材料試験機
【課題】 試験準備期間中に、レバー式変位計測装置のレバーが標点からずれることを防止する。
【解決手段】
支持装置１１０は、昇降ビーム７６０によって弾性支持部２４０を昇降可能に支持し、昇降ビーム７６０には、スクリューロッド７４０が螺合され、スクリューロッド７４０はモータ７００によって駆動される。モータ７００によってスクリューロッド７４０を駆動すると、昇降ビーム７６０は上下動し、これにともなって弾性支持部２４０が昇降する。
これによって、レバー式変位計測装置２００は、広範囲に渡って上下位置調節可能となり、試験準備期間中の熱膨張に起因した標点移動に対応する。
【解決手段】
支持装置１１０は、昇降ビーム７６０によって弾性支持部２４０を昇降可能に支持し、昇降ビーム７６０には、スクリューロッド７４０が螺合され、スクリューロッド７４０はモータ７００によって駆動される。モータ７００によってスクリューロッド７４０を駆動すると、昇降ビーム７６０は上下動し、これにともなって弾性支持部２４０が昇降する。
これによって、レバー式変位計測装置２００は、広範囲に渡って上下位置調節可能となり、試験準備期間中の熱膨張に起因した標点移動に対応する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高温試験に好適なレバー式変位計測装置を備えた材料試験機に関する。
【背景技術】
【０００２】
図８に示すように、高温試験のための、従来の材料試験機１０００は、上下のつかみ具１２００、１２２０によって把持される試験片ＴＰを、加熱炉１５００によって所定温度まで加熱して負荷し、試験片ＴＰに生じる変位をレバー式変位計測装置１１００によって計測する。
【０００３】
レバー式変位計測装置１１００は上下１対のレバー１１２０を有し、レバー１１２０を、常温における所定の標点間距離Ｄｏで、試験片ＴＰの面に当接する。さらに、レバー式変位計測装置１１００は、レバー１１２０とともに試験片ＴＰを挟み込んで試験片ＴＰを保持する上下１対の保持棒１１３０を有する。これによって、試験片ＴＰは抱き込み力をもって抱き込み保持されることになる。
【０００４】
加熱炉１５００の温度は、熱電対１５１０を備えた温度調節器１５２０によって調節され、試験片ＴＰの雰囲気が所定試験温度（たとえば摂氏８００度）に達したときに、油圧シリンダ１４００によって試験片ＴＰに負荷を与えつつ、ロードセル１３００によってその負荷を計測する。このときの変位はレバー１１２０の間隔の広がり（開動量）としてセンサ１１１０によって検出される。
【０００５】
従来のレバー式変位計測装置１１００は、バネケース１１４４を内部のバネ１１４２によって支持した弾性支持部１１４０によって上下動可能に支持されており、試験片ＴＰの変位にともなう両標点の下方移動に追従する（図中、想像線で示す。）ようになっている。また、弾性支持部１１４０は、高さ調節ネジ１１４６によって吊り具１１５０に取り付けられ、吊り具１１５０は固定部１１６０に固定されている。
【０００６】
なお、特許文献１には、治具をあらかじめ加熱し得る高温試験が開示され、特許文献２には、高温試験に際して、標点の下方移動に追従して雰囲気装置（加熱炉）を移動する材料試験機が開示され、特許文献３には、レバー式変位計測装置をＸ軸スライダによって保持して、精密にレバー間隔設定を行い得る材料試験装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平５−１４９８９８号公報
【特許文献２】特開平１１−３２６１６８号公報
【特許文献３】特開２００４−３４７３７５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
図８のレバー式変位計測装置１１００は、弾性支持部１１４０によって支持されているため、標点移動に追従する際に弾性反力が生じ、常温から試験温度までの大幅な温度上昇時（試験準備期間中）に、移動量が限界を超えることがあり、レバー１１２０が標点からずれ、さらには試験片ＴＰから外れるという問題があった。
【０００９】
このずれを防止するために、レバー１１２０の試験片に対する当接力（抱き込み力）を大きくすることも考えられるが、抱き込み力が過大になると、試験片ＴＰに亀裂が生じることもある。
【００１０】
さらに、バネ１１４２の特性を試験片ＴＰの熱膨張に応じて選択することも可能であるが、バネの選定、交換は煩雑である。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
（１）請求項1による材料試験機は、試験片に負荷を与える負荷アクチュエータと、前記試験片を所定試験温度に加熱する加熱手段と、前記試験片に先端部が当接されるレバー、および試験片の変形量に応じて生じる前記レバーの開動量を検出するセンサを備えたレバー式変位計測装置と、前記レバー式変位計測装置を前記試験片に対して所定位置に弾性的に保持する支持手段と、前記試験片が前記所定試験温度に達する以前の試験準備期間中に、前記試験片の熱膨張により前記レバーの先端部に変位が生じたときに、前記変位に追従するように前記レバー式変位計測装置を移動させる追従手段とを備えることを特徴とする。
（２）請求項２の発明は、請求項１に記載の材料試験機において、前記追従手段は、前記試験片の熱膨張を検出する熱膨張検出手段と、前記熱膨張による熱応力を解消するように、前記負荷アクチュエータを駆動するアクチュエータ移動手段と、前記負荷アクチュエータの移動量に基づいて前記追従手段を動作させる追従制御手段とを含むことを特徴とする。
（３）請求項３の発明は、請求項１または２に記載の材料試験機において、前記試験準備期間中であるか否かを判定する準備期間判定手段をさらに備え、前記追従制御手段は、前記試験準備期間中であると判断されたときにのみ、前記追従手段を動作させることを特徴とする。
（４）請求項４の発明は、請求項１乃至３のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記追従制御手段は、前記負荷アクチュエータの移動量の略１／２の移動量だけ、前記レバー式変位計測装置を移動させるように前記追従手段を動作させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、試験準備期間中にレバー式変位計測装置のレバーが標点からずれることを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明に係る材料試験機の第１の実施の形態を示す構成図。
