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Fターム[5F101BC17]の内容

不揮発性半導体メモリ (42,765) | 電荷注入 (1,823) | 光書込み (4)

Fターム[5F101BC17]に分類される特許

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【課題】酸化物半導体層を含むトランジスタを有する不揮発性メモリにおいて、保持された情報を容易に消去できる不揮発性メモリを提供する。
【解決手段】不揮発性メモリは、第1のトランジスタ20及び第2のトランジスタ21を有するメモリセルを有し、第1のトランジスタ20は第1のチャネル、第1のゲート電極、第1のソース電極及び第1のドレイン電極を有し、第2のトランジスタ21は酸化物半導体からなる第2のチャネル、第2のゲート電極、第2のソース電極及び第2のドレイン電極を有し、第2のソース電極及び第2のドレイン電極の一方は第1のゲート電極と電気的に接続され、メモリセルへの情報の書き込み及び消去は、第2のソース電極及び第2のドレイン電極の一方と、第1のゲート電極との間のノードの電位を高くすることにより情報が書き込まれ、第2のチャネルに紫外線を照射して、ノードの電位を低くすることにより情報が消去される。 (もっと読む)


【課題】優れたデータ保持特性と、高速でのデータ書換え性能と、低消費電力での動作性能と、高い信頼性と、を同時に兼ね備えた不揮発性MOS型半導体メモリ装置を提供する。
【解決手段】MOS型半導体メモリ装置601は、大きなバンドギャップを持つ第1の絶縁膜111および第5の絶縁膜と、最も小さなバンドギャップを持つ第3の絶縁膜113との間に、両者の中間の大きさのバンドギャップを持つ第2の絶縁膜112および第4の絶縁膜114を備えている。このようなエネルギーバンド構造を有することにより、データ書き込み時には第1の絶縁膜111を介した電荷の移動が起こりやすく、書き込み動作速度を高速化することが可能で、かつ絶縁膜積層体に電荷を注入するために必要な書き込み電圧を小さく抑えることができる。 (もっと読む)


【課題】 エネルギー照射によりメモリセルの書き込みが行なわれる不揮発性記憶装置において、書き込み処理を正確に行ないつつその全体の処理時間を短縮できる不揮発性記憶装置、及びその書き込み方法を提供する。
【解決手段】 複数のメモリセル10Cがマトリクス状に配置された不揮発性記憶装置10において、書き込み対象メモリセル10Cを複数設定し、複数のエネルギー照射源31Aの各書き込み対象メモリセル10Cに対する相対位置を適正位置に調整した上で、複数のエネルギー照射源31Aから一括してエネルギー照射を行ない、複数の書き込み対象メモリセル10Cに対し一括書き込みを行なうとともに、これら書き込み処理と並列的に、既に書き込まれたデータの誤り検出符合の生成処理を順次行なうようにする。 (もっと読む)


【課題】有機FETの応用の一つとして、外部からの刺激、例えば、外部からの光に応答する光メモリのようなメモリ機能を有する、外部刺激応答性素子の基本的な原理・構成を提供すること。
【解決手段】有機半導体層、ソース電極、ドレイン電極及びゲート電極を有し、該ソース電極と該ドレイン電極の間のチャネル領域が該有機半導体層からなり、該有機半導体層と該ゲート電極がゲート絶縁層によって隔てられている有機電界効果トランジスタにおいて、前記ゲート電極が、前記ゲート絶縁層側から順番に配置された、フローティングゲート電極、光照射等の外部刺激に応答して導電性となる性質を有する第2絶縁層、コントロールゲート電極から構成されていることを特徴とする有機電界効果トランジスタである。 (もっと読む)


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