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Fターム[5B015HH01]の内容

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【課題】不揮発性メモリ部内蔵のSRAMの特性の向上を図る。
【解決手段】SRAMを構成するアクセストランジスタAcc1とビット線BLとの間に抵抗変化層Rを有するReRAM部RM1を設け、アクセストランジスタAcc2とビット線/BLとの間に抵抗変化層Rを有するReRAM部RM2を設ける。SRAM通常動作期間の終了時において、例えば、蓄積ノードAに低電位(L=0V)、蓄積ノードBに高電位(H=1.5V)が保持されている場合、ReRAM部RM1をオン状態(ON)とし、ReRAM部RM2をオフ状態(OFF)とすることで、SRAMの保持データをReRAM部へ書き込み、再び、SRAM通常動作となった場合には、蓄積ノードAおよびBに対応するデータ書き戻すとともに、ReRAM部RM1、RM2の双方をオン状態に(リセット)する。 (もっと読む)


【課題】動作速度の低下を抑制しつつ、動作マージンを向上させることが可能な半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】速度検知部16は、メモリセルMCの読み出し速度を検知し、電圧制御部17は、メモリセルMCの読み出し速度に基づいてワード線WL1〜WLnの電圧VWLまたはメモリセルMCのセル電源電圧VCSのいずれか少なくとも一方を制御する。 (もっと読む)


【課題】1つの実施形態は、例えば、電源オフ時における消費電力を低減することを目的とする。
【解決手段】1つの実施形態によれば、メモリセルは、第1の駆動トランジスタと第1の負荷トランジスタと第1の読み出し転送トランジスタと第1の書き込み転送トランジスタと第2の駆動トランジスタと第2の負荷トランジスタと第2の読み出し転送トランジスタと第2の書き込み転送トランジスタと1以上の抵抗変化素子とを有する。1以上の抵抗変化素子は、両端に印加されるバイアスの方向に依存して抵抗が変化する。1以上の抵抗変化素子は、第1の記憶ノード及び第1の書き込み転送トランジスタの間と第2の記憶ノード及び第2の書き込み転送トランジスタの間との少なくとも一方に配される。 (もっと読む)


【課題】デュアルポートメモリを提供すること。
【解決手段】デュアルポートメモリは、第1のシングルポートメモリおよび第2のシングルポートメモリを含む。第1のシングルポートメモリは、デュアルポートメモリの偶数アドレス中のデータを記憶するように構成される。第2のシングルポートメモリは、デュアルポートメモリの奇数アドレス中のデータを記憶するように構成される。デュアルポートメモリは、奇数アドレスからデータを読み出す読出動作および偶数アドレスの中へデータを書き込む書込動作を同時に実行する。デュアルポートメモリは、偶数アドレスからデータを読み出す読出動作および奇数アドレスの中へデータを書き込む書込動作を同時に実行する。 (もっと読む)


【課題】マルチバンク構成のメモリにおいて、選択バンクの読み出しデータを低面積、低電力、高速に出力可能な方法を提供する。
【解決手段】第1バス128に結合された第1トライステートデバイスにおいて、センスアンプの第1センスアウトプットおよび第2センスアウトプットを受け取ることと、第2バス130に結合された第2トライステートデバイスにおいて、センスアンプの第1センスアウトプットおよび第2センスアウトプットを受け取ることと、バス選択インプットに応じて第1バスまたは第2バスを駆動するために第1トライステートデバイスおよび第2トライステートデバイスの1つを選択的にアクティブにする。 (もっと読む)


【課題】複数のスタティック型メモリモジュールを備えた半導体装置において、その動作マージンの向上を実現する。
【解決手段】例えば、書き込み動作時に書き込み対象のSRAMメモリセルMCに接続されたメモリセル電源ライン(例えばARVDD[0])の電圧レベルを制御する書き込み補助回路(例えばWAST1[0])を備える。書き込み補助回路は、書き込み動作時に有効化される書き込み補助イネーブル信号WTEに応じてメモリセル電源ラインの電圧レベルを所定の電圧レベル(VM1)に低下させると共に、この際の低下速度を書き込み補助パルス信号WPTのパルス幅に応じて制御する。WPTのパルス幅は、行数が多い(メモリセル電源ラインの長さが長い)ほど広くなるように設定される。 (もっと読む)


