説明

テスト用ディスク

【課題】
DVD記録用ピックアップのテスト効率を格段に向上することができるテスト用ディス
クを提供する。
【解決手段】
DVD−系規格またはDVD+系規格に準拠したフォーマットに対して、記録有無領域
や、ウォブルまたはランドプリピットの種々のパラメータを変化させた領域を設けたエリ
アであるエリアb〜hを1枚のガラス製基板に形成する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、光ディスク装置のテスト用ディスクの構造に関するものである。
【背景技術】
【0002】
DVD記録再生装置の生産ラインにおいては、ピックアップとフロントエンドシステム
(サーボ制御を行う部分のこと)とを組み立てるセット組立工程において、組み立てた状
態でDVDへの記録テストを行う。ここで記録ができなければ不良品と判断されるが、記
録ができない原因がピックアップ側、フロントエンドシステム側のどちらにあるのかの切
り分け作業が発生してしまう。そのため、セット組立工程より前でのピックアップ量産工
程において、記録用ピックアップ単体としての性能評価を行うことが望ましい。
【0003】
ピックアップの性能評価で用いられるテスト用ディスクとしては、DVD/CDのハイ
ブリッドガラスディスクが市販されている。しかし、本テスト用ディスクはROMのフォ
ーマットであるため、記録用ピックアップとしての評価を考えた場合、本テスト用ディス
クでは不十分である(再生用のテスト用ディスクについては例えば特許文献1を参照)。
記録用DVD(DVD−R、DVD−RW、DVD+R、DVD+RW)に対する信号評
価としては、ウォブル信号評価およびランドプリピット(LPP)信号評価が必要となっ
てくる。
【0004】
そこで、ピックアップ量産工程において記録用DVDに対するピックアップの信号評価
を取り入れる場合、市販されている基板にポリカーボネートを用いた記録用DVD各種規
格に準拠したフォーマットのテスト用ディスクを用いて信号評価することが考えられる。
また、テスト用ディスクとしては例えば特許文献2に、プリフォーマットピットの位置を
ランドまたはグルーブの中心から半径方向に意図的にずらした光ディスクが開示されてい
る。
【特許文献1】特開平9−274740号公報
【特許文献2】特開平7−93829号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、上記市販されているテスト用ディスクを用いて、DVD−系(DVD−R、D
VD−RW)およびDVD+系(DVD+R、DVD+RW)に対応して信号評価する場
合、テスト用ディスクを交換する時間が発生してしまう。また、記録用DVDの市場にお
いて問題となっている粗悪ディスクに対するピックアップの許容確認も行う場合、さらに
ディスク交換の時間が必要となり、テスト効率が悪化してしまう。また、上記特許文献2
に開示の光ディスクをテスト用ディスクとして用いると、ランドプリピットをもつDVD
−系の粗悪ディスクに対するピックアップの許容確認は行えるが、DVD+系も含めた信
号評価はできないため、やはりディスクの交換時間が発生してしまう。
【0006】
また、ポリカーボネート基板を用いたテスト用ディスクは、ディスクの反り(チルト)
が発生してしまい、信号評価として信頼性が低い。また、ポリカーボネート基板を用いた
テスト用ディスクは、傷にも弱いため、寿命が短く、コスト的にも不利である。また、追
記型DVD(DVD−R、DVD+R)のような記録層に有機色素膜を用いたテスト用デ
ィスクは、経時的な特性変化が懸念され、信号評価として信頼性が低い。
【0007】
上記問題点を鑑み、本発明は、DVD記録用ピックアップのテスト効率を格段に向上す
ることができるテスト用ディスクを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記目的を達成するため、本発明のテスト用ディスクは、ガラスで構成された基板と、反
射層とを有し、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してピット形成領域およびピット未形成領域を
設けた第一のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してピット形成領域およびピット未形成領域を
設けた第二のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してウォブル周波数を140kHzから変化さ
せた領域を設けた第三のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してウォブル周波数を817kHzから変化さ
せた領域を設けた第四のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してウォブル位相ずれを180度から変化させ
