変位測定装置

【課題】建造物の変位を高精度に測定することができる。
【解決手段】構造物に設けられて、構造物の変位を測定する変位測定装置１であって、構造物に取り付けられる支持部２と、支持部２によって水平方向に移動可能に支持される支持体３と、支持体３に設けられたアノトペン（絶対変位算出部）５と、支持部２に設けられた基準板（絶対変位算出部）６とを備える。支持部２には支持体３の移動方向に延びて粘性体３２が収容された溝部３１が形成されていて、支持体３には溝部３１の粘性体３２内に挿入された減衰部材３３が設けられている。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、構造物の変位を測定する変位測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、例えば建物などの構造物の変位を測定する種々の変位測定装置が利用されている。
これら変位測定装置の中には、建物に固定されて建物とともに振動する感震器と、この感震器に連結されたスリット板と、このスリット板を挟んで対向配置された発光部及び受光部とを備えたものが知られている（例えば、特許文献１参照。）。
この変位測定装置は、建物が振動すると、感震器を介してスリット板が振動し、発光部から発せられた光がスリットを介して受光部に到達したり、遮られたりする。受光部は、この断続光を受光すると共に、この受光した光パルスを電気信号に変換して出力する。
そして、一定時間あたりの光パルスから最大振動速度値を求め、変位量を測定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平８−１０１２７８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記のような特許文献１に記載の変位測定装置では、スリット板、発光部及び受光部が建物とともに振動してしまうため、建物の応答速度を精度よく測定できず、その結果、建物の応答変位を精度よく測定することができないという問題がある。
【０００５】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、建造物の変位を高精度に測定することができる変位測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、構造物に設けられて、前記構造物の変位を測定する変位測定装置であって、前記構造物に取り付けられる支持部と、前記支持部によって水平方向に移動可能に支持される支持体と、前記支持体と前記構造物又は前記支持部とに設けられ、前記構造物の前記水平方向の絶対変位を算出する絶対変位算出部とを備え、前記支持部には前記支持体の移動方向に延びて粘性体が収容された溝部が形成されていて、前記支持体には前記溝部の前記粘性体内に挿入された減衰部材が設けられていることを特徴とする。
【０００７】
本発明では、構造物に取り付けられる支持部と、支持部によって水平方向に移動可能に支持される支持体と、支持体と構造物又は支持部とに設けられ、構造物の水平方向の絶対変位を算出する絶対変位算出部とを備えていることにより、構造物に水平方向の振動が生じても、支持体自体を水平方向における所定の固定点にとどめることができ、この所定の固定点を中心として構造物の絶対変位を測定することができる。そして、支持部には支持体の移動方向に延びて粘性体が収容された溝部が形成されていて、支持体には溝部の粘性体内に挿入された減衰部材が設けられていることにより、減衰部材と粘性体との摩擦により支持体の変位速度が減衰されるので、支持体の変位が抑制され確実に支持体を固定点に留めることができる。
【０００８】
また、本発明は、前記支持部が、前記水平方向に延在する支持面と、前記支持面に載置される球状体とを備え、前記支持体が、前記球状体の上に載置されることを特徴とする。
【０００９】
本発明では、支持部が、水平方向に延在する支持面と、支持面に載置される球状体とを備え、支持体が、球状体の上に載置されることにより、変位の測定精度を高めることができる。
【００１０】
