太陽電池の性能測定装置の製造方法
【課題】放射照度のムラを抑制可能な太陽電池の性能測定装置および性能測定方法、ならびに、太陽電池の性能測定装置の製造方法を提供する。
【解決手段】性能測定装置１００は、矩体１と、２つずつの光源２ａ，２ｂ、集光楕円鏡３ａ，３ｂおよび光学フィルタ４ａ，４ｂと、載置台５とを備えている。載置台５に照射される光の照度ムラが小さくなるよう反射率ｋを調整する。そのため、照度ムラを抑制して、載置台５に載置される太陽電池に均一に擬似太陽光を照射でき、太陽電池の性能測定の精度が向上する。
【解決手段】性能測定装置１００は、矩体１と、２つずつの光源２ａ，２ｂ、集光楕円鏡３ａ，３ｂおよび光学フィルタ４ａ，４ｂと、載置台５とを備えている。載置台５に照射される光の照度ムラが小さくなるよう反射率ｋを調整する。そのため、照度ムラを抑制して、載置台５に載置される太陽電池に均一に擬似太陽光を照射でき、太陽電池の性能測定の精度が向上する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、太陽電池に擬似太陽光を照射して太陽電池の性能を測定する太陽電池の性能測定装置および性能測定方法、ならびに、太陽電池の性能測定装置の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の環境意識の高まりとともに、ますます多くの太陽電池が市場に流通するようになってきている。太陽電池は、電流−電圧特性（ＩＶ特性）の測定結果に基づいて、性能別に分類される。
【０００３】
太陽電池に実際の太陽光を照射してＩＶ特性の測定を行うのは手間であるため、暗室内で擬似太陽光を照射して行うことが多い。例えば特許文献１には、キセノンランプから照射される光を光学フィルタを通過させて擬似太陽光を生成し、装置の底面に配置した反射板で反射させて測定を行う擬似太陽光照射装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２８７８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の擬似太陽光照射装置では、キセノンランプから底面に向けて光を照射するため、キセノンランプの直上が暗くなってしまう。また、光源から直接太陽電池に光を照射した場合は、光源に近い位置ほど明るくなってしまう。このように、従来の手法では、太陽電池に照射される放射照度にムラが生じてしまうという問題がある。
【０００６】
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、放射照度のムラを抑制可能な太陽電池の性能測定装置および性能測定方法、ならびに、太陽電池の性能測定装置の製造方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様によれば、上面の少なくとも一部が開口した矩体と、前記矩体の上面の開口面に設けられ、太陽電池が載置される載置台と、前記矩体の対向する２つの側面のそれぞれに沿って設けられ、前記矩体の底面および側面に向かって光を照射する２つの光源と、を備え、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方で反射して前記載置台に到達する光の放射照度の最大値と最小値との差が、所定値以下、または、最小となるよう、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率が調整されていることを特徴とする太陽電池の性能測定装置が提供される。
【０００８】
また、本発明の一態様によれば、上記太陽電池の性能測定装置の載置台に載置された太陽電池に、前記光源からの光が照射された状態で、前記太陽電池の性能を測定するステップを備えることを特徴とする太陽電池の性能測定方法が提供される。
【０００９】
また、本発明の一態様によれば、上面の少なくとも一部が開口した矩体の、対向する２つの側面のそれぞれに沿って、前記矩体の底面および側面に向かって光が照射されるよう２つの光源を配置する工程と、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方で反射して、前記矩体の上面の開口面に設けられ太陽電池が載置される載置台に到達する光の放射照度の最大値と最小値との差が、所定値以下、または、最小となるよう、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率を調整する工程と、を備えることを特徴とする太陽電池の性能測定装置の製造方法が提供される。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、矩体の反射率を調整するため、放射照度のムラを抑制できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る太陽電池の性能測定装置１００の上面図。
【図２】図１のＡＡ’断面図。
【図３】性能測定装置１００の短手方向の断面（図２のＡＡ’断面）を模式的に示す図。
【図４】正規化された放射照度Ｐ（ｘ）を示すグラフ。
【図５】性能測定装置１００の長手方向の光源２ａを含む断面（図２のＢＢ’断面）を模式的に示す図。
【図６】正規化された放射照度Ｑ（ｙ）を示すグラフ。
【図７】反射率ｋと照度ムラとの関係を示すグラフ。
【図８】ｋ＝０およびｋ＝０．６５の場合の正規化された放射照度Ｑ（ｙ）を示すグラフ。
【図９】本発明の第２の実施形態に係る太陽電池の性能測定装置１０１の断面図。
【図１０】調整用ステージ６の上面図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明に係る実施形態について、図面を参照しながら具体的に説明する。
【００１３】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係る太陽電池の性能測定装置（以下、単に性能測定装置という）１００の上面図である。また、図２は、図１のＡＡ’断面図である。性能測定装置１００は、矩体１と、２つずつの光源２ａ，２ｂ、集光楕円鏡（反射部）３ａ，３ｂおよび光学フィルタ４ａ，４ｂと、載置台５とを備えている。図１に示すように、以下では矩体の短手方向に沿う方向をｘ軸、長手方向に沿う方向をｙ軸と定義する。
