分光蛍光光度計
【課題】分光蛍光光度計において、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度の２次元グラフ上の、サンプルの蛍光とは異質の光として観測される光が現れる波長領域を表示除外領域として自動的に描画して、サンプル自身の蛍光を瞬時に容易に識別する。
【解決手段】３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフ上に、励起光の散乱光とｎ次光、１／ｎ次光の波長領域、溶媒のラマン散乱光とｎ次光、１／ｎ次光の波長領域、蛍光の存在しないアンチストークス領域を自動的に計算してグラフ上に描画する機能を備え、サンプル自身の蛍光ピークを瞬時に間違いなく識別する。
【解決手段】３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフ上に、励起光の散乱光とｎ次光、１／ｎ次光の波長領域、溶媒のラマン散乱光とｎ次光、１／ｎ次光の波長領域、蛍光の存在しないアンチストークス領域を自動的に計算してグラフ上に描画する機能を備え、サンプル自身の蛍光ピークを瞬時に間違いなく識別する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光蛍光光度計に関するものである。特に、サンプルの蛍光測定時に、分光蛍光光度計に観測されてしまう蛍光とは異質の光の領域を分光蛍光光度計装置の表示画面に表示することによって、サンプルの蛍光を見誤らないためのガイド機能を持つ分光蛍光光度計に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
蛍光測定時に、蛍光とは異質の光として観測される光は、励起波長と分光スリット幅の装置条件、または試料溶媒のラマンシフト情報から導き出せるが、表示画面の３次元蛍光スペクトルを表示する等高線グラフや、蛍光スペクトル及び蛍光強度を表示する２次元グラフ上では、蛍光とは異質の光をサンプルから抽出した蛍光と間違えて読み取ってしまうことが生じる。
【０００３】
これら蛍光とは異質の光を除外する技術としては、従来から特許文献１、特許文献２が知られている。
【０００４】
従来の分光蛍光光度計の基本構成では、図８に示す様に光源８０１から放射される光線を励起光側分光器８０２に入射して励起光を取り出す。励起光側分光器８０２の設定波長は、データ処理装置８０４からインターフェース８０５を介してパルスモータ８０３を制御して行う。取り出された単色励起光は、ビームスプリッタ８１３を介して試料セル８０７内の測定試料８０８を照射し、測定試料８０８から放射された蛍光が蛍光側分光器８０９に入射する。
【０００５】
蛍光側分光器８０９は、データ処理装置８０４により制御されるパルスモータ８１０により選択された波長の蛍光を取り出し、これを光検知器８１１に入射して電気信号に変換する。電気信号はアナログ−デジタル変換器８１２によってデジタル信号に変換される。
【０００６】
励起光側分光器８０２及び蛍光側分光器８０９の動作は、操作パネル８０６を介して分析者によって設定される。励起光側分光器８０２及び蛍光側分光器８０９は、各々光の入射位置及び出射位置に図示しない種々の幅を持つスリットを複数備えており、スリット幅は測定条件に応じて任意に変更される。
【０００７】
励起光側分光器８０２から取り出された単色励起光の一部は、ビームスプリッタ８１３を介してモニタ検知器８１４に入射され電気信号に変換され光源光量をモニタする。モニタ検知器８１４の電気信号もアナログ−デジタル変換器８１２によってデジタル信号に変換される。
【０００８】
検知器８１１のデジタル信号（Ｓ）とモニタ検知器８１４のデジタル信号（Ｍ）はデータ処理装置８０４に送られ、両者の比（Ｓ／Ｍ）が各波長における蛍光強度として算出され、データ処理装置８０４の内部メモリに記憶される。
【０００９】
上記データ処理装置によって、励起光波長、蛍光波長、蛍光強度の３パラメータから成る３次元マトリクスデータが得られる。まず任意の励起光波長において蛍光側分光器８０９を所定のサンプリング間隔で駆動して蛍光波長を走査し、各波長の蛍光強度を検出して蛍光スペクトルを得る。次に励起光側分光器２をサンプリング間隔分だけ駆動して次の波長に設定し、同様に蛍光側分光器８０９を駆動して蛍光スペクトルを得、これを反復して２次元、３次元の測定データを得る。
【００１０】
データ処理装置８０４では、各測定毎にその測定結果（３次元測定データ）及び測定条件（励起光側分光器、蛍光側分光器の各々のスリット幅、サンプリング間隔等）を記憶し、分析者の要求によって出力する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特許公開２００３−６５９５６号公報
【特許文献２】特許公開２００９−３１１７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
分光蛍光光度計に表示される３次元蛍光スペクトルの等高線グラフ、蛍光スペクトル及び蛍光強度の２次元グラフ上には、サンプルが放射する蛍光以外に、蛍光とは異質の光として観測される励起光のレーリー散乱光、励起光の２次、３次回折光、１／２次、１／３次回折光、溶媒のラマン散乱光及びその２次、３次回折光、１／２次、１／３次回折光などのピークが表示される。
【００１３】
上記の蛍光と異質の光についての知識を基に、分析者がサンプルの蛍光のみを見い出すことは可能であるが、導き方を間違える場合もあり、また多くの除外すべきピークを瞬時に正確に判断することは非常に困難であった。
【００１４】
従来の特許文献１、２においても等高線グラフ上でピーク表示が行われているが、領域を部分的に拡大表示する際に、画像表示が変形して読取りが困難になる等の問題があった。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明は、蛍光分光光度計において、サンプルの蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画処理を行うことを特徴とする。
【００１６】
また、表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする。
【００１７】
また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする。
【００１８】
また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする。
【００１９】
また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域であることを特徴とする。
