説明

Fターム[2H088LA01]の内容

液晶−応用、原理 (75,011) | 配向部材に関する規定 (346) | ランダム配向処理、非直線的配向処理 (4)

Fターム[2H088LA01]に分類される特許

1 - 4 / 4


【課題】試料、観察モードにあわせて最適なベクトルビームを発生させ、高い分解能を持ったレーザー顕微鏡を提供する。
【解決手段】 コヒーレント光源からの光束の位相を変調する位相変調手段と、光束の偏光方向を変調する偏光方向変調手段とを配置し、偏光方向変調手段は、直線偏光をラジアル偏光に変換し、位相変調手段は、複数の輪帯状パターン(104)の位相分布を与え、複数の輪帯状パターンの位相分布における直径を可変することを特徴とする位相及び偏向方向を変調するデバイス。また、それを用いた電子顕微鏡。 (もっと読む)


【課題】液晶分子の応答時間を減少するパネルを提供する。
【解決手段】パネルが本発明において開示される。パネルは、少なくとも1つの液晶層と、少なくとも1つの第一電極層と、少なくとも1つの第二電極層と、少なくとも2つの制御電極とを含む。液晶層は、複数の液晶分子を含む。第一電極層は、液晶層に対して第一方向に配置される。第一電極層は、複数のエッチング構造と、複数の導電構造とを含む。第二電極層も、液晶層に対して第一方向に配置される。2つの制御電極は、液晶層に対して第二方向に配置される。2つの制御電極は、複数の液晶分子の動作を制御するよう、第二方向に沿って実質的に分布する電界を生成するために利用される。 (もっと読む)


【課題】 イオン源から引き出されたイオンビームの実際の進行方向を基板表面に投影した方向と実質的に等しい方向を、複雑な算出工程を用いずに測定する。
【解決手段】 上孔33を有する上板32および下孔35を有する下板34を備えていて少なくとも下孔35がスリット状をしている治具30と、治具30の上孔および下孔の両方を通過したイオンビーム12を受けてそのビーム電流を測定するビーム電流測定器60とを用いて、治具30およびビーム電流測定器60を、上孔33にイオン源10から引き出されたイオンビーム12が入射する場所に位置させた状態で、少なくとも下板34を軸38を中心に回転させて、イオン源10から引き出されたイオンビーム12を上孔33および下孔35の両方を通過させて、ビーム電流測定器60で測定するビーム電流が最大となるときの下孔の長さ方向51を測定する。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、製造コストを増大させること無く、配向の中心位置を中実部の中心に固定することができる、液晶表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明では、第一の基板上に、画素電極が配設されている。当該画素電極は、配列状に設けられた複数の中実部1と、中実部1間において、中実部1の外周部から延設された、枝部3とを備えている。ここで、枝部3の延設方向に延びる仮想線ALは、中実部1の中心を通らない。 (もっと読む)


1 - 4 / 4