ヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラム
【課題】本発明は、ヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムに関し、測定結果から転送速度のみに依存するヘッドの特性変化の要因を評価することを目的とする。
【解決手段】磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第１の回転数の時と同じに保って第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、磁気ディスクを第２の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第２の回転数の時と同じに保って第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、磁気ヘッドの評価を求められた第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順を含むように構成する。
【解決手段】磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第１の回転数の時と同じに保って第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、磁気ディスクを第２の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第２の回転数の時と同じに保って第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、磁気ヘッドの評価を求められた第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順を含むように構成する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムに関し、特に転送速度に依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価するヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、磁気ディスク（ハードディスク）の高密度化及び高転送化が進んでいる。特にハイエンドサーバ等の情報処理装置で用いられる磁気ディスク装置では、磁気ディスクを高速回転させることで磁気ディスクに記録（即ち、ライト）されるデータ及び磁気ディスクから再生（即ち、リード）されるデータの転送速度をより高く設定することが求められている。
【０００３】
転送速度が高いと、転送速度が低い場合と比べると磁気ヘッドのリード／ライト特性が劣化する傾向がある。このため、高転送化による磁気ヘッドのリード／ライト特性の劣化の影響を評価する必要がある。従来より、磁気ディスク上のトラック方向（又は、磁気ヘッドの主走査方向）に沿った記録密度であるＢＰＩ（Bit Per Inch）を固定にし、磁気ディスク上の異なる半径位置でデータのリードとライトを行うことで、例えばリードデータのライトデータに対するエラーレートからリード／ライト特性を評価する方法がある。磁気ディスク上の異なる半径位置でデータのリードとライトを行うのは、磁気ディスクの周速度が半径位置に応じて異なるからである。しかし、この方法は、磁気ディスク上の異なる半径位置で測定を行うので、測定結果は磁気ディスクの表面に存在する微細な凹凸等により生じる特性の面内ばらつきの影響や、磁気ヘッドが回動するアームの先端に設けられているために磁気ヘッドの磁気ディスクに対するヨー角が変化することや周速度の違いにより磁気ヘッドと磁気ディスクとの間の距離が変化することによる影響を受けてしまう。このため、測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することは非常に難しい。又、測定結果からライト系の影響やリード系の影響を切り分けることも難しい。
【０００４】
エラーチェック時に、磁気ディスクを通常より低速回転させながら通常の書き込み電流で書き込んだ情報を読み出してエラーチェックする磁気ディスクの試験方法が特許文献１にて提案されている。又、目的に合わせて光ディスクの回転速度を変えて節電する情報再生方法が特許文献２にて提案されている。磁気ヘッドに設けられたヒータを制御することで磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を制御する方法が特許文献３にて提案されている。
【特許文献１】特開平１−１００４８２号公報
【特許文献２】特開２００６−１４７１１９号公報
【特許文献３】特開平５−２０６３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来は、測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することは非常に難しいという問題があった。
【０００６】
そこで、本発明は、測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することのできるヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題は、磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順を含むことを特徴とするヘッドの評価方法によって達成できる。
【０００８】
上記の課題は、ヒータを有する磁気ヘッドと、該磁気ヘッドの磁気ディスク上の半径位置を制御する位置制御部と、該磁気ディスクの回転数を制御する回転制御回路と、予め測定されている該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量と磁気ディスクの回転数との関係を格納する記憶部と、該磁気ディスクを第１の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求めると共に、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める制御処理部と、該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する評価処理部とを備え、該制御処理部は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、該記憶部に格納された該関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする磁気記憶装置によって達成できる。
【０００９】
上記の課題は、コンピュータにヘッドの評価を行わせるプログラムであって、磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順を該コンピュータにより実行させることを特徴とするプログラムによって達成できる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することのできるヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムを実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明では、磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第１の回転数の時と同じに保って第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める。又、磁気ディスクを第２の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第２の回転数の時と同じに保って第２の回転数より低い第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める。磁気ヘッドの評価は、求められた第１及び第２の測定結果に基づいて行う。このようにして、第１及び第２の測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することが可能となる。
【００１２】
磁気ヘッドの主走査方向（又は、磁気ディスクの円周方向）に沿った記録密度（ＢＰＩ）が低い状態で求められる第１の測定結果と、磁気ヘッドの主走査方向に沿った記録密度（ＢＰＩ）が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、磁気ヘッドの主走査方向に沿った記録密度（ＢＰＩ）が高い状態で求められる第２の測定結果と、磁気ヘッドの主走査方向に沿った記録密度（ＢＰＩ）が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度（ＢＰＩ）を更に求めることができる。この場合、転送速度による影響が少なくなる記録密度（ＢＰＩ）を用いることで、測定結果からライト系の影響やリード系の影響を切り分けることができる。
【００１３】
以下に、本発明のヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムの各実施例を、図面と共に説明する。
【実施例】
【００１４】
本発明の一実施例における磁気記憶装置を、図１乃至図３と共に説明する。本実施例では、本発明がＤＦＨ（Dynamic
Flying Height）型の磁気ヘッドを備えた磁気ディスク装置に適用されている。図１は、磁気ディスク装置の一部を示すブロック図であり、図２は、図１に示す制御部の構成を示すブロック図である。図３は、磁気ディスクと磁気ヘッドとの関係を示す図である。