また、本発明は、前記支持部に、前記水平方向に延びる溝が形成され、前記支持体に、凹部が形成され、前記溝と前記凹部とが鉛直方向に対向して配置されており、前記球状体が、前記溝と前記凹部との間に配されることを特徴とする。
【００１１】
本発明では、支持部に、水平方向に延びる溝が形成され、支持体に、凹部が形成され、溝と凹部とが鉛直方向に対向して配置されており、球状体が、溝と凹部との間に配されることにより、支持部を支持体に安定的に載置することができると共に、確実に支持体を固定点に留めることができる。
【００１２】
また、本発明は、前記溝及び前記凹部の断面が円状に形成されており、前記断面の曲率が、前記球状体の曲率よりも小さくなっていることを特徴とする。
【００１３】
本発明では、溝及び凹部の断面が円状に形成されており、断面の曲率が、球状体の曲率よりも小さくなっていることにより、溝及び凹部と球状体との間の摩擦を小さくすることができ、支持体を固定点に留めることができる。
【００１４】
また、本発明は、前記支持部の溝が、下方に湾曲していることを特徴とする。
【００１５】
本発明では、支持部の溝が、下方に湾曲していることにより、構造物に振動が生じていない場合に支持体を自重により湾曲している最深部の位置に保持させることができる。そして、この最深部を固定点とすることで、支持体は固定点の位置に保持されることになる。
【００１６】
また、本発明は、前記支持部が、前記構造物に取り付けられる取付支持部と、前記取付支持部に前記水平方向と異なる他の水平方向に移動可能に支持される移動支持部とを備え、前記移動支持部が、前記水平方向に移動可能に前記支持体を支持していて、前記取付支持部には前記移動支持体の移動方向に延びて粘性体が収容された第一の溝部が形成されていて、前記移動支持部には前記第一の溝部の前記粘性体内に挿入された第一の減衰部材が固定されて、前記移動支持部には前記支持体の移動方向に延びて粘性体が収容された第二の溝部が形成されていて、前記支持体には前記第二の溝部の前記粘性体内に挿入された第二の減衰部材が固定されていることを特徴とする。
【００１７】
本発明では、支持部が、構造物に取り付けられる取付支持部と、取付支持部に水平方向と異なる他の水平方向に移動可能に支持される移動支持部とを備え、移動支持部が、水平方向に移動可能に支持体を支持していて、取付支持部には移動支持体の移動方向に延びて粘性体が収容された第一の溝部が形成されていて、移動支持部には第一の溝部の粘性体内に挿入された第一の減衰部材が固定されて、移動支持部には支持体の移動方向に延びて粘性体が収容された第二の溝部が形成されていて、支持体には第二の溝部の粘性体内に挿入された第二の減衰部材が固定されていることにより、一の水平方向および一の水平方向と異なる他の水平方向における固定点に支持体がとどまるので、高精度に構造物の絶対変位を測定することができる。
【００１８】
また、本発明は、前記支持部が、前記構造物の床の下面側に取り付けられることを特徴とする。
【００１９】
本発明では、支持部が、構造物の床の下面側に取り付けられることにより、構造物の居住空間や収納空間などに影響しない位置に支持部を設置することができる。そのため、構造物が複数階の建物である場合には、各階に設置することで測定精度を向上させることができる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、建造物とともに支持部が水平方向に振動しても、支持体は慣性および支持部と粘性体との摩擦による変位の減衰力により水平方向にほとんど変位しないことから、支持体を基準として建造物の変位を高精度に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明に係る変位測定装置の第１の実施形態を示す図であって、建物に設置された様子を示す説明図である。
【図２】図１の変位測定装置を水平方向から見たときの様子を示す断面図である。
【図３】図２のＡ−Ａ’線矢視断面図である。
【図４】図２の長溝が下方に湾曲している様子を示す説明図である。