【図２】図１の材料試験機におけるレバー式変位計測装置を示す平面図（図１のＩＩ−ＩＩ矢視線沿う断面を含む）。
【図３】図２のレバー式変位計測装置における先端部を示す斜視図。
【図４】図１の材料試験機における試験制御装置の処理を示すフローチャート。
【図５】図１の材料試験機における変位計保持具移動装置の処理を示すフローチャート。
【図６】本発明に係る材料試験機の第２の実施の形態を示す正面図。
【図７】本発明に係る材料試験機の第３の実施形態を示す正面図。
【図８】従来の材料試験機を示す構成図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
−第１の実施の形態−
以下、図１〜図４を参照して本発明による材料試験機の第１の実施の形態について説明する。
図１〜図３に示すように、材料試験機１００は、試験片ＴＰに負荷を与える負荷アクチュエータ、ここでは油圧シリンダ油圧シリンダ５００と、試験片ＴＰを所定温度に加熱する加熱炉６００と、試験片ＴＰの変形量を検出するレバー式変位計測装置２００と、レバー式変位計測装置２００を、試験片ＴＰに対して所定位置に保持する支持装置１１０と、材料試験機１００の全体を制御する制御部８４０とを有する。
【００１５】
材料試験機１００には、加熱炉６００内で試験片ＴＰの上下をつかむつかみ具３００、３２０が設けられ、油圧シリンダ５００は、下方のつかみ具３２０を駆動することにより、試験片ＴＰに負荷を与える。このときの負荷はロードセル４００によって検出される。油圧シリンダ５００には、油圧シリンダ５００のピストン変位を検出するピストン位置検出器５２０が取り付けられている。
【００１６】
図２および図３を参照してレバー式変位計測装置２００を詳細に説明する。レバー式変位計測装置２００は、先端部２２４の尖端２２８が試験片ＴＰに当接される上下一対のレバー２２０と、試験片ＴＰの変形量に応じてレバー２２０に開動が生じたとき、その開動量を検出するセンサ２１０が設けられている。
【００１７】
上下一対のレバー２２０は、試験片ＴＰの面にレバー尖端２２８が常温における所定の標点間距離Ｄｏで当接し、レバー尖端２２８と保持棒２３０との協働によって、試験片ＴＰを抱き込み保持する。
【００１８】
保持棒２３０は、レバー２２０に沿って延びる一対のビーム２７０の先端部に固定され、レバー２２０およびビーム２７０の基端部は保持力調節部２５０に連結されている。保持力調節部２５０は、レバー２２０に連結された引張コイルバネ２５２と、引張コイルバネ２５２に張力を与える調節ネジ２５４とを有し、ビーム２７０はレバー２２０によってガイドされつつ水平移動し得る。保持力調節部２５０はさらに、レバー２２０に固定された支持部材２５６を有し、調節ネジ２５４は支持部材２５６に挿通されている。支持部材２５６は板バネによって構成され、レバー２２０およびビーム２７０を弾性支持している。調節ネジ２５４によって引張コイルバネ２５２の張力を高めることにより、抱き込み力は高まる。
【００１９】
支持装置１１０は、昇降ビーム７６０によって弾性支持部２４０を昇降可能に支持し、昇降ビーム７６０はガイドロッド７８０によって上下方向にガイドされている。昇降ビーム７６０には、スクリューロッド７４０が螺合され、スクリューロッド７４０はモータ７００によって駆動される。モータ７００によってスクリューロッド７４０を駆動すると、昇降ビーム７６０は上下動し、これにともなって弾性支持部２４０が昇降する。モータ７００にはロータリーエンコーダ７２０が接続され、モータ７００の回転数を検出し得る。
【００２０】
弾性支持部２４０は、昇降ビーム７６０によって支持されつつ下方に延びる支軸２４６と、支軸２４６によって下端が支持された圧縮コイルバネ２４２とを有し、圧縮コイルバネ２４２はバネケース２４４内部に収納されている。圧縮コイルバネ２４２は、バネケース２４４内部上端面に接し、バネケース２４４は上下動可能に弾性支持されている。バネケース２４４は、レバー式変位計測装置２００に連結され、レバー式変位計測装置２００全体を弾性支持する。これによって、従来例と同様に、試験準備期間中のある程度の標点移動に対して、レバー２２０は追従する。
【００２１】
なお、図２を参照して説明したとおり、レバー２２０およびビーム２７０は支持部材２５６により弾性支持されているので、試験片ＴＰの標点移動に対するレバー２２０の追従性に寄与する。
【００２２】
さらに、モータ７００によって昇降ビーム７６０を昇降することにより、レバー式変位計測装置２００は、広範囲に渡って上下位置が調節され、試験準備期間中の熱膨張に起因した、いかなる標点移動にも対応することができる。
【００２３】
制御部８４０は、試験制御装置８００および変位計保持具移動装置８２０を含み、モータ７００は、変位計保持具移動装置８２０からのモータ駆動信号ＭＳによって駆動制御される。変位計保持具移動装置８２０にはロータリーエンコーダ７２０のエンコーダ信号ＥＳがフィードバックされている。これによって、変位計保持具移動装置８２０は、モータ７００を制御して昇降ビーム７６０に適正な移動量を与えることができる。
【００２４】
加熱炉６００内の所定位置には、温度調節器６２０の熱電対６１０が配置され、試験片ＴＰの温度を代表する炉内温度が検出される。温度調節器６２０は、炉内温度が所定の試験温度に到達したときに、温度到達信号ＴＳを試験制御装置８００に入力する。
【００２５】
変位計保持具移動装置８２０と試験制御装置８００とは互いに種々の信号を授受するように構成されている。試験制御装置８００には、ロードセル４００によって検出された負荷を示す信号（ロードセル信号）ＬＳと、ピストン位置検出器５２０で検出されたピストン位置を示す信号（ピストン位置信号）ＰＳとが入力されている。さらに、試験制御装置８００は、油圧シリンダ５００に付設されている図示しないサーボ弁に駆動信号ＰＤを出力する。
【００２６】
温度調節器６２０は、昇温開始操作が行われたときに、試験制御装置８００および変位計保持具移動装置８２０に対して昇温開始信号ＦＳを出力する。これによって試験準備期間の処理が開始される。
【００２７】
