寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラム
【課題】コンデンサを有する電子機器の寿命をより正確に算出する。
【解決手段】コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第１寿命算出部と、前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第２寿命算出部と、を備える。
【解決手段】コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第１寿命算出部と、前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第２寿命算出部と、を備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
インバータ等の電子機器には、その主回路や制御回路にコンデンサが使用されている。コンデンサは、他の部品に比べて熱に弱く、電子機器の構成部品の中では通常寿命が最も短い。そのため、コンデンサについて推定した寿命により、電子機器の寿命を推定することが行われている。
【０００３】
コンデンサの寿命は、コンデンサの電気的特性の経時的変化と周囲温度との関係を示すアレニウスの法則（式１）を用いて推定することができる。
ここで、L：コンデンサの推定寿命［時間］、L0：コンデンサの基準寿命［時間］、Tmax：コンデンサの最高使用温度［℃］、T：コンデンサの周囲温度［℃］である。なお、基準寿命L0、および最高使用温度Tmaxは、コンデンサの特性値としてコンデンサの製造メーカによって公表されている。
【０００４】
アレニウスの法則を用いてコンデンサの寿命（余寿命）を推定する技術は、例えば特許文献１に記載されている。
特許文献１には、まず初期時点において、標準的な使用条件で想定される電解コンデンサの温度t0における総余寿命をアレニウスの法則に基づいて計算しておき、その後、所定時間毎に、経過時間とその間の平均温度txとを考慮して、前記温度t0における余寿命に逐次換算し、この換算した余寿命と前記総余寿命と初期時点からの経過時間とに基づいて、ある時点における実使用時（電解コンデンサを備えた電子機器の実使用時）の余寿命を計算することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第３８５０３１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に記載されている技術は、初期時点における電解コンデンサの総余寿命が時間経過とともに直線的に減少する特性を前提としている。そして温度や負荷等の使用条件が変化した場合には、スイッチや外部信号によって上記特性をリセットし、その傾きを変更するようになっている。
しかしながら、コンデンサの温度は電子機器の動作状態や気温等により様々に変化するのが通常である。これまでの技術では、このようなコンデンサの温度変化が正確に反映されておらず、電子機器の寿命が正確に算出されているとは必ずしも言えない。
【０００７】
本発明はこのような課題を鑑みてなされたものであり、コンデンサを有する電子機器の寿命をより正確に算出することが可能な寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラムを提供することを一つの目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第１寿命算出部と、前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第２寿命算出部と、を備える。
【０００９】
その他、本願が開示する課題、及びその解決方法は、発明を実施するための形態の欄の記載、及び図面の記載等により明らかにされる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、コンデンサを有する電子機器の寿命をより正確に算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】コンデンサ余寿命診断システムの全体構成例を示す図である。
【図２】コンデンサ余寿命診断システムのハードウェア構成例を示す図である。
【図３】コンデンサ余寿命診断システムの記憶装置を示す図である。
【図４】温度変化データベースを示す図である。
【図５】温度分布データベースを示す図である。
【図６】温度補正データベースを示す図である。
【図７】コンデンサデータベースを示す図である。
【図８】コンデンサ余寿命診断システムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図９】最寄地点温度テーブルを示す図である。
【図１０】電子機器温度テーブルを示す図である。
【図１１】コンデンサ温度テーブルを示す図である。
【図１２】温度分布データベースをグラフ表示した図である。
【図１３】動作状態記憶テーブルを示す図である。
【図１４】動作状態記憶テーブルを示す図である。
【図１５】コンデンサ温度テーブルを示す図である。
【図１６】コンデンサ余寿命診断システムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１７】温度別滞在時間テーブルを示す図である。
【図１８】温度別滞在時間テーブルを示す図である。
【図１９】温度別滞在時間テーブルを示す図である。
【図２０】温度別滞在時間テーブルを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
＝＝コンデンサ余寿命診断システムの概要＝＝
本発明の実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム（寿命推定装置）１０００の概要について、図１を参照しながら説明する。
本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、インバータ等の各種電子機器が有するコンデンサの寿命を算出することで、電子機器の寿命を推定する装置である。また本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、算出したコンデンサの寿命と、電子機器が設置された時期と、により、電子機器内のコンデンサの交換推奨時期を算出し、出力することもできる。
【００１３】
図１に示すように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度変化算出部６００、周囲温度変化算出部６１０、装置稼動状態作成部６２０、稼動考慮周囲温度変化算出部６３０、寿命予測算出部６４０、交換推奨時期算出部６５０、温度変化データベース（ＤＢ）５００、温度分布データベース（ＤＢ）５１０、温度補正データベース（ＤＢ）５２０、コンデンサデータベース（ＤＢ）５３０を備えて構成される。
【００１４】
＝＝コンデンサ余寿命診断システムの構成＝＝
次に、コンデンサ余寿命診断システム１０００の構成について、適宜図面を参照しながら説明する。
コンデンサ余寿命診断システム１０００は、図２に例示するように、ＣＰＵ１００、メモリ１１０、記憶装置１２０、通信装置１３０、入力装置１４０、出力装置１５０、記録媒体読取装置１６０を備えるコンピュータにより実現することができる。
【００１５】
ＣＰＵ１００は、コンデンサ余寿命診断システム１０００の全体の制御を司るもので、記憶装置１２０に記憶されたコンデンサ余寿命診断システム制御プログラム４００（図３）をメモリ１１０に読み出して実行し、メモリ１１０や通信装置１３０、入力装置１４０、出力装置１５０、記憶装置１２０等のハードウェア機器と協働することにより、コンデンサ余寿命診断システム１０００としての各種機能を実現する。
【００１６】
記録媒体読取装置１６０は、記録媒体２００に記録されている各種プログラムやデータの読み取りや書き込みを行うための装置である。読み取られたプログラムやデータはメモリ１１０や記憶装置１２０に格納される。
【００１７】
記録媒体２００としては磁気ディスクや光ディスク、磁気テープ、半導体メモリ等を用いることができる。記録媒体２００には、例えばコンデンサ余寿命診断システム制御プログラム４００を記録しておくことができる。
【００１８】
入力装置１４０は、オペレータ等によるコンデンサ余寿命診断システム１０００へのデータ入力等のために用いられる装置であり、ユーザインタフェースとして機能する。入力装置１４０としては例えばキーボードやマウス等を用いることができる。
【００１９】
出力装置１５０は、情報を外部に出力するための装置でありユーザインタフェースとして機能する。出力装置１５０としては例えばディスプレイやプリンタ等を用いることができる。
【００２０】
通信装置１３０は通信を行うための装置である。コンデンサ余寿命診断システム１０００はネットワーク３００を介して他のコンピュータと通信を行い、例えば、ネットワーク３００を介して他のコンピュータからコンデンサ余寿命診断システム制御プログラム４００を受信して、記憶装置１２０に格納するようにすることもできる。
【００２１】
記憶装置１２０は、例えばハードディスク装置や半導体記憶装置である。図３に示すように、記憶装置１２０にはコンデンサ余寿命診断システム制御プログラム４００、温度変化データベース５００、温度分布データベース５１０、温度補正データベース５２０、コンデンサデータベース５３０が記憶されている。
【００２２】
＜温度変化データベース＞
温度変化ＤＢ５００には、図４に示すように、１月１日から１２月３１日までの１年間に各地点において計測された１時間毎の気温データが、日時を示す情報と対応付けて時系列に記憶されている。図４に示す例では、Ａ地点、Ｂ地点、Ｃ地点の１年間の１時間毎の気温が例示されている。
【００２３】
＜温度分布データベース＞
温度分布ＤＢ（温度対応テーブル）５１０には、図５に示すように、電子機器の盤内温度（電子機器における温度）と、電子機器が上記温度である場合に計測されたコンデンサの温度と、が対応付けて記憶されている。
図５に例示する温度分布ＤＢでは、２つの電子機器（型式・シリアル番号がＸＸＸＸＸＸ０で特定される電子機器と、型式・シリアル番号がＹＹＹＹＹＹ０で特定される電子機器）について、盤内温度とコンデンサの実測温度との関係が記憶されている。
【００２４】