【図５】本実施形態における支持体が、建物の振動に対して変位しない様子を示す説明図である。
【図６】本実施形態における支持体が、建物の振動に対して変位しない様子を示す説明図である。
【図７】本発明に係る変位測定装置の第２の実施形態を示す平面図である。
【図８】図７のＢ−Ｂ’線矢視断面図である。
【図９】図７のＣ−Ｃ’線矢視断面図である。
【図１０】本実施形態における変位測定装置の変形例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
（実施形態１）
以下、本発明の第１の実施形態における変位測定装置について、図面を参照して説明する。
図１に示すように、変位測定装置１は、建物（構造物）Ｋに取り付けられて、地震や風などによって生じる建物Ｋの絶対変位を測定するものである。
変位測定装置１は、図２及び図３に示すように、角筒状に延びる支持部２と、この支持部２内に配された矩形板状の支持体３とを備えている。
【００２３】
支持部２は、板状に延びる基板部２２と、この基板部２２に一体に設けられた角筒部２３とを備えている。
基板部２２と角筒部２３との長手寸法は等しくなっており、短手寸法は角筒部２３の方が短くなっている。そして、角筒部２３は、基板部２２の短手方向の中央に配置されている。
基板部２２は、建物ＫのスラブＳの下面側に、接着剤や固定ねじなどにより固定されている。すなわち、基板部２２は、水平方向の一方向（水平方向ｈ１）に延ばされている。
基板部２２の下面のうち、基板部２２と角筒部２３との差分領域２２ａには、データの記憶や送受信を行う通信部４が設けられている。
【００２４】
角筒部２３の内周面のうちの下面（支持面）２３ａには、水平方向ｈ１（長手方向）に直線状に延びる一対の長溝２３ｂが形成されている。長溝２３ｂの横断面は、円状に形成されている。
これら一対の長溝２３ｂは、図４に示すように、下方に緩やかに湾曲している。そして、長溝２３ｂの最深部Ｐ２が、角筒部２３の長手方向の中心位置に設定されている。
長溝２３ｂ内には、球状のベアリング（球状体）２４が載置されている。そして、ベアリング２４は、長溝２３ｂ内を水平方向ｈ１に転がるようになっている。また、図２に示すように、長溝２３ｂの曲率は、ベアリング２４の曲率よりも小さくなっており、ベアリング２４が長溝２３ｂ内を転がるときの摩擦が小さくなるようになっている。
ベアリング２４の上には、支持体３が載置されている。
【００２５】
支持体３の下面には、断面円形状の凹部３ａが形成されている。凹部３ａは、支持体３の下面の四つの角部に対応して四つ形成されている。また、支持体３を側面視した場合の凹部３ａの断面は、長溝２３ｂと同形状に形成されており、支持体３がベアリング２４の上に載置された状態で、凹部３ａが長溝２３ｂに鉛直方向ｖに対向配置されるようになっている。すなわち、凹部３ａの開口部と長溝２３ｂの開口部とが、鉛直方向ｖに対向配置されており、これら凹部３ａと長溝２３ｂとの間に、ベアリング２４が配されている。なお、凹部３ａの曲率も、ベアリング２４の曲率よりも小さくなっている。
支持体３の上面には、上方に向けられたアノトペン（変位算出部）５が設けられている。アノトペン５は、アノトパターンのドットを読み取るセンサ（不図示）と、このセンサからの出力により、絶対変位を算出する算出部（不図示）とを備えている。また、角筒部２３の内周面のうちの上面には、アノトパターンが印刷された基準板（絶対変位算出部）６が貼り付けられている。そして、角筒部２３とともに基準板６が水平方向ｈ１に振動すると、アノトペン５が基準板６のドットを読み取り、絶対変位を算出するようになっている。
【００２６】
図２および図４に示すように、支持部２の角筒部２３の下面２３ａには、一対の長溝２３ｂの間に長溝２３ｂの延在方向に延びる溝部３１が形成されている、溝部３１には粘性体３２が収容されている。粘性体３２には、例えば、所定の粘性を有するシリコンオイルなどが採用される。
支持体３の下面には、この下面から突出する板状の減衰部材３３が固定されている。減衰部材３３は、支持体３が支持部２に設置された際に、先端３３ａ側が溝部３１内に挿入され、粘性体３２内に浸るように支持体３に固定されている。支持体３が水平方向ｈ１に移動することにより、減衰部材３３は溝部３１の粘性体３２内を水平方向ｈ１に移動する。