試験制御装置８００は、試験準備期間中において、試験片ＴＰの熱膨張を計測し、その熱膨張に対応した標点位置移動量だけ、レバー式変位計測装置２００を下方に移動させる。試験片ＴＰが熱膨張するとロードセル５００から負荷信号ＬＳが出力されるので、試験制御装置８００は、その負荷信号がゼロとなるように油圧シリンダ５００を駆動し、油圧シリンダ５００によってつかみ具３２０を下降させる。その下降量はピストン位置信号ＰＳとして試験制御装置８００に入力される。なお、熱膨張による標点位置の移動は、試験片ＴＰの熱膨張の影響だけでなく、試験片ＴＰの両端を把持しているつかみ具３００と３２０の熱膨張によっても起りうる。上述の制御はつかみ具の影響やその他の部材の影響も含めた制御である。
【００２８】
標点位置は、通常、試験片ＴＰの長さ方向中央に設定され、標点位置の移動量は、熱膨張の１／２と見積ることができる。そこで、試験制御装置８００は、ピストン位置信号ＰＳからピストン位置変位Ｐｄを算出し、これを熱膨張による伸びとみなす。さらにピストン位置変位Ｐｄの１／２を変位計位置修正量Ｅｍとして算出する。
【００２９】
試験制御装置８００はこのように算出した変位計位置修正量Ｅｍを、移動量信号ＤＳとして変位計保持具移動装置８２０に入力する。変位計保持具移動装置８２０は、移動量信号ＤＳに基づいてモータ駆動信号ＭＳをモータ７００に出力して、モータ７００を所定回転数だけ回転させて、標点位置移動量だけレバー式変位計測装置２００を下降させる。試験制御装置８００は、エンコーダ信号ＥＳに基づいて、このときの下降量を、標点位置移動量Ｅｄとして算出する。
【００３０】
図４および図５に示すように、材料試験機１００は、制御部８４０によって、以下のステップを実行することによって材料試験を行う。具体的には、試験片の熱膨張による熱応力緩和処理は試験制御装置８００によりピストン５００を移動して行い、ピストン５００の移動に伴う変位計保治具１１０の脱落防止処理は変位計保持具移動装置８２０によって行われる。
【００３１】
図４は、試験制御装置８００で行われる応力緩和処理手順を示すフローチャートである。
ステップＳ４０１において、スイッチ、キーボード等の所定の入力インターフェースからのゼロリセット信号の入力を待つ。ゼロリセット信号が入力されたときにはステップＳ４０２に進む。ステップＳ４０２では、試験制御装置８００によってピストン位置信号ＰＳをゼロリセットしステップＳ４０３に進む。ステップＳ４０３では、温度調節器６２０からの昇温開始信号ＦＳの出力を待つ。昇温開始信号ＦＳが出力されたときは、ステップＳ４０４に進む。
【００３２】
ステップＳ４０４において、ロードセル信号ＬＳが試験片負荷ゼロを示すか否かを判断する。試験片負荷ゼロでないときはステップＳ４０５に進む。試験片負荷ゼロのときはステップＳ４０６に進む。
【００３３】
ステップＳ４０５では、ピストン５００を所定量収縮して下つかみ具３２０を微少量降下させ、ステップＳ４０４に戻る。ステップＳ４０４、Ｓ４０５の処理により、ロードセル信号ＬＳが試験片負荷ゼロを示すように油圧シリンダ５００が駆動される。これによって、試験片ＴＰの負荷が解放され、高温無負荷状態で試験片ＴＰを負荷することが可能になる。なお、降下量は、フィードバック回路によってロードセル信号ＬＳの変化量に応じてピストンが移動する。
【００３４】
ステップＳ４０６では、温度調節器６２０から温度到達信号ＴＳが入力された否かを判断する。温度到達信号ＴＳが入力されたときはステップＳ４０７に進み、スイッチ、キーボード等の所定の入力インターフェースからの試験開始信号ＴＢの入力を待つ。試験開始信号ＴＢが入力されたときは、ステップＳ４０８へ進む。ステップＳ４０８において、所定の試験時の処理を実行する。試験時においては、試験制御装置８００は油圧シリンダのピストン５００によって試験片ＴＰに負荷を与え、そのときの変位と試験力を計測する等の処理を実行する。
【００３５】
図５は、変位計保持具移動装置８２０で行われる脱落防止処理手順を示すフローチャートである。
ステップＳ５０１において、まずスイッチ、キーボード等の所定の入力インターフェースからのゼロリセット信号の入力を待つ。ゼロリセット信号が入力されたときにはステップＳ５０２に進む。ステップＳ５０２では、ピストン位置信号ＰＳとエンコダ信号ＥＳをゼロリセットしステップＳ５０３に進む。
【００３６】
ステップＳ５０３では、温度調節器６２０からの昇温開始信号ＦＳの入力を待つ。昇温開始信号ＦＳが入力されたときは、ステップＳ５０４に進み、ピストン位置信号ＰＳとエンコダ信号ＥＳを読み込み、ステップＳ５０５に進む。
【００３７】
ステップＳ５０５では、ピストン位置信号ＰＳに基づいてピストン位置変位Ｐｄを算出するとともに、変位計位置修正量Ｅｍ＝Ｐｄ／２を算出する。また、エンコーダ信号ＥＳに基づいて標点位置移動量Ｅｄを算出するとともに、標点位置移動量Ｅｄに対応した移動量信号ＤＳを算出する。
【００３８】
ステップＳ５０６では、変位計位置修正量Ｅｍと標点位置移動量Ｅｄとの差（Ｅｍ−Ｅｄ）の絶対値を算出する。そして、この差の絶対値が所定値Δｄよりも小であるか否かを判断する。差の絶対値が所定値Δｄ以上のときはステップＳ５０７に進み、モータ駆動信号ＭＳをモータ７００に出力する。差の絶対値が所定値Δｄより小のときは、図５の処理を終了する。
【００３９】
第１の実施の形態による材料試験機は以下の作用効果を奏する。
（１）試験片ＴＰが所定試験温度に達する以前の試験準備期間中、すなわち試験温度に昇温する期間中に、試験片ＴＰの熱膨張による歪みにより変位計のレバーの先端部が移動したとき、この移動量に追従するようにレバー式変位計測装置を移動させる追従機構を設けた。したがって、試験準備期間中に、レバー式変位計測装置のレバーが標点からずれることを防止することができる。
（２）試験片ＴＰの熱膨張を試験片ＴＰに作用する負荷をゼロにする時のピストン移動量（伸縮量）として検出するようにしたので、新たな検出センサを用いることなく、レバー式変位計測装置を試験片の熱膨張に追従させることができる。
（３）試験準備期間中であると判断されたときにのみ、追従機構を動作させるようにしたので、本試験中に試験片の負荷によって追従機構が誤って動作することを確実に防止できる。
（４）レバー式変位計測装置を弾性支持した上で、熱膨張による試験片ＴＰの歪量の略１／２をレバー式変位計測装置の追従量とした。したがって、レバー式変位計測装置の移動量が試験片ＴＰ中央の移動量に正確に合致しなくても、レバーが試験片ＴＰから脱落することを確実に防止できる。
