【課題】半導体ウェーハのように、温度サイクル試験中に、半導体ウェーハそのものに傷がついたり、試験槽内のゴミが付着するなどの特有の問題が生じる被試験物の試験を可能とする温度試験サイクル試験装置を提供する。
【解決手段】試験槽１と、半導体ウェーハ２（被試験物）の温度を制御するウェーハチャック３（制御部）と、を備え、ウェーハチャック３は、試験槽１内に半導体ウェーハ２を配置する設置領域３１と、試験槽１の外部から、半導体ウェーハ２の温度を熱伝導によって変化させる温度を調整する機能と、を備える。 （もっと読む）

【課題】冷熱衝撃試験に使用する環境試験装置であり、複数の圧縮機を備えることにより省エネできる環境試験装置を提供する。
【解決手段】低温側圧縮部４１は２基の圧縮機５０，５１を備えている。冷却装置１５の動作モードとして、２基の圧縮機５０，５１を使用して温度制御に寄与させるフル運転モードと、一方の圧縮機５０，５１だけを使用して他方の圧縮機５０，５１を休止させる省エネ運転モードがある。フル運転モードの際には、２基の圧縮機５０，５１が運転される。 （もっと読む）

【課題】冷熱衝撃試験装置の電力消費量を低減する。
【解決手段】冷熱衝撃試験装置は、試料が配置される試験槽と、試験槽に供給する所定温度の低温気体を生成するための冷凍機および第１加熱器を有する低温槽と、試験槽に供給する所定温度より高い高温気体を生成するための第２加熱器を有する高温槽とを備えており、試験槽に低温槽から低温気体を供給して試料を低温雰囲気にさらす低温さらし状態と、低温さらし状態の後において試験槽に高温槽から高温気体を供給して試料を高温雰囲気にさらす高温さらし状態とを含む冷熱サイクル動作を繰り返す冷熱衝撃試験を行う。冷熱衝撃試験装置は、高温さらし状態が終了した後、次の冷熱サイクル動作を開始する前に、冷凍機、第１加熱器および第２加熱器のうちの少なくとも１つを停止させて試験の中断を開始する第１制御手段を備える。 （もっと読む）

【課題】回路基板上に実装されている複数の電子部品に対して、同時にまたは個別に温度サイクルを与えることができる、加熱冷却試験方法および加熱冷却試験装置を提供する。
【解決手段】レーザビームを発振させるレーザ発振器１と、レーザビームを整形するビーム整形光学系２と、回路基板５を冷却する冷却装置９と、電子部品６ａ〜６ｅの温度を測定する温度測定器１２ａ、１２ｂと、電子部品の上面に載せられるレーザ吸収体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｅと、電子部品の上面に載せられたレーザ吸収体の上面にレーザビーム３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｅを照射して電子部品を昇温させる昇温ステップ、および電子部品を冷却する冷却ステップを繰り返し行なわせる制御装置１３とを備えた。 （もっと読む）

【課題】セメント系材料の爆裂などの熱損傷の解析・対策技術を提供する。
【解決手段】セメント系材料の熱損傷度を測定する装置であって、セメント系材料試験体６を拘束する試験体拘束手段１と、前記試験体拘束手段１で拘束されたセメント系材料試験体６の熱応力特性を測定する熱応力特性測定手段３とを具備する。更にセメント系材料試験体６の内部に発生する水蒸気圧を測定する水蒸気圧測定手段７を具備する。 （もっと読む）

【課題】相変態を伴う温度変化中の材料の変形量を高精度で測定し、変態塑性係数を正確に同定することができる変態塑性係数測定装置および変態塑性係数測定方法を提供する。
【解決手段】加熱と急冷を行うための容器２と、一方端が上記容器２内壁の支持部に固定される試験片３と、上記試験片に沿って冷却ガスを接触させる冷却通路３ａと、上記冷却通路に冷却ガスを供給し、上記容器内で加熱された上記試験片を急冷する冷却ガス供給系と、急冷によって変化していく上記試験片の温度、変形量などの相変態情報を連続的に取得する温度計９、レーザー変位計１１と、上記連続的に取得された相変態情報を順次蓄積するとともに、蓄積された上記相変態情報を予めプログラムされた解析方法にしたがって解析することにより、変態塑性係数を算出するデータ収録・解析装置１０とを備えてなることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】装置全体ではなく部分的な変更のみにより各種大きさの試験体の火災時破壊挙動を適切に観測し得る構造部材の載荷加熱試験装置を提供する。
【解決手段】加熱炉等の加熱装置１に、該加熱装置１で発生する熱を通過させる熱通過窓２が設けられた耐火マスク３を、前記加熱装置１の開口を覆うように取り付け、該耐火マスク３に対し載荷装置５を、前記熱通過窓２の外周を取り囲むように別体に配置することにより、前記熱通過窓２を塞ぐようにセットされる構造部材の試験体４に前記載荷装置５で圧縮荷重を付与する。 （もっと読む）

【課題】板ガラスの辺に沿う端縁部や貫通孔の内壁部等の検査対象部に破損原因となる欠陥が存在する場合に、当該板ガラスの良否を正確且つ確実に検査する。
【解決手段】略矩形状をなす板ガラス１の検査対象部（辺２１に沿う端縁部２１ａ）に破損原因となる欠陥が存在しているか否かを検査するに際して、検査対象部２１ａに引張応力が発現した態様となるように、板ガラス１を表裏両側から加熱手段３により均等に加熱して、引張応力により板ガラス１に破損が生じるか否かを判別する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、試験の時間効率を確保すると共に、省エネルギーを図りつつ、高い試験精度を確保できる冷熱衝撃試験装置を提供することを目的とした。
【解決手段】冷熱衝撃試験装置１は、高温槽２と低温槽３を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。また、一方の槽を活用して試験制御が実行されている間は、他方の槽において移行準備制御が実行される。移行準備制御では、試験制御を行ってから一定の休止時間を経てから昇温又は温度低下が行われる。この休止時間は、温度情報収集機能により槽内の温度変化に関する情報が収集され、休止時間決定機能によりその収集された情報に基づいて休止時間が決定される。温度変化に関する情報は自動更新されるため、より実体にあった制御を可能とする。 （もっと読む）

【課題】実際の使用状況下で試験体に生じる不具合の再現性を確保しつつ、試験の加速性を向上することが可能な環境試験装置を提供する。
【解決手段】この環境試験装置は、内部に試験体を収容可能な第１試験槽２と、第１試験槽２内に泡状の気液二相状態の試験域を形成する第１気液二相形成装置４と、第１試験槽２内の気液二相状態の試験域の温度を所定の高温に調節するための加熱器６と、内部に試験体を収容可能な第２試験槽８と、第２試験槽８内に泡状の気液二相状態の試験域を形成する第２気液二相形成装置１０と、第２試験槽８内の気液二相状態の試験域の温度を所定の低温に調節するための第２試験槽温度調節装置１２と、試験体を第１試験槽２内の泡状の気液二相状態の試験域に浸漬する位置と第２試験槽８内の泡状の気液二相状態の試験域に浸漬する位置との間で移送する移送装置１６とを備えている。 （もっと読む）