また、一つの電子機器内に複数のコンデンサが使用されている場合には、それぞれのコンデンサで実測された温度が、電子機器の盤内温度と対応付けて記憶されている。
なお、電子機器の盤内温度が同じでも、電子機器の負荷の程度に応じてコンデンサの温度は変動する。そのため、本実施形態に係る温度分布ＤＢ５１０は、電子機器を所定負荷（例えば５０％）で動作させたときの盤内温度とコンデンサの温度との関係を記憶している。電子機器の負荷によるコンデンサの温度の変動分は、以下に記載する温度補正データベース５２０により補正する。
【００２５】
＜温度補正データベース＞
温度補正ＤＢ５２０には、図６に示すように、電子機器の負荷が上記所定負荷（５０％）である場合を基準にして、電子機器の負荷が０％から１００％まで変化した場合におけるコンデンサの温度の変化量が記憶されている。
【００２６】
＜コンデンサデータベース＞
コンデンサＤＢ５３０には、図７に示すように、電子機器が有する各コンデンサの各種特性値が記憶されている。図７には、各コンデンサの基準寿命L0と、コンデンサの基準温度（最高使用温度）Tmaxと、が例示されている。
【００２７】
＜温度変化算出部＞
温度変化算出部６００は、入力装置１４０から、電子機器が設置される最寄地点を示す情報の入力を受け付けると、温度変化ＤＢ５００から最寄地点における１年間の気温データを読み出す。例えば図４に示すＡ地点が最寄地点として指定された場合には、温度変化算出部６００は、Ａ地点の年間気温データを温度変化ＤＢ５００から読み出す。そして温度変化算出部６００は、読み出した気温データを最寄地点温度テーブル７００としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。最寄地点温度テーブル７００の例を図９に示す。
【００２８】
また温度変化算出部６００は、入力装置１４０から、温度測定値、診断年月、及び診断日時を示す情報の入力を受け付ける。温度測定値は、電子機器における温度（盤内温度）の計測値であり、診断年月及び診断日時は、電子機器の上記温度が計測された年月日及び時刻を示す。
【００２９】
そうすると温度変化算出部６００は、最寄地点温度テーブル７００に記憶されている最寄地点における１年間の気温データから上記診断日時における気温データを抽出し、この気温データを上記温度測定値から減算し、差分を求める。
【００３０】
そして、温度変化算出部６００は、上記最寄地点温度テーブル７００に記憶されている最寄地点の１年間のそれぞれの気温データに対して、この減算値をそれぞれ加算する。このようにして得られる温度データは、電子機器の１年間に亘る盤内温度であると推定できる。
【００３１】
温度変化算出部６００は、これらの１年分の温度データをそれぞれ日時情報と対応付けて、電子機器温度テーブル７１０としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。電子機器温度テーブル７１０の例を図１０に示す。
【００３２】
電子機器温度テーブル７１０に記憶されている各温度データは、１月１日の０時から１２月３１日の２３時までに亘り、電子機器の盤内温度を１時間毎に１年間に亘り計測した場合に得られると推定される温度データに相当する。
【００３３】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、最寄地点の気温データを利用して電子機器の盤内温度を得るようにしているので、１時間毎の盤内温度を１年間にも亘って実測することなく、これらの温度を取得することが可能となる。
【００３４】
＜周囲温度変化算出部＞
周囲温度変化算出部６１０は、温度分布ＤＢ５１０を参照し、上記電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の１年間の１時間毎の各盤内温度を、それぞれコンデンサの温度に変換し、コンデンサ温度テーブル７２０としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。
【００３５】
具体的には、周囲温度変化算出部６１０は、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の各盤内温度について、それぞれの盤内温度に対応するコンデンサの温度を温度分布ＤＢ５１０から抽出し、抽出した温度に変換する。コンデンサ温度テーブル７２０の例を図１１に示す。
【００３６】
その際、周囲温度変化算出部６１０は、入力装置１４０から入力された電子機器の装置型式及びシリアル番号により、温度分布ＤＢ５１０に記憶されている電子機器を特定するようにする。
【００３７】
なお、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている盤内温度に一致する盤内温度が温度分布ＤＢ５１０中に記載されていない場合には、コンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度分布ＤＢ５１０に記載されている盤内温度を線形補完することにより、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている盤内温度に対応するコンデンサの温度を求める。
【００３８】
また、電子機器に複数のコンデンサが含まれる場合には、周囲温度変化算出部６１０は、その電子機器に含まれる全てのコンデンサについて、それぞれコンデンサ温度テーブル７２０を生成する。
【００３９】
また周囲温度変化算出部６１０は、入力装置１４０から負荷率を示すデータを取得すると、負荷率に対応するコンデンサの温度の変化量を、温度補正データベース５２０から読み出し、この変化量を、上記コンデンサ温度テーブル７２０に記憶されているコンデンサのそれぞれの温度データに加算する。
【００４０】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度分布ＤＢ５１０に記憶されている電子機器の盤内温度とコンデンサの温度との関係を示すデータを予め作成しておき、このデータを利用してコンデンサの温度を得るようにしているので、１時間毎のコンデンサの温度を１年間にも亘って実測することなく、これらの温度を取得することが可能となる。
【００４１】
さらに本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、負荷率に応じて変動するコンデンサの温度の変動量を予め測定しておき、この変動量を利用して、コンデンサの温度を負荷率に応じて補正するようにしているので、より正確なコンデンサの温度を取得することが可能となる。
【００４２】
＜装置稼動状態作成部＞
装置稼動状態作成部６２０は、入力装置１４０から、電子機器の装置稼動状態を示す情報を取得し、動作状態記憶テーブル７４０を生成する。動作状態記憶テーブル７４０を図１３及び図１４に示す。
装置稼動状態を示す情報には、１日のうち電子機器が動作中である期間を示す情報、例えば１日のうち電子機器が動作を開始する時刻と動作を終了する時刻が記載されている。
【００４３】
そして動作状態記憶テーブル７４０には、上記装置稼動状態に対応して生成される、電子機器が動作中である期間を示す情報が記憶されている。
例えば、動作状態記憶テーブル７４０は、午前０時から２４時までの１時間毎に、電子機器が動作中であるか、動作中でないかを示す情報を記憶している。図１３は、電子機器が毎日午前８時から午後９時までの間動作する場合の動作状態記憶テーブル７４０を示し、図１４は、電子機器が毎日２４時間連続して動作する場合の動作状態記憶テーブル７４０を示す。
【００４４】
＜稼動考慮周囲温度変化算出部＞
稼動考慮周囲温度変化算出部６３０は、温度変化算出部６００が生成した電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の１年間分の盤内温度データのうち、電子機器が動作中の期間に対応する盤内温度データを、コンデンサ温度テーブル７２０に記載されているコンデンサの各温度データに変換する。
【００４５】
電子機器が動作中である期間は、コンデンサの温度は、コンデンサの発熱により、コンデンサ温度テーブル７２０に記載されている温度になると推定されるが、電子機器が動作中でない期間は、コンデンサは発熱しないため、コンデンサの温度は電子機器の盤内温度と等しい温度になると推定されるためである。
【００４６】
稼動考慮周囲温度変化算出部６３０は、電子機器が動作中か動作中でないかの情報を、動作状態記憶テーブル７４０を参照することにより取得することができる。
【００４７】
なお、上記と同じことであるが、稼動考慮周囲温度変化算出部６３０は、周囲温度変化算出部６１０が生成したコンデンサ温度テーブル７２０に記憶されている１年間分のコンデンサの温度データのうち、電子機器が動作中ではない期間に対応するコンデンサの温度データを、電子機器温度テーブル７１０に記載されている電子機器の盤内温度データに変換する、としてもよい。
【００４８】
稼動考慮周囲温度変化算出部６３０は、電子機器が動作中か動作中でないかを温度データに反映させたコンデンサ温度テーブル７２０を、メモリ１１０や記憶装置１２０に記憶する。その様子を図１５に示す。
【００４９】
図１５に示した例は、図１３に示したように、電子機器が毎日午前８時から午後９時までの間のみ動作する場合を示したものであり、電子機器が動作中の期間は、コンデンサ温度テーブル７２０に記載されている温度データが記載され、電子機器が動作中でない期間は、電子機器温度テーブル７１０に記載されている盤内温度データが記載されている。
【００５０】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器の稼動状態も加味してコンデンサの温度を得るようにしているので、より正確にコンデンサの温度を取得することが可能となる。
【００５１】
＜寿命予測算出部＞
寿命予測算出部６４０は、上記コンデンサ温度テーブル７２０に１月１日から１２月３１日まで時系列に記載されているコンデンサの各温度データを、温度別に並べ替える。その際寿命予測算出部６４０は、並べ替えた温度毎に、コンデンサがその温度であった合計時間Ｄを求め、各温度の温度データと対応付けて記憶する。
コンデンサ温度テーブル７２０には温度データが１時間毎に記憶されているので、各温度の温度データの数（頻度）が、コンデンサがその温度であった合計時間Ｄに相当する。
【００５２】
