国際特許分類[G01Q60/26]の内容
物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 走査プローブ技術または装置;走査プローブ技術の応用,例.走査プローブ型顕微鏡[SPM] (274) | 特定の型のSPM[走査プローブ型顕微鏡]またはそのための装置;その基本的な構成部品 (135) | AFM[原子間力顕微鏡法]またはそのための装置,例.AFM用のプローブ (79) | 摩擦力顕微鏡法 (2)
国際特許分類[G01Q60/26]に分類される特許
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摩擦力顕微鏡
【課題】摩擦力顕微鏡においてカンチレバーによる定量的な摩擦力の測定を可能とすること。
【解決手段】摩擦力顕微鏡においてカンチレバーの有効な探針高さおよび捻れバネ定数を、それぞれカンチレバーの撓み方向の変位情報から求めた撓み感度および捩れ方向の変位情報から求めた捩れ感度により算定し、該算定値を用いた摩擦力の算定機構を備えた摩擦力顕微鏡を提供する。
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プローブ顕微鏡、およびこれを備える摩擦摺動・CMP・ハードディスクの検査装置
【課題】材料の重心が検知用の板ばねの中心からずれたり、板ばねが変形した場合にも測定を可能とする。
【解決手段】本発明の走査型プローブ顕微鏡は、第1試料1が先端部に設置された板ばね3と、板ばね3の端部を固定する固定部材14と、第2試料2が固定される試料台15と、光源16からの検出光が板ばね3に当てられ、その反射光を光検出器17で検出する板ばね3の変位検出光学系18と、試料台15又は板ばね3を動かして、第1・第2試料1、2を接近・離隔させるための試料間隔調整機構19と、第1・第2試料1、2間の摩擦を測定する水平走査機構20と、第1・第2試料1、2間の吸着、凝着、反発のうち少なくとも一つを測定するための垂直走査機構21とを備える走査型プローブ顕微鏡S1であって、検出光r11の光軸が当てられた板ばね3の傾きを、試料台15に対して任意の角度で変化させる固定部材14を回転させる回転機構22を備える。
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