【課題】電池を組み立てることなく、電極の状態で組立後の電池の特性を直接的に反映し得る電極の評価方法を提供する。
【解決手段】
かかる電極の評価方法は、電極活物質とバインダとを含む多孔性の電極活物質層が集電体上に備えられてなる電極を評価する方法である。電極を少なくとも２枚用意し、電解質中において電極活物質層が対向するように前記電極を重ね合わせた評価用セルを用意する工程と、評価用セルにおいて、重ねられた一方の電極の前記電極集電体と、他方の前記電極集電体との間に電圧を印加する工程とを包含する。電圧は、交流電圧を高周波側から低周波側に変化させて印加するのが好ましい。 （もっと読む）

【課題】リチウムイオンキャパシタの抵抗値の変化に基づいてハイレート放電に伴って生じる劣化を検知する方法に比して、迅速に劣化を検知ことができる劣化検知方法を提供すること。
【解決手段】劣化検知方法において、リチウムイオンキャパシタを使用中に、リチウムイオンキャパシタのセル電圧が３Ｖ以上となる第１電圧領域と、リチウムイオンキャパシタのセル電圧が３Ｖ未満となる第２電圧領域とのそれぞれにおいて、初期静電容量値に対する使用中静電容量値の比を静電容量率として算出する工程と、第１電圧領域における静電容量率と第２電圧領域における静電容量率との差分値と、予め定められた閾値とを比較し、リチウムイオンキャパシタの劣化が発生するタイミングを検知する工程と、を行う。 （もっと読む）

【課題】コンデンサを有する電子機器の寿命をより正確に算出する。
【解決手段】コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第１寿命算出部と、前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第２寿命算出部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】電解コンデンサの寿命を、従来の寿命加速試験に要していた試験時間よりも短期間で予測する。
【解決手段】電解コンデンサの寿命診断方法であって、電解コンデンサのケース２に複数の開口部７を設け、該ケース内部の電解液の拡散速度を加速させた状態で、電解コンデンサの加速寿命試験を行い、電解コンデンサの重量実測値と静電容量変化量の相関特性あるいは電解コンデンサの重量実測値と等価直列抵抗変化量の相関特性をロット別に求め、劣化故障に至る寿命点の重量をロット別に算出する。また、前記の相関特性から近似式を求めて、劣化故障に至る寿命点の重量変化量を算出し、開口部７を設けていない電解コンデンサの加速寿命試験で得られた重量変化量の経時変化特性を基に、開口部７を設けていない電解コンデンサの寿命を推定する。 （もっと読む）

【課題】電解コンデンサの寿命を、従来の寿命加速試験に要していた試験時間よりも短期間で予測する。
【解決手段】電解コンデンサの寿命診断方法であって、電解コンデンサのケースに開口部を設け（ステップＳ３）、該ケース内部の電解液の拡散速度を加速させた状態で、電解コンデンサの寿命点店に至る時間が確認される（ステップＳ７）まで加速寿命試験（ステップＳ５）を行う。電解コンデンサの重量と静電容量を加速寿命試験で測定し、重量実測値と静電容量変化量の相関特性をロット別に求め（ステップＳ８）、電解コンデンサが劣化故障に至る寿命点の重量をロット別に算出し、開口部を設けていない電解コンデンサの寿命を推定する（ステップＳ９）。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、短時間にコンデンサの絶縁抵抗を測定して良否を判定する検査装置および検査方法を提供することにある。
【解決手段】検査装置１０は、コンデンサ１２に直列接続される検査用抵抗ｒ、コンデンサ１２と検査用抵抗ｒに電圧を印加する電源Ｅ、検査用抵抗ｒの両端電圧を測定する電圧計１４、絶縁抵抗Ｒの良否を判定する判定手段１６を備える。検査装置２０は、コンデンサ１２に電圧を印加する電源Ｅ、コンデンサ１２の両端電圧を測定する電圧計２４、絶縁抵抗Ｒの良否を判定する判定手段２６を備える。 （もっと読む）

【課題】Pool Frenkel障壁高さを求めることにより電子デバイスの絶縁性薄膜の信頼性評価を行う方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様は、ＭＬＣＣ１を用意し、ＭＬＣＣの第１の導電体が抵抗素子２の一方端に電気的に接続され、抵抗素子２の他方端が直流電源３に電気的に接続され、直流電源３がＭＬＣＣ１の第２の導電体に電気的に接続された接続状態で、直流電源３によって抵抗素子２の他方端と第２の導電体との間に電圧Ｖを印加した時に抵抗素子２に流れる電流Ｉを測定し、測定された前記電流Ｉと前記電圧Ｖからｌｏｇ（Ｉ／Ｖ）とＶ^１／２の関係を求め、前記関係を直線近似した近似直線を求め、前記近似直線によってＶ^１／２が０である時のｌｏｇ（Ｉ／Ｖ）の値Ｃを求め、前記値ＣからPool Frenkel障壁高さΦ_ＰＦを求めることにより、前記絶縁性薄膜の質が良いか悪いかを判定する。 （もっと読む）

