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国際特許分類[G01B21/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定 (22,327) | このサブクラスの他のグループの,個別の形式の測定手段に適合しない測定装置またはその細部 (1,964)

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少なくとも一つの三次元座標系(5;24)内の本体(36)の位置と方向を検出する装置であり、この装置は、A)位置検出センサー(1);およびB)少なくとも一つの座標系(5;24;26)内で本体(36)の位置と方向を算定するために位置検出センサー(1)へ接続したコンピュータ(8)を含み、C)前記装置は重力ベクトル(19)の方向を算定する補助手段(25)を含む。重力または地球の磁場に関連した影響から生ずる欠陥に関して磁気光学X線写真(35)を修正する方法であり、この方法は以下の段階:a)重力ベクトル(19)の方向を検出する段階;b)X線器械(28)の位置と方向を算定する段階;c)重力により引き起こされたX線器械(28)の機械的変形によるX線写真(35)のゆがみを算定する段階;d)地球の局所的磁場により引き起こされたX線写真(35)の欠陥を算定する段階;e)受像機(29)に生成するX線写真(35)の光学的変形を算定する段階;およびf)コンピュータ(8)を用いて、段階c)、d)およびe)で算定された欠陥に関してデジタル化したX線写真を修正する段階を含む。 (もっと読む)


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