【課題】不揮発性の半導体ディスクの寿命を監視する半導体ディスク寿命監視装置を提供する。
【解決手段】半導体ディスク５−１〜５−Ｋの書込み制御を行うファイルシステム３と、当該ファイルシステム３と前記半導体ディスク５−１〜５−Ｋを接続するインタフェースドライバ４を備え、当該インタフェースドライバ４により書込みが行われる半導体ディスク５−１〜５−Ｋの寿命を予測する半導体ディスク寿命監視装置１であって、前記ファイルシステム３からの書込みを書込情報として測定する測定部７と、前記測定結果を累積し第１の保存データ３２として保存する保存部８と、前記保存した累積書込情報に基づいて、半導体ディスク５−１〜５−Ｋの寿命を予測する。 （もっと読む）

【課題】電源電圧の瞬断、瞬オンに対する自動車用電子機器の動作限界を定量的に調査する手段を提供する。
【解決手段】被試験機に印加する通常の電源電圧である＋Ｂおよび被試験機のメモリーホールドなどのための常時印加の電圧であるＡｃｃの瞬断について、様々なパターンを再現するために当該時間、電圧についてもプログラムを用いて少しつづ徐々に変化させて被試験機に印加し、これに基づく被試験機の応答を監視して別に定めた短い時間ごとに出力論理の正否を確認することにより、自動車用に最近多く用いられるデジタル機器独特のプログラムによる思いも寄らない誤動作の発生を確認でき、さらに誤動作発生時の誤動作モードをきちんと捕らえて適切な設計対応を取ることができる。 （もっと読む）

【課題】ジッタ耐性検査における検査コストの低減を図りつつ、入力される主信号の特性劣化を抑制できる半導体集積回路を提供する。
【解決手段】半導体集積回路１０１は、主信号にジッタ信号が付加されてなる検査信号を生成する機能を有し、ジッタ信号の基となる信号を生成するジッタ信号生成部５０と、電源線Ｖｃｃと接地線ＧＮＤとの間に介在し、電源線Ｖｃｃからの電力供給を受けて外部からの主信号を増幅して出力するバッファ回路１０と、電源線Ｖｃｃとバッファ回路１０との間およびバッファ回路１０と接地線ＧＮＤとの間に介在し電源線Ｖｃｃからバッファ回路１０への供給電力をジッタ信号の基となる信号の大きさに基づいて変化させることにより主信号にジッタ信号を付加するジッタ信号付加部３０とを備える。 （もっと読む）

【課題】検査対象の複数個のデバイスに対して一括して、規格に適合した電流波形（または電圧波形）で明確かつ正確に高電圧印加試験を行うことにより、高電圧検査を大幅に効率よく行う。
【解決手段】ＥＳＤ試験装置１は、所定の高電圧を出力する高電圧電源２と、高電圧電源２からの所定の高電圧を蓄積する高電圧容量手段としての高圧コンデンサ４と、高圧コンデンサ４からの所定の高電圧を印加抵抗５を通して出力する高電圧出力部と、この高電圧電源２からの所定の高電圧を高圧コンデンサ４側に接続するかまたは高圧コンデンサ４からの所定の高電圧を高電圧出力部側に接続するように切り替える切替手段としての高耐圧リレー３とを有し、同一回路構成として、高圧コンデンサ４から高耐圧リレー３さらに印加抵抗５を通して高電圧出力部に至る回路を独立に、一括印加処理すべき複数の検査対象デバイス６の個数分だけ並列に有している。 （もっと読む）