そして寿命予測算出部６４０は、温度毎の合計時間Ｄを温度別滞在時間テーブル７３０としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。温度別滞在時間テーブル７３０を図１７に示す。温度別滞在時間テーブル７３０の滞在時間Ｄ欄の合計は８７６０時間となる。
【００５３】
次に寿命予測算出部６４０は、温度別滞在時間テーブル７３０に記載されている温度毎に、コンデンサの寿命Ｊを（式１）を用いて算出する。
その際、寿命予測算出部６４０はコンデンサＤＢ５３０を参照し、コンデンサの寿命を算出するために必要な特性値（基準寿命及び基準温度）を読み出す。寿命予測算出部６４０が、各温度についてコンデンサの寿命Ｊを算出した結果を図１８に示す。
【００５４】
次に寿命予測算出部６４０は、各温度について上記算出したコンデンサの寿命Ｊの逆数（１／Ｊ）と、各温度の合計時間（滞在時間）Ｄとの積を温度毎に求める。この積は、それぞれ、各温度においてコンデンサの劣化がどの程度進むか、つまりコンデンサの劣化の度合いＲを表す。各温度についてコンデンサの劣化の度合いＲを算出した様子を図１９に示す。
【００５５】
そして寿命予測算出部６４０は、各温度におけるコンデンサの劣化の度合いＲの合計値を算出する。この合計値は、１年間にコンデンサが総じてどの程度劣化するか、つまり１年間のコンデンサの劣化の度合い（劣化度）を表す。
【００５６】
そして寿命予測算出部６４０は、この劣化度の逆数を電子機器の寿命として算出する。寿命予測算出部６４０が電子機器の寿命を算出した様子を図２０に示す。図２０に示す例では、電子機器の寿命は５．３６年と算出される。
【００５７】
なお、電子機器に複数のコンデンサが含まれる場合には、それぞれのコンデンサに対してそれぞれ生成された温度別滞在時間テーブル７３０に基づいて、それぞれ電子機器の寿命を算出し、それらの寿命を元に例えば最小値や平均値を電子機器の寿命として算出するようにする。
【００５８】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器内のコンデンサの温度変化を考慮し、各温度でのコンデンサの劣化度合いを総合的に加味した上で、電子機器の寿命を算出するようにしているので、より正確に電子機器の寿命を算出することが可能となる。
【００５９】
＜交換推奨時期算出部＞
交換推奨時期算出部６５０は、入力装置１４０から、電子機器が設置された時期を示す情報を受け付けると、上記算出した電子機器の寿命と、電子機器の設置時期と、に基づいて、電子機器が有するコンデンサの交換推奨時期を算出する。
例えば、電子機器の設置時期が２００８年１月であり、電子機器の寿命が５年と算出された場合には、交換推奨時期算出部６５０は、コンデンサの交換推奨時期を２０１３年１月と算出する。
【００６０】
そして交換推奨時期算出部６５０は、このコンデンサの交換推奨時期を示すメッセージを出力装置１５０に出力する。
なお交換推奨時期算出部６５０は、電子機器の寿命に所定の係数を掛けて、コンデンサの交換推奨時期を算出するようにしてもよい。例えば係数を０．８とした場合には、交換推奨時期算出部６５０は、電子機器の設置時期が２００８年１月であり、電子機器の寿命が５年と算出された場合には、コンデンサの交換推奨時期を２０１２年１月と算出する。
【００６１】
あるいは交換推奨時期算出部６５０は、診断年月（現在日時）を示す情報も取得し、現在からコンデンサ交換推奨時期までの期間を算出するようにしても良い。
例えば、電子機器の設置時期が２００８年１月であり、診断年月が２０１１年１月であり、電子機器の寿命が５年と算出された場合には、交換推奨時期算出部６５０は、コンデンサの交換推奨期間を２０１１年１月から２年以内と算出する。
【００６２】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器内のコンデンサの交換推奨時期を算出し、交換時期を示すメッセージを出力するようにしているので、電子機器内のコンデンサが破損する前に、交換を行うことが可能となる。
【００６３】
＝＝コンデンサ余寿命診断システムの処理の流れ＝＝
次に、コンデンサ余寿命診断システム１０００の処理の流れについて、適宜図面を参照しながら説明する。コンデンサ余寿命診断システム１０００の処理の流れを示すフローチャートを図８及び図１６に示す。
【００６４】
図１６のフローチャートは、図８のフローチャートにおけるＳ８の処理をより詳細に記載したものである。
まずコンデンサ余寿命診断システム１０００は、入力装置１４０から各種データの入力を受け付ける（S1）。
入力装置１４０から受け付けるデータは、例えば、図１に示した、「装置稼動状態」、「負荷率」、「装置型式」、「シリアルＮＯ」、「温度測定値」、「診断年月」、「診断日時」、「最寄地点」、「設置年月」である。
【００６５】
「装置稼動状態」は、電子機器の毎日の動作開始時刻と動作終了時刻とを含む情報である。毎日午前８時に動作を開始し、午後９時に動作を終了する場合には、「稼動開始時刻：８：００稼動終了時刻：２１：００」のように入力する。毎日２４時間動作する場合には、「稼動開始時刻：０：００稼動終了時刻：０：００」のように入力する。また、電子機器が一日中稼動している場合以外では、動作開始時刻が動作終了時刻よりも小さくなるように指定する。
【００６６】
「負荷率」は電子機器の負荷率を示す情報である。負荷率は、所定の基準に基づいて定まる値であり、０％から１００％のいずれかの値を取る。
「装置型式」及び「シリアルＮＯ」は、電子機器を特定するための情報である。
「温度測定値」は、電子機器の盤内温度の実測値である。
「診断年月」及び「診断日時」は、電子機器の盤内温度を測定した年月日及び時刻を示す。
「最寄地点」は、電子機器が設置される場所や建物、地域に最も近い場所を示す情報を表す。「最寄地点」を入力する際は、事前に定められた複数の候補地点の中から選ぶようにしてもよい。
「設置年月」は、電子機器がはじめて動作を開始した年月を示す。電子機器の寿命の起点となる情報である。
【００６７】
次にコンデンサ余寿命診断システム１０００は、最寄地点の温度データを温度変化ＤＢ５００から読み込み、読み込んだ温度データを最寄地点温度テーブル７００に記憶する（S2）。最寄地点温度テーブル７００を図９に示す。
【００６８】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、最寄地点温度テーブル７００に記憶されている最寄地点における１年間の気温データから上記診断日時における気温データを抽出し、この気温データを上記温度測定値から減算し、差分ΔＴを求める。（S3）。
【００６９】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、上記最寄地点温度テーブル７００に記憶されている最寄地点の１年間のそれぞれの気温データに対して、この減算値をそれぞれ加算し、電子機器の１年間に亘る盤内温度の推定値を算出し、電子機器温度テーブル７１０に記憶する（S4）。電子機器温度テーブル７１０を図１０に示す。
【００７０】
なお最寄地点温度テーブル７００に記憶されている各気温データから、電子機器の盤内温度への変換は、（式２）により行うことができる。
ＴＢ（ｎ）＝Ｔ（ｘ，ｎ）＋ΔＴ （式２）
ただし、ＴＢ（ｎ）：１年分の盤内温度変化（ｎ＝1〜8760）、Ｔ（ｘ，ｎ）：最寄地点ｘの１年分の温度変化（ｎ＝1〜8760）、ΔＴ：温度偏差をあらわす。
【００７１】
次に、コンデンサ余寿命診断システム１０００は、装置型式とシリアルＮｏを用いて、温度分布ＤＢ５１０の中から、上記装置型式・シリアルＮｏに対応する電子機器のコンデンサの温度を抽出する。（S5）。
【００７２】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度分布ＤＢ５１０から抽出した電子機器の盤内温度とコンデンサの温度との関係を示すデータを用いて、上記電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の各盤内温度を、それぞれコンデンサの温度に変換するとともに、電子機器の負荷率に応じて変動するコンデンサの温度の変化量を温度補正データベース５２０から読み出し、この変化量を上記コンデンサの各温度データに加算する（S6）。
【００７３】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、これらの温度データをコンデンサ温度テーブル７２０としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。コンデンサ温度テーブル７２０の例を図１１に示す。
【００７４】
コンデンサ余寿命診断システム１０００は、上記電子機器の盤内温度からコンデンサの温度データへの変換を（式３）により行う。
ＴS（ｎ）＝f(ＴB（ｎ）)＋ ｆ（ＬＦ） （式３）
ただし、ＴS（ｎ）：１年分のコンデンサの温度（ｎ＝1〜8760）、f(ＴB（ｎ）)：盤内温度から換算した１年分のコンデンサの温度（ｎ＝1〜8760）、ＬＦ：負荷率、ｆ（ＬＦ）：負荷率ＬＦに応じたコンデンサの温度変化量をあらわす。
【００７５】
なおコンデンサ余寿命診断システム１０００は、上記電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の各盤内温度を、それぞれコンデンサの温度に変換する場合に、温度分布ＤＢ５１０中に、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の盤内温度に一致する盤内温度が記載されていない場合には、盤内温度とコンデンサの温度の関係を線形近似することで、コンデンサの温度を求める。盤内温度ＴＢとコンデンサの温度ＴＳ’との関係を線形近似により求めた際のグラフを、図１２に示す。
【００７６】
すなわち、盤内温度をＴＢ、コンデンサの温度をＴＳ’とし、式（４）のようにして近似する。
ＴＳ’＝ａＴＢ＋ｂ （式４）
ただし、ａ、ｂは定数とする。
例えば、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の盤内温度が18℃である場合には、温度分布ＤＢ５１０に記載されている盤内温度１５℃及び２０℃のときのコンデンサの各温度を線形補完する。
（式４）に、ＴＢ＝１５℃、ＴＳ’＝１８℃、および、ＴＢ＝２０℃、ＴＳ’＝２５℃を代入してａ、ｂを求め、このａ、ｂを用いて、ＴＢに対するＴＳ’を求める。
