磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置
【課題】サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減する磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置を提供する。
【解決手段】磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間とトラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、基準経路に対するヘッドの位置であるオフセットについて隣接する区間同士のオフセットが異なるように区間毎に少なくとも１つのオフセットを設定する設定部３３と、設定部により設定された区間毎のオフセットへ第１データパターンをライトし、基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、ライト部によりライトされた第１データパターンをリードするリード部と、リード部によりリードされた第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部３４とを有する。
【解決手段】磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間とトラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、基準経路に対するヘッドの位置であるオフセットについて隣接する区間同士のオフセットが異なるように区間毎に少なくとも１つのオフセットを設定する設定部３３と、設定部により設定された区間毎のオフセットへ第１データパターンをライトし、基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、ライト部によりライトされた第１データパターンをリードするリード部と、リード部によりリードされた第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部３４とを有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気記憶装置に用いられるヘッドの試験を行う磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の磁気ディスク装置におけるサイドイレーズ測定処理について説明する。
【０００３】
ここでは、磁気ディスク装置制御装置が磁気ディスク装置へ指示を行うことにより、サイドイレーズ測定処理を行う。従来のサイドイレーズ測定処理のフローは、例えば以下のようになる。
【０００４】
（Ｓ１１１）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックの隣接トラック以遠の所定の複数のトラックへリード用データパターンをライトさせ、リード用データパターンをリードさせる。
（Ｓ１１２）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックへ複数回にわたってイレーズ用データパターンをイレーズライトさせる。
（Ｓ１１３）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、リード用データパターンをリードさせ、Ｓ１１１でリードされた信号に対する信号の品質劣化により磁気記録ヘッドのサイドイレーズ特性を測定する。
【０００５】
従来のサイドイレーズ測定処理におけるリード用データパターン及びイレーズ用データパターンの配置について以下に説明する。
【０００６】
図１７は、従来のサイドイレーズ測定処理におけるリード用データパターン及びイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。このように、従来のサイドイレーズ測定処理は、リード用データパターンをライトする際、指定されたトラック全体にライトする。
【０００７】
従来の磁気ディスク装置におけるＴＰＩＭ（トラックピッチマージン）測定処理について説明する。
【０００８】
ＴＰＩＭは、予め設定されたＴＰ（トラックピッチ）に対するマージンである。ここでは、磁気ディスク装置制御装置が磁気ディスク装置へ指示を行うことにより、ＴＰＩＭ測定処理を行う。従来のＴＰＩＭ測定処理のフローは、例えば以下のようになる。
【０００９】
（Ｓ１２１）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックへリード用データパターンをライトさせ、リード用データパターンをリードさせ、センタートラックのエラーレートを測定する。
（Ｓ１２２）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックから所定のオフセット量において１回イレーズ用データパターンをライトさせる。
（Ｓ１２３）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックのリード用データパターンをリードさせ、Ｓ１２１で測定されたエラーレートに対するエラーレート劣化量を測定する。
（Ｓ１２４）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックに対するオフセット量を狭めつつＳ１２１〜Ｓ１２３を繰り返させ、センタートラックのリード用データパターンのエラーレートが所定の悪化量以下となる条件を満たすオフセット位置を求め、このオフセット位置とＴＰとの差をＴＰＩＭとする。
【００１０】
従来のＴＰＩＭ測定処理におけるリード用データパターン及びイレーズ用データパターンの配置について以下に説明する。
【００１１】
図１８は、従来のＴＰＩＭ測定処理における１回目のイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。図１９は、従来のＴＰＩＭ測定処理における２回目のイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。このように、従来のＴＰＩＭ測定処理は、イレーズ用データパターンをライトする際、指定されたトラック全体にライトする。
【００１２】
図２０は、従来のＴＰＩＭ測定処理による測定結果の一例を示す概念図である。横軸は、オフセット量を示し、縦軸は、エラーレートを示す。処理Ｓ１２３において、磁気ディスク装置制御装置は、オフセット量に対するセンタートラックのリード用データパターンのエラーレートをプロットする。処理Ｓ１２４において、磁気ディスク装置制御装置は、センタートラックのエラーレートが所定のエラーレート閾値となるオフセット量を求めて測定オフセット量とする。ＴＰＩＭは、次の式で算出される。
【００１３】
ＴＰＩＭ＝ＴＰ−測定オフセット量
【００１４】
なお、従来技術として、磁気ディスク装置において隣接トラックに磁気信号を記録したときの磁気ストレスを受けた磁気信号を再生するオフセット計測方法がある（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００５−３２２２７５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかしながら、従来のサイドイレーズ測定処理は、リード用データパターンをライトする際のサイドイレーズの影響が考慮されていない。そのため、リード用データパターンが複数トラックにわたってライトされると、最後にライトするリード用データパターン以外は、自身の後にライトされたリード用データパターンのサイドイレーズの影響を受けてしまう。そのため、センターイレーズライト回数と信号品質劣化量の正確な関係を把握できない。
【００１６】
近年の磁気ディスク記録密度の増加により、トラック間距離は、非常に狭く（２００ｎｍ以下）なっていると共に、垂直記録方式が採用されてきている。ここで、垂直記録ヘッドは、ライト幅方向の書き広がりが隣接へトラックに及ぼす影響が大きい。
【００１７】
本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減する磁気ディスク装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上述した課題を解決するため、本発明の一態様は、磁気媒体に対してヘッドによるライト及びリードを行う磁気記憶装置であって、磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間とトラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、基準経路に対するヘッドの位置であるオフセットについて隣接する区間同士のオフセットが異なるように区間毎に少なくとも１つのオフセットを設定する設定部と、設定部により設定された区間毎のオフセットへ第１データパターンをライトし、基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、ライト部によりライトされた第１データパターンをリードするリード部と、リード部によりリードされた第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部とを有する。
【００１９】
また、本発明の一態様は、磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験方法であって、磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間とトラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、基準経路に対するヘッドの位置であるオフセットについて隣接する区間同士のオフセットが異なるように区間毎に少なくとも１つのオフセットを設定し、設定された区間毎のオフセットへ第１データパターンをライトし、基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトし、ライトされた第１データパターンをリードし、リードされた第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行うことを実行する。
【００２０】
また、本発明の一態様は、磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験装置であって、磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間とトラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、基準経路に対するヘッドの位置であるオフセットについて隣接する区間同士のオフセットが異なるように区間毎に少なくとも１つのオフセットを設定する設定部と、設定部により設定された区間毎のオフセットへ第１データパターンをライトし、基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、ライト部によりライトされた第１データパターンをリードするリード部と、リード部によりリードされた第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と有する。
【発明の効果】
【００２１】
開示の磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置によれば、サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
【００２３】
実施の形態１．
本実施の形態の磁気ディスク装置試験システムの構成について説明する。
【００２４】
