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国際特許分類[H01L29/02]の内容

国際特許分類[H01L29/02]の下位に属する分類

半導体本体の結晶構造,例.多結晶,立方晶系または特定な結晶面の方向,に特徴のあるもの (11)
半導体本体の形状に特徴のあるもの;半導体領域の形状,相対的な大きさまたは配列に特徴のあるもの (1,731)
構成材料に特徴のあるもの (1,274)
物理的不完全性に特徴のあるもの;研磨された表面又はあらされた表面を持つもの
不純物の濃度又は分布に特徴のあるもの
29/04,29/06,29/12,29/30,29/36のグループのうち2つ以上に分類されている特徴の結合に特徴のあるもの