【００１５】
磁気ディスク装置１は、図１に示す如く接続された制御部１１、記憶部１２、ヘッド位置及び回転制御回路１３、位置制御部１４、磁気ヘッド１５、スピンドルモータ１６、プリアンプ１７及び磁気ディスク２１を有する。尚、説明の便宜上、磁気ヘッド１５と磁気ディスク２１の数は図１では夫々１つであるが、いずれも２以上設けられていても良い。磁気ヘッド１５にはヒータ１５１が設けられており、ヒータ１５１の発熱量を制御することにより磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１の表面に対する浮上量（又は、スペーシング）を制御する、即ち、所謂ＤＦＨ制御を行うことができる。磁気ヘッド１５は、ライトヘッドとリードヘッドを含む周知の構成を有する。
【００１６】
制御部１１は、インタフェースを介してホスト装置（図示せず）と接続される。制御部１１は、例えばＭＰＵやＣＰＵ等のプロセッサにより構成可能である。記憶部１２は、本実施例ではＲＡＭやＲＯＭ等のメモリを含み、制御部１１がプロセッサで構成されている場合には、プロセッサが実行するプログラムを格納する領域、プロセッサが実行する演算で用いるデータや演算の中間データ等を格納する領域、後述する解析結果や評価結果を格納する領域等を提供する。又、記憶部１２は、ホスト装置からのライトデータやホスト装置へのリードデータを一旦格納するバッファ領域を提供する。
【００１７】
制御部１１は、図２に示すように、ライト系処理部１１１、リード系処理部１１２、解析処理部１１３及び制御処理部１１４を含む。これらの処理部１１１〜１１４は、ソフトウェアにより構成可能であるが、ライト系処理部１１１及びリード系処理部１１２をハードウェア処理部により構成しても良いことは言うまでもない。ライト系処理部１１１は、ホスト装置から入力されるライトデータに所定の信号処理を施し、プリアンプ１７を介して磁気ヘッド１５に供給することで、ライトデータを磁気ディスク２１上にライトする。リード系処理部１１２は、磁気ヘッド１５が磁気ディスク２１上からリードしてプリアンプ１７を介して入力されたリードデータに所定の信号処理を施し、ホスト装置へ出力する。
【００１８】
制御処理部１１４は、ホスト装置からのコマンドに応じてヒータ制御、ヘッド位置制御、及びディスク回転制御を行う。ヒータ制御は、プリアンプ１７を介して駆動電流をヒータ１５１に供給することでヒータ１５１の発熱量を制御して、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１に対する浮上量を制御する。ヘッド位置制御は、ヘッド位置及び回転制御回路１３を介して例えばボイスコイルモータを含む位置制御部１４を制御することで、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置を制御する。このヘッド位置制御により、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置（半径位置の固定を含む）と、磁気ヘッド１５の副走査方向（又は、磁気ディスク２１の半径方向）に沿った記録密度（ＴＰＩ（Track Per Inch））を制御することができる。ディスク回転制御は、ヘッド位置及び回転制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御することで磁気ディスク２１の回転数を制御する。このディスク回転制御により、磁気ディスク２１の回転数（又は、回転速度）と、磁気ヘッド１５の主走査方向（又は、磁気ディスク２１の円周方向）に沿った記録密度（ＢＰＩ）を制御することができる。
【００１９】
解析処理部１１３は、磁気ディスク２１を第１の回転数で回転させて磁気ヘッド１５によりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１に対する浮上量を第１の回転数の時と同じに保って第１の回転数より低い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める。又、解析処理部１１３は、磁気ディスク２１を第２の回転数で回転させて磁気ヘッド１５によりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１に対する浮上量を第２の回転数の時と同じに保って第２の回転数より高い第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める。第１及び第２の測定結果は、記憶部１２に格納され、必要に応じてホスト装置へ出力される。磁気ヘッド１５の評価は、求められた第１及び第２の測定結果に基づいて行うことができ、解析制御部１１３により自動的に行っても、ユーザが手動で行っても、ユーザが解析制御部１１３とインターアクティブに半自動で行っても良い。磁気ヘッド１５の評価結果は、記憶部１２に格納されると共に、ホスト装置へ出力される。
【００２０】
図３中、（ａ）は磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置を示す側面図であり、（ｂ）は平面図である。図３（ｂ）に示すように、磁気ヘッド１５はアーム１９の先端に設けられており、位置制御部１４の制御によりアーム１９がその支点を中心に回動することにより磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置及びヨー角が決定される。
【００２１】
尚、磁気ディスク装置１の基本的な構成は、図１に示す構成に限定されるものではなく、種々の周知の構成を採用可能である。要は、磁気ディスク装置１は、上記の如きヒータ制御、ヘッド位置制御、及びディスク回転制御を行える構成であれば良い。
【００２２】
次に、本実施例におけるヘッドの評価方法を、図４乃至図１２と共に説明する。
【００２３】
図４は、ヘッドの評価方法を説明するフローチャートである。図４に示す処理は、例えばホスト装置からのコマンドに応答して任意のタイミングで開始される。
【００２４】
図４において、ステップＳ１は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介して位置制御部１４を制御し、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置Ｒを固定する。例えば、半径位置Ｒは直径２．５インチの磁気ディスク２１の中心から２５．６８ｍｍの位置に固定され、ヨー角又はスキューも一定値である０．３７度に固定される。ヨー角又はスキューとは、磁気ヘッド１５のギャップが延在するヘッド幅方向と垂直な方向の、磁気ディスク２１上に形成されるトラックの延在する方向（即ち、磁気ヘッド１５の主走査方向）に対するずれを言う。尚、ライト時及びリード時の安定した特性測定を考慮すると、半径位置Ｒは磁気ディスク２１上のデータが記録されるデータゾーンの中央部分、且つ、ヨー角又はスキューが略０度となる部分であることが望ましい。
【００２５】
ステップＳ２は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を例えば３２．２７（ｍ／ｓ）に設定して各磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の浮上量（ｎｍ）を測定して記憶部１２に格納する。浮上量は、直接測定しても、例えばプリアンプ１７を介してヒータ１５１を制御して磁気ヘッド１５を磁気ディスク２１と接触させることで間接的に測定しても良い。ヒータ１５１に供給する駆動電流と対応する磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１への突出量との関係は予め求めておくことができるので、磁気ヘッド１５が磁気ディスク２１と接触した時の駆動電流から磁気ヘッド１５の突出量、即ち、磁気ヘッド１５の浮上量を求めることができる。磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１との接触は、サーマルアスペリティ等から検出可能である。同様にして、ステップＳ３は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度をステップＳ２の場合より増加させた一又は複数の周速度で各磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の浮上量（ｎｍ）を測定して記憶部１２に格納する。ステップＳ３では、周速度が例えば３６．３０（ｍ／ｓ）と４０．３４（ｍ／ｓ）に設定して各磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の浮上量（ｎｍ）を測定して記憶部１２に格納する。このようにして、磁気ディスク装置１内に複数の磁気ヘッド２１が設けられている場合であっても、各磁気ヘッド２１の特性を測定して記憶部１２に格納しておくことができる。言うまでもなく、各磁気ヘッド２１の特性を測定する周速度の種類を増やせば、その分正確な特性を求めることができる。
【００２６】
例えば、ＢＰＩ＝４００ｋに固定した場合の２つの磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の特性は、上記条件下では表１のようになる。この例では、３種類の周速度で磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の特性が測定されている。
【００２７】
【表１】
