複数の音波発生機能を有する生検プローブ装置
生検プローブ装置（１４）は、長手軸を有し、サンプル受けノッチ（５２）を有する細長いサンプル受けメンバ（３８）を有する。細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレ（４０）は、第１の相対的位置（６２）及び第２の相対的位置（６４）の間の長手軸に従ってもう一方と相対的に移動可能である。第１の音波発生機能（６８、７０、７２）は、細長いサンプル受けメンバに設置され、第２の音波発生機能（７４、７６、７８）は、カッティングカニューレに設置されている。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが第１の相対的位置にある場合に、第２の音波発生機能の長手方向の配列にある。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが第２の相対的位置にある場合に、第２の音波発生機能の長手方向の配列の外にある。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の音波発生機能を有する、医療装置に、さらに詳細には、生検プローブ装置に関連する。
【背景技術】
【０００２】
生検は、生検される組織損傷の細胞が癌であるかどうかを診断することを援助するために患者に施され得る。従来の生検装置は、ドライバアセンブリに取り外し可能に取り付けられた使い捨ての生検プローブ装置の駆動構成に駆動可能に連結する１若しくは複数のドライバを有する手持ちのドライバアセンブリを有する。生検プローブ装置は、サンプリングされる組織を受けるためのサンプルポートを有する生検カニューレ、例えば、針と、サンプルポートで受けられる組織を切除するためのカッティングカニューレと、を一般的に有している。
【０００３】
先行技術では、挿入及び患者の体腔の内部における案内をしている針の所定の部分の位置のリアルタイムの監視を提供するための超音波画像処理システムを適用するために粗面を有する針のような手術器具を設置されていることが知られている。
【発明の概要】
【０００４】
本発明は、超音波画像処理を適用する場合に、生検プローブ要素の相対的な移動の視覚化を強化するために複数の音波発生機能を有する生検プローブ装置を備える。
【０００５】
本発明は、この一態様で、生検プローブ機構に向かう。生検プローブ装置は、長手軸を有し、サンプル受けノッチを有する細長いサンプル受けメンバを有する。カッティングカニューレは、サンプル受けメンバと同軸上に配置されている。細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレは、第１の相対的位置及び第２の相対的位置の間の長手軸に従ってのもう一方と相対的に移動可能である。複数の音波発生機能は、第１の音波発生機能及び第２の音波発生機能を含む。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバに設置され、第２の音波発生機能は、カッティングカニューレに設置されている。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが第１の相対的位置にある場合に、第２の音波発生機能の長手方向の配列にある。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが第２の相対的位置にある場合に、第２の音波発生位置の長手方向の配列の外にある。
【０００６】
本発明は、これらのその他の形態として、超音波画像処理に適用する生検プローブ装置に案内される。生検プローブ装置は、長手軸を有し、サンプル受けノッチを有する細長いサンプル受けメンバを有する。カッティングカニューレは、サンプル受けメンバと同軸上に設置されている。細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレは、サンプル受けノッチがカッティングカニューレによって閉じられた第１の相対的位置と、サンプル受けノッチが開いている第２の相対的位置との間の長手軸に従ってもう１方に相対的に移動可能である。複数の音波発生機能は、第１の音波発生機能の一式から成る長手方向に間隔を空けた２つの音波発生機能の間に設置されているサンプル受けノッチを有し、サンプル受けメンバに設置された第１の長手方向に間隔を空けた音波発生機能の一式を有する。
【０００７】