図１は、実施の形態１の磁気ディスク装置試験システムの構成の一例を示すブロック図である。本実施の形態の磁気ディスク装置試験システムは、磁気ディスク装置１と磁気ディスク装置制御装置２を有する。
【００２５】
磁気ディスク装置１は、ホストインターフェイス１１、ハードディスクコントローラ１２、メモリ１３、リードチャネル１４、ヘッドＩＣ（Integrated Circuit）１５、モーター制御部１６、ボイスコイルモーター１７、スピンドルモーター１８、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）１９、ヘッド２１、媒体２２（磁気媒体）を有する。
【００２６】
ホストインターフェイス１１は、ホストとの通信を行う。本実施の形態において、試験時のホストは、磁気ディスク装置制御装置２である。ＭＰＵ１９は、ホストからのコマンドに従ってリードチャネル１４及びモーター制御部１６への指示を行う。メモリ１３は、ライトデータまたはリードデータを保持する。ハードディスクコントローラ１２は、ＣＲＣ媒体アドレス設定やＥＣＣ設定を行う。リードチャネル１４は、リード信号の復調等を行う。ヘッドＩＣ１５は、ヘッド２１へのライト信号及びヘッド２１からのリード信号の増幅等を行う。モーター制御部１６は、ＭＰＵ１９による指示に従って、ボイスコイルモーター１７及びスピンドルモーター１８の制御を行う。
【００２７】
媒体２２は、磁気ディスクである。ヘッド２１は、媒体２２へのライト、媒体２２からのリードを行う。ボイスコイルモーター１７は、モーター制御部１６に従ってヘッド２１を媒体２２の半径方向に移動させる。スピンドルモーター１８は、モーター制御部１６に従って媒体２２を回転させる。
【００２８】
図２は、実施の形態１のヘッド２１及び媒体２２の構成の一例を示す斜視図である。
【００２９】
媒体２２上には、円周方向（トラック方向）に沿って複数のトラックが存在する。また、媒体２２の円周方向は、多数のセクタ（区間）に区切られている。また、１つのセクタは、サーボ領域とデータ領域を有する。また、磁気ディスク装置１は、このようなヘッド２１及び媒体２２を複数有する。
【００３０】
また、本実施の形態の磁気ディスク装置１は、可変ＴＰＩ（Track Per Inch）及び可変ＢＰＩ（Bit Per Inch）の機能を有する。
【００３１】
磁気ディスク装置制御装置２は、測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４を有する。設定部３３は、測定処理の設定を行う。測定制御部３２は、測定処理のためのコマンドを磁気ディスク装置１へ発行し、磁気ディスク装置１から測定結果を取得する。品質測定部３４は、測定結果に基づいて品質に関する演算を行う。なお、ライト部及びリード部は、測定制御部３２に対応する。
【００３２】
上述の測定処理は、サイドイレーズ測定処理、サイドイレーズプロファイル測定処理、ＴＰＩ・ＢＰＩ決定処理を含む。
【００３３】
磁気ディスク装置制御装置２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）と記憶装置を有するコンピュータで実現することができる。この場合、測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４は、ソフトウェアとして記憶装置に格納され、ＣＰＵにより実行される。
【００３４】
なお、本実施の形態においては、磁気ディスク装置制御装置２が磁気ディスク装置１に対して測定処理の指示を行うとしたが、磁気ディスク装置１のＭＰＵ１９等が測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４の機能を備え、測定処理の指示を行っても良い。
【００３５】
上述のサイドイレーズ測定処理の詳細について以下に説明する。
【００３６】
図３は、実施の形態１のサイドイレーズ測定処理の一例を示すフローチャートである。まず、設定部３３は、測定の対象となるヘッド２１及び媒体２２上のゾーン、センタートラック（基準経路）、リード用データパターン（第１データパターン）の配置であるサイドイレーズ測定用配置の設定を行う（Ｓ１１）。
【００３７】
次に、測定制御部３２は、磁気ディスク装置１に指示を行い、センタートラックの隣接トラック以遠の所定の複数のトラックへサイドイレーズ測定用配置に従ってリード用データパターンをライトさせる（Ｓ１２）。次に、測定制御部３２は、磁気ディスク装置１に指示を行い、センタートラックへ複数回にわたってイレーズ用データパターン（第２データパターン）をイレーズライトさせる（Ｓ１３）。
【００３８】
次に、測定制御部３２は、磁気ディスク装置１に指示を行い、リード用データパターンをリードさせる（Ｓ１４）。次に、品質測定部３４は、リードされた信号のエラーレート（品質）の悪化量を測定することによりヘッド２１における磁気記録ヘッドのサイドイレーズ特性を測定し（Ｓ１５）、このフローを終了する。なお、イレーズライトする（Ｓ１３）前にリード用データパターンをリードしておき、このリード結果とリード用データパターンをリードした（Ｓ１４）リード結果を比較してサイドイレーズ特性を測定（Ｓ１５）してもよい。
【００３９】
図４は、実施の形態１のサイドイレーズ測定処理におけるイレーズライト後のエラーレートの一例を示す概念図である。センタートラックを基準とするヘッド２１の位置を、予め定められたＴＰ単位で示す。縦軸は、エラーレートを示す。このように、センタートラックの近傍のトラックにおいてエラーレートの悪化が発生する。この悪化量をサイドイレーズ特性とする。
【００４０】
上述のリード用データパターンのサイドイレーズ測定用配置の例である、第１サイドイレーズ測定用配置及び第２サイドイレーズ測定用配置について以下に説明する。
【００４１】
上述の第１サイドイレーズ測定用配置について以下に説明する。
【００４２】
図５は、実施の形態１の第１サイドイレーズ測定用配置の一例を示す配置図である。横軸は、センタートラックを基準とするヘッド２１の位置を、予め定められたＴＰ単位で示す。縦軸は、セクタを示す。図５に示されるように、第１サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、センタートラックからの距離が所定の距離以内の領域にリード用データパターンをライトする。ここで、所定の距離は、４トラックであり、サイドイレーズの影響が十分小さい（所定の大きさ以下となる）距離である。
【００４３】
また、第１サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、リード用データパターンをライトするトラックを、センタートラックからの距離が奇数（１，３）トラックであるトラックのグループと、センタートラックからの距離が偶数（２，４）トラックのトラックであるトラックのグループとに分ける。
【００４４】
次に、第１サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、上述の２つのグループのうち、一方のグループでは偶数セクタにリード用データパターンをライトし、他方のグループでは奇数セクタにリード用データパターンをライトする。この第１サイドイレーズ測定用配置によれば、ライト済みのリード用データパターンは、新たなリード用データパターンのライトによる隣接サイドイレーズ（隣接トラックからのサイドイレーズ）の影響を受けない。
【００４５】
上述の第２サイドイレーズ測定用配置について以下に説明する。
【００４６】
図６は、実施の形態１の第２サイドイレーズ測定用配置の一例を示す配置図である。横軸は、センタートラックからの距離を、予め定められたＴＰ単位で示す。縦軸は、セクタを示す。図６に示されるように、第２サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、第１サイドイレーズ測定用配置と同様、センタートラックからの距離が４トラック以内の領域にリード用データパターンをライトする。また、第２サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、１つのセクタにおいてリード用データパターンをライトするトラックが１つだけになるように、リード用データパターンをライトするトラック及びセクタを予め定められた順序に従って指定する。
【００４７】
この第２サイドイレーズ測定用配置によれば、トラックごとにライトするセクタを指定することにより、ライト済みのリード用データパターンがその隣接トラック以遠のライトによるサイドイレーズの影響を受けない。また、第２サイドイレーズ測定用配置を用いることにより、従来のサイドイレーズ測定処理と比べて、イレーズライト後にリード用データパターンを読むセクタ数が減少する。
【００４８】
しかし、トラック一周内にセクタ数は多数（〜１０００セクタ）あるため、１つのトラックにつき複数のセクタのライト及びリードを行って特性を平均（統計処理）すれば、従来のサイドイレーズ測定処理や第１サイドイレーズ測定用配置を用いるサイドイレーズ測定処理と同等の精度が得られる。例えば、設定部３３は、上述の第２サイドイレーズ測定用配置を他のセクタに複数回繰り返し配置し、同一のオフセット量が設定された複数の異なるセクタのリード用データパターンから得られたエラーレートの平均を算出する。
【００４９】
本実施の形態のサイドイレーズ測定処理によれば、リード用データパターンを、トラックごとに異なるセクタにライトすることにより、リード用データパターンのライトのサイドイレーズによる影響が無くなり、センターイレーズライト回数と信号品質劣化量の正確な関係を把握することができる。
【００５０】
上述のサイドイレーズプロファイル測定処理の詳細について以下に説明する。
【００５１】
従来のサイドイレーズ測定処理は、リード用データパターンをライトする際、予め設定されたトラックピッチに従って各リード用データパターンのライトを行う。そのため、センタートラックから隣接トラックまでの数百ｎｍ間のイレーズプロファイルを測定するためには相当の時間が必要であった。
【００５２】
図７は、実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理の一例を示すフローチャートである。まず、設定部３３は、リード用データパターンのライト・リード条件として、所定のプロファイル測定用配置のオフセット量及び使用セクタを設定する（Ｓ２１）。
【００５３】
図８は、実施の形態１のプロファイル測定用配置の一例を示す配置図である。横軸は、ＴＰの初期値ＴＰ０を単位とするトラック位置を示し、センタートラックのトラック位置を０とする。縦軸は、セクタを示す。
【００５４】
リード用データパターンは、セクタ毎に異なるオフセット量が与えられる。ここで、ＴＰ０より小さい所定の単位オフセット量をＯＳ０とすると、隣接するセクタにおけるリード用データパターンのオフセット量は、ＯＳ０ずつ異なるように設定される。また、１つのセクタに複数のリード用データパターンをライトする場合、リード用データパターン同士の間隔は、サイドイレーズの影響が無視できる間隔以上に設定される。
【００５５】
図９は、実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理のイレーズライト前のエラーレートの一例を示す概念図である。プロファイル測定用配置を用いることにより、サイドイレーズの影響を受けないため、それぞれのリード用データパターンのエラーレートは一定である。
【００５６】
次に、設定部３３は、イレーズ用データパターンのライト条件として、ライト回数を設定する（Ｓ２２）。
【００５７】
