージが格納される設定テーブルを設け、一つの設定項目に対する設定に手順がある場合には前記設定テーブルを用いて他の設定項目とまとめる。 （もっと読む）

【課題】バスシステムの検証に必要となる検証シナリオを効率的かつ網羅的に作成する。
【解決手段】検証対象となるバスシステムを構成する複数のハードウェアブロックの中から、相互にアクセス可能な任意のアクセス元およびアクセス先のハードウェアブロックを抽出し、アクセス元のハードウェアブロックからアクセス先のハードウェアブロックに辿り着くまでのパスを探索する。そして、探索されたパスごとに、アクセス先のハードウェアブロックに割り当てられたアドレス範囲へのアクセスが発生した場合における、アクセス元のハードウェアブロックのトランザクションを検証するための検証シナリオを作成し、その検証シナリオを当該検証シナリオに対応するパスと関連付けて出力する。 （もっと読む）

【課題】電子機器の試験状況を、２方向から見ても実際の被試験機の配置通りに、文字、
色情報を付記して一画面で表示する。
【解決手段】被試験機２００の試験プログラム２０２を実行する冶具パソコン２０１とネ
ットワーク２０８で接続されたサーバ２０９上に、全被試験機の試験状況情報２１０を保
持する。試験状況変更時、試験プログラムが被試験機の試験状況情報を更新する。試験状
況表示プログラム２０３は、表示間隔情報２０６で指定された間隔毎に全被試験機の試験
状況情報を読み込む。試験状況表示プログラムは、実行開始時に冶具パソコン番号２０７
を読み込む。冶具パソコン番号より、方向情報２０４が一意に決定され、この方向情報よ
り配置情報２０５も一意に決定される。配置情報に従って配置された被試験機を表した枠
内に、読み込んだ被試験機の試験状況情報を、対応する被試験機の枠内に表示する。 （もっと読む）

【課題】局所的外れ値の検出のための好適な方法および装置を提供する。
【解決手段】様々な局面に従ったデータ解析のため方法および装置は、より大きなデータ母集団のサブセットの中の外れ値を表す、局所的外れ値を含む、コンポーネントの試験データの中の統計的外れ値を識別するように構成される。試験システムは、一組のコンポーネントを試験し、その試験データ生成するように構成されるテスターと、試験データからデータサブセットを選択し、データサブセットの中の局所的外れ値を自動的に識別するように構成される、局所的外れ値識別システムとを備える。 （もっと読む）