【００７７】
次にコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器の動作状態を考慮し、周囲温度変化算出部６１０が生成したコンデンサ温度テーブル７２０に記憶されている１年間分のコンデンサの温度データのうち、電子機器が動作中ではない期間に対応するコンデンサの温度データを、電子機器温度テーブル７１０に記載されている電子機器の盤内温度データに変換する（S7）。
【００７８】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は電子機器の寿命を算出する（S8）。このS8における処理をさらに詳細に図１６に示す。
【００７９】
まずコンデンサ余寿命診断システム１０００は、上記コンデンサ温度テーブル７２０に１月１日から１２月３１日まで時系列に記載されているコンデンサの各温度データを、温度別に並べ替え、並べ替えた温度毎にコンデンサがその温度であった合計時間Ｄを求め、各温度の温度データと対応付けて温度別滞在時間テーブル７３０として記憶する（S8-1）。温度別滞在時間テーブル７３０を図１７に示す。
【００８０】
次にコンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度別滞在時間テーブル７３０に記載されている温度毎に、コンデンサの寿命Ｊを（式１）を用いて算出する（S8-2）。コンデンサ余寿命診断システム１０００が、各温度についてコンデンサの寿命Ｊを算出した結果を図１８に示す。
【００８１】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、各温度について上記算出したコンデンサの寿命Ｊの逆数（１／Ｊ）と、各温度の合計時間（滞在時間）Ｄとの積を温度毎に求め、さらに、これらの合計値からコンデンサの劣化度を求める（S8-3）。その様子を図１９に示す。
【００８２】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、この劣化度の逆数から電子機器の寿命を算出する（S8-4）。コンデンサ余寿命診断システム１０００が電子機器の寿命を算出した様子を図２０に示す。
【００８３】
次に、図８に戻って、コンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器が有するコンデンサの交換推奨時期を算出する（S9）。そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、このコンデンサの交換推奨時期を示すメッセージを出力装置１５０に出力する。
【００８４】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００によれば、電子機器が有するコンデンサの温度変化を正確に反映させることができるので、電子機器の寿命をより正確に算出することが可能となる。
【００８５】
また本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器内のコンデンサの交換推奨時期を算出し、交換時期を示すメッセージを出力するようにしているので、電子機器内のコンデンサが破損する前に、交換を行うことが可能となる。
【００８６】
以上、本発明の好適な実施形態を説明したが、これらは本発明の説明のための例示であって、本発明の範囲を上記実施形態のみに限定する趣旨ではない。本発明は、他の種々の形態でも実施することが可能である。
【符号の説明】
【００８７】
１００ ＣＰＵ
１１０ メモリ
１２０ 記憶装置
１３０ 通信装置
１４０ 入力装置
１５０ 出力装置
１６０ 記録媒体読取装置
２００ 記録媒体
３００ ネットワーク
４００ コンデンサ余寿命診断システム制御プログラム
５００ 温度変化データベース
５１０ 温度分布データベース
５２０ 温度補正データベース
５３０ コンデンサデータベース
６００ 温度変化算出部
６１０ 周囲温度変化算出部
６２０ 装置稼動状態作成部
６３０ 稼動考慮周囲温度変化算出部
６４０ 寿命予測算出部
６５０ 交換推奨時期算出部
７００ 最寄地点温度テーブル
７１０ 電子機器温度テーブル
７２０ コンデンサ温度テーブル
７３０ 温度別滞在時間テーブル
７４０ 動作状態記憶テーブル
１０００ コンデンサ余寿命診断システム
【技術分野】
【０００１】
本発明は、寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
インバータ等の電子機器には、その主回路や制御回路にコンデンサが使用されている。コンデンサは、他の部品に比べて熱に弱く、電子機器の構成部品の中では通常寿命が最も短い。そのため、コンデンサについて推定した寿命により、電子機器の寿命を推定することが行われている。
【０００３】
コンデンサの寿命は、コンデンサの電気的特性の経時的変化と周囲温度との関係を示すアレニウスの法則（式１）を用いて推定することができる。
ここで、L：コンデンサの推定寿命［時間］、L0：コンデンサの基準寿命［時間］、Tmax：コンデンサの最高使用温度［℃］、T：コンデンサの周囲温度［℃］である。なお、基準寿命L0、および最高使用温度Tmaxは、コンデンサの特性値としてコンデンサの製造メーカによって公表されている。
【０００４】
アレニウスの法則を用いてコンデンサの寿命（余寿命）を推定する技術は、例えば特許文献１に記載されている。
特許文献１には、まず初期時点において、標準的な使用条件で想定される電解コンデンサの温度t0における総余寿命をアレニウスの法則に基づいて計算しておき、その後、所定時間毎に、経過時間とその間の平均温度txとを考慮して、前記温度t0における余寿命に逐次換算し、この換算した余寿命と前記総余寿命と初期時点からの経過時間とに基づいて、ある時点における実使用時（電解コンデンサを備えた電子機器の実使用時）の余寿命を計算することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第３８５０３１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に記載されている技術は、初期時点における電解コンデンサの総余寿命が時間経過とともに直線的に減少する特性を前提としている。そして温度や負荷等の使用条件が変化した場合には、スイッチや外部信号によって上記特性をリセットし、その傾きを変更するようになっている。
しかしながら、コンデンサの温度は電子機器の動作状態や気温等により様々に変化するのが通常である。これまでの技術では、このようなコンデンサの温度変化が正確に反映されておらず、電子機器の寿命が正確に算出されているとは必ずしも言えない。
【０００７】
本発明はこのような課題を鑑みてなされたものであり、コンデンサを有する電子機器の寿命をより正確に算出することが可能な寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラムを提供することを一つの目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第１寿命算出部と、前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第２寿命算出部と、を備える。
【０００９】
その他、本願が開示する課題、及びその解決方法は、発明を実施するための形態の欄の記載、及び図面の記載等により明らかにされる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、コンデンサを有する電子機器の寿命をより正確に算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】コンデンサ余寿命診断システムの全体構成例を示す図である。
【図２】コンデンサ余寿命診断システムのハードウェア構成例を示す図である。
【図３】コンデンサ余寿命診断システムの記憶装置を示す図である。
【図４】温度変化データベースを示す図である。
【図５】温度分布データベースを示す図である。
【図６】温度補正データベースを示す図である。
【図７】コンデンサデータベースを示す図である。
【図８】コンデンサ余寿命診断システムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図９】最寄地点温度テーブルを示す図である。
【図１０】電子機器温度テーブルを示す図である。
【図１１】コンデンサ温度テーブルを示す図である。
【図１２】温度分布データベースをグラフ表示した図である。
【図１３】動作状態記憶テーブルを示す図である。
【図１４】動作状態記憶テーブルを示す図である。
【図１５】コンデンサ温度テーブルを示す図である。
【図１６】コンデンサ余寿命診断システムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１７】温度別滞在時間テーブルを示す図である。
【図１８】温度別滞在時間テーブルを示す図である。
【図１９】温度別滞在時間テーブルを示す図である。
【図２０】温度別滞在時間テーブルを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
＝＝コンデンサ余寿命診断システムの概要＝＝
本発明の実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム（寿命推定装置）１０００の概要について、図１を参照しながら説明する。
本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、インバータ等の各種電子機器が有するコンデンサの寿命を算出することで、電子機器の寿命を推定する装置である。また本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、算出したコンデンサの寿命と、電子機器が設置された時期と、により、電子機器内のコンデンサの交換推奨時期を算出し、出力することもできる。
【００１３】
図１に示すように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度変化算出部６００、周囲温度変化算出部６１０、装置稼動状態作成部６２０、稼動考慮周囲温度変化算出部６３０、寿命予測算出部６４０、交換推奨時期算出部６５０、温度変化データベース（ＤＢ）５００、温度分布データベース（ＤＢ）５１０、温度補正データベース（ＤＢ）５２０、コンデンサデータベース（ＤＢ）５３０を備えて構成される。