【００２０】
また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする。
【００２１】
また、任意の測定条件を与えて所定の設定スケールで表示除外領域を含む表示グラフを表示させ、測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で決定されたか否かを判断することを特徴とする。
【００２２】
さらに、本体分析部と、操作・データ処理用ＧＵＩ部を有し、前記本体分析部は光源と励起側分光器と蛍光側分光器とサンプルからの放出光を検出する光検出器を有する光学系と、測定試料を収納する試料室と、光度計条件設定部と、２次元スペクトルデータ測定部と、３次元スペクトルデータ測定部と、これら構成要素を制御する制御部とを備え、
前記操作・データ処理用ＧＵＩ部は、前記本体分析部の分析手順を設定する分析手順設定部と、前記本体分析部の結果を取得する測定結果取得部と、測定結果を表示するスペクトル領域ガイド表示部を備えた蛍光分光光度計において、
前記制御部は、前記スペクトル領域ガイド表示部の蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画手段を有することを特徴とする。
【００２３】
さらに、表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする。
【００２４】
さらに、制御部の描画手段は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するレーリー散乱描画手段を有することを特徴とする。
さらに、制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するラマン散乱描画手段を有することを特徴とする。
さらに、制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域を表示除外領域として描画するアンチストークス描画手段を有することを特徴とする。
【００２５】
制御部は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、または励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域、またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする。
【００２６】
さらに、スペクトル領域ガイド表示部は、表示除外領域として、レーリー散乱に関する領域を表示する散乱光エリアボタンと、ラマン散乱に関する領域を表示するラマン散乱エリアボタンと、アンチストークス領域を表示するアンチストークスエリアボタンと、全ての表示除外領域を表示する全てのエリアボタンを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２７】
本発明は、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフ、蛍光スペクトル及び蛍光強度の２次元グラフ上に、励起光の散乱光、溶媒のラマン散乱光、これらの２次、３次回折光、１／２次、１／３次回折光などが現れる波長領域、及び蛍光の現れないアンチストークス領域を予め表示することによって、除外すべき表示領域を瞬時に正確に把握させ、サンプルの蛍光ピークの誤判断を防ぐことができる。
【００２８】
また、表示除外領域の大きさや、サンプルの蛍光ピークが表示除外領域に重なっている状況に基づき、適切な測定条件となっているか否かについても確認することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の実施例の分光蛍光光度計の一例を示すブロック図。
【図２】本発明の実施例の散乱光領域の描画について示す模式図。
【図３】本発明の実施例のラマン散乱光領域の描画について示す模式図。
【図４】本発明の実施例のアンチストークス領域の描画について示す模式図。
【図５】本発明の実施例の蛍光以外の全領域の描画について示す模式図。
【図６】本発明の実施例の３次元スペクトルの等高線における領域ガイド表示を行う画面例を示す説明図。
【図７】本発明の実施例の２次元スペクトルにおける領域ガイド表示を行う画面例を示す説明図。
【図８】従来例の分光蛍光光度計の概略構成を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
以下に、本発明の実施例を図面について説明する。
【実施例１】
【００３１】
図１に、本発明の実施例１の分光蛍光光度計のシステム構成を示す。分光蛍光光度計システムは、本体分析部１０１と操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２から構成される。
【００３２】
本体分析部１０１は、操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２から分析手順設定部１０３の設定に応じた命令を受け、命令内容に従って制御部１０５により制御を実行する。制御部１０５には各命令に対応するシーケンスがプログラミングされており、光度計条件設定部１０６で光度計条件を設定し、２次元スペクトルデータ測定部１０７、３次元スペクトルデータ測定部１０８で各スペクトルデータの測定を実行する。
【００３３】
測定結果は、操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２の測定結果取得部１０９に取得され保存される。スペクトル領域ガイド表示部１１０は、操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２に組み込まれ、取得・保存された測定結果データに基づきスペクトル領域ガイド表示部１１０において、散乱光領域、溶媒のラマン散乱光領域、アンチストークス領域のエリア表示を行う。
【００３４】
また、本体分析部１０１には、測定するサンプル１１１２を収納する試料セル１１１１を有する試料室１１１が装備され、角セルや固体セルホルダを使用した測定が可能である。また本体分析部１０１を構成している主な光学系１１２には、光源１１２１、光検知器１１２２、励起波長設定部１１２４及び励起側スリット１１２５を備えた励起側分光器１１２３、蛍光波長設定部１１２７及び蛍光側スリット１１２８を備えた蛍光側分光器１１２６を有する。
〔レーリー散乱の表示除外領域〕
初めに、図２において、レーリー散乱に起因する表示除外領域について説明する。サンプルの３次元蛍光スペクトルを取得すると、蛍光信号以外に、レーリー散乱光２０１、レーリー散乱光に起因する高次回折光２０２、２０３（ｋ＝２、３、４、・・・、もしくは１／２、１／３、１／４・・・）の信号が得られる。これらの信号は蛍光信号とは異なるので、この領域はサンプルの蛍光とは異質の表示除外領域となる。
