【課題】スキャンテストを可能にしながら内部データの漏洩及び改竄を防止する半導体装置を提供する。
【解決手段】複数のフリップフロップを有するユーザー回路と、テストモード時に、前記複数のフリップフロップを接続してスキャンチェーンを構成する接続経路とを有し、前記接続経路は、前記複数のフリップフロップのうちいずれかの前記フリップフロップの非反転出力値を論理演算して出力する論理演算回路、または、前記複数のフリップフロップのうちいずれかの前記フリップフロップの反転出力値を後段のフリップフロップに出力する反転値接続経路を有する。 （もっと読む）

【課題】半導体集積回路にスキャンパスを組み込んでスキャンテストを行う際に、シングルサイクルパスとマルチサイクルパスが混在している論理回路において、シングルサイクルパスの実動作速度によるテストを可能にすること。
【解決手段】実動作モードでタイミング解析を行い、マルチサイクルパスを抽出する。次に、シングルサイクルパスとマルチサイクルパスの分岐点と、シングルサイクルパスとマルチサイクルパスの合流点を抽出する。そして、上記分岐点から出力側のマルチサイクルパス側の経路上と、上記合流点から入力側のマルチサイクルパス側の経路上に、出力固定回路を挿入する。但し、出力固定回路は、マルチサイクルテスト時には、入力と同じ信号を出力し、シングルサイクルテスト時には、任意の固定値を出力する回路である。 （もっと読む）

【課題】スキャンＦ／Ｆの遷移する回数を抑えて消費電力を削減することができるスキャンチェーン回路及びスキャンチェーン構築方法を提供すること
【解決手段】本発明にかかるスキャンチェーン回路は、複数のフリップフロップ２１〜２６を有し、複数のフリップフロップ２１〜２６のうち、それぞれのフリップフロップが保持しているデータを先頭方向から後尾方向に対してシフトするスキャンチェーン回路であって、複数のフリップフロップ２１〜２６は、スキャンチェーン回路の先頭方向から後尾方向に対して、保持しているデータの遷移回数が少ない方から昇順となるように配置されるものである。 （もっと読む）

【課題】回路規模の増大を抑制しつつスキャンテスト時の消費電力を削減する半導体集積回路の設計装置および設計方法を提供する。
【解決手段】対象抽出部１０２は、組み合せ回路のうちの活性化状態が評価される対象となる回路部分を抽出する。削減量算出部１０４は、組み合せ回路に入力されるスキャンフリップフロップのそれぞれの出力信号を１個ずつ固定化してスキャンフリップフロップ毎の消費電力の削減量を算出し、評価部１０８は、その結果に基づいて、スキャンフリップフロップの出力信号を固定化したときの消費電力の削減量が最も多いスキャンフリップフロップを選択する。固定化情報蓄積部１０６は固定化情報を保持し、対象抽出部１０２はその固定化情報に基づいて、評価対象となる回路部分を抽出する。評価部１０８は、抽出された回路部分毎に１つのスキャンフリップフロップを選択し、削減できる消費電力値の合計が所定の値になるまで上記を繰り返す。 （もっと読む）

【課題】タイミングエラーを解消しつつも、遅延素子の増加及び試験コストの増大を抑制することのできるスキャンチェーン形成方法を提供する。
【解決手段】複数のスキャンＦＦを、各スキャンＦＦのスキャン端子間の配線長が最短となるようにスキャンチェーンを形成する。その後、複数のスキャンＦＦのうちタイミングエラーの発生した対象スキャンＦＦを中心とした、タイミングエラーの発生しない座標集合Ｘ３を算出し、その座標集合Ｘ３内に配置されたスキャンＦＦの中から、リオーダー処理前のスキャンチェーンのつなぎ順をできる限り保持するように１つのスキャンＦＦを選択する（ステップＳ１７〜Ｓ１９，Ｓ２３）。続いて、その選択したスキャンＦＦと対象スキャンＦＦとを接続するようにつなぎ順を変更する（ステップＳ２０）。 （もっと読む）

【課題】異なるクロックで動作する回路を有する半導体集積回路において、回路規模を増大させることなく、実使用でのクロックでスキャンテストの実施が可能なスキャンテスト回路を備えた半導体集積回路を提供する。
【解決手段】異なるクロックのうち低い周波数でスキャンデータを全てのスキャンフリップフロップに設定し、遅延テストの実施の際には異なるクロックドメイン間でのデータの転送が発生しないようにクロックを遮断し、遅延テストを実施する。 （もっと読む）

【課題】
組込み自己試験法によるテスト機構を備えた半導体集積回路において、診断テストパターン数を増加させずに故障検出率を向上させることができるプログラムを提供する。
【解決手段】
診断テストパターンとして発生した擬似乱数の各々で新たに検出される故障数が０又は、所定の基準値以下であるかを判定するステップと、テストグループに割り当てられた診断テストパターン発生回数の最後で発生した擬似乱数で新たに検出される故障数が任意の基準値以上であるかを判定するステップとから、パス数比でテストグループに割り当てられた診断テストパターン数を、故障の検出のし易さ（難易度）に応じて再配分することで診断テストパターン数を最適化し、故障検出率を向上させる。 （もっと読む）