本発明は、これらのほかの形態において、超音波装置に連結して適用するために生検装置に案内される。生検装置は、ドライバアセンブリに連結されたドライバアセンブリ及び生検プローブ装置を有する。ドライバアセンブリは、生検プローブ装置を通して駆動操作を提供される。生検プローブ装置は、長手軸を有する細長いサンプル受けメンバ及びサンプル受けメンバの同軸上に設置されたカッティングカニューレを有している。細長いサンプル受けメンバは、第１の音波発生機能を有している。カッティングカニューレは、第２の音波発生機能を有している。細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレは、第１の相対的位置及び第２の相対的位置の間のドライバアセンブリの制御によってもう一方に相対的に移動可能である。細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが、第１の音波発生機能及び第２の音波発生機能に関連する単一合成の音波発生の反射の生成を促進するために第１の相対的位置にある場合に、第１の音波発生機能は、第２の音波発生機能の長手方向の配列にある。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが、第１の音波発生機能及び第２の音波発生機能に関連する個別の音波発生の反射の生成を促進するための第２の相対的位置にある場合に、第２の音波発生機能の長手方向の配列の外にある。
【０００８】
前述の、その他の特長、この発明の効果、これらを達成するための方法は、さらに明確になるだろうし、本発明は、付随の図面と併せて提供された本発明の実施の形態の後述を参照することによってよりよく理解されるだろう。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、一部を図式的に表された内部要素を曝すように生検ドライバアセンブリを除いた側面を伴う生検ドライバアセンブリに取り付けられた生検プローブ装置を有する生検装置の側面図である。
【図２Ａ】図２Ａは、サンプル受けノッチを開いた状態の、複数の音波発生機能を有する図１の生検装置の生検プローブの一部分の側面図である。
【図２Ｂ】図２Ｂは、図２Ａの生検プローブの一部分の斜視図である。
【図３】図３は、サンプル受けノッチを閉じた状態の、図１の生検装置の生検プローブの一部分の側面図である。
【図４】図４は、超音波画像処理を適用する生検方法での図１の生検装置の適用の概略図である。
【図５】図５は、超音波画像処理を適用する音波発生機能の位置の観察によって視覚化されたサンプル受けノッチの開口の初期段階の概略図である。
【図６】図６は、超音波画像処理を適用する音波発生機能の位置の観察によって視覚化されたサンプル受けノッチの開口の中間段階の概略図である。
【図７】図７は、超音波画像処理を適用する音波発生機能の位置の観察によって視覚化されたサンプル受けノッチの開口の最終段階の概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
対応する参照符号は、複数の図を通して対応する部分を示す。ここで詳細に説明された例示は、本発明の一例の実施の形態を説明し、このような例示は、幾つかの方法で本発明の範囲を限定するように解釈されるべきではない。
【００１１】
図面、及び特に図1を参照して、本発明の実施形態に従って構成された生検装置１０が示されている。
図１を参照して、生検装置１０は、駆動アセンブリ１２及び生検プローブ機構１４を有する。駆動アセンブリ１２は、生検プローブ機構１４を通して駆動制御を実行される。駆動アセンブリ１２は、使用者、例えば、医師によって把持されるように構成された、例えば、人間工学的に設計されたハウジング１６を有する。駆動アセンブリ１２に駆動可能であるように連結されている生検プローブ機構１４を有する、ハウジング１６は、生検プローブ機構１４は、駆動ドライバ１２に取り付けられた場合に、生検プローブ機構１４が少なくとも部分的に設置されたコンパートメント１８を規定する。
【００１２】
駆動アセンブリ１２は、使用者からの、例えば、１つ若しくは複数の押しボタンを通じた操作コマンドを受信するためにハウジング１６に関連して使用者に対して外側から接近可能なように設置されたユーザインターフェイス２０をさらに有し、使用者に情報を表示するためのディスプレイ、例えば、１つ若しくは複数のライト又はＬＣＤ（液晶ディスプレイ）も有し得る。コントローラ２２は、例えば、ワイヤケーブル、プリント回路、などのような通信回線２４を介してユーザインターフェイス２０に通信可能なように連結されている。コントローラ２２は、例えば、生検方法の間に生検組織サンプルの採取に関連する機能を実行するためにプログラム命令を実行するためのマイクロプロセッサ及び関連するメモリ（図示せず）を有し得る。
【００１３】
ハウジング１６の内部に電気的機械ドライブ２６及び圧力源２８が含まれる。電気的機械ドライブ２６は、例えば、ワイヤケーブル、プリント回路のような通信回線３０を介してコントローラ２２に電気的通信で接続されている。電気的機械ドライブ２６は、生検プローブ機構１４及び圧力源２８を選択的及び稼働的に制御するための生検プローブ機構１４及び圧力源に駆動可能なように連結（破線で描画されている）されている。電気機械的ドライブ２６は、例えば、生検プローブ機構１４及び／若しくは圧力源２８を稼働させるために、回転動作を直線状動作に変換する線形ドライブ（例えば、ウォームギア配置、ランクアンドオピニオン配置、ソレノイド−スライド配置、など）と、１つ若しくは複数のギア、ギア列、ベルト／プーリ配置、など、を有する回転ドライブと、を有する
