説明

Fターム[5F157AB24]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 被洗浄物の支持 (5,429) | 押さえ手段 (43) | 転倒防止 (2)

Fターム[5F157AB24]に分類される特許

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【課題】液処理後の液残りを少なくしてウォーターマーク等のしみの発生を抑制することができ、かつウエハ等の転倒を防止でき、スループットの向上を図れるようにする。
【解決手段】半導体ウエハWを垂直に保持した状態で搬送する搬送手段を具備する基板処理装置において、搬送手段であるウエハボート5は、ウエハの下端部を支持する下側保持体20と、ウエハの転倒時に該ウエハの下部側端部を保持する左右一対の上側保持体30とを具備し、下側保持体は、ウエハの下端部を直接支持する保持溝21を有する保持溝部22と、該保持溝部に隣接して設けられ、保持溝によるウエハの支持が解かれた際にウエハを保持する転倒防止溝23を有する転倒防止溝部24と、を一体に形成してなる。 (もっと読む)


【課題】CMP法による研磨によりポリシリコン膜等が半導体基板上に表出する場合であっても、信頼性や製造歩留まりの低下を防止し得る半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】化学的機械的研磨法により研磨を行う工程であって、半導体基板上にポリシリコン膜が表出した状態になる工程と;半導体基板を洗浄する工程とを有する半導体装置の製造方法であって、半導体基板を洗浄する工程は、酸性の第1の洗浄液を用いて洗浄を行う第1の工程S10と;第1の工程の後に、第2の洗浄液を用いて超音波洗浄を行う第2の工程S12と;第2の工程の後に、アルカリ性の第3の洗浄液を用いて洗浄を行う第3の工程S13とを有している。 (もっと読む)


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