【００１４】
矩体１は、上面の少なくとも一部が開口した直方体形状で、例えばアルミニウム製のケースであり、底面１１、長手方向の側面１２ａ，１２ｂおよび短手方向の側面１３ａ，１３ｂとから構成される。長手方向および短手方向の長さはそれぞれ、例えば２，０００ｍｍ，１，２００〜１，６００ｍｍである。底面１１および側面１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂは反射材で構成される。
【００１５】
光源２ａ，２ｂは、矩体１の長手方向に沿って、側面１２ａ，１２ｂのそれぞれの上の角に設置される。集光楕円鏡３ａ，３ｂは光源２ａ，２ｂをそれぞれ上から覆うように設置される。集光楕円鏡３ａ，３ｂの断面形状は、底面１１の中央付近に向かって開口した楕円であり、光源２ａ，２ｂから集光楕円鏡３ａ，３ｂへそれぞれ照射された光を、開口面から底面１１方向へ反射させる。光源２ａ，２ｂおよび集光楕円鏡３ａ，３ｂはそれぞれ、例えば側面１２ａ，１２ｂに固定された保持部材（不図示）により保持される。光学フィルタ４ａ，４ｂは集光楕円鏡３ａ，３ｂの開口面、すなわち、光源２ａ，２ｂの前方に対向してそれぞれ配置される。
【００１６】
載置台５は、ガラスやアクリル等、透明な光透過性の部材で構成され、矩体１の上面の開口面に配置される。載置台５の上に太陽電池１０が載置される。なお、ここでの太陽電池１０は太陽電池モジュールを想定しているが、太陽電池モジュールより小さい単位の太陽電池セル等であってもよく、これらを総称して太陽電池１０と呼んでいる。太陽電池セルは、例えばシリコン基板にフィンガー電極およびバスバー電極が形成されたものである。太陽電池モジュールは複数の太陽電池セルを接続したものである。
【００１７】
光源２ａ，２ｂから照射された光は、それぞれ、直接または集光楕円鏡３ａ，３ｂに反射されて、光学フィルタ４ａ，４ｂを透過する。これにより、スペクトルが太陽光と類似した擬似太陽光が生成される。擬似太陽光は矩体１の底面１１や側面１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂで反射し、最終的には載置台５に到達する。これにより、擬似太陽光が太陽電池１０に照射される。この擬似太陽光を用いて、太陽電池１０の種々の性能（例えば、ＩＶ特性、起電流およびショート抵抗等）が測定される。
【００１８】
本実施形態の特徴の１つは、底面１１および側面１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂの反射率を調整することで、太陽電池１０に照射される放射照度を均一にする点にある。以下、この点について説明する。
【００１９】
まず、矩体１の短手方向の放射照度について説明する。
【００２０】
図３は、性能測定装置１００の短手方向の断面（図２のＡＡ’断面）を模式的に示す図である。光源２ａ，２ｂと矩体１の上面との距離をａ１とし、光源２ａ，２ｂと底面１１との距離をａ２とする。また、光源２ａ，２ｂと側面１２ａ，１２ｂとの距離をｂ１とし、光源２ａ，２ｂ間の、太陽電池１０を載置可能な距離をｂ２とする。同図を用いて、光源２ａの位置を原点とする短手方向の位置ｘにおける載置台５上の放射照度Ｐ（ｘ）を算出する。
【００２１】
なお、ここでは断面上の光源２ａ，２ｂから照射され、底面１１で反射して位置ｘに到達する光のみを考える。側面１３ａ，１３ｂで反射されて載置台５に到達する光、断面上にない光源２ａ，２ｂから照射される光については、長手方向の位置ｙにおける放射照度Ｑ（ｙ）を算出する際（後に詳述）に考慮する。また、底面１１の反射率を１とする。また、集光楕円鏡３ａ，３ｂで反射する光もあるが、集光楕円鏡３ａ，３ｂは矩体１と比べると小さいので、光源２ａ，２ｂから直接照射されたものとして扱う。
【００２２】
放射照度は、一般に、光源の位置から照射される位置までの光路長の２乗に反比例する。よって、光源２ａ，２ｂから位置ｘまでの光路長をそれぞれＬａ（ｘ），Ｌｂ（ｘ）とすると、放射照度Ｐ（ｘ）（単位は任意）は下記（１）式で表される。
【数１】
【００２３】
距離Ｌａ（ｘ）は、光源２ａから底面１１での反射点までの距離ｐと、底面１１での反射点から載置台５の位置ｘまでの距離ｑとの和である。ここで、光源２ａは底面１１に対して対称の位置２ａ’から位置ｘに光を照射したと考えることができる。よって、距離Ｌａ（ｘ）は下記（２）式で表される。
【数２】
【００２４】
同様に、距離Ｌｂ（ｘ）は下記（３）式で表される。
【数３】
【００２５】
図４は、正規化された放射照度Ｐ（ｘ）を示すグラフである。同図では、上記（１）〜（３）式において、ａ１＝１００ｍｍ，ａ２＝５５０ｍｍ，ｂ２＝１４００ｍｍとしている。グラフの横軸は位置ｘである。縦軸は、ｘ＝０〜１４００における放射照度Ｐ（ｘ）の最小値をＰｍｉｎとすると、（Ｐ（ｘ）−Ｐｍｉｎ）／（Ｐ（ｘ）＋Ｐｍｉｎ）であり、最小値を０に正規化したものである。図示のように、短手方向では暗い部分と明るい部分との放射照度Ｐ（ｘ）の差（以下、照度ムラと呼ぶ）は３．５％未満であり、ほとんど均一である。
【００２６】
次に、矩体１の長手方向の放射照度について説明する。
【００２７】
図５は、性能測定装置１００の長手方向の光源２ａを含む断面（図２のＢＢ’断面）を模式的に示す図である。矩体１の長手方向の長さをｃとし、光源２ａ，２ｂは側面１３ａから１３ｂに渡って配置されるものとする。同図を用いて、側面１３ａを原点とする長手方向の位置ｙにおける載置台５上の放射照度Ｑ（ｙ）を算出する。
【００２８】
光源２ａ，２ｂを、その一端から他端すなわち側面１３ａから１３ｂに配置される数多くの点光源と考える。すると、放射照度Ｑ（ｙ）は、位置ｍ上の点光源３ｍから照射されて載置台５に到達する光を、ｍ＝０〜ｃの範囲で積分したものと考えられる。
【００２９】