次に、測定制御部３２は、センタートラックにリード用データパターンをライトする（Ｓ２３）。次に、測定制御部３２は、プロファイル測定用配置とライト回数に従ってイレーズ用データパターンをライトする（Ｓ２４）。次に、測定制御部３２は、リード用データパターンをリードする（Ｓ２５）。次に、品質測定部３４は、リードされたデータのエラーレートを測定する（Ｓ２６）。次に、品質測定部３４は、測定結果を補間してオフセット量対エラーレートのプロットを作成し（Ｓ２７）、このフローは終了する。なお、イレーズ用データパターンをライトする（Ｓ２４）前に、リード用データパターンをリードしておき、このリード結果と、リード用データパターンをリードした（Ｓ２５）ときのリード結果を比較してオフセット量対エラーレートのプロットを作成し（Ｓ２７）てもよい。
【００５８】
図１０は、実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理のイレーズライト後のエラーレートの一例を示す概念図である。センタートラックに近いほどリード用データパターンのエラーレートが悪化する。
【００５９】
本実施の形態のサイドイレーズプロファイル測定処理は、複数のセクタに渡って、トラックピッチより狭いピッチでリード用データパターンをライトすれば、詳細なサイドイレーズプロファイルを測定することが出来る。この方法を用いれば、障害解析時の漏れ磁界発生位置の特定などを詳細に行うことが出来る。
【００６０】
また、このサイドイレーズプロファイル測定処理は、リード用データパターンをトラックごとに異なるセクタにライトするため、リード用データパターンをＴＰＩＭにとらわれない間隔でライトできる。そのため、詳細なサイドイレーズプロファイルが測定可能である。
【００６１】
上述のＴＰＩ・ＢＰＩ決定処理の詳細について以下に説明する。
【００６２】
設定部３３は、予めＴＰＩ（ＴＰＩ＿ｔｙｐｅ）が複数設定されたＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルと予めＢＰＩ（ＢＰＩ＿ｔｙｐｅ）が複数設定されたＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルとを保持する。
【００６３】
図１１は、実施の形態１のＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの一例を示す表である。このＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルは、媒体２２上のｍ個のゾーンのそれぞれについて、予め設定されたｎ種類のＴＰＩをＴＰＩ＿ｔｙｐｅとして格納する。ｍ行は、それぞれゾーン番号１〜ｍに対応し、ｎ列は、それぞれＴＰＩ＿ｔｙｐｅ番号１〜ｎに対応する。ＴＰＩ＿ｔｙｐｅ番号が大きいほど、ＴＰＩが高い。
【００６４】
図１２は、実施の形態１のＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの一例を示す表である。このＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルは、媒体２２上のｍ個のゾーンのそれぞれについて、予め設定されたｎ種類のＢＰＩをＢＰＩ＿ｔｙｐｅとして格納する。ｍ行は、それぞれゾーン番号１〜ｍに対応し、ｎ列は、それぞれＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号１〜ｎに対応する。ＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号が大きいほど、ＢＰＩが高い。
【００６５】
図１３は、実施の形態１のＴＰＩ・ＢＰＩ決定処理の一例を示すフローチャートである。ここで、処理Ｓ５１〜Ｓ５５は、ＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの中から最適なＴＰＩを選択して設定する処理である。次の処理Ｓ６１〜Ｓ６９は、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの中から最適なＢＰＩを選択して設定する処理である。
【００６６】
まず、設定部３３は、ヘッド２１のうち測定対象である測定ヘッドを選択して設定する（Ｓ５１）。次に、測定制御部３２は、所定のｍ個のゾーンのうち測定対象のゾーンである測定ゾーンを選択し、測定ヘッドを測定ゾーンにオントラックさせる（Ｓ５２）。次に、測定制御部３２は、ＴＰを決定するＴＰ決定処理を行う（Ｓ５３）。次に、測定制御部３２は、所定の複数のゾーンの全てのＴＰ決定処理を終了したか否かの判定を行う（Ｓ５４）。
【００６７】
全てのＴＰ決定処理を終了していない場合（Ｓ５４、Ｎｏ）、このフローは処理Ｓ５２へ戻り、測定制御部３２は、次の測定ゾーンを選択する。
【００６８】
全てのＴＰ決定処理を終了した場合（Ｓ５４、Ｙｅｓ）、設定部３３は、ＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブル中の測定ゾーンに対応するＴＰＩ＿ｔｙｐｅから、ＴＰ決定処理により決定されたＴＰに最も近いＴＰＩ＿ｔｙｐｅを選択し、磁気ディスク装置１のＴＰＩ＿ｔｙｐｅとして設定する（Ｓ５５）。
【００６９】
次に、設定部３３は、エラーレートの閾値βを設定する（Ｓ６１）。次に、測定制御部３２は、ｍ個のゾーンのうち測定ゾーンを選択し、測定ヘッドを測定ゾーンにオントラックさせる（Ｓ６２）。次に、設定部３３は、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブル中のＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号を設定する（Ｓ６３）。
【００７０】
ここで、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号の初期値をｎとする。次に、品質測定部３４は、エラーレートを測定する（Ｓ６４）。次に、品質測定部３４は、測定されたエラーレート＜βであるか否かの判定を行う（Ｓ６５）。
【００７１】
測定されたエラーレート＜βでない場合（Ｓ６５，Ｎｏ）、設定部３３は、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号を−１し（Ｓ６９）、このフローは処理Ｓ６４へ戻る。測定されたエラーレート＜βである場合（Ｓ６５，Ｙｅｓ）、品質測定部３４は、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅをメモリに格納する（Ｓ６６）。次に、設定部３３は、ｍ個のゾーンの全てのＢＰＩ＿ｔｙｐｅをメモリに格納したか否かの判定を行う（Ｓ６７）。
【００７２】
全てのＢＰＩ＿ｔｙｐｅをメモリに格納していない場合（Ｓ６７，Ｎｏ）、このフローは処理Ｓ６２へ戻り、設定部３３は、次の測定ゾーンを選択する。
【００７３】
全てのＢＰＩ＿ｔｙｐｅをメモリに格納した場合（Ｓ６７，Ｙｅｓ）、設定部３３は、各ゾーンのＢＰＩ＿ｔｙｐｅを比較し、最小のＢＰＩ＿ｔｙｐｅを磁気ディスク装置１のＢＰＩ＿ｔｙｐｅとして設定し（Ｓ６８）、このフローは終了する。
【００７４】
上述のＴＰ決定処理の詳細について以下に説明する。
【００７５】
図１４は、実施の形態１のＴＰ決定処理の一例を示すフローチャートである。まず、設定部３３は、エラーレートの閾値αを設定する（Ｓ３１）。次に、測定制御部３２及び品質測定部３４は、上述したサイドイレーズプロファイル測定処理を行う（Ｓ３２）。
【００７６】
次に、品質測定部３４は、サイドイレーズプロファイル測定処理により作成されたプロットよりエラーレートが所定の閾値αとなるオフセット量である限界オフセット量を求める（Ｓ４１）。ここで、限界オフセット量は、センタートラックに対してプラスオフセット側でエラーレートがαとなるオフセット量の絶対値であるｏｆｆｓｅｔ＿ａと、センタートラックに対してマイナスオフセット側でエラーレートがαとなるオフセット量の絶対値であるｏｆｆｓｅｔ＿ｂの２つである。品質測定部３４は、オフセット量対エラーレートのプロットを補間して近似直線を求める。ｏｆｆｓｅｔ＿ａ，ｏｆｆｓｅｔ＿ｂは、この近似直線により求められる。
【００７７】
次に、品質測定部３４は、ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＞＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂであるか否かの判定を行う（Ｓ４２）。ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＞＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂである場合（Ｓ４２，Ｙｅｓ）、品質測定部３４は、ＴＰ＝ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＊２とし（Ｓ４３）、ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＞＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂでない場合（Ｓ４２，Ｎｏ）、品質測定部３４は、ＴＰ＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂ＊２とする（Ｓ４４）。次に、品質測定部３４は、決定したＴＰをメモリに格納し（Ｓ４５）、このフローは終了する。
【００７８】
図１５は、実施の形態１のＴＰ決定処理の一例を示す概念図である。横軸は、オフセット量を示し、縦軸は、エラーレートを示す。近似直線は、オフセット量毎に得られたエラーレートが直線で補間されたものである。近似直線の値がαとなる負のオフセット量の絶対値がｏｆｆｓｅｔ＿ａであり、近似直線の値がαとなる正のオフセット量の絶対値がｏｆｆｓｅｔ＿ｂである。この例では、ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＜ｏｆｆｓｅｔ＿ｂであり、ＴＰ＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂ＊２に設定される。
【００７９】
従来のＴＰＩＭ測定処理は、同一のトラックに複数回ライトした際のエラーレート悪化量を保証できない。もし、従来のＴＰＩＭ測定処理において複数回ずつライトを行うとすると、それぞれのオフセット位置で複数回のライトを行うため、測定時間が大幅に増える。
【００８０】
本実施の形態のＴＰ決定処理によれば、少ない測定時間で、複数回ライトによる隣接サイドイレーズ悪化量を保証したトラックピッチを決定することができる。これにより、磁気ディスク装置１の品質を向上させることが出来る。
【００８１】
実施の形態２．
本実施の形態のヘッド・媒体試験システムの構成について説明する。
【００８２】
図１６は、実施の形態２のヘッド・媒体試験システムの構成の一例を示すブロック図である。図１と同一符号は、図１に示された対象と同一又は相当物を示しており、ここでの説明を省略する。本実施の形態のヘッド・媒体試験システムは、ヘッド・媒体試験装置３、制御ＰＣ（Personal Computer）４、試験用ヘッド２３、試験用媒体２４を有する。試験用ヘッド２３、試験用媒体２４は、ヘッド・媒体試験装置３に固定される。
【００８３】
ヘッド・媒体試験装置３は、リードチャネル１４、ヘッドＩＣ１５、スピンドルモーター１８、リードライトコントローラ４１、ヘッド駆動機構制御部４２、ヘッド駆動機構４３、モーター制御部４４を有する。
【００８４】
リードライトコントローラ４１は、制御ＰＣ４からのデータパターンをリードチャネル１４へ送ると共に、リードチャネル１４からのデータパターンを制御ＰＣ４へ送る。ヘッド駆動機構制御部４２は、制御ＰＣ４からの指示に従って、ヘッド駆動機構４３へ電流を与える。ヘッド駆動機構４３は、試験用ヘッド２３を移動させる。モーター制御部４４は、制御ＰＣ４からの指示に従って、スピンドルモーター１８へ電流を与える。
【００８５】