【課題】半導体集積回路の回路規模を増大させずにスキャン試験の試験時間を短縮する。
【解決手段】半導体集積回路は、スキャンチェーン回路（２０）と、結果評価回路（３０／３１，４０，５０）とを具備する。スキャンチェーン回路（２０）は、スキャンインデータ（ＳＩ）に含まれるテストデータ（Ｓ１−１，２…）を取り込んでスキャンテストを行う。結果評価回路（３０／３１，４０，５０）は、テストデータと同じデータ量を有してスキャンインデータに含まれるスキャンテストの期待値（Ｄ１，Ｄ２…）を取り込んでスキャンテストの結果を評価する。 （もっと読む）

【課題】テスト出力端子数を増大させることなく、テストの信頼性を向上させる。
【解決手段】同一の機能を有し、スキャン入力信号１０を入力可能とするＩＰ回路１１１〜１１３と、ＩＰ回路１１１〜１１３のそれぞれに対し、スキャンクロック信号２０を選択的に供給する選択回路１００と、ＩＰ回路１１１〜１１３のそれぞれから出力されるスキャンテスト結果信号を通過させるか遮断するかを決定するマスク回路１２０と、マスク回路１２０から出力されるそれぞれの出力信号の論理積を求めるＡＮＤ回路１４０と、マスク回路１２０から出力されるそれぞれの出力信号の論理和を求めるＯＲ回路１５０と、ＡＮＤ回路１４０の出力に接続される第１のテスト出力端子と、ＯＲ回路１５０の出力に接続される第２のテスト出力端子と、を備える。 （もっと読む）

【課題】位相のずれたクロックを用いても筒抜けが生ずることなく正確なスキャンテストを実行できるようにする。
【解決手段】複数のフリップフロップ群には、それぞれのフリップフロップ群に対応し、互いにアクティブパルスの位相が相違するクロックを含む第１のクロックＣＬＫ１，２，３が供給され、ラッチ回路には、該ラッチ回路の入力側と出力側とに接続されるフリップフロップ群に供給される２つのアクティブパルスのうち、あるクロックサイクルにおいて遅いタイミングで供給されるアクティブパルスのエッジから次のクロックサイクルにおいて早いタイミングで供給されるアクティブパルスのエッジまでの期間にラッチをアクティブにする第２のクロックＧ１が供給される。
半導体集積回路。 （もっと読む）

【課題】コアテストに伴う素子数の増加を抑制する半導体集積回路と、テストに必要な端子を増やさずにコア回路の連続パターンテストを可能にするコアテスト回路を提供する。
【解決手段】半導体集積回路が、コア回路と、組み合わせ回路と、組み合わせ回路の入出力端子に接続されたスキャンフリップフロップが縦続接続された組み合わせ回路のスキャンパスと、コア回路の出力信号をスキャンフリップフロップに入力できるようにしたマルチプレクサを含むスキャンパス共用化回路と、を含み、組み合わせ回路のスキャンパスを用いて組み合わせ回路に含まれないコア回路をテストできるようにする。また、コアテスト回路が、複数の結果パターンを格納するテストデータ出力用シフトレジスタをコアの出力端子毎に設け、複数パターンのテスト結果をテストデータ出力用シフトレジスタに取り込んでからスキャンアウトできるようにする。 （もっと読む）

【課題】テスト対象の論理回路に対してテストポイントを効果的に挿入すること
【解決手段】論理回路試験装置１０は、論理回路の設計データから得た配線条件により信号線の故障推定度を推定する故障推定部１１０を備える。また、論理回路試験装置１０は故障推定度に基づいてテストポイントを挿入する挿入部１３０を備える。論理回路試験装置１０は、挿入部１３０によってテストポイントの挿入された論理回路に対してテストの実行を行う。 （もっと読む）

【課題】同一の周波数で動作するデータパス依存関係を有する内部クロックドメインを含む半導体集積回路に対して、テストパターン数を削減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法及び半導体集積回路設計プログラムを提供すること
【解決手段】本発明にかかる半導体集積回路は、第１のクロックドメインと、前記第１のクロックドメインと同一の周波数で動作し、前記第１のクロックドメインとデータパスによって接続される第２のクロックドメインと、前記データパスにおけるデータ転送の導通及び遮断を切り替えるパス遮断回路とを備える。 （もっと読む）