載置台５に到達する光の放射照度は、主に、点光源３ｍから照射され底面１１で反射して載置台５の位置ｙに到達する光（図５の実線）の放射照度Ｑ１（ｙ）、点光源３ｍから照射され側面１３ａで反射し、さらに、底面１１で反射して載置台５の位置ｙに到達する光（同一点鎖線）の放射照度Ｑ２（ｙ）、点光源３ｍから照射され側面１３ｂで反射し、さらに、底面１１で反射して載置台５の位置ｙに到達する光（同二点鎖線）の放射照度Ｑ３（ｙ）の和である。他にも複数回の反射を繰り返して載置台５に到達する光もあるが、光路長が長くなるほど放射照度は弱くなるので、無視する。
【００３０】
放射照度Ｑ１（ｙ）は、図３の短手方向と同様に、点光源３ｍからの光は底面１１に対して対象の位置３ｍ’から照射されると考えて、下記（４）式で表される。
【数４】
【００３１】
放射照度Ｑ２（ｙ）は、点光源３ｍから側面１３ａでの反射点までの距離ｒと、側面１３ａでの反射点から底面１１での反射点までの距離ｓと、底面１１での反射点から載置台５の位置ｙまでの距離ｔとの和の２乗に反比例する。ここで、点光源３ｍは、側面１３ａおよび底面１１に対して対称の位置、すなわち、側面１３ａと底面１１とが交わる点に対して対象の位置３ｍ’’から、位置ｙに光を照射したと考えることができる。よって、放射照度Ｑ２（ｙ）は下記（５）式で表される。
【数５】
【００３２】
ｃ１はｃより小さい所定の定数である。理想的には、−∞から積分し、側面１３ｂに近い点光源や、側面１３ｂおよび底面１１で反射した後に側面１３ａに到達する光を考慮するのが望ましい。しかしながら、光路長が長くなるほど放射照度は弱くなるので、側面１３ａの近傍のみを考慮して、−ｃ１から０の範囲で積分しても、それほど誤差は生じない。
【００３３】
また、ｋは、側面１３ａの反射率である。図５において、反射率ｋの影響を受けるのは、距離ｓ，ｔのみであるが、上述のように、側面１３ａの近傍のみを考慮する場合、距離ｒに比べて距離（ｓ＋ｔ）の方が長くなるので、上記（５）式のように、（ｒ＋ｓ＋ｔ）全体に反射率を乗じても、それほど誤差は生じない。
【００３４】
同様に、放射照度Ｑ３（ｙ）は下記（６）式で表される。
【数６】
【００３５】
ｃ２はｃより小さい所定の定数である。以上をまとめると、放射照度Ｑ（ｙ）（＝Ｑ１（ｙ）＋Ｑ２（ｙ）＋Ｑ３（ｙ））は下記（７）式で表される。
【数７】
【００３６】
図６は、正規化された放射照度Ｑ（ｙ）を示すグラフである。同図では、上記（７）式において、ａ１＝１００ｍｍ，ａ２＝５５０ｍｍ，ｃ＝２０００ｍｍ，ｃ１＝１０００，ｃ２＝３０００としている。また、ｋ＝０／０．３／０．４８／０．６５／０．８２／１の６種類とし、それぞれに対応して符号ｇ１〜ｇ６を付している。グラフの横軸は位置ｙである。縦軸は、ｙ＝０〜２０００における放射照度Ｑ（ｙ）の最小値をＱｍｉｎとすると、（Ｑ（ｘ）−Ｑｍｉｎ）／（Ｑ（ｘ）＋Ｑｍｉｎ）であり、最小値を０に正規化したものである。
【００３７】
また、図７は、反射率ｋと照度ムラとの関係を示すグラフである。
【００３８】
図６のグラフｇ１に示すように、反射率ｋ＝０すなわち側面１３ａ，１３ｂで全く反射しないと仮定した場合の放射照度Ｑ（ｙ）である。この場合の照度ムラは約１５％である。一方、グラフｇ６に示すように、反射率ｋ＝１すなわち底面１１と側面１３ａ，１３ｂの反射率を等しくすると、照度ムラは約４．５％である。これに対し、図６に示した他の４点（ｋ＝０．３／０．４８／０．６５／０．８２）の中では、反射率ｋ＝０．６５が最も照度ムラが小さく、２％以下に抑えることができる。よって、側面１３ａ，１３ｂの反射率ｋが０．６５になるよう調整すればよい。
【００３９】
図８は、ｋ＝０およびｋ＝０．６５の場合の正規化された放射照度Ｑ（ｙ）を示すグラフである。グラフの横軸は位置ｙである。縦軸は、ｋ＝０の場合の放射照度Ｑ（ｙ）の最小値を用いて正規化した値である。図示のように、反射率ｋ＝０の場合に比べ、反射率ｋ＝０．６５では、放射照度が１０〜２５％程度向上する。このように、側面１３ａ，１３ｂを反射材で構成することで、光源２ａ，２ｂから照射された光を効率よく利用できる。
【００４０】
本実施形態では、短手方向の放射照度Ｐ（ｘ）については、照度ムラが小さいため、長手方向の放射照度Ｑ（ｙ）のみを考慮して、照度ムラが小さくなるよう反射率ｋを調整する例を示した。より厳密には、位置（ｘ，ｙ）の放射照度をＲ（ｘ，ｙ）とすると、Ｒ（ｘ，ｙ）＝Ｐ（ｘ）＊Ｑ（ｙ）であるため、放射照度Ｒ（ｘ，ｙ）について、照度ムラが小さくなるよう反射率ｋを調整してもよい。
【００４１】
また、図６および図７では、６つの反射率ｋについて放射照度Ｑ（ｙ）を算出し、その中で照度ムラが最小となる反射率を選択したが、より細かく放射照度Ｑ（ｙ）を算出して、照度ムラが最小となる反射率を選択してもよい。また、目標となる照度ムラを設定し、目標を満たす任意の反射率を選択してもよい。
【００４２】
さらに、本実施形態では底面１１の反射率を１（基準）として側面１３ａ，１３ｂの反射率ｋを調整したが、底面１１の反射率を調整してもよいし、底面１１および側面１３ａ，１３ｂの両方の反射率を調整してもよい。
【００４３】
反射率の調整は、例えば側面１３ａ，１３ｂを適切に加工することで実現される。例えば、アルミニウムで鏡面加工することにより９０％近い反射率を実現できる。また、表面をエッチングして曇らせる等により、反射率を低減することができる。
【００４４】
実際に図１の性能測定装置１００製造するためには、まず２つの光源２を配置し、矩体１の大きさや矩体１内での光源２の位置等に応じて、照度ムラが低減されるよう側面１３ａ，１３ｂの反射率ｋを調整すればよい。
【００４５】
このように、第１の実施形態では、放射照度が光源からの光路長の２乗に反比例することを利用し、載置台５に照射される光の照度ムラが小さくなるよう反射率ｋを調整する。そのため、照射ムラを抑制して、載置台５に載置される太陽電池１０に均一に擬似太陽光を照射でき、太陽電池の性能測定の精度が向上する。
【００４６】
（第２の実施形態）
反射率ｋを調整したとしても、製造の都合上、側面１３ａ，１３ｂわずかに歪んだり斜めになったりして、側面１３ａ，１３ｂの反射率が部分的に高くなったり低くなったりすることもある。また、底面１１の反射率も必ずしも一定であるとは限らない。その場合、載置台５に到達する光の放射照度にムラが生じてしまうこともある。そこで、第２の実施形態は、さらに調整用ステージを設けるものである。