制御ＰＣ４は、測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４を有する。制御ＰＣ４は、ＣＰＵと記憶装置を有するコンピュータである。この場合、測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４は、ソフトウェアとして記憶装置に格納され、ＣＰＵにより実行される。
【００８６】
本実施の形態のヘッド・媒体試験システムの動作は、実施の形態１の磁気ディスク装置試験システムと同様の測定処理を行う。
【００８７】
なお、本実施の形態においては、制御ＰＣ４がヘッド・媒体試験装置３に対して測定処理の指示を行うとしたが、ヘッド・媒体試験装置３が測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４の機能を備え、測定処理の指示を行っても良い。
【００８８】
また、上述した各実施の形態においては、本発明が磁気ディスクを媒体とする磁気ディスク装置に適用された場合について述べたが、本発明が磁気ドラム等の磁気媒体を有する磁気記憶装置に適用されても良い。
【００８９】
本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他の様々な形で実施することができる。そのため、前述の実施の形態は、あらゆる点で単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、何ら拘束されない。更に、特許請求の範囲の均等範囲に属する全ての変形、様々な改良、代替および改質は、全て本発明の範囲内のものである。
【００９０】
以上の実施の形態１〜２に関し、更に以下の付記を開示する。
（付記１）
磁気媒体に対してヘッドによるライト及びリードを行う磁気記憶装置であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定する設定部と、
前記設定部により設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、
前記ライト部によりライトされた前記第１データパターンをリードするリード部と、
前記リード部によりリードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と、
を備える磁気記憶装置。
（付記２）
前記設定部は、前記オフセットを、予め設定されたトラックピッチの倍数に設定する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記３）
前記設定部は、同一の前記区間に複数のオフセットを設定する場合、前記トラックピッチの２倍以上の間隔を空けて該複数のオフセットを設定する、
付記２に記載の磁気記憶装置。
（付記４）
前記設定部は、奇数番目の区間と偶数番目の区間のうち、一方の区間のオフセットをトラックピッチの奇数倍とし、他方の区間のオフセットをトラックピッチの偶数倍とする、
付記３に記載の磁気記憶装置。
（付記５）
前記設定部は、１つの前記区間に１つの前記オフセットを設定する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記６）
前記設定部は、前記オフセットを、予め設定されたトラックピッチの初期値より小さい値に設定する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記７）
前記所定の回数は、複数である、
付記６に記載の磁気記憶装置。
（付記８）
前記品質測定部は、前記オフセットと該オフセットでリードされた前記第１パターンの品質との関係を算出する、
付記６に記載の磁気記憶装置。
（付記９）
前記品質測定部は、算出された前記オフセットと前記品質との関係に基づいて、前記品質が所定の限界値となるオフセットである限界オフセットを算出する、
付記８に記載の磁気記憶装置。
（付記１０）
前記品質測定部は、算出された前記限界オフセットに基づいて、以後のライト及びリードに用いるトラックピッチを決定する、
付記９に記載の磁気記憶装置。
（付記１１）
前記品質測定部は、前記磁気媒体のゾーン毎に、前記トラックピッチを決定する、
付記１０に記載の磁気記憶装置。
（付記１２）
前記品質測定部は、前記ゾーン毎に、前記トラック方向の記録密度の最適化を行う、
付記１１に記載の磁気記憶装置。
（付記１３）
前記設定部は、前記オフセットを所定の距離以内に設定する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記１４）
前記所定の距離は、サイドイレーズの影響が所定の大きさ以下となる距離である、
付記１３に記載の磁気記憶装置。
（付記１５）
前記設定部は、前記複数の区間を繰り返し設定し、
前記品質測定部は、複数の異なる区間において同一のオフセットでリードされた前記第１データパターンの品質の測定結果を統計処理する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記１６）
前記品質は、エラーレートである、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記１７）
前記区間は、セクタである、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記１８）
磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験方法であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定し、
設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、
前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトし、
ライトされた前記第１データパターンをリードし、
リードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う、
ことを実行するヘッド試験方法。
（付記１９）
磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験装置であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定する設定部と、
前記設定部により設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、
前記ライト部によりライトされた前記第１データパターンをリードするリード部と、
前記リード部によりリードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と、
を備えるヘッド試験装置。
【図面の簡単な説明】
【００９１】
【図１】実施の形態１の磁気ディスク装置試験システムの構成の一例を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１のヘッド２１及び媒体２２の構成の一例を示す斜視図である。
【図３】実施の形態１のサイドイレーズ測定処理の一例を示すフローチャートである。
【図４】実施の形態１のサイドイレーズ測定処理におけるイレーズライト後のエラーレートの一例を示す概念図である。
【図５】実施の形態１の第１サイドイレーズ測定用配置の一例を示す配置図である。
【図６】実施の形態１の第２サイドイレーズ測定用配置の一例を示す配置図である。
【図７】実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理の一例を示すフローチャートである。
【図８】実施の形態１のプロファイル測定用配置の一例を示す配置図である。
【図９】実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理のイレーズライト前のエラーレートの一例を示す概念図である。
【図１０】実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理のイレーズライト後のエラーレートの一例を示す概念図である。
【図１１】実施の形態１のＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの一例を示す表である。
【図１２】実施の形態１のＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの一例を示す表である。
【図１３】実施の形態１のＴＰＩ・ＢＰＩ決定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１４】実施の形態１のＴＰ決定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１５】実施の形態１のＴＰ決定処理の一例を示す概念図である。
【図１６】実施の形態２のヘッド・媒体試験システムの構成の一例を示すブロック図である。
【図１７】従来のサイドイレーズ測定処理におけるリード用データパターン及びイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。
【図１８】従来のＴＰＩＭ測定処理における１回目のイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。
【図１９】従来のＴＰＩＭ測定処理における２回目のイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。
【図２０】従来のＴＰＩＭ測定処理による測定結果の一例を示す概念図である。
【符号の説明】
【００９２】
１ 磁気ディスク装置
２ 磁気ディスク装置制御装置
３ ヘッド・媒体試験装置
４ 制御ＰＣ
１１ ホストインターフェイス
１２ ハードディスクコントローラ
１３ メモリ
１４ リードチャネル
１５ ヘッドＩＣ
１６ モーター制御部
１７ ボイスコイルモーター
１８ スピンドルモーター
２１ ヘッド
２２ 媒体
２３ 試験用ヘッド
２４ 試験用媒体
３２ 測定制御部
３３ 設定部
３４ 品質測定部
４１ リードライトコントローラ
４２ ヘッド駆動機構制御部
４３ ヘッド駆動機構
４４ モーター制御部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気記憶装置に用いられるヘッドの試験を行う磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の磁気ディスク装置におけるサイドイレーズ測定処理について説明する。
【０００３】
ここでは、磁気ディスク装置制御装置が磁気ディスク装置へ指示を行うことにより、サイドイレーズ測定処理を行う。従来のサイドイレーズ測定処理のフローは、例えば以下のようになる。
【０００４】
（Ｓ１１１）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックの隣接トラック以遠の所定の複数のトラックへリード用データパターンをライトさせ、リード用データパターンをリードさせる。
（Ｓ１１２）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックへ複数回にわたってイレーズ用データパターンをイレーズライトさせる。
（Ｓ１１３）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、リード用データパターンをリードさせ、Ｓ１１１でリードされた信号に対する信号の品質劣化により磁気記録ヘッドのサイドイレーズ特性を測定する。
【０００５】
従来のサイドイレーズ測定処理におけるリード用データパターン及びイレーズ用データパターンの配置について以下に説明する。
【０００６】
図１７は、従来のサイドイレーズ測定処理におけるリード用データパターン及びイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。このように、従来のサイドイレーズ測定処理は、リード用データパターンをライトする際、指定されたトラック全体にライトする。
