基板検査装置
【課題】試験中に作業者が誤って天板を開けてしまい、基板を傷めてしまう危険性のない基板検査装置を提供する。
【解決手段】ピンボード３とプローブピンが下降しており、天板２が係止機構６に掛かっている状態から、レバー４を操作してピンボード３とロックピン７を上昇させる。すると、ロックピン７が装置本体１の上面から大きく突出し、天板２のストッパ５と係合し、天板２を上方へ回動させようとすると、ストッパ５の隅角部がロックピン７にあたり、上方へは回動できない。
【解決手段】ピンボード３とプローブピンが下降しており、天板２が係止機構６に掛かっている状態から、レバー４を操作してピンボード３とロックピン７を上昇させる。すると、ロックピン７が装置本体１の上面から大きく突出し、天板２のストッパ５と係合し、天板２を上方へ回動させようとすると、ストッパ５の隅角部がロックピン７にあたり、上方へは回動できない。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、産業機器や家電製品等に用いられる基板（いわゆるＦＴＣ基板）の機能検査や動作確認を行うために用いる基板検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
産業機器や家電製品等に使用される基板を製品に組み込む前に機能検査や動作確認を行う場合、一般には、検査対象となる被検査基板の各種テストポイントに通電検査用のプローブピンを押し当て、プローブピンから通電して検査する方法が用いられる。
【０００３】
このような基板検査装置は、側面に昇降レバーが付いた装置本体を有し、装置本体の上面に天板を備え、天板の下方には、所定の配列パターンに従って複数のプローブピンを設けたピンボードを配置しており、昇降レバーの操作によりピンボードが待機位置と検査位置の間で上下に昇降するようになっている。下方の待機位置にあるピンボードを検査位置まで上昇させると、プローブピンの先端が天板で保持した検査対象の基板のテストポイントに当接する。そこで、装置本体が備える電源や外部電源から通電すると、各プローブピンに対して通電がなされ、基板の通電検査が行われる。
【０００４】
【特許文献１】特開平１１−７２５２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところでこのような構造の基板検査装置では、試験中に作業者が誤って天板を開けてしまい、基板を傷めてしまう危険性があった。
【０００６】
本発明は、このような事故を防止するために、試験中に天板が開かないようにするための、基板検査装置の天板開閉のロック機構と、これを用いた基板検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の基板検査装置のうち請求項１に係るものは、装置本体下部に位置し、プローブピンを備え、検査対象とする基板をセットした状態でレバー等の操作体で上下動させ得るピンボードと、前記装置本体上部に位置し、樹脂製等のピンで前記ピンボード上の前記基板を押さえることで前記プローブピンを前記基板に接触させるために上下方向に回動開閉可能な天板からなり、前記プローブピンを介して通電して前記基板の動作試験行う基板検査装置であって、前記装置本体上面に前記天板の係止機構を備える基板検査装置において、前記ピンボードとともに上昇して前記装置本体上面に突出し、前記天板の一部と係合可能なロック機構を有することを特徴とする。
【０００８】
同請求項２に係るものは、請求項１の基板検査装置において、ロック機構は、前記天板の隅部の形成した上方向に伸びる曲げ部に出入可能なピンを含むことを特徴とする。
【０００９】
同請求項３に係るものは、請求項２の基板検査装置において、前記天板を前記装置本体の先方側へ引いて前記ロック機構から前記天板の隅部を外すことを特徴とする基板検査装置。
【発明の効果】
【００１０】
本発明は、天板を開くために、大きく分けて２つの手順を踏まなければならず、天板が閉まっている状態で単純に天板を持ち上げても天板を開くことができず、装置本体の手前側に引いて、それから持ち上げることで天板を開けるようにしたので、前述のような誤操作をなくせるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態に関して、添付図面を参照して説明する。
