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国際特許分類[G01B11/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定 (22,327) | 光学的手段の使用によって特徴づけられた測定装置 (13,565)

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少なくとも一つの三次元座標系(5;24)内の本体(36)の位置と方向を検出する装置であり、この装置は、A)位置検出センサー(1);およびB)少なくとも一つの座標系(5;24;26)内で本体(36)の位置と方向を算定するために位置検出センサー(1)へ接続したコンピュータ(8)を含み、C)前記装置は重力ベクトル(19)の方向を算定する補助手段(25)を含む。重力または地球の磁場に関連した影響から生ずる欠陥に関して磁気光学X線写真(35)を修正する方法であり、この方法は以下の段階:a)重力ベクトル(19)の方向を検出する段階;b)X線器械(28)の位置と方向を算定する段階;c)重力により引き起こされたX線器械(28)の機械的変形によるX線写真(35)のゆがみを算定する段階;d)地球の局所的磁場により引き起こされたX線写真(35)の欠陥を算定する段階;e)受像機(29)に生成するX線写真(35)の光学的変形を算定する段階;およびf)コンピュータ(8)を用いて、段階c)、d)およびe)で算定された欠陥に関してデジタル化したX線写真を修正する段階を含む。 (もっと読む)


高周波成分をS1=cos(ω・t)と理想化できる変調された周期的波形を有する光エネルギーを放射してターゲットを照射することにより、距離及び/または輝度を測る、好ましくはCMOSで実施可能な方法とシステム。放射された光エネルギーの一部分は、ターゲットにより反射され、複数の半導体光検出器のうち少なくとも一つにより検出される。光検出器の量子効率は、検出した信号を処理してターゲットと光検出器を隔てる距離zに比例するデータを作り出すために変調されている。検出は、放射された光エネルギーと反射された光エネルギーの一部分の間の位相変化の測定することを含む。量子効率は固定位相法または可変位相法により変調でき、高められた光電荷収集、差動変調、空間的マルチプレクシング及び時間的マルチプレクシングを用いて高めることができる。光検出器の容量と動作周波数において共振するインダクターを使って、本システムの必要電力条件を削減することもできる。本システムはチップ上の光検出器、関連エレクトロニクス、処理を含む。 (もっと読む)


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