圧力源２８は、例えば、螺動ポンプ、ダイヤフラムポンプ、シリンジ型のポンプ、などであり得る。圧力源２８は、ドライバアセンブリ１２に取り外せないように一体化され得る、若しくは、他の方法として、生検プローブ機構１４の１部分に取り外せないように一体化され得る。いずれにせよ、圧力源２８は、生検プローブ機構１４、例えば、コンジット３２を介して流体連結で結合され、負の圧力（真空）を生じ、且つ同様の実施形態で正の圧力も生じ得る。
【００１４】
生検プローブ機構１４は、一般的にユニットとして使い捨てを意図し、単独の患者に使用を意図される。生検プローブ機構１４は、生検プローブ３６を取り付けられたフレーム３４を有する。生検プローブ３６は、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０は、フレーム３４に同軸ケーブルのユニットとして取り付けられている。本実施形態において、例えば、サンプル受けメンバ３８は、共に移動可能なように連結されているカッティングカニューレ４０及びサンプル受けメンバ３８を有する、フレーム３４に固定して取り付けられる、そしてカッティングカニューレ４０は、フレーム３４に移動可能なように取り付けられている。
【００１５】
サンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０の各々は、例えば、ステンレススティール、チタン、若しくはニッケル合金で形成され得る。フレーム３４は、例えば、プラスティックで形成され得る。
【００１６】
サンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０は、長手軸４２に従って同軸上に配置され、長手軸４２に従ってもう一方に関連して移動可能である。図１に示される本実施形態において、例えば、カッティングカニューレ４０は、ルーメン４４を有する円筒型チューブ及び先端カッティングエッジ４６として形成される。サンプル受けメンバ３８は、カッティングカニューレ４０のルーメン４４に設置されるので、サンプル受けメンバ３８は、カッティングカニューレ４０の内部で長手方向にスライドする。
【００１７】
本実施形態で、サンプル受けメンバ３８は、例えば、近位端４８を有する細長い円筒チューブ、遠位端５０、サンプル受けノッチ５２及び（破線で示される）ルーメン５４のように、形成され得る。本実施形態において、貫通先端５６は、遠位端５０に設置される。長手軸４２は、ルーメン５４の中央部で近位端４８と遠位端５０とを通って延長している。
【００１８】
当業者は、カッティングカニューレ４０の内部でスライド可能なように設置されるサンプル受けメンバ３８を有する一例の実施形態の構成の代わりとして、また、カッタカニューレ４０はサンプル受けメンバ３８のチューブと共にスライド可能なように設置される大きさにされ得ることを理解するだろう。
【００１９】
サンプル受けノッチ５２は、例えば、サンプル受けノッチ５２がサンプル受けメンバ３８の内側６０中に延長するようにサンプル受けメンバ３８の側壁５８の部分（図２Ｂを参照）を機構加工することによって、サンプル受けメンバ３８で形成される。サンプル受けノッチ５２は、サンプル受けメンバ３８の遠位端５０の近くに設置されている。サンプル受けノッチ５２は、生検方法の間に、生検が行われ、組織から採取された組織サンプルを収集するための組織を受ける。サンプル受けノッチ５２は、時々サンプルチャンバとして参照もされ得る。サンプル受けメンバ３８のサンプル受けノッチ５２は、コンジット３２を介して圧力源２８の流体管路に連結される。しかし、生検装置１０の幾つかの設計は、圧力源を活用されない。
【００２０】
図２Ａ、２Ｂ及び３でも参照されるように、サンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０は、サンプル受けノッチ５２はカッティングカニューレによって閉じられている第１の相対的位置６２（図３）と、サンプル受けノッチ５２が開いている第２の相対的位置６４（図２Ａ及び図２Ｂ）と、の間の長手軸４２に従ってもう一方に関連して移動可能であり得る。“閉じた”という用語は、通路が生検プローブ３６の外側の領域からサンプル受けノッチ５２を介してサンプル受けメンバ３８の内側６０への通路が存在しないことを意味する。“開いた”という用語は、生検プローブ３６の外側の領域からサンプル受けノッチ５２を介してサンプル受けメンバ３８の内側６０へ妨げるものない通路が存在することを意味する。
【００２１】