【実施例１】
【００１２】
図１は本発明の実施例に係る基板検査装置の外観を示す斜視図で、天板を閉じた状態の図（Ａ）と天板を開けた状態の図（Ｂ）である。
【００１３】
図中１が装置本体、２が天板、３がピンボードである。ピンボード３は、通常は装置本体１の下部に位置し、プローブピン（後出）を備え、検査対象とする基板（後出）をセットした状態で操作体（図示の例ではレバー４）で上下動させ得る。天板２は、装置本体１の上部に上下方向で回動可能に軸支してあり、樹脂製等のピン２ｂでピンボード３上の基板を押さえ、そのことでプローブピンを基板に接触させ得るようになっている。なお、ピンとプローブピンによる基板検査の構造については周知であるので図示及び詳細な説明は省略する。
【００１４】
図２は、図１の装置の要部の拡大断面図であり、図２（Ａ）は天板２が開いていてピンボード３とともに図示しないプローブピンが下降しており、また天板２のストッパ５の係止部５ａが装置本体１の上面に設けた係止機構６（図示の例では丸棒材）から離脱しており、天板２は自由に上昇させてピンボード３上を開放できる状態である。ピンボード３はともに昇降動するロックピン７を備えており、図２（Ａ）の状態では若干装置本体１の上面に突出するだけで、天板２の係止とは無関係の状態となっている。
【００１５】
一方図２（Ｂ）は、天板２を降ろし、ピンボード３が上昇し、それに伴ってプローブピンも上昇し、ピンとプローブピントで基板３をはさみ、プローブピンを介して基板に通電し、基板の動作試験行えるようになっている状態を示す。
【００１６】
このとき、ロックピン７は装置本体１の上面から比較的大きく突出し、天板２のストッパ５と係合している。具体的には、天板２のストッパ５は隅角部が９０度に折り曲げてあり、図２（Ｂ）の状態では装置本体１の後側（図中右側）に位置し、天板２を上方へ回動させようとすると、ストッパ５の隅角部がロックピン７にあたり、上方へは回動できないようになっている。なお天板２は、図２（Ｂ）の状態から若干装置本体１の前側へ移動可能となっている。
【００１７】
なお図３（Ａ）は、天板２が開いており、ピンボード３が下降している状態を示す斜視図である。また図３（Ｂ）は、天板２は開いたままであるが、レバー４の操作によりピンボード３が上昇している状態を示す斜視図である。そして、図３（Ａ）の状態の一部を拡大して図４（Ａ）に示す。図２（Ａ）と同様にロックピン７は装置本体１の上面からはほとんど突出していない。一方、図３（Ｂ）の状態の一部を拡大して示す図４（Ｂ）では、ロックピン７は装置本体１の上面から大きく突出している。
【００１８】
例えば、図４（Ａ）の状態で天板２を降ろしても、天板２のストッパ５はロックピン７とは重ならない（図５（Ａ））が、図４（Ｂ）の状態で天板２を降ろすと、天板２のストッパ５はロックピン７とはしっかりと重なる（図５（Ｂ））。
【００１９】
このような状態から天板２を開く手順を、図６に示す。本手順は、大別して２つある。すなわち、図６（Ａ）の状態では、天板２が閉まっているので、まず図６（Ｂ）のように天板２に設けてある取手２ａを装置本体１の前側、すなわち操作者の手前側に引いて、天板２のストッパ５を係止機構６から外す。図示の例では、天板２のストッパ５の係止部５ａを係止機構６をなす丸棒材から外す。すると、天板２のストッパ５がロックピン７の頂部を乗り越えるので、その状態で天板２の取手２ａを上方へ持ち上げ、天板２を回動させる。すると、図６（Ｃ）に示すように天板２が持ち上げ得るようになり、取手２ａを上に持ち上げれば天板２を開くことができる。これにより、基板の試験中に作業者が誤って天板２を開けてしまい、基板を傷めてしまう危険性がなくなる。
【００２０】
すなわち、ロックピン７と天板２のストッパ５が重なっていると、取手２ａを装置本体１の手前に引くだけでは天板２のロックを外すことができなくなり、天板２の誤操作による開きを防止できる。
【００２１】
なお図７に示すように、この機構が天板２を閉めるときにも作用することは当然である。すなわちピンボード３が上昇している状態で天板２を閉めようとすると、ストッパ５がロックピン７にぶつかり、天板２がそれ以上下りなくなるため、基板やピンボード３上のプローブピンを傷めたりすることがなくなる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の実施例に係る基板検査装置の外観を示す斜視図