【００４７】
図９は、本発明の第２の実施形態に係る太陽電池の性能測定装置１０１の断面図である。性能測定装置１０１は、さらに調整用ステージ６を備えている。調整用ステージ６は、載置台５の下面、すなわち、太陽電池１０が載置される面とは反対側の面に対向して設けられる。調整用ステージ６は、例えば載置台５に固定された保持部材（不図示）により保持される。
【００４８】
図１０は、調整用ステージ６の上面図である。調整用ステージ６は、樹脂等の透明な材料で成形された、格子状の枠で構成される。そして、格子にはフィルタ７を嵌合できる。フィルタ７の大きさは、格子１つに対応する大きさでもよいし、複数の格子に対応する大きさでもよい。フィルタ７は、例えば遮光フィルタである。
【００４９】
載置台５の放射照度に応じてフィルタ７を嵌合する。より具体的には、放射照度がわずかに他より高い位置に対向して遮光率が低いフィルタ７を配置し、放射照度が他より高い位置に対向して遮光率が高いフィルタ７あるいは複数枚のフィルタ７を配置する。これにより、照度ムラをさらに抑制できる。第１の実施形態で説明した反射率の調整により載置台５の放射照度はほぼ均一になっているが、本実施形態の調整用ステージ６およびフィルタ７により、さらに細かく、局所的に、放射照度を調整できる。
【００５０】
このように、第２の実施形態では、フィルタ７を嵌合可能な調整用ステージ６を設けるため、さらに、放射照度のムラを抑制できる。
【００５１】
上記の記載に基づいて、当業者であれば、本発明の追加の効果や種々の変形を想到できるかもしれないが、本発明の態様は、上述した個々の実施形態には限定されるものではない。特許請求の範囲に規定された内容およびその均等物から導き出される本発明の概念的な思想と趣旨を逸脱しない範囲で種々の追加、変更および部分的削除が可能である。
【符号の説明】
【００５２】
１ 矩体
１１ 底面
１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂ 側面
２ａ，２ｂ 光源
３ａ，３ｂ 集光楕円鏡
４ａ，４ｂ 光学フィルタ
５ 載置台
６ 調整用ステージ
７ フィルタ
１０ 太陽電池
１００，１０１ 太陽電池の性能測定装置
【技術分野】
【０００１】
本発明は、太陽電池に擬似太陽光を照射して太陽電池の性能を測定する太陽電池の性能測定装置および性能測定方法、ならびに、太陽電池の性能測定装置の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の環境意識の高まりとともに、ますます多くの太陽電池が市場に流通するようになってきている。太陽電池は、電流−電圧特性（ＩＶ特性）の測定結果に基づいて、性能別に分類される。
【０００３】
太陽電池に実際の太陽光を照射してＩＶ特性の測定を行うのは手間であるため、暗室内で擬似太陽光を照射して行うことが多い。例えば特許文献１には、キセノンランプから照射される光を光学フィルタを通過させて擬似太陽光を生成し、装置の底面に配置した反射板で反射させて測定を行う擬似太陽光照射装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２８７８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の擬似太陽光照射装置では、キセノンランプから底面に向けて光を照射するため、キセノンランプの直上が暗くなってしまう。また、光源から直接太陽電池に光を照射した場合は、光源に近い位置ほど明るくなってしまう。このように、従来の手法では、太陽電池に照射される放射照度にムラが生じてしまうという問題がある。
【０００６】
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、放射照度のムラを抑制可能な太陽電池の性能測定装置および性能測定方法、ならびに、太陽電池の性能測定装置の製造方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様によれば、上面の少なくとも一部が開口した矩体と、前記矩体の上面の開口面に設けられ、太陽電池が載置される載置台と、前記矩体の対向する２つの側面のそれぞれに沿って設けられ、前記矩体の底面および側面に向かって光を照射する２つの光源と、を備え、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方で反射して前記載置台に到達する光の放射照度の最大値と最小値との差が、所定値以下、または、最小となるよう、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率が調整されていることを特徴とする太陽電池の性能測定装置が提供される。
【０００８】
また、本発明の一態様によれば、上記太陽電池の性能測定装置の載置台に載置された太陽電池に、前記光源からの光が照射された状態で、前記太陽電池の性能を測定するステップを備えることを特徴とする太陽電池の性能測定方法が提供される。
【０００９】
また、本発明の一態様によれば、上面の少なくとも一部が開口した矩体の、対向する２つの側面のそれぞれに沿って、前記矩体の底面および側面に向かって光が照射されるよう２つの光源を配置する工程と、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方で反射して、前記矩体の上面の開口面に設けられ太陽電池が載置される載置台に到達する光の放射照度の最大値と最小値との差が、所定値以下、または、最小となるよう、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率を調整する工程と、を備えることを特徴とする太陽電池の性能測定装置の製造方法が提供される。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、矩体の反射率を調整するため、放射照度のムラを抑制できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る太陽電池の性能測定装置１００の上面図。