−第２の実施の形態−
【００４０】
図６を参照して本発明による材料試験機の第２の実施形態について説明する。図中、第１の実施の形態と同一もしくは相当部分には同一符号を付し説明を省略する。
【００４１】
第２の実施形態は、モータ７００を弾性支持部２４０内部に設けたものである。
【００４２】
図６において、支持装置１１０は、従来と同様、固定部８６０に固定された吊り具８５０によって高さ調節ネジ８４６を支持し、高さ調節ネジ８４６によって弾性支持部２４０を支持している。
【００４３】
弾性支持部２４０は、高さ調節ネジ８４６によって下端が支持された圧縮コイルバネ２４２を有し、圧縮コイルバネ２４２はバネケース２４４内部に収納されている。圧縮コイルバネ２４２は、バネケース２４４の内部上端面に接し、バネケース２４４は上下動可能に弾性支持されている。
【００４４】
バネケース２４４下部にはモータ７００が固定され、モータ７００には下方に突出するスクリューロッド７４０が設けられている。スクリューロッド７４０はバネケース２４４を下方に貫通して、レバー式変位計測装置２００に連結されている。レバー式変位計測装置２００には、支持ブロック２２２が設けられ、スクリューロッド７４０は支持ブロック２２２に螺合している。さらに、バネケース２４４の下面には、支持ブロック２２２に向かって突出するガイドロッド８４８が設けられ、ガイドロッド８４８は支持ブロック２２２に挿通されている。ガイドロッド８４８は支持ブロック２２２の回転を阻止しつつ、上下動可能にガイドしている。
【００４５】
スクリューロッド７４０はモータ７００によって回転駆動され、支持ブロック２２２を上下動させる。このとき、支持ブロック２２２はガイドロッド８４８によって回転が阻止されているので、支持ブロック２２２が回転して、上下動が阻害されることはない。
【００４６】
モータ７００にはロータリーエンコーダ７２０が接続され、モータ７００の回転数が検出される。
【００４７】
弾性支持部２４０は、圧縮コイルバネ２４２によって、レバー式変位計測装置２００全体を弾性支持しているので、試験準備期間中のある程度の標点移動に対して自動的に追従できる。さらに、モータ７００の回転による支持ブロック２２２上下動によって、レバー式変位計測装置２００を広範囲に渡って上下位置調節し得るので、試験準備期間中の熱膨張に起因した、いかなる標点移動にも追従することができる。
【００４８】
以上の第２の実施形態による材料試験機によれば、試験準備期間中に、レバー式変位計測装置のレバーが標点からずれることを防止するという作用効果を奏することができる。
−第３の実施形態−
【００４９】
図７を参照して本発明による材料試験機の第３の実施形態について説明する。図中、第１の実施の形態と同一もしくは相当部分には同一符号を付し説明を省略する。
【００５０】
第３の実施形態は、第１の実施の形態のモータ７００に替えて流体圧シリンダ９００を採用したものである。
【００５１】
図７において、支持装置１１０は、昇降ビーム７６０によって弾性支持部２４０を昇降可能に支持し、昇降ビーム７６０はガイドロッド７８０によって上下方向にガイドされている。昇降ビーム７６０には、ピストンロッド９２０が連結され、ピストンロッド９２０は流体圧シリンダ９００によって上下駆動される。流体圧シリンダ９００は、固定ビーム９４０によって固定支持されている。流体圧シリンダ９００によってピストンロッド９２０を駆動すると、昇降ビーム７６０は上下動し、これにともなって弾性支持部２４０が昇降する。
昇降ビーム７６０にはリニアエンコーダ９６０が取り付けられ、昇降ビーム７６０の移動量を検出し得る。弾性支持部２４０は、レバー式変位計測装置２００を上下動可能に弾性支持する。
【００５２】
流体圧シリンダ９００は、変位計保持具移動装置８２０からのシリンダ駆動信号ＳＳによって駆動制御され、リニアエンコーダ９６０のエンコーダ信号ＥＳが変位計保持具移動装置８２０にフィードバックされる。これによって、昇降ビーム７６０の上下移動量が適正化される。
【００５３】
以上の第３の実施形態による材料試験機によれば、試験準備期間中に、レバー式変位計測装置のレバーが標点からずれることを防止するという作用効果を奏することができる。
【符号の説明】
【００５４】
ＴＰ 試験片 １００ 材料試験機
２００ レバー式変位計測装置 ２１０ センサ
２２０ レバー ２２４ 先端部
２４０ 弾性支持部 ４００ ロードセル
５００ 油圧シリンダ ６００ 加熱炉
６２０ 温度調節器 ７００ モータ
７２０ ロータリーエンコーダ ７４０ スクリューロッド
７８０ ガイドロッド ８００ 試験制御装置
８２０ 変位計保持具移動装置 ９００ 流体圧シリンダ
９６０ リニアエンコーダ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高温試験に好適なレバー式変位計測装置を備えた材料試験機に関する。
【背景技術】
【０００２】
図８に示すように、高温試験のための、従来の材料試験機１０００は、上下のつかみ具１２００、１２２０によって把持される試験片ＴＰを、加熱炉１５００によって所定温度まで加熱して負荷し、試験片ＴＰに生じる変位をレバー式変位計測装置１１００によって計測する。
【０００３】
レバー式変位計測装置１１００は上下１対のレバー１１２０を有し、レバー１１２０を、常温における所定の標点間距離Ｄｏで、試験片ＴＰの面に当接する。さらに、レバー式変位計測装置１１００は、レバー１１２０とともに試験片ＴＰを挟み込んで試験片ＴＰを保持する上下１対の保持棒１１３０を有する。これによって、試験片ＴＰは抱き込み力をもって抱き込み保持されることになる。
【０００４】
加熱炉１５００の温度は、熱電対１５１０を備えた温度調節器１５２０によって調節され、試験片ＴＰの雰囲気が所定試験温度（たとえば摂氏８００度）に達したときに、油圧シリンダ１４００によって試験片ＴＰに負荷を与えつつ、ロードセル１３００によってその負荷を計測する。このときの変位はレバー１１２０の間隔の広がり（開動量）としてセンサ１１１０によって検出される。
【０００５】
従来のレバー式変位計測装置１１００は、バネケース１１４４を内部のバネ１１４２によって支持した弾性支持部１１４０によって上下動可能に支持されており、試験片ＴＰの変位にともなう両標点の下方移動に追従する（図中、想像線で示す。）ようになっている。また、弾性支持部１１４０は、高さ調節ネジ１１４６によって吊り具１１５０に取り付けられ、吊り具１１５０は固定部１１６０に固定されている。