【０００７】
従来の磁気ディスク装置におけるＴＰＩＭ（トラックピッチマージン）測定処理について説明する。
【０００８】
ＴＰＩＭは、予め設定されたＴＰ（トラックピッチ）に対するマージンである。ここでは、磁気ディスク装置制御装置が磁気ディスク装置へ指示を行うことにより、ＴＰＩＭ測定処理を行う。従来のＴＰＩＭ測定処理のフローは、例えば以下のようになる。
【０００９】
（Ｓ１２１）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックへリード用データパターンをライトさせ、リード用データパターンをリードさせ、センタートラックのエラーレートを測定する。
（Ｓ１２２）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックから所定のオフセット量において１回イレーズ用データパターンをライトさせる。
（Ｓ１２３）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックのリード用データパターンをリードさせ、Ｓ１２１で測定されたエラーレートに対するエラーレート劣化量を測定する。
（Ｓ１２４）磁気ディスク装置制御装置は、磁気ディスク装置に指示を行い、センタートラックに対するオフセット量を狭めつつＳ１２１〜Ｓ１２３を繰り返させ、センタートラックのリード用データパターンのエラーレートが所定の悪化量以下となる条件を満たすオフセット位置を求め、このオフセット位置とＴＰとの差をＴＰＩＭとする。
【００１０】
従来のＴＰＩＭ測定処理におけるリード用データパターン及びイレーズ用データパターンの配置について以下に説明する。
【００１１】
図１８は、従来のＴＰＩＭ測定処理における１回目のイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。図１９は、従来のＴＰＩＭ測定処理における２回目のイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。このように、従来のＴＰＩＭ測定処理は、イレーズ用データパターンをライトする際、指定されたトラック全体にライトする。
【００１２】
図２０は、従来のＴＰＩＭ測定処理による測定結果の一例を示す概念図である。横軸は、オフセット量を示し、縦軸は、エラーレートを示す。処理Ｓ１２３において、磁気ディスク装置制御装置は、オフセット量に対するセンタートラックのリード用データパターンのエラーレートをプロットする。処理Ｓ１２４において、磁気ディスク装置制御装置は、センタートラックのエラーレートが所定のエラーレート閾値となるオフセット量を求めて測定オフセット量とする。ＴＰＩＭは、次の式で算出される。
【００１３】
ＴＰＩＭ＝ＴＰ−測定オフセット量
【００１４】
なお、従来技術として、磁気ディスク装置において隣接トラックに磁気信号を記録したときの磁気ストレスを受けた磁気信号を再生するオフセット計測方法がある（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００５−３２２２７５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかしながら、従来のサイドイレーズ測定処理は、リード用データパターンをライトする際のサイドイレーズの影響が考慮されていない。そのため、リード用データパターンが複数トラックにわたってライトされると、最後にライトするリード用データパターン以外は、自身の後にライトされたリード用データパターンのサイドイレーズの影響を受けてしまう。そのため、センターイレーズライト回数と信号品質劣化量の正確な関係を把握できない。
【００１６】
近年の磁気ディスク記録密度の増加により、トラック間距離は、非常に狭く（２００ｎｍ以下）なっていると共に、垂直記録方式が採用されてきている。ここで、垂直記録ヘッドは、ライト幅方向の書き広がりが隣接へトラックに及ぼす影響が大きい。
【００１７】
本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減する磁気ディスク装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上述した課題を解決するため、本発明の一態様は、磁気媒体に対してヘッドによるライト及びリードを行う磁気記憶装置であって、磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間とトラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、基準経路に対するヘッドの位置であるオフセットについて隣接する区間同士のオフセットが異なるように区間毎に少なくとも１つのオフセットを設定する設定部と、設定部により設定された区間毎のオフセットへ第１データパターンをライトし、基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、ライト部によりライトされた第１データパターンをリードするリード部と、リード部によりリードされた第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部とを有する。
【００１９】
また、本発明の一態様は、磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験方法であって、磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間とトラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、基準経路に対するヘッドの位置であるオフセットについて隣接する区間同士のオフセットが異なるように区間毎に少なくとも１つのオフセットを設定し、設定された区間毎のオフセットへ第１データパターンをライトし、基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトし、ライトされた第１データパターンをリードし、リードされた第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行うことを実行する。
【００２０】
また、本発明の一態様は、磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験装置であって、磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間とトラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、基準経路に対するヘッドの位置であるオフセットについて隣接する区間同士のオフセットが異なるように区間毎に少なくとも１つのオフセットを設定する設定部と、設定部により設定された区間毎のオフセットへ第１データパターンをライトし、基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、ライト部によりライトされた第１データパターンをリードするリード部と、リード部によりリードされた第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と有する。
【発明の効果】
【００２１】
開示の磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置によれば、サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
【００２３】
実施の形態１．
本実施の形態の磁気ディスク装置試験システムの構成について説明する。
【００２４】
図１は、実施の形態１の磁気ディスク装置試験システムの構成の一例を示すブロック図である。本実施の形態の磁気ディスク装置試験システムは、磁気ディスク装置１と磁気ディスク装置制御装置２を有する。
【００２５】
磁気ディスク装置１は、ホストインターフェイス１１、ハードディスクコントローラ１２、メモリ１３、リードチャネル１４、ヘッドＩＣ（Integrated Circuit）１５、モーター制御部１６、ボイスコイルモーター１７、スピンドルモーター１８、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）１９、ヘッド２１、媒体２２（磁気媒体）を有する。
【００２６】
ホストインターフェイス１１は、ホストとの通信を行う。本実施の形態において、試験時のホストは、磁気ディスク装置制御装置２である。ＭＰＵ１９は、ホストからのコマンドに従ってリードチャネル１４及びモーター制御部１６への指示を行う。メモリ１３は、ライトデータまたはリードデータを保持する。ハードディスクコントローラ１２は、ＣＲＣ媒体アドレス設定やＥＣＣ設定を行う。リードチャネル１４は、リード信号の復調等を行う。ヘッドＩＣ１５は、ヘッド２１へのライト信号及びヘッド２１からのリード信号の増幅等を行う。モーター制御部１６は、ＭＰＵ１９による指示に従って、ボイスコイルモーター１７及びスピンドルモーター１８の制御を行う。
【００２７】
媒体２２は、磁気ディスクである。ヘッド２１は、媒体２２へのライト、媒体２２からのリードを行う。ボイスコイルモーター１７は、モーター制御部１６に従ってヘッド２１を媒体２２の半径方向に移動させる。スピンドルモーター１８は、モーター制御部１６に従って媒体２２を回転させる。
【００２８】
図２は、実施の形態１のヘッド２１及び媒体２２の構成の一例を示す斜視図である。
【００２９】
媒体２２上には、円周方向（トラック方向）に沿って複数のトラックが存在する。また、媒体２２の円周方向は、多数のセクタ（区間）に区切られている。また、１つのセクタは、サーボ領域とデータ領域を有する。また、磁気ディスク装置１は、このようなヘッド２１及び媒体２２を複数有する。
【００３０】
また、本実施の形態の磁気ディスク装置１は、可変ＴＰＩ（Track Per Inch）及び可変ＢＰＩ（Bit Per Inch）の機能を有する。
【００３１】
磁気ディスク装置制御装置２は、測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４を有する。設定部３３は、測定処理の設定を行う。測定制御部３２は、測定処理のためのコマンドを磁気ディスク装置１へ発行し、磁気ディスク装置１から測定結果を取得する。品質測定部３４は、測定結果に基づいて品質に関する演算を行う。なお、ライト部及びリード部は、測定制御部３２に対応する。
【００３２】
上述の測定処理は、サイドイレーズ測定処理、サイドイレーズプロファイル測定処理、ＴＰＩ・ＢＰＩ決定処理を含む。
【００３３】
磁気ディスク装置制御装置２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）と記憶装置を有するコンピュータで実現することができる。この場合、測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４は、ソフトウェアとして記憶装置に格納され、ＣＰＵにより実行される。
【００３４】
なお、本実施の形態においては、磁気ディスク装置制御装置２が磁気ディスク装置１に対して測定処理の指示を行うとしたが、磁気ディスク装置１のＭＰＵ１９等が測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４の機能を備え、測定処理の指示を行っても良い。
【００３５】
上述のサイドイレーズ測定処理の詳細について以下に説明する。
【００３６】
図３は、実施の形態１のサイドイレーズ測定処理の一例を示すフローチャートである。まず、設定部３３は、測定の対象となるヘッド２１及び媒体２２上のゾーン、センタートラック（基準経路）、リード用データパターン（第１データパターン）の配置であるサイドイレーズ測定用配置の設定を行う（Ｓ１１）。
