Fターム[5F152CF05]の内容
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Fターム[5F152CF05]に分類される特許
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薄膜トランジスタ、表示板、及び薄膜トランジスタの製造方法
【課題】多結晶シリコンのように電気的特性が向上した薄膜トランジスタ表示板を低コストで製造することができる方法を提供する。
【解決手段】基板と、基板上に形成されている制御電極124aと、制御電極124a上に形成されているゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に形成されていて、制御電極と重畳する半導体151と、半導体151と一部分が重畳する入力電極173aと、半導体151と一部分が重畳する出力電極175aと、を含み、半導体151は非晶質シリコンからなる第1部分と多結晶シリコンからなる第2部分とを含む。
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歪みシリコン・オン・インシュレータ(SSOI)およびこれを形成する方法
【課題】 コストが低く歩留まりの高い、引っ張り歪みSOI層を形成するための方法および引っ張り歪みSOI層の構造を提供する。
【解決手段】 歪みSiベースの層を製造するための方法、この層に製造されるデバイス、ならびに、かかる層およびデバイスを含む電子システムを開示する。この方法は、基板上にSiGe層をエピタキシャル成長させるステップと、このSiGe層において様々なGe濃度を生成するステップを含む。SiGe層内のGe濃度は、Ge濃度が突然かつ著しく増大する固有のGeオーバーシュート・ゾーンを含む。SiGe層上に、Siベースの層をエピタキシャル堆積させ、これによって引っ張り歪みが与えられる。また、典型的にSiまたはSiGeである歪みSiベースの層を、異なるバルク基板または絶縁体に転写可能であることも開示される。
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