【００２７】
このように、減衰部材３３が粘性体３２内に浸ることにより、減衰部材３３が粘性体３２内を変位するときには減衰部材３３の表面と粘性体３２との間に摩擦力が生じるので、減衰部材３３が固定された支持部３の変位速度が減衰される。
なお、減衰部材３３は板状の部材としているが、水平断面形状が舟形の柱状部材としてもよく、このほかの形状としてもよい。
そして、減衰部材３３の形状や、減衰部材３３と粘性体と３２の接触面積、また粘性体３２の粘度などを調整することで、支持体３の変位速度に対する減衰力を調整する。
【００２８】
また、角筒部２３の内周面のうちの側面には、支持体３の動作を検出する動作検出部７が設けられている。動作検出部７は、例えば機械式スイッチなどからなり、支持部２が支持体３に対して水平方向ｈ１に移動すると、スイッチがオンされて、駆動信号を制御部８に出力する。
制御部８は、動作検出部７と、アノトペン５の不図示の制御部と、通信部４とに接続されている。そして、制御部８は、動作検出部７から出力された駆動信号を受けて、アノトペン５を駆動し、またアノトペン５の検出結果を、通信部４を介して外部機器に出力する。
なお、本実施の形態では制御部８を設けているが、制御部８を設けずに、動作検出部７から出力された駆動信号が直接アノトペン５の不図示の制御部と、通信部４に伝達されるシステムとしてもよい。
【００２９】
次に、このように構成された本実施形態における変位測定装置１の動作について説明する。
地震などにより、建物Ｋに水平方向ｈ１の振動が生じると、スラブＳを介して、支持部２が水平方向ｈ１に振動する。このとき、図５及び図６に示すように、支持体３が、ベアリング２４上に載置されていることから、支持部２が水平方向ｈ１に移動しても、ベアリング２４が転がることにより、支持体３は水平方向ｈ１にほとんど変位しない。特に、長溝２３ｂと凹部３ａの曲率がベアリング２４の曲率よりも小さくなっていることから、長溝２３ｂ及び凹部３ａとベアリング２４との接触面積が微小に抑制され、それら長溝２３ｂ及び凹部３ａとベアリング２４との間の摩擦が極めて小さくなっている。そのため、支持部２が水平方向ｈ１に変異しても、支持体３は、ほとんど変位せず慣性により水平方向ｈ１の一点（固定点Ｐ１）に留まることになる。
【００３０】
更に、支持体３に固定された減衰部材３３は、支持部２の溝部３１に収容された粘性体３２内に挿入されているので、支持体３が変位した際にも粘性体３２との摩擦により粘性体３２内での変位速度が減衰される。そのため、支持体３の変位が抑制される。
【００３１】
このとき、支持部２が支持体３に対して水平方向ｈ１に変位することから、支持体３を介して機械式スイッチがオンされ、動作検出部７から駆動信号が出力される。制御部８は、その駆動信号を読み出すと、アノトペン５を駆動する。アノトペン５は、慣性により固定点Ｐ１に固定されるのに対して、上方の基準板６は支持部２を介して水平方向ｈ１に移動する。そして、アノトペン５は、水平方向ｈ１に移動する基準板６のドットを読み取り、基準板６の変位を建物Ｋの絶対変位として算出する。アノトペン５は、算出結果を絶対変位情報として制御部８に出力し、制御部８は、絶対変位情報と不図示の計時部から出力された時刻情報とを通信部４を介して外部機器に送信する。
【００３２】
また、地震が終わって、建物Ｋの振動が治まった場合、図４に示すように、長溝２３ｂが下方に湾曲していることから、ベアリング２４が自重により最深部Ｐ２に向かって転がる。そして、支持体３の水平方向ｈ１における中心点Ｐ１が最深部Ｐ２と鉛直線上に配された状態で、ベアリング２４が停止する。すなわち、建物Ｋに振動が生じていない場合、支持体３は、常に支持部２の長手方向の中心位置に自重により保持される。
そして、ベアリング２４が自重により最深部Ｐ２に向かって転がり、支持体３が支持部２の長手方向の中心位置に移動する際にも、減衰部材３３が粘性体３２内を移動するので支持体３の移動速度が減衰され、移動する支持体３が慣性により必要以上に移動することが抑制される。