【００３７】
次に、測定制御部３２は、磁気ディスク装置１に指示を行い、センタートラックの隣接トラック以遠の所定の複数のトラックへサイドイレーズ測定用配置に従ってリード用データパターンをライトさせる（Ｓ１２）。次に、測定制御部３２は、磁気ディスク装置１に指示を行い、センタートラックへ複数回にわたってイレーズ用データパターン（第２データパターン）をイレーズライトさせる（Ｓ１３）。
【００３８】
次に、測定制御部３２は、磁気ディスク装置１に指示を行い、リード用データパターンをリードさせる（Ｓ１４）。次に、品質測定部３４は、リードされた信号のエラーレート（品質）の悪化量を測定することによりヘッド２１における磁気記録ヘッドのサイドイレーズ特性を測定し（Ｓ１５）、このフローを終了する。なお、イレーズライトする（Ｓ１３）前にリード用データパターンをリードしておき、このリード結果とリード用データパターンをリードした（Ｓ１４）リード結果を比較してサイドイレーズ特性を測定（Ｓ１５）してもよい。
【００３９】
図４は、実施の形態１のサイドイレーズ測定処理におけるイレーズライト後のエラーレートの一例を示す概念図である。センタートラックを基準とするヘッド２１の位置を、予め定められたＴＰ単位で示す。縦軸は、エラーレートを示す。このように、センタートラックの近傍のトラックにおいてエラーレートの悪化が発生する。この悪化量をサイドイレーズ特性とする。
【００４０】
上述のリード用データパターンのサイドイレーズ測定用配置の例である、第１サイドイレーズ測定用配置及び第２サイドイレーズ測定用配置について以下に説明する。
【００４１】
上述の第１サイドイレーズ測定用配置について以下に説明する。
【００４２】
図５は、実施の形態１の第１サイドイレーズ測定用配置の一例を示す配置図である。横軸は、センタートラックを基準とするヘッド２１の位置を、予め定められたＴＰ単位で示す。縦軸は、セクタを示す。図５に示されるように、第１サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、センタートラックからの距離が所定の距離以内の領域にリード用データパターンをライトする。ここで、所定の距離は、４トラックであり、サイドイレーズの影響が十分小さい（所定の大きさ以下となる）距離である。
【００４３】
また、第１サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、リード用データパターンをライトするトラックを、センタートラックからの距離が奇数（１，３）トラックであるトラックのグループと、センタートラックからの距離が偶数（２，４）トラックのトラックであるトラックのグループとに分ける。
【００４４】
次に、第１サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、上述の２つのグループのうち、一方のグループでは偶数セクタにリード用データパターンをライトし、他方のグループでは奇数セクタにリード用データパターンをライトする。この第１サイドイレーズ測定用配置によれば、ライト済みのリード用データパターンは、新たなリード用データパターンのライトによる隣接サイドイレーズ（隣接トラックからのサイドイレーズ）の影響を受けない。
【００４５】
上述の第２サイドイレーズ測定用配置について以下に説明する。
【００４６】
図６は、実施の形態１の第２サイドイレーズ測定用配置の一例を示す配置図である。横軸は、センタートラックからの距離を、予め定められたＴＰ単位で示す。縦軸は、セクタを示す。図６に示されるように、第２サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、第１サイドイレーズ測定用配置と同様、センタートラックからの距離が４トラック以内の領域にリード用データパターンをライトする。また、第２サイドイレーズ測定用配置によるサイドイレーズ測定処理は、１つのセクタにおいてリード用データパターンをライトするトラックが１つだけになるように、リード用データパターンをライトするトラック及びセクタを予め定められた順序に従って指定する。
【００４７】
この第２サイドイレーズ測定用配置によれば、トラックごとにライトするセクタを指定することにより、ライト済みのリード用データパターンがその隣接トラック以遠のライトによるサイドイレーズの影響を受けない。また、第２サイドイレーズ測定用配置を用いることにより、従来のサイドイレーズ測定処理と比べて、イレーズライト後にリード用データパターンを読むセクタ数が減少する。
【００４８】
しかし、トラック一周内にセクタ数は多数（〜１０００セクタ）あるため、１つのトラックにつき複数のセクタのライト及びリードを行って特性を平均（統計処理）すれば、従来のサイドイレーズ測定処理や第１サイドイレーズ測定用配置を用いるサイドイレーズ測定処理と同等の精度が得られる。例えば、設定部３３は、上述の第２サイドイレーズ測定用配置を他のセクタに複数回繰り返し配置し、同一のオフセット量が設定された複数の異なるセクタのリード用データパターンから得られたエラーレートの平均を算出する。
【００４９】
本実施の形態のサイドイレーズ測定処理によれば、リード用データパターンを、トラックごとに異なるセクタにライトすることにより、リード用データパターンのライトのサイドイレーズによる影響が無くなり、センターイレーズライト回数と信号品質劣化量の正確な関係を把握することができる。
【００５０】
上述のサイドイレーズプロファイル測定処理の詳細について以下に説明する。
【００５１】
従来のサイドイレーズ測定処理は、リード用データパターンをライトする際、予め設定されたトラックピッチに従って各リード用データパターンのライトを行う。そのため、センタートラックから隣接トラックまでの数百ｎｍ間のイレーズプロファイルを測定するためには相当の時間が必要であった。
【００５２】
図７は、実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理の一例を示すフローチャートである。まず、設定部３３は、リード用データパターンのライト・リード条件として、所定のプロファイル測定用配置のオフセット量及び使用セクタを設定する（Ｓ２１）。
【００５３】
図８は、実施の形態１のプロファイル測定用配置の一例を示す配置図である。横軸は、ＴＰの初期値ＴＰ０を単位とするトラック位置を示し、センタートラックのトラック位置を０とする。縦軸は、セクタを示す。
【００５４】
リード用データパターンは、セクタ毎に異なるオフセット量が与えられる。ここで、ＴＰ０より小さい所定の単位オフセット量をＯＳ０とすると、隣接するセクタにおけるリード用データパターンのオフセット量は、ＯＳ０ずつ異なるように設定される。また、１つのセクタに複数のリード用データパターンをライトする場合、リード用データパターン同士の間隔は、サイドイレーズの影響が無視できる間隔以上に設定される。
【００５５】
図９は、実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理のイレーズライト前のエラーレートの一例を示す概念図である。プロファイル測定用配置を用いることにより、サイドイレーズの影響を受けないため、それぞれのリード用データパターンのエラーレートは一定である。
【００５６】
次に、設定部３３は、イレーズ用データパターンのライト条件として、ライト回数を設定する（Ｓ２２）。
【００５７】
次に、測定制御部３２は、センタートラックにリード用データパターンをライトする（Ｓ２３）。次に、測定制御部３２は、プロファイル測定用配置とライト回数に従ってイレーズ用データパターンをライトする（Ｓ２４）。次に、測定制御部３２は、リード用データパターンをリードする（Ｓ２５）。次に、品質測定部３４は、リードされたデータのエラーレートを測定する（Ｓ２６）。次に、品質測定部３４は、測定結果を補間してオフセット量対エラーレートのプロットを作成し（Ｓ２７）、このフローは終了する。なお、イレーズ用データパターンをライトする（Ｓ２４）前に、リード用データパターンをリードしておき、このリード結果と、リード用データパターンをリードした（Ｓ２５）ときのリード結果を比較してオフセット量対エラーレートのプロットを作成し（Ｓ２７）てもよい。
【００５８】
図１０は、実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理のイレーズライト後のエラーレートの一例を示す概念図である。センタートラックに近いほどリード用データパターンのエラーレートが悪化する。
【００５９】
本実施の形態のサイドイレーズプロファイル測定処理は、複数のセクタに渡って、トラックピッチより狭いピッチでリード用データパターンをライトすれば、詳細なサイドイレーズプロファイルを測定することが出来る。この方法を用いれば、障害解析時の漏れ磁界発生位置の特定などを詳細に行うことが出来る。
【００６０】
また、このサイドイレーズプロファイル測定処理は、リード用データパターンをトラックごとに異なるセクタにライトするため、リード用データパターンをＴＰＩＭにとらわれない間隔でライトできる。そのため、詳細なサイドイレーズプロファイルが測定可能である。
【００６１】
上述のＴＰＩ・ＢＰＩ決定処理の詳細について以下に説明する。
【００６２】
設定部３３は、予めＴＰＩ（ＴＰＩ＿ｔｙｐｅ）が複数設定されたＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルと予めＢＰＩ（ＢＰＩ＿ｔｙｐｅ）が複数設定されたＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルとを保持する。
【００６３】
図１１は、実施の形態１のＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの一例を示す表である。このＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルは、媒体２２上のｍ個のゾーンのそれぞれについて、予め設定されたｎ種類のＴＰＩをＴＰＩ＿ｔｙｐｅとして格納する。ｍ行は、それぞれゾーン番号１〜ｍに対応し、ｎ列は、それぞれＴＰＩ＿ｔｙｐｅ番号１〜ｎに対応する。ＴＰＩ＿ｔｙｐｅ番号が大きいほど、ＴＰＩが高い。
【００６４】
図１２は、実施の形態１のＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの一例を示す表である。このＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルは、媒体２２上のｍ個のゾーンのそれぞれについて、予め設定されたｎ種類のＢＰＩをＢＰＩ＿ｔｙｐｅとして格納する。ｍ行は、それぞれゾーン番号１〜ｍに対応し、ｎ列は、それぞれＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号１〜ｎに対応する。ＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号が大きいほど、ＢＰＩが高い。
【００６５】
図１３は、実施の形態１のＴＰＩ・ＢＰＩ決定処理の一例を示すフローチャートである。ここで、処理Ｓ５１〜Ｓ５５は、ＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの中から最適なＴＰＩを選択して設定する処理である。次の処理Ｓ６１〜Ｓ６９は、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの中から最適なＢＰＩを選択して設定する処理である。
【００６６】