【００３５】
レーリー散乱光は通常の弾性的散乱光で本発明では単に散乱光とも呼び、励起波長と同じ波長の蛍光波長領域に出現する。このレーリー散乱光は波長分布を持ち、この波長分布は励起側スリット幅又は蛍光側スリット幅のうち、大きなスリット幅に依存する。このことから、レーリー散乱光に起因する表示除外領域は、式（１）によって決められる。
【００３６】
ここで、ｋはレーリー散乱光とそれに起因する高次光を表示除外領域とするための係数、Ａは現在の励起波長、Ｂは励起波長に対応する蛍光波長、Ｅは設定された励起側スリット幅Ｃと蛍光側スリット幅Ｄのうち、より大きなスリットの値となる。
【００３７】
励起波長ＡをＷｅｘ１〜Ｗｅｘｍまで変えて順にサンプルを照射し、これに対応する蛍光波長ＢをＷｅｍｓ〜Ｗｅｍｅまで取得する。
【００３８】
レーリー散乱光は、試料の状態によって半値幅が異なる。例えば、十分希薄な溶液であればシャープなレーリー散乱光が観測されるが、懸濁液や固体試料などはレーリー散乱が大きく、その半値幅も大きくブロードとなる場合がある。そこで、スリットの値Ｅに対して、感度係数αを掛けることで試料の散乱状態によって異なるレーリー散乱光の表示除外領域を精度良く設定することが可能となる。レーリー散乱の少ない十分希薄な溶液であれば、シャープなレーリー散乱光が観測されるので、感度係数αは２程度の値が適当である。これは、観測される散乱光はスリット幅が半値となるようにスリットが作用するので、レーリー散乱光は、設定されたスリット幅の±２倍の波長で裾が０付近となるためである。一方、レーリー散乱の大きな懸濁液や固体試料などは、感度係数αとして２以上の値を用いることが望ましい。
〈レーリー散乱の表示除外領域〉
ｋ×Ａ−α×Ｅ≦Ｂ≦ｋ×Ａ＋α×Ｅ・・・・・・（１）
（→ｋ＝１、２、３、・・・もしくはｋ＝１／２、１／３、・・・・）
Ａ： 励起波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｘ１〜終了：Ｗｅｘｍ
Ｂ： 蛍光波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｍｓ〜終了：Ｗｅｍｅ
Ｃ： 励起側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｘ（領域２０１の軸Ａ方向幅）
Ｄ： 蛍光側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｍ（領域２０１の軸Ｂ方向幅）
Ｅ： ＣとＤのいずれか大きい値
以上により表示除外領域２０１、２０２、２０３を求めて、等高線上に表示する。
〔ラマン散乱の表示除外領域〕
次に、図３において、ラマン散乱の表示除外領域について説明する。図３においてサンプルの３次元蛍光スペクトルを取得すると、蛍光信号以外にラマン散乱光３０１、ラマン散乱光に起因する高次光３０２、３０３（ｋ＝２、３、４、・・・、もしくは１／２、１／３、１／４・・・）が得られる。
【００３９】
ラマン散乱は、試料の溶媒によって固有のラマンシフトを有する。従って溶媒の種類によりラマン散乱光領域が変化するので、溶媒の種類に応じて表示領域や表示方法を設定するのが有効である。使用される溶媒の例としては、水、エタノール、シクロヘキサン、四塩化炭素、クロロホルム等が挙げられる。
【００４０】
一般に、ラマンシフトは波長の逆数である波数で表されるため、式（２）により波長に変換してラマン散乱光の表示除外領域を設定する。ここで、ｋは、ラマン散乱光とそれに起因する高次光の範囲を表示除外領域とするための係数、Ａは現在の励起波長、Ｂは励起波長に対応する蛍光波長、Ｅは設定された励起側スリット幅Ｃと蛍光側スリット幅Ｄのうち、より大きなスリットの値となる。ラマン散乱光の表示除外領域においても、スリットの値Ｅに対して生じるラマン散乱光の半値幅が異なる。そこで、感度係数αを掛けることで試料の散乱状態によって異なるラマン散乱光の表示除外領域を精度良く設定することが可能となる。
〈ラマン散乱の表示除外領域〉
ｋ×（１/（１/Ａ−Ｌ））−α×Ｅ≦Ｂ≦ｋ×（１/（１/Ａ−Ｌ））＋α×Ｅ
・・・・・・（２）
（→ｋ＝１、２、３、・・・もしくはｋ＝１／２、１／３、・・・・）
Ａ： 励起波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｘ１〜終了：Ｗｅｘｎ
Ｂ： 蛍光波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｍｓ〜終了：Ｗｅｍｅ
Ｃ： 励起側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｘ
Ｄ： 蛍光側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｍ
Ｅ： ＣとＤのいずれか大きい値
Ｌ： 溶媒情報（溶媒のラマンシフト）（ｃｍ−１）
以上によりラマン散乱の表示除外領域３０１、３０２、３０３を求めて、等高線上に表示する。
〔アンチストークス領域の表示除外領域〕
次に、図４において、アンチストークス領域の表示除外領域について説明する。ストークスの定理により励起光よりも短い蛍光は生じることは無いので、この領域は蛍光波長の表示除外領域となり、式（３）によって定められる。
〈アンチストークス領域の表示除外領域〉
下記の式（３）を満足するＢ蛍光波長領域は除外される。
Ａ−α×Ｅ≧Ｂ・・・・・・・（３）
Ａ： 励起波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｘ1〜終了：Ｗｅｘｎ
Ｂ： 蛍光波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｍｓ〜終了：Ｗｅｍｅ
Ｃ： 励起側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｘ
Ｄ： 蛍光側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｍ
Ｅ： ＣとＤのいずれか大きい値
以上によりアンチストークス領域４０１を求めて、等高線上に表示する。
【００４１】
以上のように求めた散乱光、ラマン散乱光、アンチストークス領域による表示除外領域を、図５のように３次元蛍光スペクトルの等高線グラフ上に全て表示することによって、異質の蛍光として観測されたピークかどうかを識別することができ、サンプルの蛍光と思われるピーク５０１を瞬時に、かつ容易に見つけることができる。
【００４２】