図２Ａ及び２Ｂに示されるように、生検プローブ機構１４の生検プローブ３６は、複数の音波発生機能６６を有する。一例の本実施形態で、複数の音波発生機能６６は、２つの個別の音波発生機能７０、７２を有する第１の音波発生機能６６の一式と、２つの個別の音波発生機能７６、７８を有する第２の音波発生機能７４の一式と、を含む。
【００２２】
一例の本実施形態で、複数の音波発生機能６６の各音波発生機能７０、７２、７６、７８は、超音波画像処理の間の単独の音波発生の反射を形成する少なくとも１つの円周のバンド、即ち、１つの円周のバンド、若しくは代わりにしっかりと間隔を空けられた複数の円周のバンド、の代表である。円周の音波発生バンドは、関連する物質の円周の周囲に、部分的に若しくは完全に拡張し得ることが予測される。また、各円周の音波発生バンドは、円周で連続的な、円周で区切られた若しくは不規則な形状である。各音波発生機能７０、７２、７６、７８は、超音波画像処理の間に周囲の領域のそれからはっきりと区別できる対照的な音波発生の反射を供給するために、例えば、粗面、埋め込まれた材料、機械加工されたパターン及び部分的なコーティング、で形成され得る。
【００２３】
図２Ａ、２Ｂ及び３に示された実施形態で、第１の音波発生機能６８の一式の２つの音波発生機能７０、７２は、長手方向に距離Ｄ１の間隔を空けられ、サンプル受けメンバ３８で設置されている。サンプル受けノッチ５２は、２つの長手方向で間隔を空けられた音波発生機能７０、７２の間に設置されている。即ち、音波発生機能の１つ、例えば、音波発生機能７０は、サンプル受けノッチ５２の末端部に設置され、その他の音波発生機能、例えば、音波発生機能７２は、サンプル受けノッチ５２の近くに設置されている。
【００２４】
第２の音波発生機能７４の一式の音波発生機能７６、７８は、距離Ｄ２で長手方向に間隔を空けられて、カッティングカニューレ４０に設置されている。本実施形態で、第１の音波発生機能６８の一式の２つの長手方向に間隔を空けられた音波発生機能７０、７２の間隔距離Ｄ１は、第２の音波発生機能７４の一式の２つの長手方向に間隔を空けられた音波発生機能７６、７８の間隔距離Ｄ２と同等である。
【００２５】
従って、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０が相対的位置６４にある場合に、図２Ａ及び図２Ｂに示すように、第１の音波発生機能６８の一式は、音波発生機能７４の一式の長手方向へ配列の外であるように、第１の音波機能６８の一式及び第２の音波機能７４の一式の両方は、超音波的に明らかである、即ち、４つの音波発生機能７０、７２、７６、７８は、超音波的に明らかである４つの対応する音波発生の反射を生成する。
【００２６】
反対に、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッタカニューレ４０は、相対的位置６２にある場合に、図３に示されるように、第１の音波機能６８の一式は、第２の音波機能７４の一式の長手方向に配置してあり、音波発生機能の一式の１つ（即ち、２つの音波発生の反射）は、超音波的に明らかである、即ち、２つの音波発生バンドは、超音波的に明らかである。従って、生検プローブ３６は、患者の組織に配置された場合に、超音波画像を見る医師は、サンプル受けノッチ５２がカッティングカニューレ４０の先端カッティングエッジ４６を通り過ぎて遠位に延長されているかに関わらず、サンプル受けメンバ３８のサンプル受けノッチ５２が関心の障害に隣接して配置されたかどうかと、サンプル受けノッチ５２が開いて若しくは閉じられているかどうかと、を容易に判別できる。
【００２７】
他の方法で説明すると、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０が相対的位置６４にある場合に、図２Ａ及び２Ｂに示されるように、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７０は、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６の長手方向への配列の外にあり、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２はカッティングカニューレ４０の音波発生機能７８の長手方向の配列の外にあり、従って４つの音波発生の反射、例えば、バンドは、超音波的に明らかである。
【００２８】
