【課題】
幅広い周波数範囲での掃引が可能な光スペクトル計測装置を提供する。
【解決手段】
コム光密度低減器１２は、周波数コム光要素を、それぞれ２つごとに選択した２つの低密度周波数コム光Ｃ₁，Ｃ₂に配分し、Ｃ₁，Ｃ₂の１つを順次選択して出射し、掃引用変調器１３は、Ｃ₁，Ｃ₂を入射し掃引を行い、ビート生成器１４は、掃引用変調器１３から出射された低密度周波数コム光Ｃ₁，Ｃ₂に特定周波数の参照光を加えてビートを生成し、受光器１４はビート生成器１３の出射光を検出する。 （もっと読む）

本発明は、１）第１周波数コムと、２）干渉を生成するべく、第１周波数コムと相互作用するべく構成された第２周波数コムと、３）２つのコムの周波数成分中の周波数成分のサブセットの間においてうなり信号を隔離する手段であって、この周波数成分のサブセットは、好ましくは、第１周波数コムの単一ライン及び第２周波数コムの単一ラインであるが、これは、必須ではない、手段と、４）このうなり信号を監視し、且つ、この信号を第１及び第２周波数コムの周波数成分全体の間のうなり干渉信号を記録する取得ユニット装置用のトリガとして又はクロックとして使用する手段と、を有する干渉計に関する。
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【課題】空間的、時間的に分解能の高い高感度な分光計測装置及びその方法を提供する。
【解決手段】被測定物Ｓの１輝点から多様な方向に向かって放射状に生じる散乱光や蛍光発光等の光線群（「物体光」ともいう）は、対物レンズ１２に入射し、透過した後、位相シフター１４の固定ミラー部１５及び可動ミラー部１６に到達する。そして、固定ミラー部１５及び可動ミラー部１６でそれぞれ反射された後、結像レンズ２２により検出部２４の結像面で干渉像を形成する。このような状態で、可動ミラー部１６を移動させると、検出部の結像面における干渉光の強度が徐々に変化し、インターフェログラムと呼ばれる結像強度変化（干渉光強度変化）の波形が得られる。このインターフェログラムをフーリエ変換することにより、被測定物Ｓの一輝点から発せられた光の波長毎の相対強度である分光特性を取得することができる。 （もっと読む）

【課題】 外部共振器型半導体レーザから射出されるレーザ光の波長を広い範囲にわたり判定する波長判定装置及び波長判定方法を提供する。
【解決手段】 外部共振器型半導体レーザ５０から射出されたレーザ光は、２つの検出器２０２、２０３によって２段階に判定される。検出器２０２はオプティカルウェッジ２０４を備え、その反射光の光強度が２分割ディテクタ２０６で検出される。一方、検出器２０３はオプティカルウェッジ２０５を備え、その反射光の強度が２分割ディテクタ２０７で検出される。２つのオプティカルウェッジ２０４、２０５は、それぞれ異なる波長範囲のレーザ光を受光しても、ほとんど同じ干渉縞を生じるよう、ウエッジ角や板厚が調整される。これにより、２分割ディテクタ２０６からの差分値を用いてレーザ光の概略的な波長の範囲が決定され、その後２分割ディテクタ２０７からの差分値を用いて詳細なレベルの波長が決定される。 （もっと読む）