【００１４】
＝＝コンデンサ余寿命診断システムの構成＝＝
次に、コンデンサ余寿命診断システム１０００の構成について、適宜図面を参照しながら説明する。
コンデンサ余寿命診断システム１０００は、図２に例示するように、ＣＰＵ１００、メモリ１１０、記憶装置１２０、通信装置１３０、入力装置１４０、出力装置１５０、記録媒体読取装置１６０を備えるコンピュータにより実現することができる。
【００１５】
ＣＰＵ１００は、コンデンサ余寿命診断システム１０００の全体の制御を司るもので、記憶装置１２０に記憶されたコンデンサ余寿命診断システム制御プログラム４００（図３）をメモリ１１０に読み出して実行し、メモリ１１０や通信装置１３０、入力装置１４０、出力装置１５０、記憶装置１２０等のハードウェア機器と協働することにより、コンデンサ余寿命診断システム１０００としての各種機能を実現する。
【００１６】
記録媒体読取装置１６０は、記録媒体２００に記録されている各種プログラムやデータの読み取りや書き込みを行うための装置である。読み取られたプログラムやデータはメモリ１１０や記憶装置１２０に格納される。
【００１７】
記録媒体２００としては磁気ディスクや光ディスク、磁気テープ、半導体メモリ等を用いることができる。記録媒体２００には、例えばコンデンサ余寿命診断システム制御プログラム４００を記録しておくことができる。
【００１８】
入力装置１４０は、オペレータ等によるコンデンサ余寿命診断システム１０００へのデータ入力等のために用いられる装置であり、ユーザインタフェースとして機能する。入力装置１４０としては例えばキーボードやマウス等を用いることができる。
【００１９】
出力装置１５０は、情報を外部に出力するための装置でありユーザインタフェースとして機能する。出力装置１５０としては例えばディスプレイやプリンタ等を用いることができる。
【００２０】
通信装置１３０は通信を行うための装置である。コンデンサ余寿命診断システム１０００はネットワーク３００を介して他のコンピュータと通信を行い、例えば、ネットワーク３００を介して他のコンピュータからコンデンサ余寿命診断システム制御プログラム４００を受信して、記憶装置１２０に格納するようにすることもできる。
【００２１】
記憶装置１２０は、例えばハードディスク装置や半導体記憶装置である。図３に示すように、記憶装置１２０にはコンデンサ余寿命診断システム制御プログラム４００、温度変化データベース５００、温度分布データベース５１０、温度補正データベース５２０、コンデンサデータベース５３０が記憶されている。
【００２２】
＜温度変化データベース＞
温度変化ＤＢ５００には、図４に示すように、１月１日から１２月３１日までの１年間に各地点において計測された１時間毎の気温データが、日時を示す情報と対応付けて時系列に記憶されている。図４に示す例では、Ａ地点、Ｂ地点、Ｃ地点の１年間の１時間毎の気温が例示されている。
【００２３】
＜温度分布データベース＞
温度分布ＤＢ（温度対応テーブル）５１０には、図５に示すように、電子機器の盤内温度（電子機器における温度）と、電子機器が上記温度である場合に計測されたコンデンサの温度と、が対応付けて記憶されている。
図５に例示する温度分布ＤＢでは、２つの電子機器（型式・シリアル番号がＸＸＸＸＸＸ０で特定される電子機器と、型式・シリアル番号がＹＹＹＹＹＹ０で特定される電子機器）について、盤内温度とコンデンサの実測温度との関係が記憶されている。
【００２４】
また、一つの電子機器内に複数のコンデンサが使用されている場合には、それぞれのコンデンサで実測された温度が、電子機器の盤内温度と対応付けて記憶されている。
なお、電子機器の盤内温度が同じでも、電子機器の負荷の程度に応じてコンデンサの温度は変動する。そのため、本実施形態に係る温度分布ＤＢ５１０は、電子機器を所定負荷（例えば５０％）で動作させたときの盤内温度とコンデンサの温度との関係を記憶している。電子機器の負荷によるコンデンサの温度の変動分は、以下に記載する温度補正データベース５２０により補正する。
【００２５】
＜温度補正データベース＞
温度補正ＤＢ５２０には、図６に示すように、電子機器の負荷が上記所定負荷（５０％）である場合を基準にして、電子機器の負荷が０％から１００％まで変化した場合におけるコンデンサの温度の変化量が記憶されている。
【００２６】
＜コンデンサデータベース＞
コンデンサＤＢ５３０には、図７に示すように、電子機器が有する各コンデンサの各種特性値が記憶されている。図７には、各コンデンサの基準寿命L0と、コンデンサの基準温度（最高使用温度）Tmaxと、が例示されている。
【００２７】
＜温度変化算出部＞
温度変化算出部６００は、入力装置１４０から、電子機器が設置される最寄地点を示す情報の入力を受け付けると、温度変化ＤＢ５００から最寄地点における１年間の気温データを読み出す。例えば図４に示すＡ地点が最寄地点として指定された場合には、温度変化算出部６００は、Ａ地点の年間気温データを温度変化ＤＢ５００から読み出す。そして温度変化算出部６００は、読み出した気温データを最寄地点温度テーブル７００としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。最寄地点温度テーブル７００の例を図９に示す。
【００２８】
また温度変化算出部６００は、入力装置１４０から、温度測定値、診断年月、及び診断日時を示す情報の入力を受け付ける。温度測定値は、電子機器における温度（盤内温度）の計測値であり、診断年月及び診断日時は、電子機器の上記温度が計測された年月日及び時刻を示す。
【００２９】
そうすると温度変化算出部６００は、最寄地点温度テーブル７００に記憶されている最寄地点における１年間の気温データから上記診断日時における気温データを抽出し、この気温データを上記温度測定値から減算し、差分を求める。
【００３０】
そして、温度変化算出部６００は、上記最寄地点温度テーブル７００に記憶されている最寄地点の１年間のそれぞれの気温データに対して、この減算値をそれぞれ加算する。このようにして得られる温度データは、電子機器の１年間に亘る盤内温度であると推定できる。
【００３１】
温度変化算出部６００は、これらの１年分の温度データをそれぞれ日時情報と対応付けて、電子機器温度テーブル７１０としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。電子機器温度テーブル７１０の例を図１０に示す。
【００３２】
電子機器温度テーブル７１０に記憶されている各温度データは、１月１日の０時から１２月３１日の２３時までに亘り、電子機器の盤内温度を１時間毎に１年間に亘り計測した場合に得られると推定される温度データに相当する。
【００３３】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、最寄地点の気温データを利用して電子機器の盤内温度を得るようにしているので、１時間毎の盤内温度を１年間にも亘って実測することなく、これらの温度を取得することが可能となる。
【００３４】
＜周囲温度変化算出部＞
周囲温度変化算出部６１０は、温度分布ＤＢ５１０を参照し、上記電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の１年間の１時間毎の各盤内温度を、それぞれコンデンサの温度に変換し、コンデンサ温度テーブル７２０としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。
【００３５】
具体的には、周囲温度変化算出部６１０は、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の各盤内温度について、それぞれの盤内温度に対応するコンデンサの温度を温度分布ＤＢ５１０から抽出し、抽出した温度に変換する。コンデンサ温度テーブル７２０の例を図１１に示す。
【００３６】
その際、周囲温度変化算出部６１０は、入力装置１４０から入力された電子機器の装置型式及びシリアル番号により、温度分布ＤＢ５１０に記憶されている電子機器を特定するようにする。
【００３７】
なお、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている盤内温度に一致する盤内温度が温度分布ＤＢ５１０中に記載されていない場合には、コンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度分布ＤＢ５１０に記載されている盤内温度を線形補完することにより、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている盤内温度に対応するコンデンサの温度を求める。
【００３８】
また、電子機器に複数のコンデンサが含まれる場合には、周囲温度変化算出部６１０は、その電子機器に含まれる全てのコンデンサについて、それぞれコンデンサ温度テーブル７２０を生成する。
【００３９】
また周囲温度変化算出部６１０は、入力装置１４０から負荷率を示すデータを取得すると、負荷率に対応するコンデンサの温度の変化量を、温度補正データベース５２０から読み出し、この変化量を、上記コンデンサ温度テーブル７２０に記憶されているコンデンサのそれぞれの温度データに加算する。
【００４０】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度分布ＤＢ５１０に記憶されている電子機器の盤内温度とコンデンサの温度との関係を示すデータを予め作成しておき、このデータを利用してコンデンサの温度を得るようにしているので、１時間毎のコンデンサの温度を１年間にも亘って実測することなく、これらの温度を取得することが可能となる。
【００４１】
さらに本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、負荷率に応じて変動するコンデンサの温度の変動量を予め測定しておき、この変動量を利用して、コンデンサの温度を負荷率に応じて補正するようにしているので、より正確なコンデンサの温度を取得することが可能となる。
【００４２】
＜装置稼動状態作成部＞
装置稼動状態作成部６２０は、入力装置１４０から、電子機器の装置稼動状態を示す情報を取得し、動作状態記憶テーブル７４０を生成する。動作状態記憶テーブル７４０を図１３及び図１４に示す。