【課題】メモリの大容量化と図りつつ、消費電力を軽減でき、且つ、消費電力を一定にす
る。
【解決手段】メモリを、複数のメモリブロックを対称に配置して構成する。また、メモリ
に供給されるアドレス信号のうち、特定の信号の組み合わせにより、データ読み出しまた
は書き込みの対象となるメモリセルを含むメモリブロックを一意に特定する。さらに、当
該メモリブロック以外のメモリブロックに供給される信号を一定値に保つ。このようにす
ることで、メモリアレイにおけるビット線の配線長を短縮し、負荷容量を軽減すると同時
に、メモリ内のあらゆるアドレスのメモリセルに対するデータ読み出しもしくは書き込み
において、消費電流を一定にできる。 (もっと読む)


【課題】第1および第2のポートを有するデュアルポートメモリを提供する。
【解決手段】デュアルポートメモリは、単一ポートメモリ要素のアレイ22と、アレイに連結されており、かつアレイからデータを読み取り、アレイにデータを書き込むように動作可能である制御回路30と、第1のポートから第1のメモリアクセス要求を受信するように動作可能な第1の要求生成器60−Aと、第2のポートから第2のメモリアクセス要求を受信するように動作可能な第2の要求生成器60−Bと、制御回路、並びに第1および第2の要求生成器に連結されている仲裁回路64とを含み、仲裁回路は、同期モードで動作可能であり、同期モードにおいて、第1および第2の要求生成器は、等しい周波数を有する少なくとも2つのクロック信号を用いて制御される。 (もっと読む)


【課題】低消費電力化を図れるようにした半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は、メモリセルと、メモリセルに接続された第1のビット線及び第2のビット線と、第1及び第2のビット線に接続されて第1及び第2のビット線間の電圧を増幅するセンスアンプとを備え、センスアンプが、差動増幅用のトランジスタ対を構成する第1及び第2の駆動トランジスタと、これら第1及び第2の駆動トランジスタのソースとソース制御端子との間にそれぞれ接続された第1及び第2のキャパシタとを有する。センスアンプは、センス動作に先立って、第1及び第2の駆動トランジスタのドレイン側をプリチャージすることにより、第1及び第2のキャパシタに第1及び第2の駆動トランジスタのしきい値情報を保持し、センス動作時に、第1及び第2の駆動トランジスタのソース電圧を第1及び第2のキャパシタに保持されたしきい値情報で補償する。 (もっと読む)


【課題】SRAMセルやセンスアンプの駆動トランジスタのしきい値電圧(Vth)を補正することを可能とする技術を提供する。
【解決手段】データを保持するラッチ回路と、データを伝送する信号線とを備える半導体装置を構成する。ラッチ回路は、第1インバータと、第2インバータとを具備する。第1、第2インバータのそれぞれの出力からビット線(BL0、BL1)やセンスアンプ信号線(SA0、SA0B)を経由してGNDへ至る電気的経路を備え、その電気的経路は、第1のトランジスタを備えるものとする。そして、Vt補正モードには、第1インバータまたは第2インバータの一方のHighレベルを供給し他方にLowレベルを供給することで、第1のトランジスタにより電気的経路を導通する。 (もっと読む)


【課題】アドレス信号の配線に起因する配線容量を低減させ、アクセス速度の高速化を実現する半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は、複数のビット線と複数のワード線に対応して設けられた複数のメモリセルと、複数のメモリセルのいずれかを特定するためのアドレス信号を中継する中継バッファと、複数のワード線のうち、中継バッファにて中継されたアドレス信号に応じたワード線を選択するトランジスタを複数有するワード線ドライバ回路と、を備え、トランジスタでは、2つの拡散層のうち一方の拡散層が他のトランジスタの拡散層と共有し、拡散層を共有している2つのトランジスタで構成される複数の共有回路が、複数のトランジスタ群に分けられ、複数のトランジスタ群のうち隣り合う前記トランジスタ群の隙間部分に、隣り合うトランジスタ群のいずれかのゲート配線が設けられ、中継バッファはトランジスタ群のゲート配線と接続される。 (もっと読む)


【課題】効果的に消費電力を低減することができるSRAM及び半導体集積回路を提供すること。
【解決手段】SRAM100は、メモリセルアレイ2、ビット線BLT及びBLB、イコライズ制御回路3、イコライズ回路4を有する。ビット線BLT及びBLBは、メモリセルアレイ2と接続される。イコライズ回路4は、ビット線BLTとビット線BLBとの間を電気的に接続又は切断する。イコライズ制御回路3は、電源電圧VDD及びグランド電圧GNDと接続され、イコライズ回路4のオン/オフを制御するイコライズ信号EQを出力する。イコライズ回路4は、イコライズ信号EQに応じて、ビット線BLTとビット線BLBが電源電圧VDD及びグランド電圧GNDと電気的に切断されている場合に、ビット線BLTとビット線BLBとの間を電気的に接続する。 (もっと読む)