まず、設定部３３は、ヘッド２１のうち測定対象である測定ヘッドを選択して設定する（Ｓ５１）。次に、測定制御部３２は、所定のｍ個のゾーンのうち測定対象のゾーンである測定ゾーンを選択し、測定ヘッドを測定ゾーンにオントラックさせる（Ｓ５２）。次に、測定制御部３２は、ＴＰを決定するＴＰ決定処理を行う（Ｓ５３）。次に、測定制御部３２は、所定の複数のゾーンの全てのＴＰ決定処理を終了したか否かの判定を行う（Ｓ５４）。
【００６７】
全てのＴＰ決定処理を終了していない場合（Ｓ５４、Ｎｏ）、このフローは処理Ｓ５２へ戻り、測定制御部３２は、次の測定ゾーンを選択する。
【００６８】
全てのＴＰ決定処理を終了した場合（Ｓ５４、Ｙｅｓ）、設定部３３は、ＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブル中の測定ゾーンに対応するＴＰＩ＿ｔｙｐｅから、ＴＰ決定処理により決定されたＴＰに最も近いＴＰＩ＿ｔｙｐｅを選択し、磁気ディスク装置１のＴＰＩ＿ｔｙｐｅとして設定する（Ｓ５５）。
【００６９】
次に、設定部３３は、エラーレートの閾値βを設定する（Ｓ６１）。次に、測定制御部３２は、ｍ個のゾーンのうち測定ゾーンを選択し、測定ヘッドを測定ゾーンにオントラックさせる（Ｓ６２）。次に、設定部３３は、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブル中のＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号を設定する（Ｓ６３）。
【００７０】
ここで、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号の初期値をｎとする。次に、品質測定部３４は、エラーレートを測定する（Ｓ６４）。次に、品質測定部３４は、測定されたエラーレート＜βであるか否かの判定を行う（Ｓ６５）。
【００７１】
測定されたエラーレート＜βでない場合（Ｓ６５，Ｎｏ）、設定部３３は、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅ番号を−１し（Ｓ６９）、このフローは処理Ｓ６４へ戻る。測定されたエラーレート＜βである場合（Ｓ６５，Ｙｅｓ）、品質測定部３４は、ＢＰＩ＿ｔｙｐｅをメモリに格納する（Ｓ６６）。次に、設定部３３は、ｍ個のゾーンの全てのＢＰＩ＿ｔｙｐｅをメモリに格納したか否かの判定を行う（Ｓ６７）。
【００７２】
全てのＢＰＩ＿ｔｙｐｅをメモリに格納していない場合（Ｓ６７，Ｎｏ）、このフローは処理Ｓ６２へ戻り、設定部３３は、次の測定ゾーンを選択する。
【００７３】
全てのＢＰＩ＿ｔｙｐｅをメモリに格納した場合（Ｓ６７，Ｙｅｓ）、設定部３３は、各ゾーンのＢＰＩ＿ｔｙｐｅを比較し、最小のＢＰＩ＿ｔｙｐｅを磁気ディスク装置１のＢＰＩ＿ｔｙｐｅとして設定し（Ｓ６８）、このフローは終了する。
【００７４】
上述のＴＰ決定処理の詳細について以下に説明する。
【００７５】
図１４は、実施の形態１のＴＰ決定処理の一例を示すフローチャートである。まず、設定部３３は、エラーレートの閾値αを設定する（Ｓ３１）。次に、測定制御部３２及び品質測定部３４は、上述したサイドイレーズプロファイル測定処理を行う（Ｓ３２）。
【００７６】
次に、品質測定部３４は、サイドイレーズプロファイル測定処理により作成されたプロットよりエラーレートが所定の閾値αとなるオフセット量である限界オフセット量を求める（Ｓ４１）。ここで、限界オフセット量は、センタートラックに対してプラスオフセット側でエラーレートがαとなるオフセット量の絶対値であるｏｆｆｓｅｔ＿ａと、センタートラックに対してマイナスオフセット側でエラーレートがαとなるオフセット量の絶対値であるｏｆｆｓｅｔ＿ｂの２つである。品質測定部３４は、オフセット量対エラーレートのプロットを補間して近似直線を求める。ｏｆｆｓｅｔ＿ａ，ｏｆｆｓｅｔ＿ｂは、この近似直線により求められる。
【００７７】
次に、品質測定部３４は、ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＞＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂであるか否かの判定を行う（Ｓ４２）。ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＞＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂである場合（Ｓ４２，Ｙｅｓ）、品質測定部３４は、ＴＰ＝ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＊２とし（Ｓ４３）、ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＞＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂでない場合（Ｓ４２，Ｎｏ）、品質測定部３４は、ＴＰ＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂ＊２とする（Ｓ４４）。次に、品質測定部３４は、決定したＴＰをメモリに格納し（Ｓ４５）、このフローは終了する。
【００７８】
図１５は、実施の形態１のＴＰ決定処理の一例を示す概念図である。横軸は、オフセット量を示し、縦軸は、エラーレートを示す。近似直線は、オフセット量毎に得られたエラーレートが直線で補間されたものである。近似直線の値がαとなる負のオフセット量の絶対値がｏｆｆｓｅｔ＿ａであり、近似直線の値がαとなる正のオフセット量の絶対値がｏｆｆｓｅｔ＿ｂである。この例では、ｏｆｆｓｅｔ＿ａ＜ｏｆｆｓｅｔ＿ｂであり、ＴＰ＝ｏｆｆｓｅｔ＿ｂ＊２に設定される。
【００７９】
従来のＴＰＩＭ測定処理は、同一のトラックに複数回ライトした際のエラーレート悪化量を保証できない。もし、従来のＴＰＩＭ測定処理において複数回ずつライトを行うとすると、それぞれのオフセット位置で複数回のライトを行うため、測定時間が大幅に増える。
【００８０】
本実施の形態のＴＰ決定処理によれば、少ない測定時間で、複数回ライトによる隣接サイドイレーズ悪化量を保証したトラックピッチを決定することができる。これにより、磁気ディスク装置１の品質を向上させることが出来る。
【００８１】
実施の形態２．
本実施の形態のヘッド・媒体試験システムの構成について説明する。
【００８２】
図１６は、実施の形態２のヘッド・媒体試験システムの構成の一例を示すブロック図である。図１と同一符号は、図１に示された対象と同一又は相当物を示しており、ここでの説明を省略する。本実施の形態のヘッド・媒体試験システムは、ヘッド・媒体試験装置３、制御ＰＣ（Personal Computer）４、試験用ヘッド２３、試験用媒体２４を有する。試験用ヘッド２３、試験用媒体２４は、ヘッド・媒体試験装置３に固定される。
【００８３】
ヘッド・媒体試験装置３は、リードチャネル１４、ヘッドＩＣ１５、スピンドルモーター１８、リードライトコントローラ４１、ヘッド駆動機構制御部４２、ヘッド駆動機構４３、モーター制御部４４を有する。
【００８４】
リードライトコントローラ４１は、制御ＰＣ４からのデータパターンをリードチャネル１４へ送ると共に、リードチャネル１４からのデータパターンを制御ＰＣ４へ送る。ヘッド駆動機構制御部４２は、制御ＰＣ４からの指示に従って、ヘッド駆動機構４３へ電流を与える。ヘッド駆動機構４３は、試験用ヘッド２３を移動させる。モーター制御部４４は、制御ＰＣ４からの指示に従って、スピンドルモーター１８へ電流を与える。
【００８５】
制御ＰＣ４は、測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４を有する。制御ＰＣ４は、ＣＰＵと記憶装置を有するコンピュータである。この場合、測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４は、ソフトウェアとして記憶装置に格納され、ＣＰＵにより実行される。
【００８６】
本実施の形態のヘッド・媒体試験システムの動作は、実施の形態１の磁気ディスク装置試験システムと同様の測定処理を行う。
【００８７】
なお、本実施の形態においては、制御ＰＣ４がヘッド・媒体試験装置３に対して測定処理の指示を行うとしたが、ヘッド・媒体試験装置３が測定制御部３２、設定部３３、品質測定部３４の機能を備え、測定処理の指示を行っても良い。
【００８８】
また、上述した各実施の形態においては、本発明が磁気ディスクを媒体とする磁気ディスク装置に適用された場合について述べたが、本発明が磁気ドラム等の磁気媒体を有する磁気記憶装置に適用されても良い。
【００８９】
本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他の様々な形で実施することができる。そのため、前述の実施の形態は、あらゆる点で単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、何ら拘束されない。更に、特許請求の範囲の均等範囲に属する全ての変形、様々な改良、代替および改質は、全て本発明の範囲内のものである。
【００９０】
以上の実施の形態１〜２に関し、更に以下の付記を開示する。
（付記１）
磁気媒体に対してヘッドによるライト及びリードを行う磁気記憶装置であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定する設定部と、
前記設定部により設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、
前記ライト部によりライトされた前記第１データパターンをリードするリード部と、
前記リード部によりリードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と、
を備える磁気記憶装置。
（付記２）
前記設定部は、前記オフセットを、予め設定されたトラックピッチの倍数に設定する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記３）
前記設定部は、同一の前記区間に複数のオフセットを設定する場合、前記トラックピッチの２倍以上の間隔を空けて該複数のオフセットを設定する、
付記２に記載の磁気記憶装置。
（付記４）
前記設定部は、奇数番目の区間と偶数番目の区間のうち、一方の区間のオフセットをトラックピッチの奇数倍とし、他方の区間のオフセットをトラックピッチの偶数倍とする、
付記３に記載の磁気記憶装置。
（付記５）
前記設定部は、１つの前記区間に１つの前記オフセットを設定する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記６）
前記設定部は、前記オフセットを、予め設定されたトラックピッチの初期値より小さい値に設定する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記７）
前記所定の回数は、複数である、
付記６に記載の磁気記憶装置。
（付記８）
前記品質測定部は、前記オフセットと該オフセットでリードされた前記第１パターンの品質との関係を算出する、
付記６に記載の磁気記憶装置。
（付記９）
前記品質測定部は、算出された前記オフセットと前記品質との関係に基づいて、前記品質が所定の限界値となるオフセットである限界オフセットを算出する、
付記８に記載の磁気記憶装置。
（付記１０）
前記品質測定部は、算出された前記限界オフセットに基づいて、以後のライト及びリードに用いるトラックピッチを決定する、
付記９に記載の磁気記憶装置。
（付記１１）
前記品質測定部は、前記磁気媒体のゾーン毎に、前記トラックピッチを決定する、
付記１０に記載の磁気記憶装置。
（付記１２）
前記品質測定部は、前記ゾーン毎に、前記トラック方向の記録密度の最適化を行う、
付記１１に記載の磁気記憶装置。
（付記１３）
前記設定部は、前記オフセットを所定の距離以内に設定する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記１４）
