【課題】半導体装置が動作状態から待機状態に移行するとき、内部電源電圧の目標電圧からの上昇を抑制する。
【解決手段】非動作状態の負荷回路への電源電流の供給に用いられる電源回路１５において、トランジスタＰＴＲＳ１は、外部電源電圧を受ける電源ノードと出力ノード１８との間に接続される。比較器５０は、第１の入力端子および参照電圧が入力される第２の入力端子を有し、第１および第２の入力端子間の電圧差に応じた制御電圧をトランジスタＰＴＲＳ１の制御電極に出力する。分圧回路４０は、出力ノードの電圧を分圧した電圧を比較器５０の第１の入力端子に出力する回路であり、分圧比を変更可能である。電源回路１５は、負荷回路が動作状態のときに、分圧回路４０の分圧比を第１の分圧比から第１の分圧比よりも高い第２の分圧比に変更する。 （もっと読む）

【課題】コンパイル型マクロの階層化によるオーバーヘッドを最適化する。
【解決手段】第１ローカルメモリセルアレイと第１ローカルセンスアンプとを備える第１バンクと、第２ローカルメモリセルアレイと第２ローカルセンスアンプとを備える第２バンクとを有するメモリセルアレイを構成する。ここで、第２バンクは、グローバルビット線方向に沿って第１バンクに並んで配置されるものとする。その第１ローカルセンスアンプは、第１ローカルメモリセルアレイに含まれるメモリセルの数、または、第１ローカルセンスアンプからドライバ回路までの距離に基づいて最適設計された性能を有することが好ましい。また、その第２ローカルセンスアンプは、第２ローカルメモリセルアレイに含まれるメモリセルの数、または、第２ローカルセンスアンプからドライバ回路までの距離に基づいて最適設計された性能を有することが好ましい。 （もっと読む）

【課題】半導体装置上の高速動作が可能な半導体記憶装置を実仕様周波数でも所望の動作を行うか確認する手段を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置８２２と論理回路１２３とを有する半導体装置８２７において、半導体記憶装置８２２は２つのメモリアレイ領域８０２ａ，８０２ｂを備え、一方の出力をもう一方の入力として、かつ各々の読み出し書き込み制御が逆にできるようにして、半導体記憶装置８２２自体で検査できるようにする。 （もっと読む）

【課題】行選択回路の小面積化と製造時の露光、エッチング等の影響を解消する半導体記憶装置を実現する。
【解決手段】アドレス入力に応じて所望のワード線を選択するように行アドレス信号と接続されたワード線選択回路と、疑似メモリセルのワード線に接続された疑似ワード線電位固定回路とを備え、疑似ワード線電位固定回路をワード線選択回路と同様にＮＡＮＤゲートＮＡＮＤＲ（ｉ）（ｉ＝−１〜ｍ＋２）とインバータＩＮＶＲ（ｉ）（ｉ＝−１〜ｍ＋２）で構成し、疑似ワード線電位固定回路の入力は疑似メモリセルのワード線を常に非選択となるように行アドレス信号と接続されている。これにより全てのワード線を選択駆動する回路の構成を同一とすることが可能となり、行選択回路の小面積化と製造時の露光、エッチング等の影響を解消することが可能となる。 （もっと読む）