【図２】図１のＡＡ’断面図。
【図３】性能測定装置１００の短手方向の断面（図２のＡＡ’断面）を模式的に示す図。
【図４】正規化された放射照度Ｐ（ｘ）を示すグラフ。
【図５】性能測定装置１００の長手方向の光源２ａを含む断面（図２のＢＢ’断面）を模式的に示す図。
【図６】正規化された放射照度Ｑ（ｙ）を示すグラフ。
【図７】反射率ｋと照度ムラとの関係を示すグラフ。
【図８】ｋ＝０およびｋ＝０．６５の場合の正規化された放射照度Ｑ（ｙ）を示すグラフ。
【図９】本発明の第２の実施形態に係る太陽電池の性能測定装置１０１の断面図。
【図１０】調整用ステージ６の上面図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明に係る実施形態について、図面を参照しながら具体的に説明する。
【００１３】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係る太陽電池の性能測定装置（以下、単に性能測定装置という）１００の上面図である。また、図２は、図１のＡＡ’断面図である。性能測定装置１００は、矩体１と、２つずつの光源２ａ，２ｂ、集光楕円鏡（反射部）３ａ，３ｂおよび光学フィルタ４ａ，４ｂと、載置台５とを備えている。図１に示すように、以下では矩体の短手方向に沿う方向をｘ軸、長手方向に沿う方向をｙ軸と定義する。
【００１４】
矩体１は、上面の少なくとも一部が開口した直方体形状で、例えばアルミニウム製のケースであり、底面１１、長手方向の側面１２ａ，１２ｂおよび短手方向の側面１３ａ，１３ｂとから構成される。長手方向および短手方向の長さはそれぞれ、例えば２，０００ｍｍ，１，２００〜１，６００ｍｍである。底面１１および側面１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂは反射材で構成される。
【００１５】
光源２ａ，２ｂは、矩体１の長手方向に沿って、側面１２ａ，１２ｂのそれぞれの上の角に設置される。集光楕円鏡３ａ，３ｂは光源２ａ，２ｂをそれぞれ上から覆うように設置される。集光楕円鏡３ａ，３ｂの断面形状は、底面１１の中央付近に向かって開口した楕円であり、光源２ａ，２ｂから集光楕円鏡３ａ，３ｂへそれぞれ照射された光を、開口面から底面１１方向へ反射させる。光源２ａ，２ｂおよび集光楕円鏡３ａ，３ｂはそれぞれ、例えば側面１２ａ，１２ｂに固定された保持部材（不図示）により保持される。光学フィルタ４ａ，４ｂは集光楕円鏡３ａ，３ｂの開口面、すなわち、光源２ａ，２ｂの前方に対向してそれぞれ配置される。
【００１６】
載置台５は、ガラスやアクリル等、透明な光透過性の部材で構成され、矩体１の上面の開口面に配置される。載置台５の上に太陽電池１０が載置される。なお、ここでの太陽電池１０は太陽電池モジュールを想定しているが、太陽電池モジュールより小さい単位の太陽電池セル等であってもよく、これらを総称して太陽電池１０と呼んでいる。太陽電池セルは、例えばシリコン基板にフィンガー電極およびバスバー電極が形成されたものである。太陽電池モジュールは複数の太陽電池セルを接続したものである。
【００１７】
光源２ａ，２ｂから照射された光は、それぞれ、直接または集光楕円鏡３ａ，３ｂに反射されて、光学フィルタ４ａ，４ｂを透過する。これにより、スペクトルが太陽光と類似した擬似太陽光が生成される。擬似太陽光は矩体１の底面１１や側面１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂで反射し、最終的には載置台５に到達する。これにより、擬似太陽光が太陽電池１０に照射される。この擬似太陽光を用いて、太陽電池１０の種々の性能（例えば、ＩＶ特性、起電流およびショート抵抗等）が測定される。
【００１８】
本実施形態の特徴の１つは、底面１１および側面１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂの反射率を調整することで、太陽電池１０に照射される放射照度を均一にする点にある。以下、この点について説明する。
【００１９】
まず、矩体１の短手方向の放射照度について説明する。
【００２０】
図３は、性能測定装置１００の短手方向の断面（図２のＡＡ’断面）を模式的に示す図である。光源２ａ，２ｂと矩体１の上面との距離をａ１とし、光源２ａ，２ｂと底面１１との距離をａ２とする。また、光源２ａ，２ｂと側面１２ａ，１２ｂとの距離をｂ１とし、光源２ａ，２ｂ間の、太陽電池１０を載置可能な距離をｂ２とする。同図を用いて、光源２ａの位置を原点とする短手方向の位置ｘにおける載置台５上の放射照度Ｐ（ｘ）を算出する。
【００２１】
なお、ここでは断面上の光源２ａ，２ｂから照射され、底面１１で反射して位置ｘに到達する光のみを考える。側面１３ａ，１３ｂで反射されて載置台５に到達する光、断面上にない光源２ａ，２ｂから照射される光については、長手方向の位置ｙにおける放射照度Ｑ（ｙ）を算出する際（後に詳述）に考慮する。また、底面１１の反射率を１とする。また、集光楕円鏡３ａ，３ｂで反射する光もあるが、集光楕円鏡３ａ，３ｂは矩体１と比べると小さいので、光源２ａ，２ｂから直接照射されたものとして扱う。
【００２２】
放射照度は、一般に、光源の位置から照射される位置までの光路長の２乗に反比例する。よって、光源２ａ，２ｂから位置ｘまでの光路長をそれぞれＬａ（ｘ），Ｌｂ（ｘ）とすると、放射照度Ｐ（ｘ）（単位は任意）は下記（１）式で表される。
【数１】
【００２３】
距離Ｌａ（ｘ）は、光源２ａから底面１１での反射点までの距離ｐと、底面１１での反射点から載置台５の位置ｘまでの距離ｑとの和である。ここで、光源２ａは底面１１に対して対称の位置２ａ’から位置ｘに光を照射したと考えることができる。よって、距離Ｌａ（ｘ）は下記（２）式で表される。
【数２】
【００２４】
同様に、距離Ｌｂ（ｘ）は下記（３）式で表される。
【数３】
【００２５】