図６に、３次元スペクトルの等高線における領域ガイド表示を行うスペクトル領域ガイド表示部１１０での表示画面例を示す。
【００４３】
等高線グラフ６０１は、横軸を蛍光波長、縦軸を励起波長とし、測定データの蛍光強度を等高線表示したものである。（１）散乱光エリアボタン６０２、（２）ラマン散乱光エリアボタン６０３、（３）アンチストークスエリアボタン６０４は、それぞれのピークが測定されるエリアを表示するボタンである。
【００４４】
これらのボタンを押下すると、等高線グラフ６０１上に、押したボタンの領域に該当するエリアの背景を灰色で表示する。全てのエリアボタン６０５を押下すれば、（１）〜（３）の全てのエリアを灰色で表示する。
【００４５】
以上のようにサンプルの蛍光以外のエリアを描画することによって、サンプルとは異質のピークを除外して、サンプルのピークと思われるピーク６０６を瞬時に見つけ出すことが可能になる。
【００４６】
また、これから測定しようとする任意の測定条件で等高線のスケールを表示し、サンプルの蛍光以外のエリアを描画すれば、設定した測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で設定されているかを判断することも可能である。
【００４７】
図７に、２次元蛍光スペクトルにおける領域ガイド表示を行う画面例を示す。スペクトル７０１は、横軸を蛍光波長、縦軸を蛍光強度としてスペクトルを表示したものである。（１）散乱光エリアボタン７０２、（２）ラマン散乱光エリアボタン７０３、（３）アンチストークスエリアボタン７０４は、それぞれのピークが測定されるエリアを表示するボタンである。
【００４８】
これらのボタンを押下すると、スペクトル７０１上に、各エリアの背景を灰色で表示する。全てのエリアボタン７０５を押下すれば、（１）〜（３）の全てのエリアを灰色で表示する。
【００４９】
以上のようにサンプルの蛍光以外のエリアを描画することによって、サンプルの蛍光である可能性のあるピーク７０６、７０７を容易に絞り込むことができる。
【符号の説明】
【００５０】
１０１：本体分析部
１０２：操作・データ処理用ＧＵＩ部
１０３：分析手順設定部
１０５：制御部
１０６：光度計条件設定部
１０７：２次元スペクトルデータ測定部
１０８：３次元スペクトルデータ測定部
１０９：測定結果取得部
１１０：スペクトル領域ガイド表示部
１１１：試料室
１１２：光学系
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光蛍光光度計に関するものである。特に、サンプルの蛍光測定時に、分光蛍光光度計に観測されてしまう蛍光とは異質の光の領域を分光蛍光光度計装置の表示画面に表示することによって、サンプルの蛍光を見誤らないためのガイド機能を持つ分光蛍光光度計に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
蛍光測定時に、蛍光とは異質の光として観測される光は、励起波長と分光スリット幅の装置条件、または試料溶媒のラマンシフト情報から導き出せるが、表示画面の３次元蛍光スペクトルを表示する等高線グラフや、蛍光スペクトル及び蛍光強度を表示する２次元グラフ上では、蛍光とは異質の光をサンプルから抽出した蛍光と間違えて読み取ってしまうことが生じる。
【０００３】
これら蛍光とは異質の光を除外する技術としては、従来から特許文献１、特許文献２が知られている。
【０００４】
従来の分光蛍光光度計の基本構成では、図８に示す様に光源８０１から放射される光線を励起光側分光器８０２に入射して励起光を取り出す。励起光側分光器８０２の設定波長は、データ処理装置８０４からインターフェース８０５を介してパルスモータ８０３を制御して行う。取り出された単色励起光は、ビームスプリッタ８１３を介して試料セル８０７内の測定試料８０８を照射し、測定試料８０８から放射された蛍光が蛍光側分光器８０９に入射する。
【０００５】
蛍光側分光器８０９は、データ処理装置８０４により制御されるパルスモータ８１０により選択された波長の蛍光を取り出し、これを光検知器８１１に入射して電気信号に変換する。電気信号はアナログ−デジタル変換器８１２によってデジタル信号に変換される。
【０００６】
励起光側分光器８０２及び蛍光側分光器８０９の動作は、操作パネル８０６を介して分析者によって設定される。励起光側分光器８０２及び蛍光側分光器８０９は、各々光の入射位置及び出射位置に図示しない種々の幅を持つスリットを複数備えており、スリット幅は測定条件に応じて任意に変更される。
【０００７】
励起光側分光器８０２から取り出された単色励起光の一部は、ビームスプリッタ８１３を介してモニタ検知器８１４に入射され電気信号に変換され光源光量をモニタする。モニタ検知器８１４の電気信号もアナログ−デジタル変換器８１２によってデジタル信号に変換される。
【０００８】
検知器８１１のデジタル信号（Ｓ）とモニタ検知器８１４のデジタル信号（Ｍ）はデータ処理装置８０４に送られ、両者の比（Ｓ／Ｍ）が各波長における蛍光強度として算出され、データ処理装置８０４の内部メモリに記憶される。
【０００９】
上記データ処理装置によって、励起光波長、蛍光波長、蛍光強度の３パラメータから成る３次元マトリクスデータが得られる。まず任意の励起光波長において蛍光側分光器８０９を所定のサンプリング間隔で駆動して蛍光波長を走査し、各波長の蛍光強度を検出して蛍光スペクトルを得る。次に励起光側分光器２をサンプリング間隔分だけ駆動して次の波長に設定し、同様に蛍光側分光器８０９を駆動して蛍光スペクトルを得、これを反復して２次元、３次元の測定データを得る。
【００１０】
データ処理装置８０４では、各測定毎にその測定結果（３次元測定データ）及び測定条件（励起光側分光器、蛍光側分光器の各々のスリット幅、サンプリング間隔等）を記憶し、分析者の要求によって出力する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特許公開２００３−６５９５６号公報
【特許文献２】特許公開２００９−３１１７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
分光蛍光光度計に表示される３次元蛍光スペクトルの等高線グラフ、蛍光スペクトル及び蛍光強度の２次元グラフ上には、サンプルが放射する蛍光以外に、蛍光とは異質の光として観測される励起光のレーリー散乱光、励起光の２次、３次回折光、１／２次、１／３次回折光、溶媒のラマン散乱光及びその２次、３次回折光、１／２次、１／３次回折光などのピークが表示される。
【００１３】
上記の蛍光と異質の光についての知識を基に、分析者がサンプルの蛍光のみを見い出すことは可能であるが、導き方を間違える場合もあり、また多くの除外すべきピークを瞬時に正確に判断することは非常に困難であった。