反対に、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０は相対的位置６２にある場合に、図３に示すように、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７０は、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６の長手方向への配置にあり、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２は、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７８の長手方向への配置にあり、従って２つの音波発生の反射は、超音波的に明らかである。図３を通して音波発生機能７０、７２は、カッティングカニューレ４０で全体を被覆されていることを留意すべきであり、音波発生機能７０、７２は、カッティングカニューレ４０を通してさらに超音波的に明らかであり、従って第１の相対的位置６２（図３）でのサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０の相対的位置は、ただ２つの音波発生バンドが音波発生機能配置に従って超音波的に明らかであることを確認される。
【００２９】
従って、前述された構成の一態様は、サンプル受けメンバ３８に関連する音波機能７０、７２は、サンプル受けノッチ５２の範囲の輪郭を示すこということであり、従って医師は、サンプルノ受けノッチ５２が開口若しくは閉口かに関わらず、サンプル受けメンバ３８に対応するサンプル受けメンバ３８の部分の正確な位置を超音波画像によって知るだろう。
【００３０】
その他の一態様は、インターフェイスの事象でのように、サンプル受けノッチ５２の開いている若しくは閉じている間の生検プローブ３６のサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０の相対的位置の確認についてである。例えば、カッタカニューレ４０で被覆されているときでさえサンプル受けメンバ３８の音波発生機能７０、７２は超音波的に明らかであるので、以下で詳細に記載するように、サンプル受けメンバ３８のサンプル受けノッチ５２の開口若しくは閉口の経過を追うことができる。
【００３１】
図４乃至７も参照して、例えば、サンプル受けノッチ５２が閉じられ（図３に示された相対的位置）、生検プローブ３６が、生検を取得する目的で患者の組織ＴＳへ、手動若しくは貫通射撃でのいずれか一方で、挿入されることを前提として、生検プローブ３６の位置は、超音波装置８０を適用して観測されている。患者へ生検プローブ機構１４の生検プローブ３６の挿入に備えて、例えば、カッティングカニューレ４０が、サンプル受けメンバ３８の（図１の極めて細い線で示された）サンプル受けノッチ５２を被覆するために長手方向の軸４２に従って線状に移動するようにコントローラ２２及び電機機械的ドライブ２６によって操作される。駆動中に、手動挿入若しくは貫通射撃のいずれか一方によって、使用者が生検部分に組織ＴＳを通る接続通路を設置するために生検プローブ３６の貫通先端５６を適用し得る。
【００３２】
最初に、図４に図式的に示されるように、医師は、図３に示される相対的位置６２での音波発生機能の配置に従って、音波発生機能７０及び音波発生機能７６に関連する単独の合成の音波発生の反射７０、７６として、且つ音波発生機能７２及び音波発生機能７８に関連する第２の単独の合成の音波発生の反射７２、７８として、２つの音波発生の反射、例えば、バンドを観測するだろう。２つの合成の音波発生の反射７０、７６及び７２、７８は、関心の障害ＬＳの位置に関連してサンプル受けノッチ５２を正確に配置するために適用され得る。
【００３３】
従って、カッティングカニューレ４０は、このため、サンプル受けノッチ５２を曝すように長手軸４２に従って線状に移動するために、コントローラ２２及び電気機械的ドライブ２６によって操作される。図５で図式的に示されるように、サンプル受けノッチ５２の開口の間に、例えば、サンプル受けメンバ３８に関連するカッティングカニューレ４０の後退によって、医師は、音波発生機能７０、７２、７６、７８に対応する、４つの音波発生の反射、例えば、バンドを観測するだろう。図５に示されるように、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６は、サンプル受けノッチ５２の音波発生機能７０に近接し、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６及びサンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２の間の距離Ｄ３は、図６に示されるように、３つの音波発生の反射が観測されるまで減少する。カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６は、合成の音波発生機能の反射７２、７６を発生するためにサンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２の、且つ超音波的にも明らかである個別の音波発生機能７０及び７８の長手方向の配置にある場合に、３つの音波発生の反射が、観測される。
【００３４】