【課題】高耐圧リレーを用いることなく全体構成を簡略化して、規格に適合した電流波形（または電圧波形）で高電圧印加試験を行う。
【解決手段】一または複数の検査対象デバイスに対してＥＳＤ耐性を検査する本実施形態３のＥＳＤ試験装置１Ｄにおいて、一または複数の検査対象デバイス５４を搭載したコンタクトステージ５３の上下動作により、スイッチ手段としてのスイッチ５２がオン／オフして、一または複数の検査対象デバイス５４に１対１に対応する各高電圧容量手段としての高圧コンデンサ５６の高電圧を充電／放電し、各高圧コンデンサ５６からの放電により当該一または複数の検査対象デバイス５４のＥＳＤ検査を行う。 （もっと読む）

【課題】検査対象の複数個のデバイスに対して一括して、規格に適合した電流波形（または電圧波形）で明確かつ正確に高電圧印加試験を行う場合にも、簡単な構成でショート不良が混在することなく、高電圧検査を大幅に効率よく行う。
【解決手段】ＥＳＤ試験装置１は、所定の高電圧を出力する高電圧電源２と、高電圧電源２からの所定の高電圧を蓄積する高電圧容量手段としての高圧コンデンサ４と、高圧コンデンサ４からの所定の高電圧を印加抵抗５を通して出力する高電圧出力部と、この高電圧電源２からの所定の高電圧を高圧コンデンサ４側に接続するかまたは高圧コンデンサ４からの所定の高電圧を高電圧出力部側に接続するように切り替える切替手段としての高耐圧リレー３とを有する。 （もっと読む）

【課題】ラッチアップ試験において、被試験端子の状態がハイインピーダンス状態であるか否かを把握するとともに、被試験端子へ電流パルスを印加した際に被試験端子の論理状態が反転することによるラッチアップの誤判定を防ぐこと。
【解決手段】ラッチアップ試験装置は、被試験端子の電位をプルアップおよびプルダウンして被試験端子がハイインピーダンス状態であるか否かを検出するとともに、プルアップおよびプルダウン動作に伴って被試験端子の論理状態が反転する前後において、定電圧源から被試験デバイスの電源端子へ供給される電源電流を測定して両者の差分を第１の差分とするとともに、被試験端子に電流パルスを印加する前後において定電圧源から電源端子へ供給される電源電流を測定して両者の差分を第２の差分とし、第１の差分と第２の差分とを比較することで、ラッチアップが発生したか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】 供試機器内で発生する電磁ノイズの影響が低減された、注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を得ることを目的とする。
【解決手段】 本発明にかかる電磁ノイズ分布検出装置は、電磁ノイズを供試機器に注入する信号注入手段と、前記供試機器における複数の測定箇所から電磁界強度を検出する電磁界強度検出手段と、検出された前記電磁界強度を最大値検波により測定する最大値検波手段と、前記供試機器における任意の測定箇所から得られた電磁界強度について、複数回の最大値検波による測定から得られた測定値のうち、最小値を保持する最小値保持手段と、前記最小値保持手段に保持された最小値に基づき、前記供試機器上の前記電磁ノイズの伝搬経路分布を検出するノイズ分布検出手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】より簡素な構成でより精度が良いスイッチング素子の劣化診断回路およびその動作方法を提供すること
【解決手段】スイッチ部１１及びスイッチ部１１に対して接続された容量部１２を含むと共に、入力波形に対してローパスフィルタ処理を実行するローパスフィルタ部１と、前記入力波形の入力に応じたローパスフィルタ部１の出力と参照電圧とに基づいて、ローパスフィルタ部１に含まれるスイッチ部１１の状態を示す状態値を生成する状態判定部２を備える劣化診断回路。 （もっと読む）

【課題】光信号に効率的で簡単な構成でジッタを印加する。
【解決手段】ジッタを有する光パルスパターン信号を出力する光信号出力装置であって、周波数制御信号に応じた光周波数の光信号を出力する光源部と、光源部が出力した光信号を、指定されたパルスパターンに応じて変調する光変調部と、光変調部を通過した光信号を光周波数に応じて遅延させて、光信号にジッタを印加する光ジッタ発生部と、を備える光信号出力装置を提供する。 （もっと読む）