図４は、正規化された放射照度Ｐ（ｘ）を示すグラフである。同図では、上記（１）〜（３）式において、ａ１＝１００ｍｍ，ａ２＝５５０ｍｍ，ｂ２＝１４００ｍｍとしている。グラフの横軸は位置ｘである。縦軸は、ｘ＝０〜１４００における放射照度Ｐ（ｘ）の最小値をＰｍｉｎとすると、（Ｐ（ｘ）−Ｐｍｉｎ）／（Ｐ（ｘ）＋Ｐｍｉｎ）であり、最小値を０に正規化したものである。図示のように、短手方向では暗い部分と明るい部分との放射照度Ｐ（ｘ）の差（以下、照度ムラと呼ぶ）は３．５％未満であり、ほとんど均一である。
【００２６】
次に、矩体１の長手方向の放射照度について説明する。
【００２７】
図５は、性能測定装置１００の長手方向の光源２ａを含む断面（図２のＢＢ’断面）を模式的に示す図である。矩体１の長手方向の長さをｃとし、光源２ａ，２ｂは側面１３ａから１３ｂに渡って配置されるものとする。同図を用いて、側面１３ａを原点とする長手方向の位置ｙにおける載置台５上の放射照度Ｑ（ｙ）を算出する。
【００２８】
光源２ａ，２ｂを、その一端から他端すなわち側面１３ａから１３ｂに配置される数多くの点光源と考える。すると、放射照度Ｑ（ｙ）は、位置ｍ上の点光源３ｍから照射されて載置台５に到達する光を、ｍ＝０〜ｃの範囲で積分したものと考えられる。
【００２９】
載置台５に到達する光の放射照度は、主に、点光源３ｍから照射され底面１１で反射して載置台５の位置ｙに到達する光（図５の実線）の放射照度Ｑ１（ｙ）、点光源３ｍから照射され側面１３ａで反射し、さらに、底面１１で反射して載置台５の位置ｙに到達する光（同一点鎖線）の放射照度Ｑ２（ｙ）、点光源３ｍから照射され側面１３ｂで反射し、さらに、底面１１で反射して載置台５の位置ｙに到達する光（同二点鎖線）の放射照度Ｑ３（ｙ）の和である。他にも複数回の反射を繰り返して載置台５に到達する光もあるが、光路長が長くなるほど放射照度は弱くなるので、無視する。
【００３０】
放射照度Ｑ１（ｙ）は、図３の短手方向と同様に、点光源３ｍからの光は底面１１に対して対象の位置３ｍ’から照射されると考えて、下記（４）式で表される。
【数４】
【００３１】
放射照度Ｑ２（ｙ）は、点光源３ｍから側面１３ａでの反射点までの距離ｒと、側面１３ａでの反射点から底面１１での反射点までの距離ｓと、底面１１での反射点から載置台５の位置ｙまでの距離ｔとの和の２乗に反比例する。ここで、点光源３ｍは、側面１３ａおよび底面１１に対して対称の位置、すなわち、側面１３ａと底面１１とが交わる点に対して対象の位置３ｍ’’から、位置ｙに光を照射したと考えることができる。よって、放射照度Ｑ２（ｙ）は下記（５）式で表される。
【数５】
【００３２】
ｃ１はｃより小さい所定の定数である。理想的には、−∞から積分し、側面１３ｂに近い点光源や、側面１３ｂおよび底面１１で反射した後に側面１３ａに到達する光を考慮するのが望ましい。しかしながら、光路長が長くなるほど放射照度は弱くなるので、側面１３ａの近傍のみを考慮して、−ｃ１から０の範囲で積分しても、それほど誤差は生じない。
【００３３】
また、ｋは、側面１３ａの反射率である。図５において、反射率ｋの影響を受けるのは、距離ｓ，ｔのみであるが、上述のように、側面１３ａの近傍のみを考慮する場合、距離ｒに比べて距離（ｓ＋ｔ）の方が長くなるので、上記（５）式のように、（ｒ＋ｓ＋ｔ）全体に反射率を乗じても、それほど誤差は生じない。
【００３４】
同様に、放射照度Ｑ３（ｙ）は下記（６）式で表される。
【数６】
【００３５】
ｃ２はｃより小さい所定の定数である。以上をまとめると、放射照度Ｑ（ｙ）（＝Ｑ１（ｙ）＋Ｑ２（ｙ）＋Ｑ３（ｙ））は下記（７）式で表される。
【数７】
【００３６】
図６は、正規化された放射照度Ｑ（ｙ）を示すグラフである。同図では、上記（７）式において、ａ１＝１００ｍｍ，ａ２＝５５０ｍｍ，ｃ＝２０００ｍｍ，ｃ１＝１０００，ｃ２＝３０００としている。また、ｋ＝０／０．３／０．４８／０．６５／０．８２／１の６種類とし、それぞれに対応して符号ｇ１〜ｇ６を付している。グラフの横軸は位置ｙである。縦軸は、ｙ＝０〜２０００における放射照度Ｑ（ｙ）の最小値をＱｍｉｎとすると、（Ｑ（ｘ）−Ｑｍｉｎ）／（Ｑ（ｘ）＋Ｑｍｉｎ）であり、最小値を０に正規化したものである。
【００３７】
また、図７は、反射率ｋと照度ムラとの関係を示すグラフである。
【００３８】
図６のグラフｇ１に示すように、反射率ｋ＝０すなわち側面１３ａ，１３ｂで全く反射しないと仮定した場合の放射照度Ｑ（ｙ）である。この場合の照度ムラは約１５％である。一方、グラフｇ６に示すように、反射率ｋ＝１すなわち底面１１と側面１３ａ，１３ｂの反射率を等しくすると、照度ムラは約４．５％である。これに対し、図６に示した他の４点（ｋ＝０．３／０．４８／０．６５／０．８２）の中では、反射率ｋ＝０．６５が最も照度ムラが小さく、２％以下に抑えることができる。よって、側面１３ａ，１３ｂの反射率ｋが０．６５になるよう調整すればよい。
【００３９】
図８は、ｋ＝０およびｋ＝０．６５の場合の正規化された放射照度Ｑ（ｙ）を示すグラフである。グラフの横軸は位置ｙである。縦軸は、ｋ＝０の場合の放射照度Ｑ（ｙ）の最小値を用いて正規化した値である。図示のように、反射率ｋ＝０の場合に比べ、反射率ｋ＝０．６５では、放射照度が１０〜２５％程度向上する。このように、側面１３ａ，１３ｂを反射材で構成することで、光源２ａ，２ｂから照射された光を効率よく利用できる。
【００４０】
本実施形態では、短手方向の放射照度Ｐ（ｘ）については、照度ムラが小さいため、長手方向の放射照度Ｑ（ｙ）のみを考慮して、照度ムラが小さくなるよう反射率ｋを調整する例を示した。より厳密には、位置（ｘ，ｙ）の放射照度をＲ（ｘ，ｙ）とすると、Ｒ（ｘ，ｙ）＝Ｐ（ｘ）＊Ｑ（ｙ）であるため、放射照度Ｒ（ｘ，ｙ）について、照度ムラが小さくなるよう反射率ｋを調整してもよい。
【００４１】
また、図６および図７では、６つの反射率ｋについて放射照度Ｑ（ｙ）を算出し、その中で照度ムラが最小となる反射率を選択したが、より細かく放射照度Ｑ（ｙ）を算出して、照度ムラが最小となる反射率を選択してもよい。また、目標となる照度ムラを設定し、目標を満たす任意の反射率を選択してもよい。
【００４２】
さらに、本実施形態では底面１１の反射率を１（基準）として側面１３ａ，１３ｂの反射率ｋを調整したが、底面１１の反射率を調整してもよいし、底面１１および側面１３ａ，１３ｂの両方の反射率を調整してもよい。