【００１４】
従来の特許文献１、２においても等高線グラフ上でピーク表示が行われているが、領域を部分的に拡大表示する際に、画像表示が変形して読取りが困難になる等の問題があった。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明は、蛍光分光光度計において、サンプルの蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画処理を行うことを特徴とする。
【００１６】
また、表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする。
【００１７】
また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする。
【００１８】
また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする。
【００１９】
また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域であることを特徴とする。
【００２０】
また、表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする。
【００２１】
また、任意の測定条件を与えて所定の設定スケールで表示除外領域を含む表示グラフを表示させ、測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で決定されたか否かを判断することを特徴とする。
【００２２】
さらに、本体分析部と、操作・データ処理用ＧＵＩ部を有し、前記本体分析部は光源と励起側分光器と蛍光側分光器とサンプルからの放出光を検出する光検出器を有する光学系と、測定試料を収納する試料室と、光度計条件設定部と、２次元スペクトルデータ測定部と、３次元スペクトルデータ測定部と、これら構成要素を制御する制御部とを備え、
前記操作・データ処理用ＧＵＩ部は、前記本体分析部の分析手順を設定する分析手順設定部と、前記本体分析部の結果を取得する測定結果取得部と、測定結果を表示するスペクトル領域ガイド表示部を備えた蛍光分光光度計において、
前記制御部は、前記スペクトル領域ガイド表示部の蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画手段を有することを特徴とする。
【００２３】
さらに、表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする。
【００２４】
さらに、制御部の描画手段は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するレーリー散乱描画手段を有することを特徴とする。
さらに、制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するラマン散乱描画手段を有することを特徴とする。
さらに、制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域を表示除外領域として描画するアンチストークス描画手段を有することを特徴とする。
【００２５】
制御部は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、または励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域、またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする。
【００２６】
さらに、スペクトル領域ガイド表示部は、表示除外領域として、レーリー散乱に関する領域を表示する散乱光エリアボタンと、ラマン散乱に関する領域を表示するラマン散乱エリアボタンと、アンチストークス領域を表示するアンチストークスエリアボタンと、全ての表示除外領域を表示する全てのエリアボタンを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２７】
本発明は、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフ、蛍光スペクトル及び蛍光強度の２次元グラフ上に、励起光の散乱光、溶媒のラマン散乱光、これらの２次、３次回折光、１／２次、１／３次回折光などが現れる波長領域、及び蛍光の現れないアンチストークス領域を予め表示することによって、除外すべき表示領域を瞬時に正確に把握させ、サンプルの蛍光ピークの誤判断を防ぐことができる。
【００２８】
また、表示除外領域の大きさや、サンプルの蛍光ピークが表示除外領域に重なっている状況に基づき、適切な測定条件となっているか否かについても確認することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の実施例の分光蛍光光度計の一例を示すブロック図。
【図２】本発明の実施例の散乱光領域の描画について示す模式図。
【図３】本発明の実施例のラマン散乱光領域の描画について示す模式図。
【図４】本発明の実施例のアンチストークス領域の描画について示す模式図。
【図５】本発明の実施例の蛍光以外の全領域の描画について示す模式図。
【図６】本発明の実施例の３次元スペクトルの等高線における領域ガイド表示を行う画面例を示す説明図。
【図７】本発明の実施例の２次元スペクトルにおける領域ガイド表示を行う画面例を示す説明図。
【図８】従来例の分光蛍光光度計の概略構成を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
以下に、本発明の実施例を図面について説明する。
【実施例１】
【００３１】
図１に、本発明の実施例１の分光蛍光光度計のシステム構成を示す。分光蛍光光度計システムは、本体分析部１０１と操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２から構成される。
【００３２】
本体分析部１０１は、操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２から分析手順設定部１０３の設定に応じた命令を受け、命令内容に従って制御部１０５により制御を実行する。制御部１０５には各命令に対応するシーケンスがプログラミングされており、光度計条件設定部１０６で光度計条件を設定し、２次元スペクトルデータ測定部１０７、３次元スペクトルデータ測定部１０８で各スペクトルデータの測定を実行する。
【００３３】