た領域を設けた第五のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してランドプリピットのランド面内での方向を
異ならせた領域を設けた第六のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してランドプリピットのトラック方向の長さを
異ならせた領域を設けた第七のエリアとを、
前記基板に形成したことを特徴とする。
【0009】
このような構成によれば、DVD−系およびDVD+系に対するピックアップの信号評
価や、粗悪ディスクのような精度の悪い記録用DVDに対するピックアップの許容確認が
一枚のディスクで行えるので、DVD記録用ピックアップのテスト効率を格段に向上させ
ることができる。また、基板がガラス製であるので、ディスクの反りが発生せず信号評価
として信頼性が高く、傷にも強いので寿命が長くコスト的にも有利である。また、ガラス
製基板にピットを形成するので、記録層が不要となるため特性変化の懸念もない。
【0010】
また、本発明のテスト用ディスクは、DVD−系規格準拠のフォーマットに対して記録
領域および未記録領域を設けた第一のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対して記録領域および未記録領域を設けた第二の
エリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してウォブル周波数を140kHzから変化さ
せた領域を設けた第三のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してウォブル周波数を817kHzから変化さ
せた領域を設けた第四のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してウォブル位相ずれを180度から変化させ
た領域を設けた第五のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してランドプリピットのランド面内での方向を
異ならせた領域を設けた第六のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してランドプリピットのトラック方向の長さを
異ならせた領域を設けた第七のエリアとを、
有することを特徴とする。
【0011】
このような構成によれば、DVD−系およびDVD+系に対するピックアップの信号評
価や、粗悪ディスクのような精度の悪い記録用DVDに対するピックアップの許容確認が
一枚のディスクで行えるので、DVD記録用ピックアップのテスト効率を格段に向上させ
ることができる。
【発明の効果】
【0012】
本発明のテスト用ディスクによれば、DVD記録用ピックアップのテスト効率を格段に
向上することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0013】
ここでは、本発明に係るテスト用ディスクのディスク構造の一例について説明する。図
1に、本発明に係るテスト用ディスクが有するガラス基板の一部の断面図を示す。図1の
ように、ガラス基板にランド1、グルーブ2、ピット3(グルーブ2に形成)、ランドプ
リピット4(DVD−系のみ)が形成される。グルーブ2はディスク半径方向に微少に蛇
行しており、これをウォブルと言う。レ−ザ波長をλとすると、グルーブ2はλ/8の深
さ、ピット3はλ/8の深さ、ランドプリピット4はλ/4の深さに形成される。ガラス基
板の上にはさらに不図示の反射層、保護層が積層されており、記録層は不要である。反射
層は金や銀等、保護層はポリカーボネート等で構成すればよい。
【0014】
図2に、本発明に係るテスト用ディスクのディスク半径方向の各エリアのレイアウト例
を示す。ディスクの最内周にあるクランプ領域より外周部分にエリアa〜iが形成される
。エリアaは、DVD−ROMのフォーマットエリアであり、ガラス基板にピット列が形
成される。
【0015】
エリアbは、DVD−系規格に準拠したフォーマットに対して、記録領域および未記録
領域を設けたエリアである。DVD−系のフォーマットでは、グルーブにウォブルを、ラ
ンドにランドプリピットを形成する。ランドプリピットによりアドレス情報が形成される
。記録領域では、グルーブ2にピット3を形成させる(図1)。例えば、エリアbの内周
側から順に記録領域、未記録領域とすればよい。これにより、記録有無でのランドプリピ
ットおよびウォブルの信号評価、ランドプリピットのデコード評価を行うことができる。
【0016】
エリアcは、DVD+系規格に準拠したフォーマットに対して、記録領域および未記録
領域を設けたエリアである。DVD+系のフォーマットでは、グルーブにウォブル(DV