【課題】スキャンテストにおけるコストを低減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法、スキャンテストパタン生成方法及びそのプログラムを提供すること
【解決手段】本発明にかかる半導体集積回路１は、テスト値がスキャンインされ、当該テスト値を組み合わせ回路２０３に出力する制御用スキャンテスト構成回路と、制御用スキャンテスト構成回路にスキャンインされるテスト値が並列的にスキャンインされるとともに、組み合わせ回路２０３が制御用スキャンテスト構成回路から出力されたテスト値に基づいて出力する出力値が入力され、当該出力値をスキャンアウトする観測用スキャンテスト構成回路とを備えたものである。 （もっと読む）

【課題】ディレイテストコントローラや、複数本のDELAY TEST MODE信号線を不要にし、回路の規模を縮小する。
【解決手段】入力値に関わらず出力値の保持及び反転の制御が可能な出力制御スキャンフリップフロップ１において、スキャンフリップフロップ３と、クロック信号に同期して動作し、外部から入力される第１の入力データを記憶する記憶素子２と、記憶素子２の出力信号と、スキャンフリップフロップ３の出力信号とを入力する非排他的論理和回路４と、外部から入力される第２の入力データと、非排他的論理和回路４の出力信号とを入力し、外部からセレクト信号を入力し、出力信号がスキャンフリップフロップ３に入力されるセレクタ５とを備える。 （もっと読む）

【課題】メモリマクロを含む半導体集積回路装置の遅延故障を確実に検出できないという問題があった。
【解決手段】メモリマクロを備える半導体集積回路装置１であり、スキャンモード制御信号（ＳＭＣ）に応じて、入力データ信号の値とスキャンテスト値とのいずれかを、動作クロックに従って保持する入力データ保持部２２−０〜２２−ｋと、テストモード制御信号（ＴＥＮ）に応じて、入力データ保持部２２−０〜２２−ｋが保持する値とメモリセル部が記憶するデータ値とのいずれかを、複数の入力データ保持部が動作する位相とは異なる位相に従って保持する出力データ保持部４１−０〜４１−ｋと、を備える。入力データ保持部２２−０〜２２−ｋと、出力データ保持部４１−０〜４１−ｋとは、入力データ保持部２２−０を先端として交互に直列に接続され、複数の出力データ保持部の一つが保持する値は、スキャンテスト値として後段の入力データ保持部へ伝送される。 （もっと読む）

【課題】複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する被試験デバイスの試験の試験時間の短縮化を図ることを目的とする。
【解決手段】スキャン入力部１２Ａ、１２Ｂと複数のフリップフロップが接続されたスキャンチェインＦＡ、ＦＢとスキャン出力部１５Ａ、１５Ｂとを有して構成されるスキャンパスを複数備えた半導体試験装置であって、スキャンチェインＦＡ、ＦＢを複数に分割して、分割したスキャンチェインＦＡ１、ＦＡ２、ＦＢ１、ＦＢ２をそれぞれ複数のスキャン出力部１５Ａ、１５Ｂに接続する接続経路ＬＡＢ１、ＬＢＡ１、ＬＡＢ２、ＬＢＡ２と、１つのスキャンパスのスキャンチェインＦＡ１、ＦＡ２またはＦＢ１、ＦＢ２がそれぞれ異なるスキャン出力部１５Ａ、１５Ｂに接続するように接続経路の選択を行う経路選択部と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】テスト回路を挿入する際のＴＡＴの増大や反復処理を抑制する。
【解決手段】テストポイント挿入方法は、ネットリストから複数のロジックコーンを抽出する工程と、複数のロジックコーンの各々に示される論理セルの接続関係に基づいて、複数のロジックコーンに対して一の順序を生成する工程と、その順序に従って順に複数のロジックコーンの各々にテストポイントを設定する工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】
内部のノードの縮退故障による不良を検出できる集積回路装置を提供する。
【解決手段】
集積回路装置は、通常動作用信号を供給されて通常動作を行う被試験回路と、テスト用信号を供給されて動作試験を行う試験回路と、通常動作用信号とテスト用信号とがそれぞれ供給される第１、第２の入力端子と、テストモード信号が供給されるセレクト端子と、セレクト端子の信号に応じて第１または第２の入力端子の信号を出力する出力端子とを有するセレクタと、テスト用信号の入力端子と第２の入力端子との間に設けられたゲートと、テストモード信号の遷移を検出したときにゲートを通過状態にし検出されないときは非通過状態にするテストモード信号検出回路とを含むテスト用信号供給回路とを有する。 （もっと読む）

【課題】集積回路の試験に関し、一つの回路を分割した複数の領域間の試験を行えるようにスキャンチェーンを生成すること。
【解決手段】集積回路の試験時に、複数のフリップフロップを含むスキャンシフトを動作させたときの消費電力が許容値を超える場合、スキャンチェーンに含まれる複数のフリップフロップを複数のグループに分割する。分割の際には、集積回路が実際に動作するときの信号の伝達経路に基づいて、複数のフリップフロップのうちの一部のフリップフロップが複数のグループに含まれる。複数のグループに含まれるフリップフロップは、複数のグループのそれぞれに生成されるスキャンチェーンに接続される。 （もっと読む）