【課題】
断熱的SRAM回路の回路構造と制御方法を改良し、さらなる低消費電力化を実現するためのSRAM回路を提供すること。
【解決手段】
従来の断熱的SRAMで記憶保持として用いられているインバータからなるフリップフロップ回路を抵抗負荷型のMOSトランジスタに置き換え、かつ読み込み・書き込み選択線の切り替えにCMOSトランスミッションゲートを配置することで、書き込み時における消費電力の増加を解決できる。 (もっと読む)


【課題】低消費電力モードから通常動作モードへの復帰時におけるビット線の充電時間を適切に設定することで、復帰動作で消費される電力を低減する。
【解決手段】半導体記憶装置10は、複数のビット線2a,2b…のそれぞれを充電する充電回路4と、帰還経路5aの配線にダミービット線3が用いられているリングオシレータ5と、リングオシレータ5の発振回数が、複数のビット線2a,2b…の数に基づいて設定された所定の回数に達すると、検出信号を出力するカウンタ6と、低消費電力モードから通常動作モードへの復帰を指示する復帰信号に応じて、充電回路4による複数のビット線2a,2b…の充電を開始させるとともにリングオシレータ5の発振を開始させ、カウンタ6から出力された検出信号に応じて、充電回路4による複数のビット線2a,2b…の充電を終了させる制御回路7と、を有する。 (もっと読む)


【課題】ランダムアクセスメモリコントローラのためのシステム及び方法を提供する。
【解決手段】ランダムアクセスメモリコントローラであって、列マルチプレクサ及びセンスアンプ対を備え、列マルチプレクサ及びセンスアンプ対は、共通回路を利用するよう構成された列マルチプレクサ及びセンスアンプを含む。共通回路は、メモリコントローラが列マルチプレクサ及びセンスアンプ対について1つのインスタンスの共通回路を含むように、列マルチプレクサとセンスアンプとの間で共有される。共通回路は、共通プリチャージ回路、共通イコライザ、または、共通キーパ回路を含む。 (もっと読む)


【課題】読み書きコマンドに基づき、メモリアレイはアクティブ/非アクティブ状態に制御され、非アクティブ状態のメモリアレイにはクロック信号あるいは電源を供給しないことにより消費電力を削減することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】複数のメモリアレイ10A〜10Nを備え、複数のメモリアレイの各々は、複数のメモリセルを含み、複数のメモリアレイにそれぞれ対応して設けられる複数のメモリアレイ制御回路12A〜12Nをさらに備える。複数のメモリアレイ制御回路の各々は、対応するメモリアレイへの読み書き動作を制御する読み書き制御回路112A〜112Nと、対応するメモリアレイの各々にクロック信号および読み書き制御回路からの出力信号に基づいて対応するメモリアレイを活性化するように選択する選択回路とを含む。 (もっと読む)


【課題】メモリセルのサブスレッショルド・リーク電流の影響によって不良となるデバイスを選別検査で確実にリジェクトする。
【解決手段】行列状に配置された複数のメモリセルMEMと、メモリセルの行に対応して設けられた複数のワード線WL0〜WL4と、メモリセルの列に対応して設けられた複数のビット線対BT0、BB0及びBT1、BB1と、前記複数のワード線のうち、検査対象の注目メモリセル以外の非注目メモリセルが接続された非注目ワード線をフローティングとするスイッチMN1と、前記非注目ワード線がフローティングのときに、当該非注目ワード線を昇圧するポンピング回路POC0とを備える。 (もっと読む)


【課題】動作速度および信頼性を維持しながら、消費電力を低減したSRAMの実現。
【解決手段】複数のワード線WLと、複数のローカルビット線対LBL,LBLXと、複数のローカルビット線対の複数のワード線との交差部に設けられた複数のメモリセルC0-Cmと、複数のローカルビット線対毎に設けられた容量共通化回路BCと、複数の容量共通化回路を接続する共通接続ラインCLNと、複数のローカルビット線対に接続されるグローバルビット線対GBL,GBLXと、を有し、容量共通化回路は、対応するローカルビット線対と共通接続ラインの間に接続された2個のNチャネルトランジスタを有するスタティックRAM。 (もっと読む)


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