【課題】鉛を含まない電解コンデンサの製造方法において、溶接部に付着物が付着することを防止できるコンデンサ用リード端子の製造方法を提供すること。
【解決手段】錫を主体とした金属めっき層２を形成した金属線１の一端に金属めっき層２の無い部分を設け、この金属線１の一端とアルミニウム線５の一端とを互いに当接させ、金属線１とアルミニウム線５とを溶接するとともに、金属線１とアルミニウム線５との溶接部１０を成形型１４にて所望の形状に成形するコンデンサ用リード端子の製造方法において、溶接時に成形型１４の内部で発生するガスを、この成形型１４の外部に排気する排気手段１４ｂを設ける。 （もっと読む）

【課題】コンデンサの劣化状態異常の検出を精度良く、安価な構成で実現することができるコンデンサ劣化検知装置および家電機器を得る。
【解決手段】所定の周期で充放電を繰り返すコンデンサ４の充放電電流を、前記周期に同期した所定のサンプリングタイミングで検出する電流検出手段６と、電流検出手段６の出力からコンデンサの劣化状態の異常を判断する劣化判断手段７とを備えたものである。 （もっと読む）

【課題】 積層セラミックコンデンサの加速寿命試験においては試験時間の短縮化が求められているが、温度や電圧を高くしすぎて絶縁抵抗の劣化を加速しすぎると、実使用条件とあまりに乖離するため加速係数の精度が低下し、実使用条件における故障寿命が正確に見積もれないという課題があった。
【解決手段】 積層セラミックコンデンサを用意する工程と、前記積層セラミックコンデンサに対し、室温以上の温度において電圧を印加した状態において、絶縁抵抗値の劣化速度の経時変化とを観察する工程と、前記絶縁抵抗値の劣化速度が、時間に対して極大値をとる時点の経過時間を特定する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】簡単な操作により短時間且つ高精度でコンデンサの絶縁性を検査する方法を提供すること。
【解決手段】検査対象のコンデンサに、このコンデンサの絶縁性の検査のために予め決められた電圧値Ｖ₀よりも高い電圧値Ｖ₁の直流電圧を付与してコンデンサに電流を発生させ、次いで時間ｔ₁が経過した時点で、直流電圧の電圧値をＶ₀に降下させることにより、前記コンデンサに流れる電流を電流値が継続的に変動しない電流に変え、その電流について測定される電流値ｉ₀を、前記コンデンサについて予め決められた漏れ電流の上限値と比較する操作を含むコンデンサの絶縁性の検査方法。 （もっと読む）

【課題】電気化学デバイスの運転時の動的な劣化を加速させる劣化加速試験装置及びその方法を提供する。
【解決手段】劣化加速試験装置１は、燃料電池１００と、交流インピーダンス測定装置２００と、交流電流印加装置３００と、制御部４００と、を備える。制御部４００は、交流インピーダンス測定装置２００を制御して、燃料電池１００の交流インピーダンスを測定する。測定結果から、制御部４００は、測定時に印加した交流電流の印加周波数に対する前記交流インピーダンスの虚数成分の複数の極大値を判別し、前記複数の極大値に対応する複数の極大周波数を取得する。そして、制御部４００は、交流電流印加装置３００を制御して、取得した極大周波数の交流電流を重畳して燃料電池１００に印加する。 （もっと読む）

【課題】簡便にキャパシタ電源の劣化度を推定又は測定してキャパシタの異常を判別し、寿命を予測できるようにする。
【解決手段】キャパシタの静電容量又は内部抵抗が当初の値に対して劣化する割合を劣化度とし所定の劣化度まで劣化するのに要する時間を劣化時間として、劣化度と劣化時間の平方根との比の劣化係数を参照データ記憶手段３に格納し、キャパシタの電圧と温度を測定し劣化係数を参照データ記憶手段３から取得して推定劣化度演算手段４により稼働中のキャパシタの推定劣化度を求め、キャパシタを定電流により充放電して充放電の直前と直後及び充放電中の電圧を測定して実劣化度演算手段５によりキャパシタの静電容量又は内部抵抗の実劣化度を求め、推定劣化度と実劣化度との差を求めて差が基準値を越える場合にはキャパシタの異常を異常判定手段７により判定する。 （もっと読む）

【課題】直流コンデンサの劣化予測の信頼性の高い直流コンデンサ試験装置を提供すること。
【解決手段】高周波インバータ３の電力を出力する耐圧トランス４の２次コイルと供試直流コンデンサ１および２を直列に接続し、その供試直流コンデンサ１および２の各コンデンサに直流電源を接続し、供試直流コンデンサ１および２に直流電圧を印加した状態で高周波インバータ３による高周波電圧を印加する。これにより供試直流コンデンサ１および２に使用状態に則したリップル分を含む直流電圧を印加して試験することができる。 （もっと読む）