装置稼動状態を示す情報には、１日のうち電子機器が動作中である期間を示す情報、例えば１日のうち電子機器が動作を開始する時刻と動作を終了する時刻が記載されている。
【００４３】
そして動作状態記憶テーブル７４０には、上記装置稼動状態に対応して生成される、電子機器が動作中である期間を示す情報が記憶されている。
例えば、動作状態記憶テーブル７４０は、午前０時から２４時までの１時間毎に、電子機器が動作中であるか、動作中でないかを示す情報を記憶している。図１３は、電子機器が毎日午前８時から午後９時までの間動作する場合の動作状態記憶テーブル７４０を示し、図１４は、電子機器が毎日２４時間連続して動作する場合の動作状態記憶テーブル７４０を示す。
【００４４】
＜稼動考慮周囲温度変化算出部＞
稼動考慮周囲温度変化算出部６３０は、温度変化算出部６００が生成した電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の１年間分の盤内温度データのうち、電子機器が動作中の期間に対応する盤内温度データを、コンデンサ温度テーブル７２０に記載されているコンデンサの各温度データに変換する。
【００４５】
電子機器が動作中である期間は、コンデンサの温度は、コンデンサの発熱により、コンデンサ温度テーブル７２０に記載されている温度になると推定されるが、電子機器が動作中でない期間は、コンデンサは発熱しないため、コンデンサの温度は電子機器の盤内温度と等しい温度になると推定されるためである。
【００４６】
稼動考慮周囲温度変化算出部６３０は、電子機器が動作中か動作中でないかの情報を、動作状態記憶テーブル７４０を参照することにより取得することができる。
【００４７】
なお、上記と同じことであるが、稼動考慮周囲温度変化算出部６３０は、周囲温度変化算出部６１０が生成したコンデンサ温度テーブル７２０に記憶されている１年間分のコンデンサの温度データのうち、電子機器が動作中ではない期間に対応するコンデンサの温度データを、電子機器温度テーブル７１０に記載されている電子機器の盤内温度データに変換する、としてもよい。
【００４８】
稼動考慮周囲温度変化算出部６３０は、電子機器が動作中か動作中でないかを温度データに反映させたコンデンサ温度テーブル７２０を、メモリ１１０や記憶装置１２０に記憶する。その様子を図１５に示す。
【００４９】
図１５に示した例は、図１３に示したように、電子機器が毎日午前８時から午後９時までの間のみ動作する場合を示したものであり、電子機器が動作中の期間は、コンデンサ温度テーブル７２０に記載されている温度データが記載され、電子機器が動作中でない期間は、電子機器温度テーブル７１０に記載されている盤内温度データが記載されている。
【００５０】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器の稼動状態も加味してコンデンサの温度を得るようにしているので、より正確にコンデンサの温度を取得することが可能となる。
【００５１】
＜寿命予測算出部＞
寿命予測算出部６４０は、上記コンデンサ温度テーブル７２０に１月１日から１２月３１日まで時系列に記載されているコンデンサの各温度データを、温度別に並べ替える。その際寿命予測算出部６４０は、並べ替えた温度毎に、コンデンサがその温度であった合計時間Ｄを求め、各温度の温度データと対応付けて記憶する。
コンデンサ温度テーブル７２０には温度データが１時間毎に記憶されているので、各温度の温度データの数（頻度）が、コンデンサがその温度であった合計時間Ｄに相当する。
【００５２】
そして寿命予測算出部６４０は、温度毎の合計時間Ｄを温度別滞在時間テーブル７３０としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。温度別滞在時間テーブル７３０を図１７に示す。温度別滞在時間テーブル７３０の滞在時間Ｄ欄の合計は８７６０時間となる。
【００５３】
次に寿命予測算出部６４０は、温度別滞在時間テーブル７３０に記載されている温度毎に、コンデンサの寿命Ｊを（式１）を用いて算出する。
その際、寿命予測算出部６４０はコンデンサＤＢ５３０を参照し、コンデンサの寿命を算出するために必要な特性値（基準寿命及び基準温度）を読み出す。寿命予測算出部６４０が、各温度についてコンデンサの寿命Ｊを算出した結果を図１８に示す。
【００５４】
次に寿命予測算出部６４０は、各温度について上記算出したコンデンサの寿命Ｊの逆数（１／Ｊ）と、各温度の合計時間（滞在時間）Ｄとの積を温度毎に求める。この積は、それぞれ、各温度においてコンデンサの劣化がどの程度進むか、つまりコンデンサの劣化の度合いＲを表す。各温度についてコンデンサの劣化の度合いＲを算出した様子を図１９に示す。
【００５５】
そして寿命予測算出部６４０は、各温度におけるコンデンサの劣化の度合いＲの合計値を算出する。この合計値は、１年間にコンデンサが総じてどの程度劣化するか、つまり１年間のコンデンサの劣化の度合い（劣化度）を表す。
【００５６】
そして寿命予測算出部６４０は、この劣化度の逆数を電子機器の寿命として算出する。寿命予測算出部６４０が電子機器の寿命を算出した様子を図２０に示す。図２０に示す例では、電子機器の寿命は５．３６年と算出される。
【００５７】
なお、電子機器に複数のコンデンサが含まれる場合には、それぞれのコンデンサに対してそれぞれ生成された温度別滞在時間テーブル７３０に基づいて、それぞれ電子機器の寿命を算出し、それらの寿命を元に例えば最小値や平均値を電子機器の寿命として算出するようにする。
【００５８】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器内のコンデンサの温度変化を考慮し、各温度でのコンデンサの劣化度合いを総合的に加味した上で、電子機器の寿命を算出するようにしているので、より正確に電子機器の寿命を算出することが可能となる。
【００５９】
＜交換推奨時期算出部＞
交換推奨時期算出部６５０は、入力装置１４０から、電子機器が設置された時期を示す情報を受け付けると、上記算出した電子機器の寿命と、電子機器の設置時期と、に基づいて、電子機器が有するコンデンサの交換推奨時期を算出する。
例えば、電子機器の設置時期が２００８年１月であり、電子機器の寿命が５年と算出された場合には、交換推奨時期算出部６５０は、コンデンサの交換推奨時期を２０１３年１月と算出する。
【００６０】
そして交換推奨時期算出部６５０は、このコンデンサの交換推奨時期を示すメッセージを出力装置１５０に出力する。
なお交換推奨時期算出部６５０は、電子機器の寿命に所定の係数を掛けて、コンデンサの交換推奨時期を算出するようにしてもよい。例えば係数を０．８とした場合には、交換推奨時期算出部６５０は、電子機器の設置時期が２００８年１月であり、電子機器の寿命が５年と算出された場合には、コンデンサの交換推奨時期を２０１２年１月と算出する。
【００６１】
あるいは交換推奨時期算出部６５０は、診断年月（現在日時）を示す情報も取得し、現在からコンデンサ交換推奨時期までの期間を算出するようにしても良い。
例えば、電子機器の設置時期が２００８年１月であり、診断年月が２０１１年１月であり、電子機器の寿命が５年と算出された場合には、交換推奨時期算出部６５０は、コンデンサの交換推奨期間を２０１１年１月から２年以内と算出する。
【００６２】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器内のコンデンサの交換推奨時期を算出し、交換時期を示すメッセージを出力するようにしているので、電子機器内のコンデンサが破損する前に、交換を行うことが可能となる。
【００６３】
＝＝コンデンサ余寿命診断システムの処理の流れ＝＝
次に、コンデンサ余寿命診断システム１０００の処理の流れについて、適宜図面を参照しながら説明する。コンデンサ余寿命診断システム１０００の処理の流れを示すフローチャートを図８及び図１６に示す。
【００６４】
図１６のフローチャートは、図８のフローチャートにおけるＳ８の処理をより詳細に記載したものである。
まずコンデンサ余寿命診断システム１０００は、入力装置１４０から各種データの入力を受け付ける（S1）。
入力装置１４０から受け付けるデータは、例えば、図１に示した、「装置稼動状態」、「負荷率」、「装置型式」、「シリアルＮＯ」、「温度測定値」、「診断年月」、「診断日時」、「最寄地点」、「設置年月」である。
【００６５】
「装置稼動状態」は、電子機器の毎日の動作開始時刻と動作終了時刻とを含む情報である。毎日午前８時に動作を開始し、午後９時に動作を終了する場合には、「稼動開始時刻：８：００稼動終了時刻：２１：００」のように入力する。毎日２４時間動作する場合には、「稼動開始時刻：０：００稼動終了時刻：０：００」のように入力する。また、電子機器が一日中稼動している場合以外では、動作開始時刻が動作終了時刻よりも小さくなるように指定する。
【００６６】
「負荷率」は電子機器の負荷率を示す情報である。負荷率は、所定の基準に基づいて定まる値であり、０％から１００％のいずれかの値を取る。
「装置型式」及び「シリアルＮＯ」は、電子機器を特定するための情報である。
「温度測定値」は、電子機器の盤内温度の実測値である。
「診断年月」及び「診断日時」は、電子機器の盤内温度を測定した年月日及び時刻を示す。
「最寄地点」は、電子機器が設置される場所や建物、地域に最も近い場所を示す情報を表す。「最寄地点」を入力する際は、事前に定められた複数の候補地点の中から選ぶようにしてもよい。
「設置年月」は、電子機器がはじめて動作を開始した年月を示す。電子機器の寿命の起点となる情報である。
【００６７】
次にコンデンサ余寿命診断システム１０００は、最寄地点の温度データを温度変化ＤＢ５００から読み込み、読み込んだ温度データを最寄地点温度テーブル７００に記憶する（S2）。最寄地点温度テーブル７００を図９に示す。
【００６８】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、最寄地点温度テーブル７００に記憶されている最寄地点における１年間の気温データから上記診断日時における気温データを抽出し、この気温データを上記温度測定値から減算し、差分ΔＴを求める。（S3）。