図５は、磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の浮上量と磁気ディスク２１の回転数の関係を示す図である。図５中、縦軸はヘッド浮上量（ｎｍ）を示し、横軸は磁気ディスク２１の回転数（ｒｐｍ）を示す。又、菱形印は磁気ヘッドＨ１の特性、四角印はヘッドＨ２の特性を示す。図５に示す如き関係をステップＳ２，Ｓ３で測定された特性を補間することで求めて記憶部１２に格納しておくことで、後述するように磁気ヘッド１５の浮上量を一定に維持するための制御を行う際に利用できる。
【００２８】
図４の説明に戻るに、ステップＳ４は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を比較的低い値（例えば１３７５７（ｒｐｍ）の回転速度）に設定した上で、磁気ヘッド１５によりライトデータを磁気ディスク２１にライトし、このデータを磁気ヘッド１５によりリードして、リードデータを記憶部１２に格納する。又、ステップＳ５は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を比較的高い値（例えば１５４３８（ｒｐｍ）の回転速度）に設定した上で、ステップＳ４でライトされたデータを磁気ヘッド１５によりリードして、リードデータを記憶部１２に格納する。尚、ステップＳ４及びＳ５は、ヘッド位置及び回転制御回路１３を介して位置制御部１４を制御することで、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置Ｒ及びヨー角又はスキューを夫々固定する。半径位置Ｒ及びヨー角又はスキューの固定値は、ステップＳ１で用いた固定値と同じである。更に、ステップＳ５は、周速度（回転速度）を増加させた分磁気ヘッド１５の浮上量が増加するのを防ぐため、記憶部１２に格納された例えば磁気ヘッドＨ２についての図５に示す如き関係を用いて浮上量がステップＳ４の時と同じになるように、プリアンプ１７を介してヒータ１５１に適切な駆動電流を供給して浮上量を周速度を増加させる前と同じに維持する。
【００２９】
図６は、磁気ヘッド１５の浮上量の制御を説明する図である。図６中、（ａ）はステップＳ４における磁気ヘッド１５の浮上量を示し、（ｂ）はステップＳ５において磁気ヘッド１５の浮上量を制御しない場合の浮上量を示し、（ｃ）はステップＳ５において磁気ヘッド１５の浮上量を制御した場合の浮上量を示す。図６において、１５２は磁気ヘッド１５のスライダ、１５３は磁気ヘッド１５のリードヘッド、Ｆは磁気ヘッド１５の浮上量を示す。
【００３０】
ステップＳ６は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を比較的高い値（例えば１５４３８（ｒｐｍ）の回転速度）に設定した上で、磁気ヘッド１５によりライトデータを磁気ディスク２１にライトし、このデータを磁気ヘッド１５によりリードして、リードデータを記憶部１２に格納する。又、ステップＳ７は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を比較的低い値（例えば１３７５７（ｒｐｍ）の回転速度）に設定した上で、ステップＳ６でライトされたデータを磁気ヘッド１５によりリードして、リードデータを記憶部１２に格納する。尚、ステップＳ６及びＳ７は、ヘッド位置及び回転制御回路１３を介して位置制御部１４を制御することで、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置Ｒ及びヨー角又はスキューを夫々固定する。半径位置Ｒ及びヨー角又はスキューの固定値は、ステップＳ１で用いた固定値と同じである。更に、ステップＳ７は、周速度（回転速度）を減少させた分磁気ヘッド１５の浮上量が減少するのを防ぐため、記憶部１２に格納された図５に示す如き関係を用いて浮上量がステップＳ６の時と同じになるように、プリアンプ１７を介してヒータ１５１に適切な駆動電流を供給して浮上量を周速度を減少させる前と同じに維持する。
【００３１】
図７は、磁気ヘッド１５の浮上量の制御を説明する図である。図７中、（ａ）はステップＳ６における磁気ヘッド１５の浮上量を示し、（ｂ）はステップＳ７において磁気ヘッド１５の浮上量を制御しない場合の浮上量を示し、（ｃ）はステップＳ７において磁気ヘッド１５の浮上量を制御した場合の浮上量を示す。図７において、１５２は磁気ヘッド１５のスライダ、１５３は磁気ヘッド１５のリードヘッド、Ｆは磁気ヘッド１５の浮上量を示す。
【００３２】
尚、ステップＳ６，Ｓ７をステップＳ４，Ｓ５の前に行うようにしても良い。
【００３３】
ステップＳ８は、ステップＳ４，Ｓ５で得られた測定結果から低い周速度（回転速度）でリードした場合と高い周速度（回転速度）でリードした場合の違い、ステップＳ６，Ｓ７で得られた測定結果から高い周速度（回転速度）でリードした場合と低い周速度（回転速度）でリードした場合の違い、及びステップＳ４〜Ｓ７で得られた測定結果から低いＢＰＩでライトした場合と高いＢＰＩでライトした場合の違い等に基づいて、転送速度のみに依存する磁気ヘッド１５の特性変化の要因を評価し、処理は終了する。このような評価は、解析制御部１１３により自動的に行えるが、ユーザが手動で行っても、ユーザが解析制御部１１３とインターアクティブに半自動で行っても良い。これにより、高転送化に伴う磁気ヘッド１５の特性劣化を正しく評価することができる。具体的には、ステップＳ４，Ｓ５で得られたＢＰＩが低い状態と高い状態とで求められる測定結果を比較すると共に、ステップＳ６，Ｓ７で得られたＢＰＩ高い状態と低い状態とで求められる測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなるＢＰＩを求めることができ、磁気ヘッド１５に最適なＢＰＩを求めることができる。この場合、転送速度による影響が少なくなるＢＰＩを用いることで、以下に説明するように測定結果からライト系処理部１１１を含むライト系の影響やリード系処理部１１２を含むリード系の影響を切り分けることができる。
【００３４】
図８は、ＢＰＩが１００ｋであり、周速度が４０．３（ｍ／ｓ）でステップＳ４のライト及びリードが行われ、周速度が４５．３（ｍ／ｓ）でステップＳ５のリードが行われた場合の磁気ヘッド１５のリード時の出力（μＶ）を示す図である。又、図９は、ＢＰＩが４００ｋであり、周速度が４０．３（ｍ／ｓ）でステップＳ４のライト及びリードが行われ、周速度が４５．３（ｍ／ｓ）でステップＳ５のリードが行われた場合の磁気ヘッド１５の出力（μＶ）を示す図である。図８及び図９において、縦軸は磁気ヘッド１５のリード時の出力（μＶ）を示し、横軸はリード時の周速度（ｍ／ｓ）を示す。
【００３５】
図１０は、ＢＰＩが１００ｋであり、周速度が４５．３（ｍ／ｓ）でステップＳ６のライト及びリードが行われ、周速度が４０．３（ｍ／ｓ）でステップＳ７のリードが行われた場合の磁気ヘッド１５のリード時の出力（μＶ）を示す図である。又、図１１は、ＢＰＩが４００ｋであり、周速度が４５．３（ｍ／ｓ）でステップＳ６のライト及びリードが行われ、周速度が４０．３（ｍ／ｓ）でステップＳ７のリードが行われた場合の磁気ヘッド１５の出力（μＶ）を示す図である。図１０及び図１１において、縦軸は磁気ヘッド１５のリード時の出力（μＶ）を示し、横軸はリード時の周速度（ｍ／ｓ）を示す。
【００３６】
又、図１２は、図８乃至図１１の測定結果をまとめて示す図であり、四角印が図８及び図９の測定結果、菱形印が図１０及び図１１の測定結果を夫々まとめてしめす。図１２中、縦軸は磁気ヘッド１５の出力変化（％）を示し、横軸はＢＰＩ（ｋ）を示す。
【００３７】
図８乃至図１２の場合、転送速度の違いによる影響はＢＰＩ＝１００ｋでは見られない。ＢＰＩを増加させていくと出力変化が大きくなり、転送速度の影響が見えてくる。転送速度が異なる条件下でライトしたデータてリードしても、磁気ヘッド１５のリード時の出力は同じであることから、この例ではライト系の影響ではなくリード系による出力低下であることがステップＳ８において判断できる。このような判断は、解析制御部１１３により自動的に行えるが、ユーザが手動で行っても、ユーザが解析制御部１１３とインターアクティブに半自動で行っても良い。
【００３８】
コンピュータに上記の如き磁気ディスク装置１のヘッド評価に関する機能、或いは、上記の如きヘッドの評価方法の各手順を実現させるプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体に格納されていても良い。この場合、図１に示す記憶部１２自体がコンピュータ読み取り可能な記憶媒体であっても、別のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に格納されているプログラムが記憶部１２にインストールされても良い。又、コンピュータは、汎用のコンピュータにより構成可能であり、例えば図１に示す制御部１１を構成するプロセッサにより構成可能である。
【００３９】
上記実施例において、磁気ディスク装置は、磁気ヘッドを評価するための専用装置であっても良い。この場合、各種磁気ヘッドを評価することで、転送速度の依存性が低い磁気ヘッドの開発に寄与することができる。又、各磁気ヘッドに最適なＢＰＩを求めることができるので、磁気ヘッドを磁気ディスク装置に搭載する際に、磁気ディスク装置にこの最適なＢＰＩを設定することができる。
【００４０】
一方、磁気ディスク装置は、ユーザ側で使用される出荷後の装置であっても良い。この場合、磁気ディスク装置には各磁気ヘッドに最適なＢＰＩを任意の時点で設定することができるので、例えば経時変化等で磁気ヘッドの特性が変化しても、常に磁気ヘッドの状態に最適なＢＰＩを設定することができる。又、転送速度に大きく依存する磁気ヘッドは磁気ディスク上のデータゾーン以外のゾーンのみで高記録密度用として使用し、データゾーンでは低記録密度用として使用することもできる。
【００４１】
尚、本発明は、以下に付記する発明をも包含するものである。
（付記１）
磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、
該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順
を含むことを特徴とする、ヘッドの評価方法。
（付記２）
該評価する手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第１の測定結果と、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第２の測定結果と、該磁気ヘッドの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度を求めることを特徴とする、付記１記載のヘッドの評価方法。
（付記３）
該評価する手順は、転送速度による影響が少なくなる記録密度を用いることで、該第１及び第２の測定結果から磁気ヘッドが搭載される磁気ディスク装置のライト系の影響又はリード系の影響を切り分けることを特徴とする、付記１又は２記載のヘッドの評価方法。
（付記４）
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該磁気ヘッドのヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、付記１乃至３のいずれか１項記載のヘッドの評価方法。
（付記５）
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、予め測定されている該磁気ヘッドの浮上量と該磁気ディスクの回転数との関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、付記４記載のヘッドの評価方法。
（付記６）
ヒータを有する磁気ヘッドと、
該磁気ヘッドの磁気ディスク上の半径位置を制御する位置制御部と、
該磁気ディスクの回転数を制御する回転制御回路と、
予め測定されている該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量と磁気ディスクの回転数との関係を格納する記憶部と、
該磁気ディスクを第１の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求めると共に、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める制御処理部と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する評価処理部とを備え、
該制御処理部は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、該記憶部に格納された該関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、磁気記憶装置。
（付記７）
該評価処理部は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第１の測定結果と、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第２の測定結果と、該磁気ヘッドの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度を求めることを特徴とする、付記６記載の磁気記憶装置。
（付記８）
該磁気ヘッドでライトするデータを処理するライト系処理部と、
該磁気ヘッドでリードするデータを処理するリード系処理部とを更に備え、
該評価処理部は、転送速度による影響が少なくなる記録密度を用いることで、該第１及び第２の測定結果から該ライト系処理部の影響又は該リード系処理部の影響を切り分けることを特徴とする、付記６又は７記載の磁気記憶装置。
（付記９）
コンピュータにヘッドの評価を行わせるプログラムであって、
磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、
該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順
を該コンピュータにより実行させることを特徴とする、プログラム。
（付記１０）
該評価する手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第１の測定結果と、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第２の測定結果と、該磁気ヘッドの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度を求めることを特徴とする、付記９記載のプログラム。
（付記１１）
該評価する手順は、転送速度による影響が少なくなる記録密度を用いることで、該第１及び第２の測定結果から磁気ヘッドが搭載される磁気ディスク装置のライト系の影響又はリード系の影響を切り分けることを特徴とする、付記９又は１０記載のプログラム。
（付記１２）
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該磁気ヘッドのヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、付記９乃至１１のいずれか１項記載のプログラム。
（付記１３）
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、予め測定されている該磁気ヘッドの浮上量と該磁気ディスクの回転数との関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、付記１２記載のプログラム。
【００４２】
以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】磁気ディスク装置の一部を示すブロック図である。
【図２】図１に示す制御部の構成を示すブロック図である。
【図３】磁気ディスクと磁気ヘッドとの関係を示す図である。
【図４】ヘッドの評価方法を説明するフローチャートである。
【図５】磁気ヘッドの浮上量と磁気ディスクの回転数の関係を示す図である。
【図６】磁気ヘッドの浮上量の制御を説明する図である。
【図７】磁気ヘッドの浮上量の制御を説明する図である。
【図８】ＢＰＩが１００ｋでステップＳ４，Ｓ５が行われた場合の磁気ヘッドのリード時の出力（μＶ）を示す図である。
【図９】ＢＰＩが４００ｋでステップＳ４，Ｓ５が行われた場合の磁気ヘッドのリード時の出力（μＶ）を示す図である。
【図１０】ＢＰＩが１００ｋでステップＳ６，Ｓ７が行われた場合の磁気ヘッドのリード時の出力（μＶ）を示す図である。
【図１１】ＢＰＩが４００ｋでステップＳ６，Ｓ７が行われた場合の磁気ヘッドのリード時の出力（μＶ）を示す図である。
【図１２】図８乃至図１１の測定結果をまとめて示す図である。
【符号の説明】
【００４４】
１ 磁気ディスク装置
１１ 制御部
１２ 記憶部
１３ ヘッド位置及び回転制御回路
１４ 位置制御部
１５ 磁気ヘッド
１６ スピンドルモータ
１７ プリアンプ
１９ アーム
２１ 磁気ディスク
１１１ ライト系処理部
１１２ リード系処理部
１１３ 解析処理部
１１４ 制御処理部
１５１ ヒータ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムに関し、特に転送速度に依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価するヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、磁気ディスク（ハードディスク）の高密度化及び高転送化が進んでいる。特にハイエンドサーバ等の情報処理装置で用いられる磁気ディスク装置では、磁気ディスクを高速回転させることで磁気ディスクに記録（即ち、ライト）されるデータ及び磁気ディスクから再生（即ち、リード）されるデータの転送速度をより高く設定することが求められている。
【０００３】
転送速度が高いと、転送速度が低い場合と比べると磁気ヘッドのリード／ライト特性が劣化する傾向がある。このため、高転送化による磁気ヘッドのリード／ライト特性の劣化の影響を評価する必要がある。従来より、磁気ディスク上のトラック方向（又は、磁気ヘッドの主走査方向）に沿った記録密度であるＢＰＩ（Bit Per Inch）を固定にし、磁気ディスク上の異なる半径位置でデータのリードとライトを行うことで、例えばリードデータのライトデータに対するエラーレートからリード／ライト特性を評価する方法がある。磁気ディスク上の異なる半径位置でデータのリードとライトを行うのは、磁気ディスクの周速度が半径位置に応じて異なるからである。しかし、この方法は、磁気ディスク上の異なる半径位置で測定を行うので、測定結果は磁気ディスクの表面に存在する微細な凹凸等により生じる特性の面内ばらつきの影響や、磁気ヘッドが回動するアームの先端に設けられているために磁気ヘッドの磁気ディスクに対するヨー角が変化することや周速度の違いにより磁気ヘッドと磁気ディスクとの間の距離が変化することによる影響を受けてしまう。このため、測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することは非常に難しい。又、測定結果からライト系の影響やリード系の影響を切り分けることも難しい。
【０００４】
エラーチェック時に、磁気ディスクを通常より低速回転させながら通常の書き込み電流で書き込んだ情報を読み出してエラーチェックする磁気ディスクの試験方法が特許文献１にて提案されている。又、目的に合わせて光ディスクの回転速度を変えて節電する情報再生方法が特許文献２にて提案されている。磁気ヘッドに設けられたヒータを制御することで磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を制御する方法が特許文献３にて提案されている。