【０００６】
なお、特許文献１には、治具をあらかじめ加熱し得る高温試験が開示され、特許文献２には、高温試験に際して、標点の下方移動に追従して雰囲気装置（加熱炉）を移動する材料試験機が開示され、特許文献３には、レバー式変位計測装置をＸ軸スライダによって保持して、精密にレバー間隔設定を行い得る材料試験装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平５−１４９８９８号公報
【特許文献２】特開平１１−３２６１６８号公報
【特許文献３】特開２００４−３４７３７５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
図８のレバー式変位計測装置１１００は、弾性支持部１１４０によって支持されているため、標点移動に追従する際に弾性反力が生じ、常温から試験温度までの大幅な温度上昇時（試験準備期間中）に、移動量が限界を超えることがあり、レバー１１２０が標点からずれ、さらには試験片ＴＰから外れるという問題があった。
【０００９】
このずれを防止するために、レバー１１２０の試験片に対する当接力（抱き込み力）を大きくすることも考えられるが、抱き込み力が過大になると、試験片ＴＰに亀裂が生じることもある。
【００１０】
さらに、バネ１１４２の特性を試験片ＴＰの熱膨張に応じて選択することも可能であるが、バネの選定、交換は煩雑である。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
（１）請求項1による材料試験機は、試験片に負荷を与える負荷アクチュエータと、前記試験片を所定試験温度に加熱する加熱手段と、前記試験片に先端部が当接されるレバー、および試験片の変形量に応じて生じる前記レバーの開動量を検出するセンサを備えたレバー式変位計測装置と、前記レバー式変位計測装置を前記試験片に対して所定位置に弾性的に保持する支持手段と、前記試験片が前記所定試験温度に達する以前の試験準備期間中に、前記試験片の熱膨張により前記レバーの先端部に変位が生じたときに、前記変位に追従するように前記レバー式変位計測装置を移動させる追従手段とを備えることを特徴とする。
（２）請求項２の発明は、請求項１に記載の材料試験機において、前記追従手段は、前記試験片の熱膨張を検出する熱膨張検出手段と、前記熱膨張による熱応力を解消するように、前記負荷アクチュエータを駆動するアクチュエータ移動手段と、前記負荷アクチュエータの移動量に基づいて前記追従手段を動作させる追従制御手段とを含むことを特徴とする。
（３）請求項３の発明は、請求項１または２に記載の材料試験機において、前記試験準備期間中であるか否かを判定する準備期間判定手段をさらに備え、前記追従制御手段は、前記試験準備期間中であると判断されたときにのみ、前記追従手段を動作させることを特徴とする。
（４）請求項４の発明は、請求項１乃至３のいずれか１項に記載の材料試験機において、前記追従制御手段は、前記負荷アクチュエータの移動量の略１／２の移動量だけ、前記レバー式変位計測装置を移動させるように前記追従手段を動作させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、試験準備期間中にレバー式変位計測装置のレバーが標点からずれることを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明に係る材料試験機の第１の実施の形態を示す構成図。
【図２】図１の材料試験機におけるレバー式変位計測装置を示す平面図（図１のＩＩ−ＩＩ矢視線沿う断面を含む）。
【図３】図２のレバー式変位計測装置における先端部を示す斜視図。
【図４】図１の材料試験機における試験制御装置の処理を示すフローチャート。
【図５】図１の材料試験機における変位計保持具移動装置の処理を示すフローチャート。
【図６】本発明に係る材料試験機の第２の実施の形態を示す正面図。
【図７】本発明に係る材料試験機の第３の実施形態を示す正面図。
【図８】従来の材料試験機を示す構成図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
−第１の実施の形態−
以下、図１〜図４を参照して本発明による材料試験機の第１の実施の形態について説明する。
図１〜図３に示すように、材料試験機１００は、試験片ＴＰに負荷を与える負荷アクチュエータ、ここでは油圧シリンダ油圧シリンダ５００と、試験片ＴＰを所定温度に加熱する加熱炉６００と、試験片ＴＰの変形量を検出するレバー式変位計測装置２００と、レバー式変位計測装置２００を、試験片ＴＰに対して所定位置に保持する支持装置１１０と、材料試験機１００の全体を制御する制御部８４０とを有する。
【００１５】
材料試験機１００には、加熱炉６００内で試験片ＴＰの上下をつかむつかみ具３００、３２０が設けられ、油圧シリンダ５００は、下方のつかみ具３２０を駆動することにより、試験片ＴＰに負荷を与える。このときの負荷はロードセル４００によって検出される。油圧シリンダ５００には、油圧シリンダ５００のピストン変位を検出するピストン位置検出器５２０が取り付けられている。
【００１６】
図２および図３を参照してレバー式変位計測装置２００を詳細に説明する。レバー式変位計測装置２００は、先端部２２４の尖端２２８が試験片ＴＰに当接される上下一対のレバー２２０と、試験片ＴＰの変形量に応じてレバー２２０に開動が生じたとき、その開動量を検出するセンサ２１０が設けられている。
【００１７】
上下一対のレバー２２０は、試験片ＴＰの面にレバー尖端２２８が常温における所定の標点間距離Ｄｏで当接し、レバー尖端２２８と保持棒２３０との協働によって、試験片ＴＰを抱き込み保持する。
【００１８】
保持棒２３０は、レバー２２０に沿って延びる一対のビーム２７０の先端部に固定され、レバー２２０およびビーム２７０の基端部は保持力調節部２５０に連結されている。保持力調節部２５０は、レバー２２０に連結された引張コイルバネ２５２と、引張コイルバネ２５２に張力を与える調節ネジ２５４とを有し、ビーム２７０はレバー２２０によってガイドされつつ水平移動し得る。保持力調節部２５０はさらに、レバー２２０に固定された支持部材２５６を有し、調節ネジ２５４は支持部材２５６に挿通されている。支持部材２５６は板バネによって構成され、レバー２２０およびビーム２７０を弾性支持している。調節ネジ２５４によって引張コイルバネ２５２の張力を高めることにより、抱き込み力は高まる。