D−系よりも高周波)を形成し、ランドプリピットは存在しない。ウォブルは位相が18
0度ずれた2種類存在し、これらウォブルの組み合わせでADIPと呼ばれるアドレス情
報が形成される。記録領域では、グルーブ2にピット3を形成させる(図1)。例えば、
エリアcの内周側から順に記録領域、未記録領域とすればよい。これにより、記録有無で
のウォブルの信号評価、ADIPのデコード評価を行うことができる。
【0017】
エリアdは、DVD−系規格に準拠したフォーマットに対して、ウォブル周波数を規格
値である140kHzから変化させた領域を設けたエリアである。例えば、エリアdの内
周側から順に、ウォブル周波数を140+αkHz、140−βkHzとした領域を設け
る。α、βは、ディスクが規格を満たすウォブル周波数の許容限界値や、市場で問題とな
っている粗悪ディスクの情報等を元に決定する。これにより、ランドプリピットのデコー
ドの許容確認ができる。
【0018】
エリアeは、DVD+系規格に準拠したフォーマットに対して、ウォブル周波数を規格
値である817kHzから変化させた領域を設けたエリアである。例えば、エリアeの内
周側から順に、ウォブル周波数を817+αkHz、817−βkHzとした領域を設け
る。α、βは、ディスクが規格を満たすウォブル周波数の許容限界値や、市場で問題とな
っている粗悪ディスクの情報等を元に決定する。これにより、ADIPのデコードの許容
確認ができる。
【0019】
エリアfは、DVD+系規格に準拠したフォーマットに対して、ウォブルの位相ずれを
規格値である180度から変化させた領域を設けたエリアである。例えば、エリアfの内
周側から順に、ウォブルの位相ずれを180+θ度、180−δ度とした領域を設ける。
θ、δは、ディスクが規格を満たすウォブルの位相ずれの許容限界値や、市場で問題とな
っている粗悪ディスクの情報等を元に決定する。これにより、ADIPのデコードの許容
確認ができる。
【0020】
エリアgは、DVD−系規格に準拠したフォーマットに対して、ランドプリピットのラ
ンド面内での方向を異ならせた領域を設けたエリアである。例えば、図3のように、エリ
アgの内周側から順に、ランドプリピットの中心線がトラック方向からθ度だけ傾くよう
ランドプリピットを回転させた領域、ランドプリピットの中心線がトラック方向から−δ
度だけ傾くようランドプリピットを回転させた領域を設ける。θ、δは、ディスクが規格
を満たすランドプリピット方向の許容限界値や、市場で問題となっている粗悪ディスクの
情報等を元に決定する。これにより、ランドプリピットのデコードの許容確認ができる。
【0021】
エリアhは、DVD−系規格に準拠したフォーマットに対して、ランドプリピットのト
ラック方向の長さを異ならせた領域を設けたエリアである。例えば、図4のように、エリ
アhの内周側から順に、ランドプリピットのトラック方向の長さがL1、ランドプリピッ
トのトラック方向の長さがL2(>L1)となる領域を設ける。L1、L2は、ディスク
が規格を満たすランドプリピットのトラック方向長さの許容限界値や、市場で問題となっ
ている粗悪ディスクの情報等を元に決定する。これにより、ランドプリピットのデコード
の許容確認ができる。
【0022】
エリアiは、CD−ROMのフォーマットエリアであり、ガラス基板にピット列が形成
される。
【0023】
以上説明した本発明に係るテスト用ディスクを用いたピックアップのテスト手順につい
て図5のフローチャートで説明する。
【0024】
まずステップS10で評価機にテスト用ディスクをセットする。評価機はピックアップ
開発で用いられる公知の評価機でよい。そして、ステップS20でピックアップを評価機
に装着する。
【0025】
ステップS30で評価機がレーザのパワー調整を行い、ステップS40でピックアップ
はエリアaに移動する。ステップS50でフォーカスエラーが測定され、ステップS60
でフォーカスサーボをオンにし、スキュウー調整等を行う。
【0026】
ステップS70でピックアップはエリアbに移動する。ステップS80でテスト用ディ
スクの反射光に基づくランドプリピット信号の振幅およびウォブル信号の振幅のレベルが
規格を満たしているか確認する。また、ランドプリピットのデコード結果を確認する。
【0027】
ステップS90でピックアップはエリアcに移動する。ステップS100でテスト用デ
ィスクの反射光に基づくウォブル信号の振幅のレベルが規格を満たしているか確認する。
また、ADIPのデコード結果を確認する。
【0028】
以降同様に、ステップS110〜ステップS200まで、エリアd〜エリアhについて
、DVD−系のエリアであればランドプリピット信号の振幅およびウォブル信号の振幅の
レベル、ランドプリピットのデコード結果を確認し、DVD+系のエリアであればウォブ
ル信号の振幅のレベル、ADIPのデコード結果を確認する。
【0029】