【図２】図１の装置の要部の拡大断面図
【図３】天板が開いており、ピンボードが下降している状態を示す斜視図（Ａ）、天板は開いたままで、レバーの操作によりピンボードが上昇している状態を示す斜視図（Ｂ）
【図４】図３（Ａ）の状態の一部を拡大して示す図（Ａ）、図３（Ｂ）の状態の一部を拡大して示す図（Ｂ）
【図５】図４（Ａ）の状態で天板を降ろしても、天板のストッパがロックピンと重ならない状態の図（（Ａ））、図４（Ｂ）の状態で天板を降ろすと、天板のストッパがロックピンと重なる状態の図（Ｂ）
【図６】天板２を開く手順を示す図
【図７】天板を閉めるときにも本実施例が作用すること示すよう図
【符号の説明】
【００２３】
１：装置本体
２：天板
２ａ：取手
２ｂ：ピン
３：ピンボード
４：レバー
５：ストッパ
５ａ：係止部
６：係止機構
７：ロックピン
【技術分野】
【０００１】
本発明は、産業機器や家電製品等に用いられる基板（いわゆるＦＴＣ基板）の機能検査や動作確認を行うために用いる基板検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
産業機器や家電製品等に使用される基板を製品に組み込む前に機能検査や動作確認を行う場合、一般には、検査対象となる被検査基板の各種テストポイントに通電検査用のプローブピンを押し当て、プローブピンから通電して検査する方法が用いられる。
【０００３】
このような基板検査装置は、側面に昇降レバーが付いた装置本体を有し、装置本体の上面に天板を備え、天板の下方には、所定の配列パターンに従って複数のプローブピンを設けたピンボードを配置しており、昇降レバーの操作によりピンボードが待機位置と検査位置の間で上下に昇降するようになっている。下方の待機位置にあるピンボードを検査位置まで上昇させると、プローブピンの先端が天板で保持した検査対象の基板のテストポイントに当接する。そこで、装置本体が備える電源や外部電源から通電すると、各プローブピンに対して通電がなされ、基板の通電検査が行われる。
【０００４】
【特許文献１】特開平１１−７２５２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところでこのような構造の基板検査装置では、試験中に作業者が誤って天板を開けてしまい、基板を傷めてしまう危険性があった。
【０００６】
本発明は、このような事故を防止するために、試験中に天板が開かないようにするための、基板検査装置の天板開閉のロック機構と、これを用いた基板検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の基板検査装置のうち請求項１に係るものは、装置本体下部に位置し、プローブピンを備え、検査対象とする基板をセットした状態でレバー等の操作体で上下動させ得るピンボードと、前記装置本体上部に位置し、樹脂製等のピンで前記ピンボード上の前記基板を押さえることで前記プローブピンを前記基板に接触させるために上下方向に回動開閉可能な天板からなり、前記プローブピンを介して通電して前記基板の動作試験行う基板検査装置であって、前記装置本体上面に前記天板の係止機構を備える基板検査装置において、前記ピンボードとともに上昇して前記装置本体上面に突出し、前記天板の一部と係合可能なロック機構を有することを特徴とする。
【０００８】
同請求項２に係るものは、請求項１の基板検査装置において、ロック機構は、前記天板の隅部の形成した上方向に伸びる曲げ部に出入可能なピンを含むことを特徴とする。
【０００９】
同請求項３に係るものは、請求項２の基板検査装置において、前記天板を前記装置本体の先方側へ引いて前記ロック機構から前記天板の隅部を外すことを特徴とする基板検査装置。
【発明の効果】
【００１０】
本発明は、天板を開くために、大きく分けて２つの手順を踏まなければならず、天板が閉まっている状態で単純に天板を持ち上げても天板を開くことができず、装置本体の手前側に引いて、それから持ち上げることで天板を開けるようにしたので、前述のような誤操作をなくせるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態に関して、添付図面を参照して説明する。