【００６９】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、上記最寄地点温度テーブル７００に記憶されている最寄地点の１年間のそれぞれの気温データに対して、この減算値をそれぞれ加算し、電子機器の１年間に亘る盤内温度の推定値を算出し、電子機器温度テーブル７１０に記憶する（S4）。電子機器温度テーブル７１０を図１０に示す。
【００７０】
なお最寄地点温度テーブル７００に記憶されている各気温データから、電子機器の盤内温度への変換は、（式２）により行うことができる。
ＴＢ（ｎ）＝Ｔ（ｘ，ｎ）＋ΔＴ （式２）
ただし、ＴＢ（ｎ）：１年分の盤内温度変化（ｎ＝1〜8760）、Ｔ（ｘ，ｎ）：最寄地点ｘの１年分の温度変化（ｎ＝1〜8760）、ΔＴ：温度偏差をあらわす。
【００７１】
次に、コンデンサ余寿命診断システム１０００は、装置型式とシリアルＮｏを用いて、温度分布ＤＢ５１０の中から、上記装置型式・シリアルＮｏに対応する電子機器のコンデンサの温度を抽出する。（S5）。
【００７２】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度分布ＤＢ５１０から抽出した電子機器の盤内温度とコンデンサの温度との関係を示すデータを用いて、上記電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の各盤内温度を、それぞれコンデンサの温度に変換するとともに、電子機器の負荷率に応じて変動するコンデンサの温度の変化量を温度補正データベース５２０から読み出し、この変化量を上記コンデンサの各温度データに加算する（S6）。
【００７３】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、これらの温度データをコンデンサ温度テーブル７２０としてメモリ１１０あるいは記憶装置１２０に記憶する。コンデンサ温度テーブル７２０の例を図１１に示す。
【００７４】
コンデンサ余寿命診断システム１０００は、上記電子機器の盤内温度からコンデンサの温度データへの変換を（式３）により行う。
ＴS（ｎ）＝f(ＴB（ｎ）)＋ ｆ（ＬＦ） （式３）
ただし、ＴS（ｎ）：１年分のコンデンサの温度（ｎ＝1〜8760）、f(ＴB（ｎ）)：盤内温度から換算した１年分のコンデンサの温度（ｎ＝1〜8760）、ＬＦ：負荷率、ｆ（ＬＦ）：負荷率ＬＦに応じたコンデンサの温度変化量をあらわす。
【００７５】
なおコンデンサ余寿命診断システム１０００は、上記電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の各盤内温度を、それぞれコンデンサの温度に変換する場合に、温度分布ＤＢ５１０中に、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の盤内温度に一致する盤内温度が記載されていない場合には、盤内温度とコンデンサの温度の関係を線形近似することで、コンデンサの温度を求める。盤内温度ＴＢとコンデンサの温度ＴＳ’との関係を線形近似により求めた際のグラフを、図１２に示す。
【００７６】
すなわち、盤内温度をＴＢ、コンデンサの温度をＴＳ’とし、式（４）のようにして近似する。
ＴＳ’＝ａＴＢ＋ｂ （式４）
ただし、ａ、ｂは定数とする。
例えば、電子機器温度テーブル７１０に記憶されている電子機器の盤内温度が18℃である場合には、温度分布ＤＢ５１０に記載されている盤内温度１５℃及び２０℃のときのコンデンサの各温度を線形補完する。
（式４）に、ＴＢ＝１５℃、ＴＳ’＝１８℃、および、ＴＢ＝２０℃、ＴＳ’＝２５℃を代入してａ、ｂを求め、このａ、ｂを用いて、ＴＢに対するＴＳ’を求める。
【００７７】
次にコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器の動作状態を考慮し、周囲温度変化算出部６１０が生成したコンデンサ温度テーブル７２０に記憶されている１年間分のコンデンサの温度データのうち、電子機器が動作中ではない期間に対応するコンデンサの温度データを、電子機器温度テーブル７１０に記載されている電子機器の盤内温度データに変換する（S7）。
【００７８】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は電子機器の寿命を算出する（S8）。このS8における処理をさらに詳細に図１６に示す。
【００７９】
まずコンデンサ余寿命診断システム１０００は、上記コンデンサ温度テーブル７２０に１月１日から１２月３１日まで時系列に記載されているコンデンサの各温度データを、温度別に並べ替え、並べ替えた温度毎にコンデンサがその温度であった合計時間Ｄを求め、各温度の温度データと対応付けて温度別滞在時間テーブル７３０として記憶する（S8-1）。温度別滞在時間テーブル７３０を図１７に示す。
【００８０】
次にコンデンサ余寿命診断システム１０００は、温度別滞在時間テーブル７３０に記載されている温度毎に、コンデンサの寿命Ｊを（式１）を用いて算出する（S8-2）。コンデンサ余寿命診断システム１０００が、各温度についてコンデンサの寿命Ｊを算出した結果を図１８に示す。
【００８１】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、各温度について上記算出したコンデンサの寿命Ｊの逆数（１／Ｊ）と、各温度の合計時間（滞在時間）Ｄとの積を温度毎に求め、さらに、これらの合計値からコンデンサの劣化度を求める（S8-3）。その様子を図１９に示す。
【００８２】
そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、この劣化度の逆数から電子機器の寿命を算出する（S8-4）。コンデンサ余寿命診断システム１０００が電子機器の寿命を算出した様子を図２０に示す。
【００８３】
次に、図８に戻って、コンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器が有するコンデンサの交換推奨時期を算出する（S9）。そしてコンデンサ余寿命診断システム１０００は、このコンデンサの交換推奨時期を示すメッセージを出力装置１５０に出力する。
【００８４】
このように、本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００によれば、電子機器が有するコンデンサの温度変化を正確に反映させることができるので、電子機器の寿命をより正確に算出することが可能となる。
【００８５】
また本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム１０００は、電子機器内のコンデンサの交換推奨時期を算出し、交換時期を示すメッセージを出力するようにしているので、電子機器内のコンデンサが破損する前に、交換を行うことが可能となる。
【００８６】
以上、本発明の好適な実施形態を説明したが、これらは本発明の説明のための例示であって、本発明の範囲を上記実施形態のみに限定する趣旨ではない。本発明は、他の種々の形態でも実施することが可能である。
【符号の説明】
【００８７】
１００ ＣＰＵ
１１０ メモリ
１２０ 記憶装置
１３０ 通信装置
１４０ 入力装置
１５０ 出力装置
１６０ 記録媒体読取装置
２００ 記録媒体
３００ ネットワーク
４００ コンデンサ余寿命診断システム制御プログラム
５００ 温度変化データベース
５１０ 温度分布データベース
５２０ 温度補正データベース
５３０ コンデンサデータベース
６００ 温度変化算出部
６１０ 周囲温度変化算出部
６２０ 装置稼動状態作成部
６３０ 稼動考慮周囲温度変化算出部
６４０ 寿命予測算出部
６５０ 交換推奨時期算出部
７００ 最寄地点温度テーブル
７１０ 電子機器温度テーブル
７２０ コンデンサ温度テーブル
７３０ 温度別滞在時間テーブル
７４０ 動作状態記憶テーブル
１０００ コンデンサ余寿命診断システム
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、
前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、
前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第１寿命算出部と、
前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、
前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第２寿命算出部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の寿命推定装置であって、
前記コンデンサの推定温度を所定時間毎に記憶したコンデンサ温度テーブルと、
前記コンデンサ温度テーブルに記憶されている各推定温度の温度別の頻度を求め、各推定温度の前記頻度からそれぞれ各推定温度の前記合計時間を求め、前記各合計時間をそれぞれ前記各推定温度と対応付けることにより、前記温度別滞在時間テーブルを作成する温度別滞在時間テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項３】
請求項２に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器における推定温度を前記所定時間毎に記憶した電子機器温度テーブルと、
前記電子機器が所定温度である場合における前記コンデンサの温度の計測値と、前記所定温度と、を複数の所定温度について対応付けて記憶した温度対応テーブルと、
前記電子機器温度テーブルに記憶されている前記電子機器の各推定温度を、前記温度対応テーブルを用いて、前記コンデンサの各推定温度に変換することにより、前記コンデンサ温度テーブルを作成するコンデンサ温度テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項４】
請求項２に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器における推定温度を、前記電子機器が前記推定温度であった時刻を示す時刻情報と対応付けて、前記所定時間毎に記憶した電子機器温度テーブルと、
前記電子機器が所定温度である場合における前記コンデンサの温度の計測値と、前記所定温度と、を複数の所定温度について対応付けて記憶した温度対応テーブルと、
前記電子機器が動作中である期間を記憶した動作状態記憶テーブルと、