次にステップS210でピックアップはエリアiに移動する。ステップS220でフォ
ーカスエラーが測定され、ステップS230でフォーカスサーボをオンにし、スキュウー
調整等を行い、テスト終了となる。
【0030】
なお、以上で説明した本発明のテスト用ディスクは基板がガラス製で、記録層が存在し
ないものとして説明したが、市販されている記録用DVDのような基板がポリカーボネー
ト製で、有機色素膜または相変化膜である記録層をもつディスクで構成してもよい。この
場合、上記エリアb、エリアcの記録領域では、記録層が有機色素膜であれば記録層、基
板、反射層が変形した記録マークを、記録層が相変化膜であれば非結晶化した記録マーク
を設ければよい。本構成のテスト用ディスクでも、ピックアップのテスト効率が格段に向
上するという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【0031】
【図1】は、本発明に係るテスト用ディスクが有するガラス基板の一部の断面図である。
【図2】は、本発明に係るテスト用ディスクのディスク半径方向の各エリアのレイアウト例を示す図である。
【図3】は、ランドプリピットのランド面内での方向を異ならせた例を示す図である。
【図4】は、ランドプリピットのトラック方向の長さを異ならせた例を示す図である。
【図5】は、本発明に係るテスト用ディスクを用いたピックアップのテスト手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【0032】
1 ランド
2 グルーブ
3 ピット
4 ランドプリピット

【特許請求の範囲】
【請求項1】
ガラスで構成された基板と、反射層とを有し、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してピット形成領域およびピット未形成領域を
設けた第一のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してピット形成領域およびピット未形成領域を
設けた第二のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してウォブル周波数を140kHzから変化さ
せた領域を設けた第三のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してウォブル周波数を817kHzから変化さ
せた領域を設けた第四のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してウォブル位相ずれを180度から変化させ
た領域を設けた第五のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してランドプリピットのランド面内での方向を
異ならせた領域を設けた第六のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してランドプリピットのトラック方向の長さを
異ならせた領域を設けた第七のエリアとを、
前記基板に形成したことを特徴とするテスト用ディスク。
【請求項2】
DVD−系規格準拠のフォーマットに対して記録領域および未記録領域を設けた第一の
エリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対して記録領域および未記録領域を設けた第二の
エリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してウォブル周波数を140kHzから変化さ
せた領域を設けた第三のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してウォブル周波数を817kHzから変化さ
せた領域を設けた第四のエリアと、
DVD+系規格準拠のフォーマットに対してウォブル位相ずれを180度から変化させ
た領域を設けた第五のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してランドプリピットのランド面内での方向を
異ならせた領域を設けた第六のエリアと、
DVD−系規格準拠のフォーマットに対してランドプリピットのトラック方向の長さを
異ならせた領域を設けた第七のエリアとを、
有することを特徴とするテスト用ディスク。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【公開番号】特開2006−216118(P2006−216118A)
【公開日】平成18年8月17日(2006.8.17)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−25969(P2005−25969)
【出願日】平成17年2月2日(2005.2.2)
【出願人】(000201113)船井電機株式会社 (7,855)
【Fターム(参考)】