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国際特許分類[H05K1/00]の内容

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国際特許分類[H05K1/00]に分類される特許

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【目的】 回路基板などの表面に印刷された半田などの印刷状態や半田付けの状態を検査する印刷検査装置を動作させるための印刷検査データを自動的に作成する。
【構成】 ランドの種類とそのランド検査位置,ランド検査装置の種類およびそのランドと対応する部品の種類の実装位置などを入力すると、設備マスタデータベース6を介して設備動作データベース7にアクセスし、また、ランド形状データベース8にアクセスし、さらに、部品マスタデータベース9をもとに部品形状データベース10と部品性質データベースにアクセスし、また、印刷検査条件データベース14にアクセスして所定のデータを読出書込手段15にて順次読み出す。そして、印刷検査位置データとともにマシンデータ変換手段17によりマシンデータに変換し出力する。 (もっと読む)



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