【００１９】
支持装置１１０は、昇降ビーム７６０によって弾性支持部２４０を昇降可能に支持し、昇降ビーム７６０はガイドロッド７８０によって上下方向にガイドされている。昇降ビーム７６０には、スクリューロッド７４０が螺合され、スクリューロッド７４０はモータ７００によって駆動される。モータ７００によってスクリューロッド７４０を駆動すると、昇降ビーム７６０は上下動し、これにともなって弾性支持部２４０が昇降する。モータ７００にはロータリーエンコーダ７２０が接続され、モータ７００の回転数を検出し得る。
【００２０】
弾性支持部２４０は、昇降ビーム７６０によって支持されつつ下方に延びる支軸２４６と、支軸２４６によって下端が支持された圧縮コイルバネ２４２とを有し、圧縮コイルバネ２４２はバネケース２４４内部に収納されている。圧縮コイルバネ２４２は、バネケース２４４内部上端面に接し、バネケース２４４は上下動可能に弾性支持されている。バネケース２４４は、レバー式変位計測装置２００に連結され、レバー式変位計測装置２００全体を弾性支持する。これによって、従来例と同様に、試験準備期間中のある程度の標点移動に対して、レバー２２０は追従する。
【００２１】
なお、図２を参照して説明したとおり、レバー２２０およびビーム２７０は支持部材２５６により弾性支持されているので、試験片ＴＰの標点移動に対するレバー２２０の追従性に寄与する。
【００２２】
さらに、モータ７００によって昇降ビーム７６０を昇降することにより、レバー式変位計測装置２００は、広範囲に渡って上下位置が調節され、試験準備期間中の熱膨張に起因した、いかなる標点移動にも対応することができる。
【００２３】
制御部８４０は、試験制御装置８００および変位計保持具移動装置８２０を含み、モータ７００は、変位計保持具移動装置８２０からのモータ駆動信号ＭＳによって駆動制御される。変位計保持具移動装置８２０にはロータリーエンコーダ７２０のエンコーダ信号ＥＳがフィードバックされている。これによって、変位計保持具移動装置８２０は、モータ７００を制御して昇降ビーム７６０に適正な移動量を与えることができる。
【００２４】
加熱炉６００内の所定位置には、温度調節器６２０の熱電対６１０が配置され、試験片ＴＰの温度を代表する炉内温度が検出される。温度調節器６２０は、炉内温度が所定の試験温度に到達したときに、温度到達信号ＴＳを試験制御装置８００に入力する。
【００２５】
変位計保持具移動装置８２０と試験制御装置８００とは互いに種々の信号を授受するように構成されている。試験制御装置８００には、ロードセル４００によって検出された負荷を示す信号（ロードセル信号）ＬＳと、ピストン位置検出器５２０で検出されたピストン位置を示す信号（ピストン位置信号）ＰＳとが入力されている。さらに、試験制御装置８００は、油圧シリンダ５００に付設されている図示しないサーボ弁に駆動信号ＰＤを出力する。
【００２６】
温度調節器６２０は、昇温開始操作が行われたときに、試験制御装置８００および変位計保持具移動装置８２０に対して昇温開始信号ＦＳを出力する。これによって試験準備期間の処理が開始される。
【００２７】
試験制御装置８００は、試験準備期間中において、試験片ＴＰの熱膨張を計測し、その熱膨張に対応した標点位置移動量だけ、レバー式変位計測装置２００を下方に移動させる。試験片ＴＰが熱膨張するとロードセル５００から負荷信号ＬＳが出力されるので、試験制御装置８００は、その負荷信号がゼロとなるように油圧シリンダ５００を駆動し、油圧シリンダ５００によってつかみ具３２０を下降させる。その下降量はピストン位置信号ＰＳとして試験制御装置８００に入力される。なお、熱膨張による標点位置の移動は、試験片ＴＰの熱膨張の影響だけでなく、試験片ＴＰの両端を把持しているつかみ具３００と３２０の熱膨張によっても起りうる。上述の制御はつかみ具の影響やその他の部材の影響も含めた制御である。
【００２８】
標点位置は、通常、試験片ＴＰの長さ方向中央に設定され、標点位置の移動量は、熱膨張の１／２と見積ることができる。そこで、試験制御装置８００は、ピストン位置信号ＰＳからピストン位置変位Ｐｄを算出し、これを熱膨張による伸びとみなす。さらにピストン位置変位Ｐｄの１／２を変位計位置修正量Ｅｍとして算出する。
【００２９】
試験制御装置８００はこのように算出した変位計位置修正量Ｅｍを、移動量信号ＤＳとして変位計保持具移動装置８２０に入力する。変位計保持具移動装置８２０は、移動量信号ＤＳに基づいてモータ駆動信号ＭＳをモータ７００に出力して、モータ７００を所定回転数だけ回転させて、標点位置移動量だけレバー式変位計測装置２００を下降させる。試験制御装置８００は、エンコーダ信号ＥＳに基づいて、このときの下降量を、標点位置移動量Ｅｄとして算出する。
【００３０】
図４および図５に示すように、材料試験機１００は、制御部８４０によって、以下のステップを実行することによって材料試験を行う。具体的には、試験片の熱膨張による熱応力緩和処理は試験制御装置８００によりピストン５００を移動して行い、ピストン５００の移動に伴う変位計保治具１１０の脱落防止処理は変位計保持具移動装置８２０によって行われる。
【００３１】
図４は、試験制御装置８００で行われる応力緩和処理手順を示すフローチャートである。
ステップＳ４０１において、スイッチ、キーボード等の所定の入力インターフェースからのゼロリセット信号の入力を待つ。ゼロリセット信号が入力されたときにはステップＳ４０２に進む。ステップＳ４０２では、試験制御装置８００によってピストン位置信号ＰＳをゼロリセットしステップＳ４０３に進む。ステップＳ４０３では、温度調節器６２０からの昇温開始信号ＦＳの出力を待つ。昇温開始信号ＦＳが出力されたときは、ステップＳ４０４に進む。
【００３２】
ステップＳ４０４において、ロードセル信号ＬＳが試験片負荷ゼロを示すか否かを判断する。試験片負荷ゼロでないときはステップＳ４０５に進む。試験片負荷ゼロのときはステップＳ４０６に進む。
【００３３】