【特許文献１】特開平１−１００４８２号公報
【特許文献２】特開２００６−１４７１１９号公報
【特許文献３】特開平５−２０６３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来は、測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することは非常に難しいという問題があった。
【０００６】
そこで、本発明は、測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することのできるヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題は、磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順を含むことを特徴とするヘッドの評価方法によって達成できる。
【０００８】
上記の課題は、ヒータを有する磁気ヘッドと、該磁気ヘッドの磁気ディスク上の半径位置を制御する位置制御部と、該磁気ディスクの回転数を制御する回転制御回路と、予め測定されている該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量と磁気ディスクの回転数との関係を格納する記憶部と、該磁気ディスクを第１の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求めると共に、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める制御処理部と、該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する評価処理部とを備え、該制御処理部は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、該記憶部に格納された該関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする磁気記憶装置によって達成できる。
【０００９】
上記の課題は、コンピュータにヘッドの評価を行わせるプログラムであって、磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順を該コンピュータにより実行させることを特徴とするプログラムによって達成できる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することのできるヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムを実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明では、磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第１の回転数の時と同じに保って第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める。又、磁気ディスクを第２の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を第２の回転数の時と同じに保って第２の回転数より低い第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める。磁気ヘッドの評価は、求められた第１及び第２の測定結果に基づいて行う。このようにして、第１及び第２の測定結果から転送速度のみに依存する磁気ヘッドの特性変化の要因を評価することが可能となる。
【００１２】
磁気ヘッドの主走査方向（又は、磁気ディスクの円周方向）に沿った記録密度（ＢＰＩ）が低い状態で求められる第１の測定結果と、磁気ヘッドの主走査方向に沿った記録密度（ＢＰＩ）が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、磁気ヘッドの主走査方向に沿った記録密度（ＢＰＩ）が高い状態で求められる第２の測定結果と、磁気ヘッドの主走査方向に沿った記録密度（ＢＰＩ）が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度（ＢＰＩ）を更に求めることができる。この場合、転送速度による影響が少なくなる記録密度（ＢＰＩ）を用いることで、測定結果からライト系の影響やリード系の影響を切り分けることができる。
【００１３】
以下に、本発明のヘッドの評価方法、磁気記憶装置及びプログラムの各実施例を、図面と共に説明する。
【実施例】
【００１４】
本発明の一実施例における磁気記憶装置を、図１乃至図３と共に説明する。本実施例では、本発明がＤＦＨ（Dynamic
Flying Height）型の磁気ヘッドを備えた磁気ディスク装置に適用されている。図１は、磁気ディスク装置の一部を示すブロック図であり、図２は、図１に示す制御部の構成を示すブロック図である。図３は、磁気ディスクと磁気ヘッドとの関係を示す図である。
【００１５】
磁気ディスク装置１は、図１に示す如く接続された制御部１１、記憶部１２、ヘッド位置及び回転制御回路１３、位置制御部１４、磁気ヘッド１５、スピンドルモータ１６、プリアンプ１７及び磁気ディスク２１を有する。尚、説明の便宜上、磁気ヘッド１５と磁気ディスク２１の数は図１では夫々１つであるが、いずれも２以上設けられていても良い。磁気ヘッド１５にはヒータ１５１が設けられており、ヒータ１５１の発熱量を制御することにより磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１の表面に対する浮上量（又は、スペーシング）を制御する、即ち、所謂ＤＦＨ制御を行うことができる。磁気ヘッド１５は、ライトヘッドとリードヘッドを含む周知の構成を有する。
【００１６】
制御部１１は、インタフェースを介してホスト装置（図示せず）と接続される。制御部１１は、例えばＭＰＵやＣＰＵ等のプロセッサにより構成可能である。記憶部１２は、本実施例ではＲＡＭやＲＯＭ等のメモリを含み、制御部１１がプロセッサで構成されている場合には、プロセッサが実行するプログラムを格納する領域、プロセッサが実行する演算で用いるデータや演算の中間データ等を格納する領域、後述する解析結果や評価結果を格納する領域等を提供する。又、記憶部１２は、ホスト装置からのライトデータやホスト装置へのリードデータを一旦格納するバッファ領域を提供する。
【００１７】
制御部１１は、図２に示すように、ライト系処理部１１１、リード系処理部１１２、解析処理部１１３及び制御処理部１１４を含む。これらの処理部１１１〜１１４は、ソフトウェアにより構成可能であるが、ライト系処理部１１１及びリード系処理部１１２をハードウェア処理部により構成しても良いことは言うまでもない。ライト系処理部１１１は、ホスト装置から入力されるライトデータに所定の信号処理を施し、プリアンプ１７を介して磁気ヘッド１５に供給することで、ライトデータを磁気ディスク２１上にライトする。リード系処理部１１２は、磁気ヘッド１５が磁気ディスク２１上からリードしてプリアンプ１７を介して入力されたリードデータに所定の信号処理を施し、ホスト装置へ出力する。
【００１８】
制御処理部１１４は、ホスト装置からのコマンドに応じてヒータ制御、ヘッド位置制御、及びディスク回転制御を行う。ヒータ制御は、プリアンプ１７を介して駆動電流をヒータ１５１に供給することでヒータ１５１の発熱量を制御して、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１に対する浮上量を制御する。ヘッド位置制御は、ヘッド位置及び回転制御回路１３を介して例えばボイスコイルモータを含む位置制御部１４を制御することで、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置を制御する。このヘッド位置制御により、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置（半径位置の固定を含む）と、磁気ヘッド１５の副走査方向（又は、磁気ディスク２１の半径方向）に沿った記録密度（ＴＰＩ（Track Per Inch））を制御することができる。ディスク回転制御は、ヘッド位置及び回転制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御することで磁気ディスク２１の回転数を制御する。このディスク回転制御により、磁気ディスク２１の回転数（又は、回転速度）と、磁気ヘッド１５の主走査方向（又は、磁気ディスク２１の円周方向）に沿った記録密度（ＢＰＩ）を制御することができる。
【００１９】
解析処理部１１３は、磁気ディスク２１を第１の回転数で回転させて磁気ヘッド１５によりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１に対する浮上量を第１の回転数の時と同じに保って第１の回転数より低い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める。又、解析処理部１１３は、磁気ディスク２１を第２の回転数で回転させて磁気ヘッド１５によりデータのライトとリードを行い、その後磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１に対する浮上量を第２の回転数の時と同じに保って第２の回転数より高い第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める。第１及び第２の測定結果は、記憶部１２に格納され、必要に応じてホスト装置へ出力される。磁気ヘッド１５の評価は、求められた第１及び第２の測定結果に基づいて行うことができ、解析制御部１１３により自動的に行っても、ユーザが手動で行っても、ユーザが解析制御部１１３とインターアクティブに半自動で行っても良い。磁気ヘッド１５の評価結果は、記憶部１２に格納されると共に、ホスト装置へ出力される。