前記所定の距離は、サイドイレーズの影響が所定の大きさ以下となる距離である、
付記１３に記載の磁気記憶装置。
（付記１５）
前記設定部は、前記複数の区間を繰り返し設定し、
前記品質測定部は、複数の異なる区間において同一のオフセットでリードされた前記第１データパターンの品質の測定結果を統計処理する、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記１６）
前記品質は、エラーレートである、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記１７）
前記区間は、セクタである、
付記１に記載の磁気記憶装置。
（付記１８）
磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験方法であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定し、
設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、
前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトし、
ライトされた前記第１データパターンをリードし、
リードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う、
ことを実行するヘッド試験方法。
（付記１９）
磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験装置であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定する設定部と、
前記設定部により設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、
前記ライト部によりライトされた前記第１データパターンをリードするリード部と、
前記リード部によりリードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と、
を備えるヘッド試験装置。
【図面の簡単な説明】
【００９１】
【図１】実施の形態１の磁気ディスク装置試験システムの構成の一例を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１のヘッド２１及び媒体２２の構成の一例を示す斜視図である。
【図３】実施の形態１のサイドイレーズ測定処理の一例を示すフローチャートである。
【図４】実施の形態１のサイドイレーズ測定処理におけるイレーズライト後のエラーレートの一例を示す概念図である。
【図５】実施の形態１の第１サイドイレーズ測定用配置の一例を示す配置図である。
【図６】実施の形態１の第２サイドイレーズ測定用配置の一例を示す配置図である。
【図７】実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理の一例を示すフローチャートである。
【図８】実施の形態１のプロファイル測定用配置の一例を示す配置図である。
【図９】実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理のイレーズライト前のエラーレートの一例を示す概念図である。
【図１０】実施の形態１のサイドイレーズプロファイル測定処理のイレーズライト後のエラーレートの一例を示す概念図である。
【図１１】実施の形態１のＴＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの一例を示す表である。
【図１２】実施の形態１のＢＰＩ＿ｔｙｐｅテーブルの一例を示す表である。
【図１３】実施の形態１のＴＰＩ・ＢＰＩ決定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１４】実施の形態１のＴＰ決定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１５】実施の形態１のＴＰ決定処理の一例を示す概念図である。
【図１６】実施の形態２のヘッド・媒体試験システムの構成の一例を示すブロック図である。
【図１７】従来のサイドイレーズ測定処理におけるリード用データパターン及びイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。
【図１８】従来のＴＰＩＭ測定処理における１回目のイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。
【図１９】従来のＴＰＩＭ測定処理における２回目のイレーズ用データパターンの配置の一例を示す配置図である。
【図２０】従来のＴＰＩＭ測定処理による測定結果の一例を示す概念図である。
【符号の説明】
【００９２】
１ 磁気ディスク装置
２ 磁気ディスク装置制御装置
３ ヘッド・媒体試験装置
４ 制御ＰＣ
１１ ホストインターフェイス
１２ ハードディスクコントローラ
１３ メモリ
１４ リードチャネル
１５ ヘッドＩＣ
１６ モーター制御部
１７ ボイスコイルモーター
１８ スピンドルモーター
２１ ヘッド
２２ 媒体
２３ 試験用ヘッド
２４ 試験用媒体
３２ 測定制御部
３３ 設定部
３４ 品質測定部
４１ リードライトコントローラ
４２ ヘッド駆動機構制御部
４３ ヘッド駆動機構
４４ モーター制御部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気媒体に対してヘッドによるライト及びリードを行う磁気装置であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定する設定部と、
前記設定部により設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、
前記ライト部によりライトされた前記第１データパターンをリードするリード部と、
前記リード部によりリードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と、
を備える磁気記憶装置。
【請求項２】
前記設定部は、前記オフセットを、予め設定されたトラックピッチの倍数に設定する、
請求項１に記載の磁気記憶装置。
【請求項３】
前記設定部は、１つの前記区間に１つの前記オフセットを設定する、
請求項１または請求項２に記載の磁気記憶装置。
【請求項４】
前記設定部は、前記オフセットを、予め設定されたトラックピッチの初期値より小さい値に設定する、
請求項１または請求項３に記載の磁気記憶装置。
【請求項５】
磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験方法であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定し、
設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、
前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトし、
ライトされた前記第１データパターンをリードし、
リードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う、
ことを実行するヘッド試験方法。
【請求項６】
磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験装置であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定する設定部と、
前記設定部により設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、
前記ライト部によりライトされた前記第１データパターンをリードするリード部と、
前記リード部によりリードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と、
を備えるヘッド試験装置。
【請求項１】
磁気媒体に対してヘッドによるライト及びリードを行う磁気装置であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定する設定部と、
前記設定部により設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、
前記ライト部によりライトされた前記第１データパターンをリードするリード部と、
前記リード部によりリードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と、
を備える磁気記憶装置。
【請求項２】
前記設定部は、前記オフセットを、予め設定されたトラックピッチの倍数に設定する、
請求項１に記載の磁気記憶装置。
【請求項３】
前記設定部は、１つの前記区間に１つの前記オフセットを設定する、
請求項１または請求項２に記載の磁気記憶装置。
【請求項４】
前記設定部は、前記オフセットを、予め設定されたトラックピッチの初期値より小さい値に設定する、
請求項１または請求項３に記載の磁気記憶装置。
【請求項５】
磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験方法であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定し、
設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、
前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトし、
ライトされた前記第１データパターンをリードし、
リードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う、
ことを実行するヘッド試験方法。
【請求項６】
磁気媒体に対してライト及びリードを行うヘッドの試験を行うヘッド試験装置であって、
前記磁気媒体のトラック方向に区切られる複数の区間と前記トラック方向に沿う所定の基準経路とを設定すると共に、前記基準経路に対する前記ヘッドの位置であるオフセットについて隣接する前記区間同士の前記オフセットが異なるように前記区間毎に少なくとも１つの前記オフセットを設定する設定部と、
前記設定部により設定された前記区間毎の前記オフセットへ第１データパターンをライトし、前記基準経路へ所定の回数だけ第２データパターンをライトするライト部と、
前記ライト部によりライトされた前記第１データパターンをリードするリード部と、
前記リード部によりリードされた前記第１データパターンのそれぞれの品質の測定を行う品質測定部と、
を備えるヘッド試験装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【公開番号】特開２０１０−１２３１５３（Ｐ２０１０−１２３１５３Ａ）
【公開日】平成２２年６月３日（２０１０．６．３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−２９３２２１（Ｐ２００８−２９３２２１）
【出願日】平成２０年１１月１７日（２００８．１１．１７）
【出願人】（３０９０３３２６４）東芝ストレージデバイス株式会社 (255)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年６月３日（２０１０．６．３）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１１月１７日（２００８．１１．１７）
【出願人】（３０９０３３２６４）東芝ストレージデバイス株式会社 (255)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]