その後直ぐに、サンプル受けメンバ３８に関連するカッティングカニューレ４０のさらに相対的移動において、４つの音波発生の反射は、図２Ａ及び図２Ｂに示すように、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２に近接されているカッティングカニューレ４０の音波発生機能７６で、且つ、サンプル受けノッチ５２が開き、相対的位置６４が到達されるまで増大するサンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２及びカッティングカニューレ４０の音波発生機能７６の間の距離Ｄ４で、再び観測される。
【００３５】
従って、サンプル受けノッチ５２で真空を規定するために圧力源２８を起動し、その結果、サンプル受けノッチ５２へ障害ＬＳの全部若しくは一部分を引き込む。カッティングカニューレ４０は、このとき、図３に示すように、サンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０の相対的位置６２が基準に達せられるまで、サンプル受けノッチ５２を閉じて、例えば、覆って、サンプル受けノッチ５２の組織を断ち切るように長手方向の軸４２に従って線状に移動するためにコントローラ２２及び電気機械的ドライブ２６によって操作される。また、カッティングカニューレ４０は、カッティングカニューレ４０の幾分かの前進で回転若しくは振動、又は独立して操作され得る。カッティング工程の間、即ち、サンプル受けノッチ５２の閉鎖の間に、音波発生機能７０、７２、７６及び７８の位置は、サンプル受けノッチ５２の開口に関連する前述の超音波観測の逆になるだろう。
【００３６】
組織サンプルが収集されており、生検プローブ３６が患者から引き抜かれ得る。
本発明は、実施形態に関連して開示された間に、本発明は、この開示の精神と範囲の中でさらに改良され得る。例えば、幾つかの応用において、サンプル受けメンバ及びカッティングカニューレの各々の単独の音波発生機能を有することが望まれ得る。また、例えば、幾つかの応用において、さらにサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレの各々の２つの音波発生機能以上を有することが望まれ得る。この応用は、結果として、幾つかの種類、適用、その一般原則を適用した発明の適合を包含することが予測される。さらに、この応用は、本発明に関連し、添付された請求項の範囲に含まれる技術で既知若しくは従来のやり方であるような本開示からのこのような発展を包含することが予測される。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の音波発生機能を有する、医療装置に、さらに詳細には、生検プローブ装置に関連する。
【背景技術】
【０００２】
生検は、生検される組織損傷の細胞が癌であるかどうかを診断することを援助するために患者に施され得る。従来の生検装置は、ドライバアセンブリに取り外し可能に取り付けられた使い捨ての生検プローブ装置の駆動構成に駆動可能に連結する１若しくは複数のドライバを有する手持ちのドライバアセンブリを有する。生検プローブ装置は、サンプリングされる組織を受けるためのサンプルポートを有する生検カニューレ、例えば、針と、サンプルポートで受けられる組織を切除するためのカッティングカニューレと、を一般的に有している。
【０００３】
先行技術では、挿入及び患者の体腔の内部における案内をしている針の所定の部分の位置のリアルタイムの監視を提供するための超音波画像処理システムを適用するために粗面を有する針のような手術器具を設置されていることが知られている。
【発明の概要】
【０００４】
本発明は、超音波画像処理を適用する場合に、生検プローブ要素の相対的な移動の視覚化を強化するために複数の音波発生機能を有する生検プローブ装置を備える。
【０００５】
本発明は、この一態様で、生検プローブ機構に向かう。生検プローブ装置は、長手軸を有し、サンプル受けノッチを有する細長いサンプル受けメンバを有する。カッティングカニューレは、サンプル受けメンバと同軸上に配置されている。細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレは、第１の相対的位置及び第２の相対的位置の間の長手軸に従ってのもう一方と相対的に移動可能である。複数の音波発生機能は、第１の音波発生機能及び第２の音波発生機能を含む。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバに設置され、第２の音波発生機能は、カッティングカニューレに設置されている。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが第１の相対的位置にある場合に、第２の音波発生機能の長手方向の配列にある。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが第２の相対的位置にある場合に、第２の音波発生位置の長手方向の配列の外にある。
【０００６】