【００２０】
図３中、（ａ）は磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置を示す側面図であり、（ｂ）は平面図である。図３（ｂ）に示すように、磁気ヘッド１５はアーム１９の先端に設けられており、位置制御部１４の制御によりアーム１９がその支点を中心に回動することにより磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置及びヨー角が決定される。
【００２１】
尚、磁気ディスク装置１の基本的な構成は、図１に示す構成に限定されるものではなく、種々の周知の構成を採用可能である。要は、磁気ディスク装置１は、上記の如きヒータ制御、ヘッド位置制御、及びディスク回転制御を行える構成であれば良い。
【００２２】
次に、本実施例におけるヘッドの評価方法を、図４乃至図１２と共に説明する。
【００２３】
図４は、ヘッドの評価方法を説明するフローチャートである。図４に示す処理は、例えばホスト装置からのコマンドに応答して任意のタイミングで開始される。
【００２４】
図４において、ステップＳ１は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介して位置制御部１４を制御し、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置Ｒを固定する。例えば、半径位置Ｒは直径２．５インチの磁気ディスク２１の中心から２５．６８ｍｍの位置に固定され、ヨー角又はスキューも一定値である０．３７度に固定される。ヨー角又はスキューとは、磁気ヘッド１５のギャップが延在するヘッド幅方向と垂直な方向の、磁気ディスク２１上に形成されるトラックの延在する方向（即ち、磁気ヘッド１５の主走査方向）に対するずれを言う。尚、ライト時及びリード時の安定した特性測定を考慮すると、半径位置Ｒは磁気ディスク２１上のデータが記録されるデータゾーンの中央部分、且つ、ヨー角又はスキューが略０度となる部分であることが望ましい。
【００２５】
ステップＳ２は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を例えば３２．２７（ｍ／ｓ）に設定して各磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の浮上量（ｎｍ）を測定して記憶部１２に格納する。浮上量は、直接測定しても、例えばプリアンプ１７を介してヒータ１５１を制御して磁気ヘッド１５を磁気ディスク２１と接触させることで間接的に測定しても良い。ヒータ１５１に供給する駆動電流と対応する磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１への突出量との関係は予め求めておくことができるので、磁気ヘッド１５が磁気ディスク２１と接触した時の駆動電流から磁気ヘッド１５の突出量、即ち、磁気ヘッド１５の浮上量を求めることができる。磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１との接触は、サーマルアスペリティ等から検出可能である。同様にして、ステップＳ３は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度をステップＳ２の場合より増加させた一又は複数の周速度で各磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の浮上量（ｎｍ）を測定して記憶部１２に格納する。ステップＳ３では、周速度が例えば３６．３０（ｍ／ｓ）と４０．３４（ｍ／ｓ）に設定して各磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の浮上量（ｎｍ）を測定して記憶部１２に格納する。このようにして、磁気ディスク装置１内に複数の磁気ヘッド２１が設けられている場合であっても、各磁気ヘッド２１の特性を測定して記憶部１２に格納しておくことができる。言うまでもなく、各磁気ヘッド２１の特性を測定する周速度の種類を増やせば、その分正確な特性を求めることができる。
【００２６】
例えば、ＢＰＩ＝４００ｋに固定した場合の２つの磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の特性は、上記条件下では表１のようになる。この例では、３種類の周速度で磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の特性が測定されている。
【００２７】
【表１】
図５は、磁気ヘッドＨ１，Ｈ２の浮上量と磁気ディスク２１の回転数の関係を示す図である。図５中、縦軸はヘッド浮上量（ｎｍ）を示し、横軸は磁気ディスク２１の回転数（ｒｐｍ）を示す。又、菱形印は磁気ヘッドＨ１の特性、四角印はヘッドＨ２の特性を示す。図５に示す如き関係をステップＳ２，Ｓ３で測定された特性を補間することで求めて記憶部１２に格納しておくことで、後述するように磁気ヘッド１５の浮上量を一定に維持するための制御を行う際に利用できる。
【００２８】
図４の説明に戻るに、ステップＳ４は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を比較的低い値（例えば１３７５７（ｒｐｍ）の回転速度）に設定した上で、磁気ヘッド１５によりライトデータを磁気ディスク２１にライトし、このデータを磁気ヘッド１５によりリードして、リードデータを記憶部１２に格納する。又、ステップＳ５は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を比較的高い値（例えば１５４３８（ｒｐｍ）の回転速度）に設定した上で、ステップＳ４でライトされたデータを磁気ヘッド１５によりリードして、リードデータを記憶部１２に格納する。尚、ステップＳ４及びＳ５は、ヘッド位置及び回転制御回路１３を介して位置制御部１４を制御することで、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置Ｒ及びヨー角又はスキューを夫々固定する。半径位置Ｒ及びヨー角又はスキューの固定値は、ステップＳ１で用いた固定値と同じである。更に、ステップＳ５は、周速度（回転速度）を増加させた分磁気ヘッド１５の浮上量が増加するのを防ぐため、記憶部１２に格納された例えば磁気ヘッドＨ２についての図５に示す如き関係を用いて浮上量がステップＳ４の時と同じになるように、プリアンプ１７を介してヒータ１５１に適切な駆動電流を供給して浮上量を周速度を増加させる前と同じに維持する。
【００２９】
図６は、磁気ヘッド１５の浮上量の制御を説明する図である。図６中、（ａ）はステップＳ４における磁気ヘッド１５の浮上量を示し、（ｂ）はステップＳ５において磁気ヘッド１５の浮上量を制御しない場合の浮上量を示し、（ｃ）はステップＳ５において磁気ヘッド１５の浮上量を制御した場合の浮上量を示す。図６において、１５２は磁気ヘッド１５のスライダ、１５３は磁気ヘッド１５のリードヘッド、Ｆは磁気ヘッド１５の浮上量を示す。
【００３０】
ステップＳ６は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を比較的高い値（例えば１５４３８（ｒｐｍ）の回転速度）に設定した上で、磁気ヘッド１５によりライトデータを磁気ディスク２１にライトし、このデータを磁気ヘッド１５によりリードして、リードデータを記憶部１２に格納する。又、ステップＳ７は、ヘッド位置及び回転数制御回路１３を介してスピンドルモータ１６を制御し、周速度を比較的低い値（例えば１３７５７（ｒｐｍ）の回転速度）に設定した上で、ステップＳ６でライトされたデータを磁気ヘッド１５によりリードして、リードデータを記憶部１２に格納する。尚、ステップＳ６及びＳ７は、ヘッド位置及び回転制御回路１３を介して位置制御部１４を制御することで、磁気ヘッド１５の磁気ディスク２１上の半径位置Ｒ及びヨー角又はスキューを夫々固定する。半径位置Ｒ及びヨー角又はスキューの固定値は、ステップＳ１で用いた固定値と同じである。更に、ステップＳ７は、周速度（回転速度）を減少させた分磁気ヘッド１５の浮上量が減少するのを防ぐため、記憶部１２に格納された図５に示す如き関係を用いて浮上量がステップＳ６の時と同じになるように、プリアンプ１７を介してヒータ１５１に適切な駆動電流を供給して浮上量を周速度を減少させる前と同じに維持する。
【００３１】
図７は、磁気ヘッド１５の浮上量の制御を説明する図である。図７中、（ａ）はステップＳ６における磁気ヘッド１５の浮上量を示し、（ｂ）はステップＳ７において磁気ヘッド１５の浮上量を制御しない場合の浮上量を示し、（ｃ）はステップＳ７において磁気ヘッド１５の浮上量を制御した場合の浮上量を示す。図７において、１５２は磁気ヘッド１５のスライダ、１５３は磁気ヘッド１５のリードヘッド、Ｆは磁気ヘッド１５の浮上量を示す。
【００３２】
尚、ステップＳ６，Ｓ７をステップＳ４，Ｓ５の前に行うようにしても良い。
【００３３】
