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Fターム[5F140AB01]の内容

絶縁ゲート型電界効果トランジスタ (137,078) | 複合(回路要素) (3,149) | MOSIC、MISIC (2,326)

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大きな引張応力を有する半導体デバイスを提供することを目的とする。半導体デバイスは、ソース領域及びドレイン領域を備える基板を有する。ソース領域及びドレイン領域の各々は、それぞれ、複数の分離されたソース区画及びドレイン区画を含む。シャロートレンチ分離(STI)領域がソース領域の2つの分離されたソース区画間及びドレイン領域の2つの分離されたドレイン区画間に形成される。ゲート積層体が基板に形成される。引張誘起層が基板上に形成される。引張誘起層はSTI領域、ソース領域、ドレイン領域及びゲート積層体を覆っている。引張誘起層は基板に引張応力を生じさせることが可能な絶縁体である。

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生物細胞又は類似のバイオコンポーネントについて測定を実施するための装置であって、電界効果トランジスタ(1)を有しており、その電界効果トランジスタが基板上にソース、ドレイン及びそれらを互いに接続するチャネルエリア(4)を有しており、そのチャネルエリア上にゲート電極(8)が配置されている。ゲート電極(8)は、少なくとも2つの、側方に並べて配置された電極領域(10)を有しており、それらは、チャネルエリア(4)がソース(3a)をドレイン(3b)と接続する方向に対して直角方向に互いに対して隔たって、かつ電気的に互いに対して絶縁されている。 (もっと読む)


MOS回路の過電圧保護のための横型高電圧接合デバイスは、基板領域によって第2接合領域から分離された第1接合領域を有する基板を含む。MOSゲート電極は基板領域の上に重なり、ゲート誘電体層によってそこから分離される。MOSゲート電極の対向辺に隣接してサイドウォールスペーサが存在し、基板領域の上に重なる。基板領域は、第1および第2接合領域の間の無接合半導体領域によって画定される。入力保護回路は横型高電圧接合デバイスを使用して、電圧過渡を接地ノードに転送する。
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電源制御装置システム(25)は、電源制御装置システム(25)のスタートアップ動作を制御するために2つの別個の電流を使用する。2つの電流は、電源制御装置システム(25)の動作を抑止するために接地に分流され、2つの電流のうちの1つは電力消散を最小限にするためにディセーブルにされる。2つの独立した制御電流は、2つの別個の制御信号(23、24)に応答して、マルチ出力電流高電圧装置(12)によって生成される。
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バリア性を有する絶縁膜サイドウォールスペーサを有する半導体装置を提供する。 半導体装置は、半導体基板の上に形成されたゲート酸化膜とゲート電極と;半導体基板内に形成されたソース/ドレイン領域と;ゲート電極側壁上に形成された2層以上の積層サイドウォールスペーサであって、最外層以外の層として窒化膜を含み、最外層は、酸化膜又は酸化窒化膜で形成され、下面が半導体基板またはゲート酸化膜、又は窒化膜以外の他のサイドウォールスペーサ層と接している第1積層サイドウォールスペーサと;を有する。さらに、不揮発性メモリの積層ゲート電極構造と;積層ゲート電極構造の側壁上に形成され、中間層として半導体基板に接しない窒化膜を含む3層以上の第2積層サイドウォールスペーサと;を有することもできる。
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ソース/ドレイン領域の少なくともその幅が最も大きい部分では半導体領域の幅よりも大きく、かつソース/ドレイン領域の最上部側から基体側に向かって連続的に幅が大きくなっている傾斜部を有し、該傾斜部表面にシリサイド膜が形成されていることを特徴とする半導体装置とする。
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ストレインド・シリコン電圧制御発振器(VCO)は、ストレインド・シリコン層を有する第1Pチャネル金属酸化膜半導体(PMOS)装置を含み、ストレインド・シリコン層を有する第2PMOS装置に結合される。
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縦方向、横方向に交互に配置されたソース領域(22)、ソースボディ領域(26)、ドリフト領域(20)、ドレインボディ領域(28)、およびドレイン領域(24)をそれぞれ有するセル(18)を、減表面電界を達成するための構造とともに有する、電界効果トランジスタである。実施形態における構造は、ソースまたはドレイン領域(22、24)近傍にゲート領域(31)を定義する縦方向に離間された絶縁ゲートトレンチ(35)と、ドリフト領域(20)近傍に縦方向に延在する電位プレート領域(33)と、を含むことができる。代替的に、別個の電位プレート領域(33)または縦方向に延在する半絶縁フィールドプレート(50)をドリフト領域(20)近傍に設けてもよい。このトランジスタは、双方向切り替えに適している。
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