測定結果は、操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２の測定結果取得部１０９に取得され保存される。スペクトル領域ガイド表示部１１０は、操作・データ処理用ＧＵＩ部１０２に組み込まれ、取得・保存された測定結果データに基づきスペクトル領域ガイド表示部１１０において、散乱光領域、溶媒のラマン散乱光領域、アンチストークス領域のエリア表示を行う。
【００３４】
また、本体分析部１０１には、測定するサンプル１１１２を収納する試料セル１１１１を有する試料室１１１が装備され、角セルや固体セルホルダを使用した測定が可能である。また本体分析部１０１を構成している主な光学系１１２には、光源１１２１、光検知器１１２２、励起波長設定部１１２４及び励起側スリット１１２５を備えた励起側分光器１１２３、蛍光波長設定部１１２７及び蛍光側スリット１１２８を備えた蛍光側分光器１１２６を有する。
〔レーリー散乱の表示除外領域〕
初めに、図２において、レーリー散乱に起因する表示除外領域について説明する。サンプルの３次元蛍光スペクトルを取得すると、蛍光信号以外に、レーリー散乱光２０１、レーリー散乱光に起因する高次回折光２０２、２０３（ｋ＝２、３、４、・・・、もしくは１／２、１／３、１／４・・・）の信号が得られる。これらの信号は蛍光信号とは異なるので、この領域はサンプルの蛍光とは異質の表示除外領域となる。
【００３５】
レーリー散乱光は通常の弾性的散乱光で本発明では単に散乱光とも呼び、励起波長と同じ波長の蛍光波長領域に出現する。このレーリー散乱光は波長分布を持ち、この波長分布は励起側スリット幅又は蛍光側スリット幅のうち、大きなスリット幅に依存する。このことから、レーリー散乱光に起因する表示除外領域は、式（１）によって決められる。
【００３６】
ここで、ｋはレーリー散乱光とそれに起因する高次光を表示除外領域とするための係数、Ａは現在の励起波長、Ｂは励起波長に対応する蛍光波長、Ｅは設定された励起側スリット幅Ｃと蛍光側スリット幅Ｄのうち、より大きなスリットの値となる。
【００３７】
励起波長ＡをＷｅｘ１〜Ｗｅｘｍまで変えて順にサンプルを照射し、これに対応する蛍光波長ＢをＷｅｍｓ〜Ｗｅｍｅまで取得する。
【００３８】
レーリー散乱光は、試料の状態によって半値幅が異なる。例えば、十分希薄な溶液であればシャープなレーリー散乱光が観測されるが、懸濁液や固体試料などはレーリー散乱が大きく、その半値幅も大きくブロードとなる場合がある。そこで、スリットの値Ｅに対して、感度係数αを掛けることで試料の散乱状態によって異なるレーリー散乱光の表示除外領域を精度良く設定することが可能となる。レーリー散乱の少ない十分希薄な溶液であれば、シャープなレーリー散乱光が観測されるので、感度係数αは２程度の値が適当である。これは、観測される散乱光はスリット幅が半値となるようにスリットが作用するので、レーリー散乱光は、設定されたスリット幅の±２倍の波長で裾が０付近となるためである。一方、レーリー散乱の大きな懸濁液や固体試料などは、感度係数αとして２以上の値を用いることが望ましい。
〈レーリー散乱の表示除外領域〉
ｋ×Ａ−α×Ｅ≦Ｂ≦ｋ×Ａ＋α×Ｅ・・・・・・（１）
（→ｋ＝１、２、３、・・・もしくはｋ＝１／２、１／３、・・・・）
Ａ： 励起波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｘ１〜終了：Ｗｅｘｍ
Ｂ： 蛍光波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｍｓ〜終了：Ｗｅｍｅ
Ｃ： 励起側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｘ（領域２０１の軸Ａ方向幅）
Ｄ： 蛍光側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｍ（領域２０１の軸Ｂ方向幅）
Ｅ： ＣとＤのいずれか大きい値
以上により表示除外領域２０１、２０２、２０３を求めて、等高線上に表示する。
〔ラマン散乱の表示除外領域〕
次に、図３において、ラマン散乱の表示除外領域について説明する。図３においてサンプルの３次元蛍光スペクトルを取得すると、蛍光信号以外にラマン散乱光３０１、ラマン散乱光に起因する高次光３０２、３０３（ｋ＝２、３、４、・・・、もしくは１／２、１／３、１／４・・・）が得られる。
【００３９】
ラマン散乱は、試料の溶媒によって固有のラマンシフトを有する。従って溶媒の種類によりラマン散乱光領域が変化するので、溶媒の種類に応じて表示領域や表示方法を設定するのが有効である。使用される溶媒の例としては、水、エタノール、シクロヘキサン、四塩化炭素、クロロホルム等が挙げられる。
【００４０】
一般に、ラマンシフトは波長の逆数である波数で表されるため、式（２）により波長に変換してラマン散乱光の表示除外領域を設定する。ここで、ｋは、ラマン散乱光とそれに起因する高次光の範囲を表示除外領域とするための係数、Ａは現在の励起波長、Ｂは励起波長に対応する蛍光波長、Ｅは設定された励起側スリット幅Ｃと蛍光側スリット幅Ｄのうち、より大きなスリットの値となる。ラマン散乱光の表示除外領域においても、スリットの値Ｅに対して生じるラマン散乱光の半値幅が異なる。そこで、感度係数αを掛けることで試料の散乱状態によって異なるラマン散乱光の表示除外領域を精度良く設定することが可能となる。
〈ラマン散乱の表示除外領域〉
ｋ×（１/（１/Ａ−Ｌ））−α×Ｅ≦Ｂ≦ｋ×（１/（１/Ａ−Ｌ））＋α×Ｅ
・・・・・・（２）
（→ｋ＝１、２、３、・・・もしくはｋ＝１／２、１／３、・・・・）
Ａ： 励起波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｘ１〜終了：Ｗｅｘｎ
Ｂ： 蛍光波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｍｓ〜終了：Ｗｅｍｅ
Ｃ： 励起側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｘ
Ｄ： 蛍光側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｍ
Ｅ： ＣとＤのいずれか大きい値
Ｌ： 溶媒情報（溶媒のラマンシフト）（ｃｍ−１）
以上によりラマン散乱の表示除外領域３０１、３０２、３０３を求めて、等高線上に表示する。
〔アンチストークス領域の表示除外領域〕
次に、図４において、アンチストークス領域の表示除外領域について説明する。ストークスの定理により励起光よりも短い蛍光は生じることは無いので、この領域は蛍光波長の表示除外領域となり、式（３）によって定められる。
〈アンチストークス領域の表示除外領域〉
下記の式（３）を満足するＢ蛍光波長領域は除外される。
Ａ−α×Ｅ≧Ｂ・・・・・・・（３）