ステップＳ８は、ステップＳ４，Ｓ５で得られた測定結果から低い周速度（回転速度）でリードした場合と高い周速度（回転速度）でリードした場合の違い、ステップＳ６，Ｓ７で得られた測定結果から高い周速度（回転速度）でリードした場合と低い周速度（回転速度）でリードした場合の違い、及びステップＳ４〜Ｓ７で得られた測定結果から低いＢＰＩでライトした場合と高いＢＰＩでライトした場合の違い等に基づいて、転送速度のみに依存する磁気ヘッド１５の特性変化の要因を評価し、処理は終了する。このような評価は、解析制御部１１３により自動的に行えるが、ユーザが手動で行っても、ユーザが解析制御部１１３とインターアクティブに半自動で行っても良い。これにより、高転送化に伴う磁気ヘッド１５の特性劣化を正しく評価することができる。具体的には、ステップＳ４，Ｓ５で得られたＢＰＩが低い状態と高い状態とで求められる測定結果を比較すると共に、ステップＳ６，Ｓ７で得られたＢＰＩ高い状態と低い状態とで求められる測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなるＢＰＩを求めることができ、磁気ヘッド１５に最適なＢＰＩを求めることができる。この場合、転送速度による影響が少なくなるＢＰＩを用いることで、以下に説明するように測定結果からライト系処理部１１１を含むライト系の影響やリード系処理部１１２を含むリード系の影響を切り分けることができる。
【００３４】
図８は、ＢＰＩが１００ｋであり、周速度が４０．３（ｍ／ｓ）でステップＳ４のライト及びリードが行われ、周速度が４５．３（ｍ／ｓ）でステップＳ５のリードが行われた場合の磁気ヘッド１５のリード時の出力（μＶ）を示す図である。又、図９は、ＢＰＩが４００ｋであり、周速度が４０．３（ｍ／ｓ）でステップＳ４のライト及びリードが行われ、周速度が４５．３（ｍ／ｓ）でステップＳ５のリードが行われた場合の磁気ヘッド１５の出力（μＶ）を示す図である。図８及び図９において、縦軸は磁気ヘッド１５のリード時の出力（μＶ）を示し、横軸はリード時の周速度（ｍ／ｓ）を示す。
【００３５】
図１０は、ＢＰＩが１００ｋであり、周速度が４５．３（ｍ／ｓ）でステップＳ６のライト及びリードが行われ、周速度が４０．３（ｍ／ｓ）でステップＳ７のリードが行われた場合の磁気ヘッド１５のリード時の出力（μＶ）を示す図である。又、図１１は、ＢＰＩが４００ｋであり、周速度が４５．３（ｍ／ｓ）でステップＳ６のライト及びリードが行われ、周速度が４０．３（ｍ／ｓ）でステップＳ７のリードが行われた場合の磁気ヘッド１５の出力（μＶ）を示す図である。図１０及び図１１において、縦軸は磁気ヘッド１５のリード時の出力（μＶ）を示し、横軸はリード時の周速度（ｍ／ｓ）を示す。
【００３６】
又、図１２は、図８乃至図１１の測定結果をまとめて示す図であり、四角印が図８及び図９の測定結果、菱形印が図１０及び図１１の測定結果を夫々まとめてしめす。図１２中、縦軸は磁気ヘッド１５の出力変化（％）を示し、横軸はＢＰＩ（ｋ）を示す。
【００３７】
図８乃至図１２の場合、転送速度の違いによる影響はＢＰＩ＝１００ｋでは見られない。ＢＰＩを増加させていくと出力変化が大きくなり、転送速度の影響が見えてくる。転送速度が異なる条件下でライトしたデータてリードしても、磁気ヘッド１５のリード時の出力は同じであることから、この例ではライト系の影響ではなくリード系による出力低下であることがステップＳ８において判断できる。このような判断は、解析制御部１１３により自動的に行えるが、ユーザが手動で行っても、ユーザが解析制御部１１３とインターアクティブに半自動で行っても良い。
【００３８】
コンピュータに上記の如き磁気ディスク装置１のヘッド評価に関する機能、或いは、上記の如きヘッドの評価方法の各手順を実現させるプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体に格納されていても良い。この場合、図１に示す記憶部１２自体がコンピュータ読み取り可能な記憶媒体であっても、別のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に格納されているプログラムが記憶部１２にインストールされても良い。又、コンピュータは、汎用のコンピュータにより構成可能であり、例えば図１に示す制御部１１を構成するプロセッサにより構成可能である。
【００３９】
上記実施例において、磁気ディスク装置は、磁気ヘッドを評価するための専用装置であっても良い。この場合、各種磁気ヘッドを評価することで、転送速度の依存性が低い磁気ヘッドの開発に寄与することができる。又、各磁気ヘッドに最適なＢＰＩを求めることができるので、磁気ヘッドを磁気ディスク装置に搭載する際に、磁気ディスク装置にこの最適なＢＰＩを設定することができる。
【００４０】
一方、磁気ディスク装置は、ユーザ側で使用される出荷後の装置であっても良い。この場合、磁気ディスク装置には各磁気ヘッドに最適なＢＰＩを任意の時点で設定することができるので、例えば経時変化等で磁気ヘッドの特性が変化しても、常に磁気ヘッドの状態に最適なＢＰＩを設定することができる。又、転送速度に大きく依存する磁気ヘッドは磁気ディスク上のデータゾーン以外のゾーンのみで高記録密度用として使用し、データゾーンでは低記録密度用として使用することもできる。
【００４１】
尚、本発明は、以下に付記する発明をも包含するものである。
（付記１）
磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、
該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順
を含むことを特徴とする、ヘッドの評価方法。
（付記２）
該評価する手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第１の測定結果と、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第２の測定結果と、該磁気ヘッドの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度を求めることを特徴とする、付記１記載のヘッドの評価方法。
（付記３）
該評価する手順は、転送速度による影響が少なくなる記録密度を用いることで、該第１及び第２の測定結果から磁気ヘッドが搭載される磁気ディスク装置のライト系の影響又はリード系の影響を切り分けることを特徴とする、付記１又は２記載のヘッドの評価方法。
（付記４）
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該磁気ヘッドのヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、付記１乃至３のいずれか１項記載のヘッドの評価方法。
（付記５）
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、予め測定されている該磁気ヘッドの浮上量と該磁気ディスクの回転数との関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、付記４記載のヘッドの評価方法。
（付記６）
ヒータを有する磁気ヘッドと、
該磁気ヘッドの磁気ディスク上の半径位置を制御する位置制御部と、
該磁気ディスクの回転数を制御する回転制御回路と、
予め測定されている該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量と磁気ディスクの回転数との関係を格納する記憶部と、
該磁気ディスクを第１の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求めると共に、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める制御処理部と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する評価処理部とを備え、
該制御処理部は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、該記憶部に格納された該関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、磁気記憶装置。
（付記７）
該評価処理部は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第１の測定結果と、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第２の測定結果と、該磁気ヘッドの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度を求めることを特徴とする、付記６記載の磁気記憶装置。
（付記８）
該磁気ヘッドでライトするデータを処理するライト系処理部と、
該磁気ヘッドでリードするデータを処理するリード系処理部とを更に備え、
該評価処理部は、転送速度による影響が少なくなる記録密度を用いることで、該第１及び第２の測定結果から該ライト系処理部の影響又は該リード系処理部の影響を切り分けることを特徴とする、付記６又は７記載の磁気記憶装置。
（付記９）
コンピュータにヘッドの評価を行わせるプログラムであって、
磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、
該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順
を該コンピュータにより実行させることを特徴とする、プログラム。
（付記１０）
該評価する手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第１の測定結果と、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第２の測定結果と、該磁気ヘッドの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度を求めることを特徴とする、付記９記載のプログラム。
