【課題】隔壁の欠陥による表示不良を簡単な方法で低減させ、プラズマディスプレイパネルの製造歩留まりを向上させる。
【解決手段】互いに平行な複数の表示電極対と誘電体層と保護層とを前面基板に形成する前面基板作製ステップと、互いに平行な複数のデータ電極と下地誘電体層と放電セルを仕切る隔壁と蛍光体層とを背面基板に形成する背面基板作製ステップと、間に放電空間を形成するように隔壁を挟んで前面基板と背面基板とを対向配置して封着する封着ステップとを備えるプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、背面基板作製ステップが、隔壁の欠陥検査を行う隔壁検査ステップと、隔壁検査ステップの結果に基づいて隔壁欠陥部に隣接する放電セルを不灯にする不灯処理ステップと、を含んでいる。 （もっと読む）

【課題】電界放出型電子放出素子の製造において、短絡による素子の欠陥を検出し、欠陥のない素子へ影響を及ぼすことなく、該短絡を修復し、歩留まりを向上する。
【解決手段】放出電流−電圧特性に閾値を有する電子放出素子において、該閾値よりも低い第１の電位差を素子に印加して該素子に流れる電流値を測定し、該電流値によって該素子における短絡の有無を判断し、短絡を有する素子に対してのみ、前記第１の電位差よりも大きい第２の電位差を印加する工程を、第２の電位差を徐々に増加させながら、短絡が修復されるまで繰り返す。 （もっと読む）

【課題】電子線装置の製造に際し、突発的な放電による部材劣化を引き起こすことなく、ストレーエミッション（ＳＥ）源を選択的に除去することができるようにする。
【解決手段】カソード基板に電圧を印加し、ＳＥによって発生する信号を測定して信号のピーク位置を得る操作を印加電圧を変えて複数回行い、各印加電圧と対応するピーク位置との関係から前記印加電圧が無限大の時に相当するピーク位置を導出してＳＥ源の基板の面内方向の位置を検出し、検出したＳＥ源の位置に選択的にエネルギーを印加することによってＳＥを除去する。 （もっと読む）

【課題】欠陥セルの不点灯化処理を確実に実行することができるインバス構造のプラズマディスプレイパネル及びその製造方法を提供する。
【解決手段】複数の電極対の各々を構成する第１及び第２電極各々は、ギャップを介して対向する放電電極と放電電極の一部に接続された本体電極とで構成され、第２電極においては、第１電極と比べてギャップに近い側の放電電極の部分において本体電極と接続されている。 （もっと読む）

【課題】撮像素子の感知する光の強さを高精度に算出可能な応答特性モデルを生成する。
【解決手段】異なる露光時間にて撮像された撮像データの中から選択された選択撮像データにおいて、等しい撮像素子出力値を有する画素の画素位置を画素位置設定部１１によりグループ化する。次いで、選択撮像データおよび選択撮像データとは異なる露光時間による撮像データの双方において、前記グループ化によって得られた各グループの画素位置での撮像素子出力値から、選択撮像データおよび選択撮像データとは異なる露光時間での撮像データにおける各グループの撮像素子出力代表値を撮像素子（ＣＣＤセンサ）出力代表値算出部１２により算出する。これら各露光時間での撮像データにおける各グループの撮像素子出力代表値を用いて、撮像素子出力値と光エネルギとの対応関係を撮像素子出力値（ＣＣＤセンサ出力値）と光エネルギとの関係テーブル算出部１３によって算出する。 （もっと読む）

【課題】マイクロカラムを用いた検査装置を開示する。
【解決手段】本発明に係るマイクロカラムを用いた検査装置は、従来の光学検査装備で解決できなかった小型回路の駆動方式を検査することができる。また、本発明は、大面積ディスプレイなどの検査を短時間内に行うことができる高速検査が可能であるうえ、精密検査および修理も可能である。本発明に係る検査装置は、複数のマイクロカラム、試料との移動方向に直角に前記マイクロカラムが結合する軸、および前記マイクロカラムからの電子ビームが試料に照射されたことを検出して試料の回路異常有無および形状を検査することが可能なデテクターを含む。

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【課題】 基板に真空計測用の開口を設けることなく、真空領域の真空度を適切に検査可能な電界放出型表示装置およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】 真空領域７を挟んで対向する１対の基板１Ａ，１Ｂと、基板１Ａに形成された電子放出源２と、基板１Ｂに形成されたアノード電極３および蛍光体層４と、を備えている、電界放出型表示装置Ａであって、真空領域７の気圧と大気圧との気圧差により、１対の基板１Ａ，１Ｂの少なくとも一部どうしが接近したことを検出する接近検出手段５を備えている。 （もっと読む）

【課題】 粒子の特性解析に十分な精度を確保しつつ、計算回数を削減して計算時間を短縮することができる、或いは、計算時間を長くすることなく、一回の評価をするのにかかる計算負荷を軽減することができる。
【解決手段】 ＰＤＰ放電特性解析装置１は、ＡＣ型ＰＤＰの放電現象を対象にした特性解析を、予め設定した計算条件下で、前記放電現象における放電素の過程モデルに関する入力データに基づいて行うものであって、荷電粒子の粒子密度の算出について、フルモード計算手段５と、ハーフモード計算手段７と、スキップモード計算手段９と、これらを入力データの変化に基づいて切り替える切替手段３と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】 ディスプレイ装置における焼き付きの消去またはマルチディスプレイシステムにおける各ディスプレイ装置の輝度の均一化・連続化を自動的に行う。
【解決手段】 放電セル構造１３の背面側にＣＣＤ１４を設け、放電セル構造１３から背面側に導かれる光、または放電セル構造１３から背面側に漏れる光をＣＣＤ１４により測定する。そして、ＣＣＤ１４から出力される光量測定結果を数値化し、これに基づいて輝度補正を自動的に行う。 （もっと読む）

【課題】基板上パターンの物性を簡便に予測する手段を提供する。また、プラズマディスプレイの隔壁焼成条件を簡便に決定する方法を提供する。
【解決手段】上記課題は、無機成分を含む成型物を焼成してモデル焼成物を作製し、同条件で焼成を行った基板上パターンの物性とモデル焼成物のかさ密度を予め関連付けた上で、特定の焼成条件で得られるモデル焼成物のかさ密度から同条件で焼成を行った際の基板上パターンの物性を予測することにより、また、プラズマディスプレイ基板に設ける隔壁の無機成分を含有する成型物を焼成してモデル焼成物を作製し、焼成温度、時間を変更してモデル焼成物のかさ密度が理論密度の８９〜９８％となるように焼成条件を決定することによって解決することができる。 （もっと読む）

【課題】開発期間を短縮する。
【解決手段】基本的な断面構造と二次元平面形状とをシミュレーションし、ディスプレイの各構成要素を形成するためにそれぞれ必要な複数のプロセスについて、シミュレーションし、ディスプレイの電気特性と光学的な特性をシミュレーションし、次に基本設計シミュレーションデータ、プロセスシミュレーションデータ、電気特性シミュレーションデータおよび光学特性シミュレーションデータの間でファイル変換ソフトにより交換を行ない、構築されたディスプレイを統括的に評価する。 （もっと読む）