【課題】電子部品を温度サイクル試験にかける場合に、大気中の水分によるポリイミド樹脂の吸湿、脱水の影響をできる限り排除した試験環境で試験を行う。
【解決手段】部屋９内に、電子部品１、冷却炉２、加熱炉３、電子部品保持部４、運動機構５等を配置し、部屋９の周囲には、運動制御コントローラ６、温度センサ７、電気特性センサ８、湿度計１２等が設け、電子部品の温度差に対する耐性を確認する温度サイクル試験を行う。この際、部屋９内における電子部品の湿度環境を湿度１０％ＲＨ（温度２５°Ｃ）以下に制御する。また、部屋９内から空気を抜いて窒素ガスを充填することにより、吸湿、脱水現象を防止する。 （もっと読む）

【課題】負荷の要求に応じて使用されるキャパシタ電源の温度上昇から寿命を推定しキャパシタ電源の容量評価を簡便に行えるようにする。
【解決手段】少なくとも基準とする温度Ｔ_r 、該温度Ｔ_r に対応するキャパシタの劣化係数α_Tr又は劣化時間ｔ_Trr 、劣化度Ｄ_r 、劣化度Ｄ_r における所定の温度差Ｔ_int 、該所定の温度差に対応する各温度における劣化時間の倍率λからなる寿命推定用のデータ、キャパシタ電源の使用温度Ｔ_x のデータを保持し、
ｔ_Txr ＝λ^(Tr-Tx)/Tint×ｔ_Trr 、α_Tx＝Ｄ_r ／√ｔ_Txr 、ｔ_Tx＝（Ｄ_s ／α_Tx）² により使用温度Ｔ_x における劣化係数α_Tx、劣化度Ｄ_s までの推定寿命ｔ_Txを求める。 （もっと読む）

【課題】本発明は、電気二重層キャパシタの内部抵抗測定装置に係り、特に、電気二重層キャパシタの内部抵抗が低い場合に、その内部抵抗の抵抗値を精度よく測定する内部抵抗測定装置を提供するものである。
【解決手段】電気二重層キャパシタ１に直列に外部抵抗４を接続し、直列に接続された電気二重層キャパシタ１と外部抵抗４の両端の電圧を測定するように構成する。これにより、高精度に内部抵抗を測定することができるものである。 （もっと読む）

【課題】リップル電流を用いるキャパシタ等の素子の試験に関し、各キャパシタ等の素子のリップル電流を等しくすること、交流電源の電流を必要最小限にすること、バイアス電圧を必要最小限にすること、素子に印加されるバイアス電圧を等しくすること、電圧バランス抵抗を除去することから選択された１又は２以上の課題を解決する。
【解決手段】素子（例えば、キャパシタＣ１〜Ｃ６）にリップル電流を付与する第１の電源（交流電源６）と、前記素子にバイアス電圧を付与する第２の電源（直流バイアス電源８）と、直流電流を通過させ交流電流を阻止するバイアス素子とを備え、前記第１の電源に対して前記素子を直列に接続し、前記第２の電源に前記バイアス素子を介して前記素子を並列に接続した構成である。 （もっと読む）

【課題】電気二重層キャパシタの劣化を短時間で、かつ、簡単に検知できるようにする。
【解決手段】フル充電された電気二重層キャパシタ１１に放電抵抗Ｒｄを接続して、その放電抵抗Ｒｄを所定時間接続した後の電圧を測定する。そして、その測定した電圧と電気二重層キャパシタ１１の放電特性に基づいて寿命を判定する。 （もっと読む）

【課題】誘電体層の厚みを極めて薄くしても高い比誘電率と安定した温度特性ならびに絶縁性を有し、かつ高信頼性の積層セラミックコンデンサおよびその製法を得る。
【解決手段】（ａ）前記誘電体層を構成する結晶粒子の最大（平均）粒径が０．２μｍ以下、（ｂ）前記結晶粒子の主成分がチタン酸バリウムであり、（ｃｄ）前記誘電体層のＸ線回折パターンから求められる格子定数（ａ、ｂ、ｃ）の積で表されるユニットセル当りの体積Ｖ_ｂｕｌｋと、前記誘電体層を粉砕して得られた結晶粒子のＸ線回折パターンから求められる格子定数（ａ、ｂ、ｃ）の積で表されるユニットセル当りの体積Ｖ_{ｐｏｗｄｅｒ}との比、Ｖ_ｂｕｌｋ／Ｖ_{ｐｏｗｄｅｒ}≧１．００５の関係を満足する。 （もっと読む）