Ａ： 励起波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｘ1〜終了：Ｗｅｘｎ
Ｂ： 蛍光波長（ｎｍ）、 開始：Ｗｅｍｓ〜終了：Ｗｅｍｅ
Ｃ： 励起側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｘ
Ｄ： 蛍光側スリット幅（ｎｍ）、 Ｓｅｍ
Ｅ： ＣとＤのいずれか大きい値
以上によりアンチストークス領域４０１を求めて、等高線上に表示する。
【００４１】
以上のように求めた散乱光、ラマン散乱光、アンチストークス領域による表示除外領域を、図５のように３次元蛍光スペクトルの等高線グラフ上に全て表示することによって、異質の蛍光として観測されたピークかどうかを識別することができ、サンプルの蛍光と思われるピーク５０１を瞬時に、かつ容易に見つけることができる。
【００４２】
図６に、３次元スペクトルの等高線における領域ガイド表示を行うスペクトル領域ガイド表示部１１０での表示画面例を示す。
【００４３】
等高線グラフ６０１は、横軸を蛍光波長、縦軸を励起波長とし、測定データの蛍光強度を等高線表示したものである。（１）散乱光エリアボタン６０２、（２）ラマン散乱光エリアボタン６０３、（３）アンチストークスエリアボタン６０４は、それぞれのピークが測定されるエリアを表示するボタンである。
【００４４】
これらのボタンを押下すると、等高線グラフ６０１上に、押したボタンの領域に該当するエリアの背景を灰色で表示する。全てのエリアボタン６０５を押下すれば、（１）〜（３）の全てのエリアを灰色で表示する。
【００４５】
以上のようにサンプルの蛍光以外のエリアを描画することによって、サンプルとは異質のピークを除外して、サンプルのピークと思われるピーク６０６を瞬時に見つけ出すことが可能になる。
【００４６】
また、これから測定しようとする任意の測定条件で等高線のスケールを表示し、サンプルの蛍光以外のエリアを描画すれば、設定した測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で設定されているかを判断することも可能である。
【００４７】
図７に、２次元蛍光スペクトルにおける領域ガイド表示を行う画面例を示す。スペクトル７０１は、横軸を蛍光波長、縦軸を蛍光強度としてスペクトルを表示したものである。（１）散乱光エリアボタン７０２、（２）ラマン散乱光エリアボタン７０３、（３）アンチストークスエリアボタン７０４は、それぞれのピークが測定されるエリアを表示するボタンである。
【００４８】
これらのボタンを押下すると、スペクトル７０１上に、各エリアの背景を灰色で表示する。全てのエリアボタン７０５を押下すれば、（１）〜（３）の全てのエリアを灰色で表示する。
【００４９】
以上のようにサンプルの蛍光以外のエリアを描画することによって、サンプルの蛍光である可能性のあるピーク７０６、７０７を容易に絞り込むことができる。
【符号の説明】
【００５０】
１０１：本体分析部
１０２：操作・データ処理用ＧＵＩ部
１０３：分析手順設定部
１０５：制御部
１０６：光度計条件設定部
１０７：２次元スペクトルデータ測定部
１０８：３次元スペクトルデータ測定部
１０９：測定結果取得部
１１０：スペクトル領域ガイド表示部
１１１：試料室
１１２：光学系
【特許請求の範囲】
【請求項１】
蛍光分光光度計において、サンプルの蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画処理を行うことを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項２】
請求項１の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項３】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項４】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項５】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項６】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項７】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、任意の測定条件を与えて所定の設定スケールで表示除外領域を含む表示グラフを表示させ、測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で決定されたか否かを判断することを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項８】
本体分析部と、操作・データ処理用ＧＵＩ部を有し、前記本体分析部は光源と励起側分光器と蛍光側分光器とサンプルからの放出光を検出する光検出器を有する光学系と、測定資料を収納する試料室と、光度計条件設定部と、２次元スペクトルデータ測定部と、３次元スペクトルデータ測定部と、これら構成要素を制御する制御部とを備え、
前記操作・データ処理用ＧＵＩ部は、前記本体分析部の分析手順を設定する分析手順設定部と、前記本体分析部の結果を取得する測定結果取得部と、測定結果を表示するスペクトル領域ガイド表示部を備えた蛍光分光光度計において、
前記制御部は、前記スペクトル領域ガイド表示部の蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項９】
請求項８の蛍光分光光度計において、前記表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１０】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画手段は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するレーリー散乱描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１１】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するラマン散乱描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１２】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域を表示除外領域として描画するアンチストークス描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１３】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、または励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域、またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１４】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、スペクトル領域ガイド表示部は、表示除外領域として、レーリー散乱に関する領域を表示する散乱光エリアボタンと、ラマン散乱に関する領域を表示するラマン散乱エリアボタンと、アンチストークス領域を表示するアンチストークスエリアボタンと、全ての表示除外領域を表示する全てのエリアボタンを有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１】