【００３３】
以上より、本実施形態における変位測定装置１によれば、建物Ｋに振動が生じても、支持体３自体を、水平方向ｈ１における固定点Ｐに留めることができることから、固定点Ｐを中心として建物Ｋの絶対変位を高精度に測定することができる。
また、支持体３をベアリング２４に載置するという簡易な構成により、測定精度を向上させることができる。
また、長溝２３ｂ及び凹部３ａが鉛直方向ｖに対向して配置されその間にベアリング２４が配されていることから、簡易な構成により確実に支持体３を固定点Ｐに留めることができる。
また、長溝２３ｂ及び凹部３ａの曲率がベアリング２４の曲率よりも小さくなっていることから、長溝２３ｂ及び凹部３ａとベアリング２４との間の摩擦を小さくすることができ、支持体３を固定点Ｐ１に留めることができる。
また、減衰部材３３が粘性体３２内に挿入されていることから、減衰部材３３と粘性体３２との摩擦により支持体３の変位速度が減衰されるので、支持体３の変位を抑制し支持体３を固定点Ｐ１に留めることができる。
【００３４】
さらに、長溝２３ｂが下方に湾曲していることから、建物Ｋに振動が生じていない場合に、支持体３を自重により最深部Ｐ２の位置に保持させることができる。
また、支持部２がスラブＳの下面に取り付けられるようになっていることから、建物Ｋ内の人間の生活空間や仕事空間などに影響されない位置に支持部２を取り付けることができ、そのため、各階に複数設置することにより、測定精度をさらに向上させることができる。
【００３５】
（実施形態２）
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。
図７から図９は、本発明の第２の実施形態を示したものである。
図７から図９において、図１から図６に記載の構成要素と同一部分については同一符号を付し、その説明を省略する。
この実施形態と上記第１の実施形態とは基本的構成は同一であり、ここでは主として異なる点について説明する。
【００３６】
図７乃至図９に示すように、本実施形態における支持部２Ａは、スラブＳ（図８、図９参照）に取り付けられる取付支持部２５と、この取付支持部２５に支持される移動支持部２６とを備えている。
取付支持部２５は、スラブＳの下方にスラブＳと間隔をあけて配設され、一の水平方向ｈ１に延びる長尺の部材で、その両端部が固定部材２７によってスラブＳに固定されている。取付支持部２５は、上面に長手方向全長にわたって延びる一対の長溝２５ａが形成されている。一対の長溝２５ａ内には、それぞれ２つずつベアリング２４ａが配されている。
取付支持部２５の下面には通信部４が設けられている（図８、９参照）。
【００３７】
移動支持部２６は、一の水平方向ｈ１に直交する他の水平方向ｈ２に延びる長尺の部材で、下面の長手方向中央にはベアリング２４ａに対応する４つの断面円形状の凹部２６ａが形成されている。移動支持部２６は、ベアリング２４ａを介して取付支持部２５の上部に設置されていて、ベアリング２４ａは取付支持部２５の長溝２５ａと移動支持部２６の凹部２６ａとの間に配されている。このような移動支持部２６は取付支持部２５上を水平方向ｈ１に移動可能である。
長溝２５ａおよび凹部２６ａの曲率は、ベアリング２４ａの曲率よりも小さくなっており、ベアリング２４ａが長溝２５ａ内を転がるときの摩擦が小さくなるようになっている。
また、移動支持部２６は、上面に長手方向全長にわたって延びる一対の長溝２６ｂが形成されている。一対の長溝２６ｂ内には、それぞれ２つずつベアリング２４ｂが配されている。
【００３８】
支持体３は、第１の実施の形態と同様に下面に断面円形状の凹部３ａが形成されていて、ベアリング２４ｂを介して移動支持部２６の上部に設置されている。ベアリング２４ｂは移動支持部２６の長溝２６ｂと支持体３の凹部３ａとの間に配されている。このような支持体３は移動支持部２６上を水平方向ｈ２に移動可能である。
長溝２６ｂおよび凹部３ａの曲率は、ベアリング２４ｂの曲率よりも小さくなっており、ベアリング２４ｂが長溝２６ｂ内を転がるときの摩擦が小さくなるようになっている。