【実施例１】
【００１２】
図１は本発明の実施例に係る基板検査装置の外観を示す斜視図で、天板を閉じた状態の図（Ａ）と天板を開けた状態の図（Ｂ）である。
【００１３】
図中１が装置本体、２が天板、３がピンボードである。ピンボード３は、通常は装置本体１の下部に位置し、プローブピン（後出）を備え、検査対象とする基板（後出）をセットした状態で操作体（図示の例ではレバー４）で上下動させ得る。天板２は、装置本体１の上部に上下方向で回動可能に軸支してあり、樹脂製等のピン２ｂでピンボード３上の基板を押さえ、そのことでプローブピンを基板に接触させ得るようになっている。なお、ピンとプローブピンによる基板検査の構造については周知であるので図示及び詳細な説明は省略する。
【００１４】
図２は、図１の装置の要部の拡大断面図であり、図２（Ａ）は天板２が開いていてピンボード３とともに図示しないプローブピンが下降しており、また天板２のストッパ５の係止部５ａが装置本体１の上面に設けた係止機構６（図示の例では丸棒材）から離脱しており、天板２は自由に上昇させてピンボード３上を開放できる状態である。ピンボード３はともに昇降動するロックピン７を備えており、図２（Ａ）の状態では若干装置本体１の上面に突出するだけで、天板２の係止とは無関係の状態となっている。
【００１５】
一方図２（Ｂ）は、天板２を降ろし、ピンボード３が上昇し、それに伴ってプローブピンも上昇し、ピンとプローブピントで基板３をはさみ、プローブピンを介して基板に通電し、基板の動作試験行えるようになっている状態を示す。
【００１６】
このとき、ロックピン７は装置本体１の上面から比較的大きく突出し、天板２のストッパ５と係合している。具体的には、天板２のストッパ５は隅角部が９０度に折り曲げてあり、図２（Ｂ）の状態では装置本体１の後側（図中右側）に位置し、天板２を上方へ回動させようとすると、ストッパ５の隅角部がロックピン７にあたり、上方へは回動できないようになっている。なお天板２は、図２（Ｂ）の状態から若干装置本体１の前側へ移動可能となっている。
【００１７】
なお図３（Ａ）は、天板２が開いており、ピンボード３が下降している状態を示す斜視図である。また図３（Ｂ）は、天板２は開いたままであるが、レバー４の操作によりピンボード３が上昇している状態を示す斜視図である。そして、図３（Ａ）の状態の一部を拡大して図４（Ａ）に示す。図２（Ａ）と同様にロックピン７は装置本体１の上面からはほとんど突出していない。一方、図３（Ｂ）の状態の一部を拡大して示す図４（Ｂ）では、ロックピン７は装置本体１の上面から大きく突出している。
【００１８】
例えば、図４（Ａ）の状態で天板２を降ろしても、天板２のストッパ５はロックピン７とは重ならない（図５（Ａ））が、図４（Ｂ）の状態で天板２を降ろすと、天板２のストッパ５はロックピン７とはしっかりと重なる（図５（Ｂ））。
【００１９】
このような状態から天板２を開く手順を、図６に示す。本手順は、大別して２つある。すなわち、図６（Ａ）の状態では、天板２が閉まっているので、まず図６（Ｂ）のように天板２に設けてある取手２ａを装置本体１の前側、すなわち操作者の手前側に引いて、天板２のストッパ５を係止機構６から外す。図示の例では、天板２のストッパ５の係止部５ａを係止機構６をなす丸棒材から外す。すると、天板２のストッパ５がロックピン７の頂部を乗り越えるので、その状態で天板２の取手２ａを上方へ持ち上げ、天板２を回動させる。すると、図６（Ｃ）に示すように天板２が持ち上げ得るようになり、取手２ａを上に持ち上げれば天板２を開くことができる。これにより、基板の試験中に作業者が誤って天板２を開けてしまい、基板を傷めてしまう危険性がなくなる。
【００２０】
すなわち、ロックピン７と天板２のストッパ５が重なっていると、取手２ａを装置本体１の手前に引くだけでは天板２のロックを外すことができなくなり、天板２の誤操作による開きを防止できる。
【００２１】