前記電子機器温度テーブルに記憶されている前記電子機器の各推定温度のうち、前記電子機器が動作中である期間における各推定温度を、前記温度対応テーブルを用いて、前記コンデンサの各推定温度に変換することにより、前記コンデンサ温度テーブルを作成するコンデンサ温度テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項５】
請求項３又は４に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器が設置される最寄地点において前記所定時間毎に計測された温度を、この温度の計測日時を示す情報と対応付けて記憶した最寄地点温度テーブルと、
前記電子機器における温度の計測値と、この温度の計測日時を示す情報と、の入力を受け付ける計測温度入力部と、
前記電子機器における温度の計測値と、この温度が計測された日時における前記最寄地点の温度と、の差分を算出する差分算出部と、
前記最寄地点温度テーブルに記憶されている各温度を、前記差分を用いて、それぞれ前記電子機器における各推定温度に換算し、前記電子機器温度テーブルを作成する電子機器温度テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項６】
請求項１〜５に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器が設置された時期を示す情報を受け付ける設置時期入力部と、
前記設置時期と、前記電子機器の寿命と、に基づいて、前記電子機器が有する前記コンデンサの交換推奨時期を算出する交換時期算出部と、
前記交換推奨時期を示すメッセージを出力する交換時期出力部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項７】
電子機器が有するコンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する寿命推定装置による、前記電子機器の寿命推定方法であって、
前記寿命推定装置が、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式を用いてそれぞれ算出し、
前記寿命推定装置が、前記推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、
前記寿命推定装置が、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出し、
前記寿命推定装置が、前記劣化度の逆数を前記電子機器の寿命として算出する
ことを特徴とする寿命推定方法。
【請求項８】
電子機器が有するコンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶するコンピュータに、
前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式を用いてそれぞれ算出する手順と、
前記推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求める手順と、
前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する手順と、
前記劣化度の逆数を前記電子機器の寿命として算出する手順と、
を実行させるプログラム。
【請求項１】
コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、
前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、
前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第１寿命算出部と、
前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、
前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第２寿命算出部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の寿命推定装置であって、
前記コンデンサの推定温度を所定時間毎に記憶したコンデンサ温度テーブルと、
前記コンデンサ温度テーブルに記憶されている各推定温度の温度別の頻度を求め、各推定温度の前記頻度からそれぞれ各推定温度の前記合計時間を求め、前記各合計時間をそれぞれ前記各推定温度と対応付けることにより、前記温度別滞在時間テーブルを作成する温度別滞在時間テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項３】
請求項２に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器における推定温度を前記所定時間毎に記憶した電子機器温度テーブルと、
前記電子機器が所定温度である場合における前記コンデンサの温度の計測値と、前記所定温度と、を複数の所定温度について対応付けて記憶した温度対応テーブルと、
前記電子機器温度テーブルに記憶されている前記電子機器の各推定温度を、前記温度対応テーブルを用いて、前記コンデンサの各推定温度に変換することにより、前記コンデンサ温度テーブルを作成するコンデンサ温度テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項４】
請求項２に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器における推定温度を、前記電子機器が前記推定温度であった時刻を示す時刻情報と対応付けて、前記所定時間毎に記憶した電子機器温度テーブルと、
前記電子機器が所定温度である場合における前記コンデンサの温度の計測値と、前記所定温度と、を複数の所定温度について対応付けて記憶した温度対応テーブルと、
前記電子機器が動作中である期間を記憶した動作状態記憶テーブルと、
前記電子機器温度テーブルに記憶されている前記電子機器の各推定温度のうち、前記電子機器が動作中である期間における各推定温度を、前記温度対応テーブルを用いて、前記コンデンサの各推定温度に変換することにより、前記コンデンサ温度テーブルを作成するコンデンサ温度テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項５】
請求項３又は４に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器が設置される最寄地点において前記所定時間毎に計測された温度を、この温度の計測日時を示す情報と対応付けて記憶した最寄地点温度テーブルと、
前記電子機器における温度の計測値と、この温度の計測日時を示す情報と、の入力を受け付ける計測温度入力部と、
前記電子機器における温度の計測値と、この温度が計測された日時における前記最寄地点の温度と、の差分を算出する差分算出部と、
前記最寄地点温度テーブルに記憶されている各温度を、前記差分を用いて、それぞれ前記電子機器における各推定温度に換算し、前記電子機器温度テーブルを作成する電子機器温度テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項６】
請求項１〜５に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器が設置された時期を示す情報を受け付ける設置時期入力部と、
前記設置時期と、前記電子機器の寿命と、に基づいて、前記電子機器が有する前記コンデンサの交換推奨時期を算出する交換時期算出部と、
前記交換推奨時期を示すメッセージを出力する交換時期出力部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。
【請求項７】
電子機器が有するコンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する寿命推定装置による、前記電子機器の寿命推定方法であって、
前記寿命推定装置が、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式を用いてそれぞれ算出し、
前記寿命推定装置が、前記推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、
前記寿命推定装置が、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出し、
前記寿命推定装置が、前記劣化度の逆数を前記電子機器の寿命として算出する
ことを特徴とする寿命推定方法。
【請求項８】
電子機器が有するコンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶するコンピュータに、
前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式を用いてそれぞれ算出する手順と、
前記推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求める手順と、
前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する手順と、
前記劣化度の逆数を前記電子機器の寿命として算出する手順と、
を実行させるプログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【公開番号】特開２０１３−８０７８７（Ｐ２０１３−８０７８７Ａ）
【公開日】平成２５年５月２日（２０１３．５．２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２１９４４３（Ｐ２０１１−２１９４４３）
【出願日】平成２３年１０月３日（２０１１．１０．３）
【出願人】（０００００５２３４）富士電機株式会社 (3,146)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年５月２日（２０１３．５．２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１０月３日（２０１１．１０．３）
【出願人】（０００００５２３４）富士電機株式会社 (3,146)
【Ｆターム（参考）】
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