ステップＳ４０５では、ピストン５００を所定量収縮して下つかみ具３２０を微少量降下させ、ステップＳ４０４に戻る。ステップＳ４０４、Ｓ４０５の処理により、ロードセル信号ＬＳが試験片負荷ゼロを示すように油圧シリンダ５００が駆動される。これによって、試験片ＴＰの負荷が解放され、高温無負荷状態で試験片ＴＰを負荷することが可能になる。なお、降下量は、フィードバック回路によってロードセル信号ＬＳの変化量に応じてピストンが移動する。
【００３４】
ステップＳ４０６では、温度調節器６２０から温度到達信号ＴＳが入力された否かを判断する。温度到達信号ＴＳが入力されたときはステップＳ４０７に進み、スイッチ、キーボード等の所定の入力インターフェースからの試験開始信号ＴＢの入力を待つ。試験開始信号ＴＢが入力されたときは、ステップＳ４０８へ進む。ステップＳ４０８において、所定の試験時の処理を実行する。試験時においては、試験制御装置８００は油圧シリンダのピストン５００によって試験片ＴＰに負荷を与え、そのときの変位と試験力を計測する等の処理を実行する。
【００３５】
図５は、変位計保持具移動装置８２０で行われる脱落防止処理手順を示すフローチャートである。
ステップＳ５０１において、まずスイッチ、キーボード等の所定の入力インターフェースからのゼロリセット信号の入力を待つ。ゼロリセット信号が入力されたときにはステップＳ５０２に進む。ステップＳ５０２では、ピストン位置信号ＰＳとエンコダ信号ＥＳをゼロリセットしステップＳ５０３に進む。
【００３６】
ステップＳ５０３では、温度調節器６２０からの昇温開始信号ＦＳの入力を待つ。昇温開始信号ＦＳが入力されたときは、ステップＳ５０４に進み、ピストン位置信号ＰＳとエンコダ信号ＥＳを読み込み、ステップＳ５０５に進む。
【００３７】
ステップＳ５０５では、ピストン位置信号ＰＳに基づいてピストン位置変位Ｐｄを算出するとともに、変位計位置修正量Ｅｍ＝Ｐｄ／２を算出する。また、エンコーダ信号ＥＳに基づいて標点位置移動量Ｅｄを算出するとともに、標点位置移動量Ｅｄに対応した移動量信号ＤＳを算出する。
【００３８】
ステップＳ５０６では、変位計位置修正量Ｅｍと標点位置移動量Ｅｄとの差（Ｅｍ−Ｅｄ）の絶対値を算出する。そして、この差の絶対値が所定値Δｄよりも小であるか否かを判断する。差の絶対値が所定値Δｄ以上のときはステップＳ５０７に進み、モータ駆動信号ＭＳをモータ７００に出力する。差の絶対値が所定値Δｄより小のときは、図５の処理を終了する。
【００３９】
第１の実施の形態による材料試験機は以下の作用効果を奏する。
（１）試験片ＴＰが所定試験温度に達する以前の試験準備期間中、すなわち試験温度に昇温する期間中に、試験片ＴＰの熱膨張による歪みにより変位計のレバーの先端部が移動したとき、この移動量に追従するようにレバー式変位計測装置を移動させる追従機構を設けた。したがって、試験準備期間中に、レバー式変位計測装置のレバーが標点からずれることを防止することができる。
（２）試験片ＴＰの熱膨張を試験片ＴＰに作用する負荷をゼロにする時のピストン移動量（伸縮量）として検出するようにしたので、新たな検出センサを用いることなく、レバー式変位計測装置を試験片の熱膨張に追従させることができる。
（３）試験準備期間中であると判断されたときにのみ、追従機構を動作させるようにしたので、本試験中に試験片の負荷によって追従機構が誤って動作することを確実に防止できる。
（４）レバー式変位計測装置を弾性支持した上で、熱膨張による試験片ＴＰの歪量の略１／２をレバー式変位計測装置の追従量とした。したがって、レバー式変位計測装置の移動量が試験片ＴＰ中央の移動量に正確に合致しなくても、レバーが試験片ＴＰから脱落することを確実に防止できる。
−第２の実施の形態−
【００４０】
図６を参照して本発明による材料試験機の第２の実施形態について説明する。図中、第１の実施の形態と同一もしくは相当部分には同一符号を付し説明を省略する。
【００４１】
第２の実施形態は、モータ７００を弾性支持部２４０内部に設けたものである。
【００４２】
図６において、支持装置１１０は、従来と同様、固定部８６０に固定された吊り具８５０によって高さ調節ネジ８４６を支持し、高さ調節ネジ８４６によって弾性支持部２４０を支持している。
【００４３】
弾性支持部２４０は、高さ調節ネジ８４６によって下端が支持された圧縮コイルバネ２４２を有し、圧縮コイルバネ２４２はバネケース２４４内部に収納されている。圧縮コイルバネ２４２は、バネケース２４４の内部上端面に接し、バネケース２４４は上下動可能に弾性支持されている。
【００４４】
バネケース２４４下部にはモータ７００が固定され、モータ７００には下方に突出するスクリューロッド７４０が設けられている。スクリューロッド７４０はバネケース２４４を下方に貫通して、レバー式変位計測装置２００に連結されている。レバー式変位計測装置２００には、支持ブロック２２２が設けられ、スクリューロッド７４０は支持ブロック２２２に螺合している。さらに、バネケース２４４の下面には、支持ブロック２２２に向かって突出するガイドロッド８４８が設けられ、ガイドロッド８４８は支持ブロック２２２に挿通されている。ガイドロッド８４８は支持ブロック２２２の回転を阻止しつつ、上下動可能にガイドしている。
【００４５】
スクリューロッド７４０はモータ７００によって回転駆動され、支持ブロック２２２を上下動させる。このとき、支持ブロック２２２はガイドロッド８４８によって回転が阻止されているので、支持ブロック２２２が回転して、上下動が阻害されることはない。
【００４６】
モータ７００にはロータリーエンコーダ７２０が接続され、モータ７００の回転数が検出される。
【００４７】
弾性支持部２４０は、圧縮コイルバネ２４２によって、レバー式変位計測装置２００全体を弾性支持しているので、試験準備期間中のある程度の標点移動に対して自動的に追従できる。さらに、モータ７００の回転による支持ブロック２２２上下動によって、レバー式変位計測装置２００を広範囲に渡って上下位置調節し得るので、試験準備期間中の熱膨張に起因した、いかなる標点移動にも追従することができる。
【００４８】
以上の第２の実施形態による材料試験機によれば、試験準備期間中に、レバー式変位計測装置のレバーが標点からずれることを防止するという作用効果を奏することができる。
−第３の実施形態−
【００４９】
図７を参照して本発明による材料試験機の第３の実施形態について説明する。図中、第１の実施の形態と同一もしくは相当部分には同一符号を付し説明を省略する。
【００５０】