なお図７に示すように、この機構が天板２を閉めるときにも作用することは当然である。すなわちピンボード３が上昇している状態で天板２を閉めようとすると、ストッパ５がロックピン７にぶつかり、天板２がそれ以上下りなくなるため、基板やピンボード３上のプローブピンを傷めたりすることがなくなる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の実施例に係る基板検査装置の外観を示す斜視図
【図２】図１の装置の要部の拡大断面図
【図３】天板が開いており、ピンボードが下降している状態を示す斜視図（Ａ）、天板は開いたままで、レバーの操作によりピンボードが上昇している状態を示す斜視図（Ｂ）
【図４】図３（Ａ）の状態の一部を拡大して示す図（Ａ）、図３（Ｂ）の状態の一部を拡大して示す図（Ｂ）
【図５】図４（Ａ）の状態で天板を降ろしても、天板のストッパがロックピンと重ならない状態の図（（Ａ））、図４（Ｂ）の状態で天板を降ろすと、天板のストッパがロックピンと重なる状態の図（Ｂ）
【図６】天板２を開く手順を示す図
【図７】天板を閉めるときにも本実施例が作用すること示すよう図
【符号の説明】
【００２３】
１：装置本体
２：天板
２ａ：取手
２ｂ：ピン
３：ピンボード
４：レバー
５：ストッパ
５ａ：係止部
６：係止機構
７：ロックピン
【特許請求の範囲】
【請求項１】
装置本体下部に位置し、プローブピンを備え、検査対象とする基板をセットした状態でレバー等の操作体で上下動させ得るピンボードと、前記装置本体上部に位置し、上下方向に回動開閉可能で下方回動時に樹脂製等のピンで前記ピンボード上の前記基板を押さえて前記プローブピンを前記基板に接触させる天板からなり、前記プローブピンを介して通電して前記基板の動作試験行う基板検査装置であって、
前記装置本体上面に前記天板の係止機構を備える基板検査装置において、
前記ピンボードとともに上昇して前記装置本体上面に突出し、前記天板の一部と係合可能なロック機構を有することを特徴とする基板検査装置。
【請求項２】
請求項１の基板検査装置において、ロック機構は、前記天板の隅部の形成した上方向に伸びる曲げ部に出入可能なピンを含むことを特徴とする基板検査装置。
【請求項３】
請求項２の基板検査装置において、前記天板を前記装置本体の先方側へ引いて前記ロック機構から前記天板の隅部を外すことを特徴とする基板検査装置。
【請求項１】
装置本体下部に位置し、プローブピンを備え、検査対象とする基板をセットした状態でレバー等の操作体で上下動させ得るピンボードと、前記装置本体上部に位置し、上下方向に回動開閉可能で下方回動時に樹脂製等のピンで前記ピンボード上の前記基板を押さえて前記プローブピンを前記基板に接触させる天板からなり、前記プローブピンを介して通電して前記基板の動作試験行う基板検査装置であって、
前記装置本体上面に前記天板の係止機構を備える基板検査装置において、
前記ピンボードとともに上昇して前記装置本体上面に突出し、前記天板の一部と係合可能なロック機構を有することを特徴とする基板検査装置。
【請求項２】
請求項１の基板検査装置において、ロック機構は、前記天板の隅部の形成した上方向に伸びる曲げ部に出入可能なピンを含むことを特徴とする基板検査装置。
【請求項３】
請求項２の基板検査装置において、前記天板を前記装置本体の先方側へ引いて前記ロック機構から前記天板の隅部を外すことを特徴とする基板検査装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２００８−２２４３７９（Ｐ２００８−２２４３７９Ａ）
【公開日】平成２０年９月２５日（２００８．９．２５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−６２１１４（Ｐ２００７−６２１１４）
【出願日】平成１９年３月１２日（２００７．３．１２）
【出願人】（３９２０３２４４３）株式会社アドテックス (10)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年９月２５日（２００８．９．２５）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年３月１２日（２００７．３．１２）
【出願人】（３９２０３２４４３）株式会社アドテックス (10)
【Ｆターム（参考）】
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