支持体３の上面には、上方に向けられたアノトペン（変位算出部）５が設けられていて、アノトペン５がスラブＳの下面に設置された基準板６のドットを読み取り、絶対変位を算出するようになっている。
【００３９】
取付支持部２５の上面には、一対の長溝２５ａの間に長溝２５ａの延在方向に延びる第一の溝部４１が形成されている、第一の溝部４１には粘性体３２が収容されている。そして、移動支持部２６の下面の長手方向および短手方向の中央部には、この下面から突出する板状の第一の減衰部材４２が固定されている。第一の減衰部材４２は、移動支持部２６下面の凹部２６ａに囲まれた位置に固定されている。
第一の減衰部材４２は、移動支持部２６が取付支持部２５上に設置された際に、先端４２ａ側が第一の溝部４１内に挿入され、粘性体３２内に浸るように設置されている。
【００４０】
また、移動支持部２６の上面には、一対の長溝２６ｂの間に長溝２６ｂの延在方向に延びる第二の溝部４３が形成されている、第二の溝部４３には粘性体３２が収容されている。そして、支持体３の下面には、凹部３ａに囲まれる位置にこの下面から突出する第二の減衰部材４４が固定されている。第二の減衰部材４４は、支持体３が移動支持部２６上に設置された際に、先端４４ａ側が第二の溝部４３内に挿入され、粘性体３２内に浸るように設置されている。
【００４１】
このように、第一および第２の減衰部材４１、４３が粘性体３２内に浸ることにより、第一および第２の減衰部材４１、４３が粘性体３２内を変位するときには第一および第２の減衰部材４１、４３の表面と粘性体３２との間に摩擦力が生じるので、第一の減衰部材４１が固定された移動支持部２６および第二の減衰部材４３が固定された支持部３の変位速度が減衰される。
なお、第一および第２の減衰部材４１、４３は板状の部材としているが、水平断面形状が舟形の柱状部材としてもよく、このほかの形状としてもよい。
そして、第一および第２の減衰部材４１、４３の形状や、第一および第２の減衰部材４１、４３と粘性体と３２の接触面積、また粘性体３２の粘度などを調整することで、移動支持部２６および支持体３の変位速度に対する減衰力を調整する。
【００４２】
このような構成のもと、建物Ｋが水平方向ｈ１，ｈ２に振動すると、スラブＳとともに、取付支持部２５が水平方向ｈ１，ｈ２に振動する。このとき、ベアリング２４ａと長溝２５ａおよび凹部２６ａとの間の摩擦が小さくなっていることから、移動支持部２６および支持体３は慣性により水平方向ｈ１にはほとんど変位せず固定点Ｐに固定される。同様に、ベアリング２４ｂと長溝２６ｂ及び凹部３ａとの間の摩擦も小さくなっていることから、支持体３は慣性により水平方向ｈ２にもほとんど変位せず固定点Ｐに固定される。
更に、移動支持部２６に固定された第一の減衰部材４２が第一の溝部４１の粘性体３２内に挿入されているので、粘性体３２と第一の減衰部材４２との摩擦により第一の減衰部材４２の変位が減衰され、移動支持部２５の変位が抑制される。また、支持体３に固定された第二の減衰部材４４が第二の溝部４４の粘性体３２内に挿入されているので、粘性体３２と第二の減衰部材４４との摩擦により第二の減衰部材４４の変位が減衰され、支持体３を固定点Ｐに留めることができる。すなわち、アノトペン５が固定点Ｐに固定された状態で、基準板６が変位する。
これにより、アノトペン５を介して建物Ｋの絶対変位が算出される。
【００４３】
以上より、本実施形態における変位測定装置１Ａによれば、上記第１の実施形態と同様の効果を奏することができるだけでなく、水平方向ｈ１，ｈ２の２方向においてアノトペン５が固定されることから、さらに高精度に建物Ｋの絶対変位を測定することができる。
【００４４】
なお、上記第１及び第２の実施形態においては、変位測定装置１，１ＡがスラブＳの下面に設けられるとしたが、これに限ることはなく、図１０に示すように、スラブＳの上面に設けてもよい。すなわち、支持部２ＡをスラブＳの上面に固定することができる。
【００４５】
また、動作検出部７が機械式スイッチからなるものとしたが、これに限ることはなく、電磁気式スイッチや光学式スイッチなどのように適宜変更可能である。