【００４３】
反射率の調整は、例えば側面１３ａ，１３ｂを適切に加工することで実現される。例えば、アルミニウムで鏡面加工することにより９０％近い反射率を実現できる。また、表面をエッチングして曇らせる等により、反射率を低減することができる。
【００４４】
実際に図１の性能測定装置１００製造するためには、まず２つの光源２を配置し、矩体１の大きさや矩体１内での光源２の位置等に応じて、照度ムラが低減されるよう側面１３ａ，１３ｂの反射率ｋを調整すればよい。
【００４５】
このように、第１の実施形態では、放射照度が光源からの光路長の２乗に反比例することを利用し、載置台５に照射される光の照度ムラが小さくなるよう反射率ｋを調整する。そのため、照射ムラを抑制して、載置台５に載置される太陽電池１０に均一に擬似太陽光を照射でき、太陽電池の性能測定の精度が向上する。
【００４６】
（第２の実施形態）
反射率ｋを調整したとしても、製造の都合上、側面１３ａ，１３ｂわずかに歪んだり斜めになったりして、側面１３ａ，１３ｂの反射率が部分的に高くなったり低くなったりすることもある。また、底面１１の反射率も必ずしも一定であるとは限らない。その場合、載置台５に到達する光の放射照度にムラが生じてしまうこともある。そこで、第２の実施形態は、さらに調整用ステージを設けるものである。
【００４７】
図９は、本発明の第２の実施形態に係る太陽電池の性能測定装置１０１の断面図である。性能測定装置１０１は、さらに調整用ステージ６を備えている。調整用ステージ６は、載置台５の下面、すなわち、太陽電池１０が載置される面とは反対側の面に対向して設けられる。調整用ステージ６は、例えば載置台５に固定された保持部材（不図示）により保持される。
【００４８】
図１０は、調整用ステージ６の上面図である。調整用ステージ６は、樹脂等の透明な材料で成形された、格子状の枠で構成される。そして、格子にはフィルタ７を嵌合できる。フィルタ７の大きさは、格子１つに対応する大きさでもよいし、複数の格子に対応する大きさでもよい。フィルタ７は、例えば遮光フィルタである。
【００４９】
載置台５の放射照度に応じてフィルタ７を嵌合する。より具体的には、放射照度がわずかに他より高い位置に対向して遮光率が低いフィルタ７を配置し、放射照度が他より高い位置に対向して遮光率が高いフィルタ７あるいは複数枚のフィルタ７を配置する。これにより、照度ムラをさらに抑制できる。第１の実施形態で説明した反射率の調整により載置台５の放射照度はほぼ均一になっているが、本実施形態の調整用ステージ６およびフィルタ７により、さらに細かく、局所的に、放射照度を調整できる。
【００５０】
このように、第２の実施形態では、フィルタ７を嵌合可能な調整用ステージ６を設けるため、さらに、放射照度のムラを抑制できる。
【００５１】
上記の記載に基づいて、当業者であれば、本発明の追加の効果や種々の変形を想到できるかもしれないが、本発明の態様は、上述した個々の実施形態には限定されるものではない。特許請求の範囲に規定された内容およびその均等物から導き出される本発明の概念的な思想と趣旨を逸脱しない範囲で種々の追加、変更および部分的削除が可能である。
【符号の説明】
【００５２】
１ 矩体
１１ 底面
１２ａ，１２ｂ，１３ａ，１３ｂ 側面
２ａ，２ｂ 光源
３ａ，３ｂ 集光楕円鏡
４ａ，４ｂ 光学フィルタ
５ 載置台
６ 調整用ステージ
７ フィルタ
１０ 太陽電池
１００，１０１ 太陽電池の性能測定装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
上面の少なくとも一部が開口した矩体と、
前記矩体の上面の開口面に設けられ、太陽電池が載置される載置台と、
前記矩体の対向する２つの側面のそれぞれに沿って設けられ、前記矩体の底面および側面に向かって光を照射する２つの光源と、を備え、
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方で反射して前記載置台に到達する光の放射照度の最大値と最小値との差が、所定値以下、または、最小となるよう、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率が調整されていることを特徴とする太陽電池の性能測定装置。
【請求項２】
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率は、前記矩体の大きさおよび前記矩体内での前記光源の位置に応じて、調整されていることを特徴とする請求項１に記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項３】
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率は、光の放射照度が光源から照射位置までの光路長の２乗に反比例することに基づいて、調整されていることを特徴とする請求項１または２に記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項４】
前記底面の反射率は前記側面の反射率と異なることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項５】
前記載置台の、太陽電池が載置される面とは反対側の面に対向して配置される、放射照度を調整するためのフィルタを嵌合可能な調整ステージを備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項６】
前記光源が、前記矩体の底面および側面とは異なる方向に照射した光を、前記底面に向かって反射させる反射部を備えることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項７】
前記光源と対向して配置される、擬似太陽光を生成するための光学フィルタを備えることを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置の載置台に載置された太陽電池に、前記光源からの光が照射された状態で、前記太陽電池の性能を測定するステップを備えることを特徴とする太陽電池の性能測定方法。