第３の実施形態は、第１の実施の形態のモータ７００に替えて流体圧シリンダ９００を採用したものである。
【００５１】
図７において、支持装置１１０は、昇降ビーム７６０によって弾性支持部２４０を昇降可能に支持し、昇降ビーム７６０はガイドロッド７８０によって上下方向にガイドされている。昇降ビーム７６０には、ピストンロッド９２０が連結され、ピストンロッド９２０は流体圧シリンダ９００によって上下駆動される。流体圧シリンダ９００は、固定ビーム９４０によって固定支持されている。流体圧シリンダ９００によってピストンロッド９２０を駆動すると、昇降ビーム７６０は上下動し、これにともなって弾性支持部２４０が昇降する。
昇降ビーム７６０にはリニアエンコーダ９６０が取り付けられ、昇降ビーム７６０の移動量を検出し得る。弾性支持部２４０は、レバー式変位計測装置２００を上下動可能に弾性支持する。
【００５２】
流体圧シリンダ９００は、変位計保持具移動装置８２０からのシリンダ駆動信号ＳＳによって駆動制御され、リニアエンコーダ９６０のエンコーダ信号ＥＳが変位計保持具移動装置８２０にフィードバックされる。これによって、昇降ビーム７６０の上下移動量が適正化される。
【００５３】
以上の第３の実施形態による材料試験機によれば、試験準備期間中に、レバー式変位計測装置のレバーが標点からずれることを防止するという作用効果を奏することができる。
【符号の説明】
【００５４】
ＴＰ 試験片 １００ 材料試験機
２００ レバー式変位計測装置 ２１０ センサ
２２０ レバー ２２４ 先端部
２４０ 弾性支持部 ４００ ロードセル
５００ 油圧シリンダ ６００ 加熱炉
６２０ 温度調節器 ７００ モータ
７２０ ロータリーエンコーダ ７４０ スクリューロッド
７８０ ガイドロッド ８００ 試験制御装置
８２０ 変位計保持具移動装置 ９００ 流体圧シリンダ
９６０ リニアエンコーダ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験片に負荷を与える負荷アクチュエータと、
前記試験片を所定試験温度に加熱する加熱手段と、
前記試験片に先端部が当接されるレバー、および試験片の変形量に応じて生じる前記レバーの開動量を検出するセンサを備えたレバー式変位計測装置と、
前記レバー式変位計測装置を前記試験片に対して所定位置に弾性的に保持する支持手段と、
前記試験片が前記所定試験温度に達する以前の試験準備期間中に、前記試験片の熱膨張により前記レバーの先端部に変位が生じたときに、前記変位に追従するように前記レバー式変位計測装置を移動させる追従手段とを備えることを特徴とする材料試験機。
【請求項２】
請求項１に記載の材料試験機において、
前記追従手段は、
前記試験片の熱膨張を検出する熱膨張検出手段と、
前記熱膨張による熱応力を解消するように、前記負荷アクチュエータを駆動するアクチュエータ移動手段と、
前記負荷アクチュエータの移動量に基づいて前記追従手段を動作させる追従制御手段とを含むことを特徴とする材料試験機。
【請求項３】
請求項１または２に記載の材料試験機において、
前記試験準備期間中であるか否かを判定する準備期間判定手段をさらに備え、
前記追従制御手段は、前記試験準備期間中であると判断されたときにのみ、前記追従手段を動作させることを特徴とする材料試験機。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか１項に記載の材料試験機において、
前記追従制御手段は、前記負荷アクチュエータの移動量の略１／２の移動量だけ、前記レバー式変位計測装置を移動させるように前記追従手段を動作させることを特徴とする材料試験機。
【請求項１】
試験片に負荷を与える負荷アクチュエータと、
前記試験片を所定試験温度に加熱する加熱手段と、
前記試験片に先端部が当接されるレバー、および試験片の変形量に応じて生じる前記レバーの開動量を検出するセンサを備えたレバー式変位計測装置と、
前記レバー式変位計測装置を前記試験片に対して所定位置に弾性的に保持する支持手段と、
前記試験片が前記所定試験温度に達する以前の試験準備期間中に、前記試験片の熱膨張により前記レバーの先端部に変位が生じたときに、前記変位に追従するように前記レバー式変位計測装置を移動させる追従手段とを備えることを特徴とする材料試験機。
【請求項２】
請求項１に記載の材料試験機において、
前記追従手段は、
前記試験片の熱膨張を検出する熱膨張検出手段と、
前記熱膨張による熱応力を解消するように、前記負荷アクチュエータを駆動するアクチュエータ移動手段と、
前記負荷アクチュエータの移動量に基づいて前記追従手段を動作させる追従制御手段とを含むことを特徴とする材料試験機。
【請求項３】
請求項１または２に記載の材料試験機において、
前記試験準備期間中であるか否かを判定する準備期間判定手段をさらに備え、
前記追従制御手段は、前記試験準備期間中であると判断されたときにのみ、前記追従手段を動作させることを特徴とする材料試験機。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか１項に記載の材料試験機において、
前記追従制御手段は、前記負荷アクチュエータの移動量の略１／２の移動量だけ、前記レバー式変位計測装置を移動させるように前記追従手段を動作させることを特徴とする材料試験機。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１０−２７１２７１（Ｐ２０１０−２７１２７１Ａ）
【公開日】平成２２年１２月２日（２０１０．１２．２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−１２５３５２（Ｐ２００９−１２５３５２）
【出願日】平成２１年５月２５日（２００９．５．２５）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年１２月２日（２０１０．１２．２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年５月２５日（２００９．５．２５）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
【Ｆターム（参考）】
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