国際特許分類[H01L21/469]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 半導体装置またはその部品の製造または処理 (125,986) | 少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置 (97,574) | 不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない21/06,21/16および21/18に分類されない半導体本体を有する装置 (844) | 21/36〜21/428に分類されない方法または装置を用いる半導体本体の処理 (36) | 表面の物理的性質または形状の変換,例.エッチング,ポリシング,切断 (24) | 半導体本体上への絶縁層の形成,例,マスキング用またはフォトリソグラフィック技術の使用によるもの;これらの層の後処理 (8)
国際特許分類[H01L21/469]の下位に属する分類
有機物層,例.フォトレジスト (3)
無機物層 (1)
マスクを用いるもの (1)
後処理
国際特許分類[H01L21/469]に分類される特許
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気相成膜装置及びガス噴出器
【課題】成膜を繰り返し実行しても、ピット密度が低く高品質な成膜を行うことができ、量産性に優れたバーチカル方式のMOCVD装置などの気相成膜装置及びこれに用いられる材料ガス噴出装置を提供する。
【解決手段】材料ガス噴出器12は材料ガス供給室23,24と、材料ガス供給室に隣接して設けられた冷却器21と、材料ガス供給室側に材料ガス流入開口25,26を備え、冷却器を貫通して材料ガス供給室の反対側に材料ガス噴出開口31,32を備える材料ガス通気孔と、を備えている。上記材料ガス通気孔は冷却器内部で屈曲した形状を備え、材料ガス噴出開口31,32から材料ガス流入開口26,26への見通し経路を有しないように形成されている。
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シロキサンを含有するフォトパターン化可能な堆積阻害材料
基板を用意する工程、該基板に、オルガノシロキサン化合物を含むフォトパターン化可能な堆積阻害材料を適用する工程、そして該堆積阻害材料をパターン化する工程を含むパターン化薄膜を形成する原子層堆積法。該薄膜は該堆積阻害材料を有さない該選択された基板領域内だけに実質的に堆積される。 (もっと読む)
ウェーハトラック環境内のプラズマ処理チャンバを用いて半導体ウェーハを処理する方法及び装置
【課題】ウェーハトラックシステム内において半導体ウェーハ処理を遂行するためのプラズマチャンバ。
【解決手段】処理チャンバは、半導体ウェーハ表面を処理プラズマに曝すためのウェーハトラックセル内の熱スタックモジュールとして構成することができる。シャワーヘッド電極及びウェーハチャックアセンブリを処理チャンバ内に位置決めし、半導体ウェーハのプラズマ強化処理を遂行させることができる。種々の型のガス供給源をシャワーヘッド電極と流体的に通じさせ、所望のプラズマを形成するガス状混合体を供給することができる。ガスの流れをコントローラ及び一連のガス制御弁によって調整し、予め選択されたガス状混合体を形成させ、半導体ウェーハ表面に曝されるプラズマとして処理チャンバ内へ導入することができる。予め選択されたガス状混合体は、表面プライム処理及び底反射防止被膜(BARC)堆積のような異なる半導体ウェーハ処理動作のために処方することができる。
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