【請求項９】
上面の少なくとも一部が開口した矩体の、対向する２つの側面のそれぞれに沿って、前記矩体の底面および側面に向かって光が照射されるよう２つの光源を配置する工程と、
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方で反射して、前記矩体の上面の開口面に設けられ太陽電池が載置される載置台に到達する光の放射照度の最大値と最小値との差が、所定値以下、または、最小となるよう、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率を調整する工程と、を備えることを特徴とする太陽電池の性能測定装置の製造方法。
【請求項１０】
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率を調整する工程では、前記矩体の大きさおよび前記矩体内での前記光源の位置に応じて、前記反射率を調整することを特徴とする請求項９に記載の太陽電池の性能測定装置の製造方法。
【請求項１】
上面の少なくとも一部が開口した矩体と、
前記矩体の上面の開口面に設けられ、太陽電池が載置される載置台と、
前記矩体の対向する２つの側面のそれぞれに沿って設けられ、前記矩体の底面および側面に向かって光を照射する２つの光源と、を備え、
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方で反射して前記載置台に到達する光の放射照度の最大値と最小値との差が、所定値以下、または、最小となるよう、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率が調整されていることを特徴とする太陽電池の性能測定装置。
【請求項２】
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率は、前記矩体の大きさおよび前記矩体内での前記光源の位置に応じて、調整されていることを特徴とする請求項１に記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項３】
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率は、光の放射照度が光源から照射位置までの光路長の２乗に反比例することに基づいて、調整されていることを特徴とする請求項１または２に記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項４】
前記底面の反射率は前記側面の反射率と異なることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項５】
前記載置台の、太陽電池が載置される面とは反対側の面に対向して配置される、放射照度を調整するためのフィルタを嵌合可能な調整ステージを備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項６】
前記光源が、前記矩体の底面および側面とは異なる方向に照射した光を、前記底面に向かって反射させる反射部を備えることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項７】
前記光源と対向して配置される、擬似太陽光を生成するための光学フィルタを備えることを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれかに記載の太陽電池の性能測定装置の載置台に載置された太陽電池に、前記光源からの光が照射された状態で、前記太陽電池の性能を測定するステップを備えることを特徴とする太陽電池の性能測定方法。
【請求項９】
上面の少なくとも一部が開口した矩体の、対向する２つの側面のそれぞれに沿って、前記矩体の底面および側面に向かって光が照射されるよう２つの光源を配置する工程と、
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方で反射して、前記矩体の上面の開口面に設けられ太陽電池が載置される載置台に到達する光の放射照度の最大値と最小値との差が、所定値以下、または、最小となるよう、前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率を調整する工程と、を備えることを特徴とする太陽電池の性能測定装置の製造方法。
【請求項１０】
前記矩体の底面および側面の少なくとも一方の反射率を調整する工程では、前記矩体の大きさおよび前記矩体内での前記光源の位置に応じて、前記反射率を調整することを特徴とする請求項９に記載の太陽電池の性能測定装置の製造方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【公開番号】特開２０１３−１０９９５４（Ｐ２０１３−１０９９５４Ａ）
【公開日】平成２５年６月６日（２０１３．６．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２５４０４０（Ｐ２０１１−２５４０４０）
【出願日】平成２３年１１月２１日（２０１１．１１．２１）
【特許番号】特許第５１２８７００号（Ｐ５１２８７００）
【特許公報発行日】平成２５年１月２３日（２０１３．１．２３）
【出願人】（５９５０１３４２７）株式会社エヌ・ピー・シー (54)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年６月６日（２０１３．６．６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１１月２１日（２０１１．１１．２１）
【特許番号】特許第５１２８７００号（Ｐ５１２８７００）
【特許公報発行日】平成２５年１月２３日（２０１３．１．２３）
【出願人】（５９５０１３４２７）株式会社エヌ・ピー・シー (54)
【Ｆターム（参考）】
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