（付記１１）
該評価する手順は、転送速度による影響が少なくなる記録密度を用いることで、該第１及び第２の測定結果から磁気ヘッドが搭載される磁気ディスク装置のライト系の影響又はリード系の影響を切り分けることを特徴とする、付記９又は１０記載のプログラム。
（付記１２）
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該磁気ヘッドのヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、付記９乃至１１のいずれか１項記載のプログラム。
（付記１３）
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、予め測定されている該磁気ヘッドの浮上量と該磁気ディスクの回転数との関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、付記１２記載のプログラム。
【００４２】
以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】磁気ディスク装置の一部を示すブロック図である。
【図２】図１に示す制御部の構成を示すブロック図である。
【図３】磁気ディスクと磁気ヘッドとの関係を示す図である。
【図４】ヘッドの評価方法を説明するフローチャートである。
【図５】磁気ヘッドの浮上量と磁気ディスクの回転数の関係を示す図である。
【図６】磁気ヘッドの浮上量の制御を説明する図である。
【図７】磁気ヘッドの浮上量の制御を説明する図である。
【図８】ＢＰＩが１００ｋでステップＳ４，Ｓ５が行われた場合の磁気ヘッドのリード時の出力（μＶ）を示す図である。
【図９】ＢＰＩが４００ｋでステップＳ４，Ｓ５が行われた場合の磁気ヘッドのリード時の出力（μＶ）を示す図である。
【図１０】ＢＰＩが１００ｋでステップＳ６，Ｓ７が行われた場合の磁気ヘッドのリード時の出力（μＶ）を示す図である。
【図１１】ＢＰＩが４００ｋでステップＳ６，Ｓ７が行われた場合の磁気ヘッドのリード時の出力（μＶ）を示す図である。
【図１２】図８乃至図１１の測定結果をまとめて示す図である。
【符号の説明】
【００４４】
１ 磁気ディスク装置
１１ 制御部
１２ 記憶部
１３ ヘッド位置及び回転制御回路
１４ 位置制御部
１５ 磁気ヘッド
１６ スピンドルモータ
１７ プリアンプ
１９ アーム
２１ 磁気ディスク
１１１ ライト系処理部
１１２ リード系処理部
１１３ 解析処理部
１１４ 制御処理部
１５１ ヒータ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、
該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順
を含むことを特徴とする、ヘッドの評価方法。
【請求項２】
該評価する手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第１の測定結果と、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第２の測定結果と、該磁気ヘッドの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度を求めることを特徴とする、請求項１記載のヘッドの評価方法。
【請求項３】
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該磁気ヘッドのヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、請求項１又は２項記載のヘッドの評価方法。
【請求項４】
ヒータを有する磁気ヘッドと、
該磁気ヘッドの磁気ディスク上の半径位置を制御する位置制御部と、
該磁気ディスクの回転数を制御する回転制御回路と、
予め測定されている該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量と磁気ディスクの回転数との関係を格納する記憶部と、
該磁気ディスクを第１の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求めると共に、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める制御処理部と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する評価処理部とを備え、
該制御処理部は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、該記憶部に格納された該関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、磁気記憶装置。
【請求項５】
コンピュータにヘッドの評価を行わせるプログラムであって、
磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、
該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順
を該コンピュータにより実行させることを特徴とする、プログラム。
【請求項１】
磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、
該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順
を含むことを特徴とする、ヘッドの評価方法。
【請求項２】
該評価する手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第１の測定結果と、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第１の測定結果を比較すると共に、該磁気ヘッドの該円周方向に沿った記録密度が高い状態で求められる第２の測定結果と、該磁気ヘッドの円周方向に沿った記録密度が低い状態で求められる第２の測定結果を比較することで、転送速度による影響が少なくなる記録密度を求めることを特徴とする、請求項１記載のヘッドの評価方法。
【請求項３】
該第１及び第２の測定結果を求める手順は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該磁気ヘッドのヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、請求項１又は２項記載のヘッドの評価方法。
【請求項４】
ヒータを有する磁気ヘッドと、
該磁気ヘッドの磁気ディスク上の半径位置を制御する位置制御部と、
該磁気ディスクの回転数を制御する回転制御回路と、
予め測定されている該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量と磁気ディスクの回転数との関係を格納する記憶部と、
該磁気ディスクを第１の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求めると共に、該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める制御処理部と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する評価処理部とを備え、
該制御処理部は、該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を、該記憶部に格納された該関係に基づいて該ヒータへ供給する駆動電流により制御することを特徴とする、磁気記憶装置。
【請求項５】
コンピュータにヘッドの評価を行わせるプログラムであって、
磁気ディスクを第１の回転数で回転させて磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの磁気ディスクに対する浮上量を該第１の回転数の時と同じに保って該第１の回転数より高い第２の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第１の測定結果を求める手順と、
該磁気ディスクを該第２の回転数で回転させて該磁気ヘッドによりデータのライトとリードを行い、その後該磁気ヘッドの該磁気ディスクに対する浮上量を該第２の回転数の時と同じに保って該第１の回転数でデータのリードを行って、リードされたデータの変化を示す第２の測定結果を求める手順と、
該磁気ヘッドの評価を求められた該第１及び第２の測定結果に基づいて行い、転送速度のみに依存する該磁気ヘッドの特性変化の要因を評価する手順
を該コンピュータにより実行させることを特徴とする、プログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２００９−１８１６２６（Ｐ２００９−１８１６２６Ａ）
【公開日】平成２１年８月１３日（２００９．８．１３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−１９３１５（Ｐ２００８−１９３１５）
【出願日】平成２０年１月３０日（２００８．１．３０）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年８月１３日（２００９．８．１３）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１月３０日（２００８．１．３０）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
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