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Fターム[5F157BE68]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 洗浄液成分による洗浄(無機) (1,715) | 無機成分 (1,715) | 塩イオン (186) | その他の元素を有する (24)

Fターム[5F157BE68]の下位に属するFターム

ハロゲン (11)
金属 (9)

Fターム[5F157BE68]に分類される特許

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【課題】配線構造や層間絶縁構造を損傷することなく、半導体基板上のプラズマエッチング残渣を十分に除去しうる洗浄組成物、及び前記洗浄組成物を用いた半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】(成分a)水、(成分b)ヒドロキシルアミン及び/又はその塩、(成分c)塩基性化合物、(成分d)有機酸、並びに、0.1重量%以上、0.5重量%未満の(成分e)無機酸及び/又はその塩、を含み、pHが6〜8であることを特徴とする、半導体基板上に形成されたプラズマエッチング残渣除去用の洗浄組成物、並びに、前記洗浄組成物により、半導体基板上に形成されたプラズマエッチング残渣を洗浄する工程を含む、半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】遮断板を使用せずに薬液処理を可能とする裏面洗浄方法であり、容易な装置構成にて、ベベル部および基板裏面に付着したルテニウムのエッチングを行う。
【解決手段】上ノズル1と下ノズル2から基板3の上面および下面に次亜塩素酸ナトリウム水溶液を供給し、下面のルテニウム膜を除去すると同時に、上面のルテニウム膜6をパターンニングする工程と、前記ノズル1,2から基板3の上面および下面に純水を供給して次亜塩素酸ナトリウム水溶液を除去する工程と、この工程の後に、前記ノズル1,2から基板3の上面および下面に弗酸を供給して不純物を除去する工程と、この工程の後に、前記ノズル1,2から基板3の上面および下面に純水を供給して弗酸を除去する工程と、この工程の後に、スピンベース5により基板3を回転させて乾燥させる工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】窒化チタン被膜を剥離するための窒化チタン剥離液であって、特にタングステン又はタングステン合金を含む層を有する半導体多層積層体においても、この層が浸食されることなく、窒化チタン被膜が剥離できる窒化チタン剥離液を提供すること。
【解決手段】過酸化水素、フッ酸、水溶性有機溶剤、及び防食剤を含有し、前記防食剤が環内に窒素原子を2個有する含窒素5員環化合物である、窒化チタン剥離液。本発明によれば、窒化チタン剥離液が、環内に窒素原子を2個有する含窒素化合物を含むので、半導体多層積層体がタングステン又はタングステン合金を含む層を有する場合においても、窒化チタン剥離液がこの層を浸食することなく、窒化チタン被膜を剥離することができる。 (もっと読む)


【課題】被洗浄物表面に金属不純物やパーティクルあるいは純水中の不純物が付着するのを抑制し、清浄な洗浄を行うことで、半導体装置の特性や歩留りを向上できる洗浄乾燥装置を得る。
【解決手段】本発明に係る洗浄乾燥装置は、洗浄液で被洗浄物表面を酸化する処理を行う第1の処理槽と、該第1の処理槽で酸化された被洗浄物表面を希釈塩酸水溶液で洗浄する処理を行う第2の処理槽と、該第2の処理槽で洗浄された被洗浄物表面を乾燥する処理を行う乾燥処理部とを備えたものである。 (もっと読む)


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