蛍光分光光度計において、サンプルの蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画処理を行うことを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項２】
請求項１の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項３】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項４】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項５】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域であることを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項６】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、前記表示除外領域は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項７】
請求項１または２の蛍光分光光度計の表示方法において、任意の測定条件を与えて所定の設定スケールで表示除外領域を含む表示グラフを表示させ、測定範囲が無駄のない適切な波長範囲で決定されたか否かを判断することを特徴とする蛍光分光光度計の表示方法。
【請求項８】
本体分析部と、操作・データ処理用ＧＵＩ部を有し、前記本体分析部は光源と励起側分光器と蛍光側分光器とサンプルからの放出光を検出する光検出器を有する光学系と、測定資料を収納する試料室と、光度計条件設定部と、２次元スペクトルデータ測定部と、３次元スペクトルデータ測定部と、これら構成要素を制御する制御部とを備え、
前記操作・データ処理用ＧＵＩ部は、前記本体分析部の分析手順を設定する分析手順設定部と、前記本体分析部の結果を取得する測定結果取得部と、測定結果を表示するスペクトル領域ガイド表示部を備えた蛍光分光光度計において、
前記制御部は、前記スペクトル領域ガイド表示部の蛍光測定結果を表示する表示グラフ上に、蛍光表示がなされないことが明らかな表示除外領域を予め表示させる描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項９】
請求項８の蛍光分光光度計において、前記表示グラフは、３次元蛍光スペクトルの等高線グラフまたは蛍光スペクトル及び蛍光強度による２次元グラフの少なくとも一つを含むことを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１０】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画手段は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するレーリー散乱描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１１】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域を表示除外領域として描画するラマン散乱描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１２】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部の描画処理手段は、前記表示グラフ上で、アンチストークス領域に対応する表示領域を表示除外領域として描画するアンチストークス描画手段を有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１３】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、前記制御部は、前記表示グラフ上で、励起光のレーリー散乱光及びその回折光に対応する表示領域、または励起光のラマン散乱光及びその回折光に対応する表示領域、またはアンチストークス領域に対応する表示領域の少なくとも一つを選択的に表示することを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項１４】
請求項８または９の蛍光分光光度計において、スペクトル領域ガイド表示部は、表示除外領域として、レーリー散乱に関する領域を表示する散乱光エリアボタンと、ラマン散乱に関する領域を表示するラマン散乱エリアボタンと、アンチストークス領域を表示するアンチストークスエリアボタンと、全ての表示除外領域を表示する全てのエリアボタンを有することを特徴とする蛍光分光光度計。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１１−５８８１８（Ｐ２０１１−５８８１８Ａ）
【公開日】平成２３年３月２４日（２０１１．３．２４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−２０５５３４（Ｐ２００９−２０５５３４）
【出願日】平成２１年９月７日（２００９．９．７）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年３月２４日（２０１１．３．２４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年９月７日（２００９．９．７）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
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