また、動作検出部７の駆動信号によりアノトペン５を駆動するものとしたが、これに限ることはなく、アノトペン５を常時駆動しておいてもよい。
また、絶対変位算出部としてアノトペン５が設けられるとしたが、これに限ることはなく、例えばバーコードリーダーや光の透過・反射を利用した光学式の読取部、光学式マウスなどであってもよい。
また、必ずしもベアリングおよび各長溝を設ける必要はないが、ベアリングおよび長溝を設けた方が支持体３を安定的に支持できる点で好ましい。
また、必ずしも長溝を湾曲状に形成しなくてもよいが、湾曲状にした方が支持体３の固定位置を一定にすることができる点で好ましい。
また、長溝や凹部の曲率がベアリング２４の曲率よりも小さくなっているものとしたが、これに限ることはなく、曲率を同じにしてもよい。
また、ベアリング２４や長溝、凹部の数は適宜設定してもよい。
また、ベアリング２４を設けずに、ベアリング２４に代わって例えば車輪などを採用してもよい。
なお、本発明の技術範囲は上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変更を加えることが可能である。
【符号の説明】
【００４６】
１，１Ａ変位測定装置
２，２Ａ支持部
３支持体
３ａ凹部
２３ｂ，２６１ａ長溝（溝）
５アノトペン（絶対変位算出部）
６基準板（絶対変位算出部）
２３ａ下面（支持面）
２４ベアリング（球状体）
２５取付支持部
２６移動支持部
３１溝部
３２粘性体
３３減衰部材
４１第一の溝部
４２第一の減衰部材
４３第二の溝部
４４第２の減衰部材
ｈ１，ｈ２水平方向
Ｋ建物（構造物）
ｖ鉛直方向

【特許請求の範囲】
【請求項１】
構造物に設けられて、前記構造物の変位を測定する変位測定装置であって、
前記構造物に取り付けられる支持部と、
前記支持部によって水平方向に移動可能に支持される支持体と、
前記支持体と前記構造物又は前記支持部とに設けられ、前記構造物の前記水平方向の絶対変位を算出する絶対変位算出部とを備え、
前記支持部には前記支持体の移動方向に延びて粘性体が収容された溝部が形成されていて、前記支持体には前記溝部の前記粘性体内に挿入された減衰部材が設けられていることを特徴とする変位測定装置。
【請求項２】
前記支持部が、前記水平方向に延在する支持面と、前記支持面に載置される球状体とを備え、
前記支持体が、前記球状体の上に載置されることを特徴とする請求項１に記載の変位測定装置。
【請求項３】
前記支持部に、前記水平方向に延びる溝が形成され、
前記支持体に、凹部が形成され、
前記溝と前記凹部とが鉛直方向に対向して配置されており、
前記球状体が、前記溝と前記凹部との間に配されることを特徴とする請求項２に記載の変位測定装置。
【請求項４】
前記溝及び前記凹部の断面が円状に形成されており、
前記断面の曲率が、前記球状体の曲率よりも小さくなっていることを特徴とする請求項３に記載の変位測定装置。
【請求項５】
前記支持部の溝が、下方に湾曲していることを特徴とする請求項３又は請求項４に記載の変位測定装置。
【請求項６】
前記支持部が、前記構造物に取り付けられる取付支持部と、前記取付支持部に前記水平方向と異なる他の水平方向に移動可能に支持される移動支持部とを備え、前記移動支持部が、前記水平方向に移動可能に前記支持体を支持していて、前記取付支持部には前記移動支持体の移動方向に延びて粘性体が収容された第一の溝部が形成されていて、前記移動支持部には前記第一の溝部の前記粘性体内に挿入された第一の減衰部材が固定されて、前記移動支持部には前記支持体の移動方向に延びて粘性体が収容された第二の溝部が形成されていて、前記支持体には前記第二の溝部の前記粘性体内に挿入された第二の減衰部材が固定されていることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の変位測定装置。
【請求項７】
前記支持部が、前記構造物の床の下面側に取り付けられることを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の変位測定装置。

【図１】