電源変換回路は、しばしば並列に動作するいくつかのMOSFETからなる。温度サイクリングと機械動作とが原因で、MOSFET又はMOSFETにおける各電子接続は故障する場合がある。本発明によれば、複数の並列なMOSFETに対する診断回路が与えられ、それが、MOSFETの温度又はMOSFETのゲート電圧の少なくとも一方に基づき、起こりうる障害を予測又は決定する。有利には、MOSFETの連続的な監視が与えられることができ、MOSFETの障害の早期決定が与えられることができる。
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【解決手段】開示される双方向スイッチ（２０）は、第１および第２の半導体スイッチング素子（２２）と、これらのスイッチング素子に直列に接続されることによって直列回路を形成する電流センサ（ＲＳ）と、これら第１および第２のスイッチング素子がほぼ同時にオン・オフされるようにこれら第１および第２のスイッチング素子のオン・オフ操作を制御する駆動回路（３０）であって、制御入力に応じてこれら第１および第２のスイッチング素子をオンにしたり電流センサの電流がほぼゼロ電流近くまで低下する際にこれら第１および第２のスイッチング素子をオフにしたりする駆動回路と、を備える。また、このような双方向スイッチ（２０）を用いたプラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ）用の放電サステイン駆動回路も開示される。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】能動ＥＭＩフィルタは、アース線を流れる電流を、そのアース線に結合されたコンデンサにかかる電圧として検出する。ＥＭＩフィルタは、同相電圧を検出し、該同相電圧と雑音との差を決定することによって、アース線への出力を提供し、その差の低減を図る。 （もっと読む）