本発明は、これらのその他の形態として、超音波画像処理に適用する生検プローブ装置に案内される。生検プローブ装置は、長手軸を有し、サンプル受けノッチを有する細長いサンプル受けメンバを有する。カッティングカニューレは、サンプル受けメンバと同軸上に設置されている。細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレは、サンプル受けノッチがカッティングカニューレによって閉じられた第１の相対的位置と、サンプル受けノッチが開いている第２の相対的位置との間の長手軸に従ってもう１方に相対的に移動可能である。複数の音波発生機能は、第１の音波発生機能の一式から成る長手方向に間隔を空けた２つの音波発生機能の間に設置されているサンプル受けノッチを有し、サンプル受けメンバに設置された第１の長手方向に間隔を空けた音波発生機能の一式を有する。
【０００７】
本発明は、これらのほかの形態において、超音波装置に連結して適用するために生検装置に案内される。生検装置は、ドライバアセンブリに連結されたドライバアセンブリ及び生検プローブ装置を有する。ドライバアセンブリは、生検プローブ装置を通して駆動操作を提供される。生検プローブ装置は、長手軸を有する細長いサンプル受けメンバ及びサンプル受けメンバの同軸上に設置されたカッティングカニューレを有している。細長いサンプル受けメンバは、第１の音波発生機能を有している。カッティングカニューレは、第２の音波発生機能を有している。細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレは、第１の相対的位置及び第２の相対的位置の間のドライバアセンブリの制御によってもう一方に相対的に移動可能である。細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが、第１の音波発生機能及び第２の音波発生機能に関連する単一合成の音波発生の反射の生成を促進するために第１の相対的位置にある場合に、第１の音波発生機能は、第２の音波発生機能の長手方向の配列にある。第１の音波発生機能は、細長いサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレが、第１の音波発生機能及び第２の音波発生機能に関連する個別の音波発生の反射の生成を促進するための第２の相対的位置にある場合に、第２の音波発生機能の長手方向の配列の外にある。
【０００８】
前述の、その他の特長、この発明の効果、これらを達成するための方法は、さらに明確になるだろうし、本発明は、付随の図面と併せて提供された本発明の実施の形態の後述を参照することによってよりよく理解されるだろう。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、一部を図式的に表された内部要素を曝すように生検ドライバアセンブリを除いた側面を伴う生検ドライバアセンブリに取り付けられた生検プローブ装置を有する生検装置の側面図である。
【図２Ａ】図２Ａは、サンプル受けノッチを開いた状態の、複数の音波発生機能を有する図１の生検装置の生検プローブの一部分の側面図である。
【図２Ｂ】図２Ｂは、図２Ａの生検プローブの一部分の斜視図である。
【図３】図３は、サンプル受けノッチを閉じた状態の、図１の生検装置の生検プローブの一部分の側面図である。
【図４】図４は、超音波画像処理を適用する生検方法での図１の生検装置の適用の概略図である。
【図５】図５は、超音波画像処理を適用する音波発生機能の位置の観察によって視覚化されたサンプル受けノッチの開口の初期段階の概略図である。
【図６】図６は、超音波画像処理を適用する音波発生機能の位置の観察によって視覚化されたサンプル受けノッチの開口の中間段階の概略図である。
【図７】図７は、超音波画像処理を適用する音波発生機能の位置の観察によって視覚化されたサンプル受けノッチの開口の最終段階の概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
対応する参照符号は、複数の図を通して対応する部分を示す。ここで詳細に説明された例示は、本発明の一例の実施の形態を説明し、このような例示は、幾つかの方法で本発明の範囲を限定するように解釈されるべきではない。
【００１１】
図面、及び特に図1を参照して、本発明の実施形態に従って構成された生検装置１０が示されている。
図１を参照して、生検装置１０は、駆動アセンブリ１２及び生検プローブ機構１４を有する。駆動アセンブリ１２は、生検プローブ機構１４を通して駆動制御を実行される。駆動アセンブリ１２は、使用者、例えば、医師によって把持されるように構成された、例えば、人間工学的に設計されたハウジング１６を有する。駆動アセンブリ１２に駆動可能であるように連結されている生検プローブ機構１４を有する、ハウジング１６は、生検プローブ機構１４は、駆動ドライバ１２に取り付けられた場合に、生検プローブ機構１４が少なくとも部分的に設置されたコンパートメント１８を規定する。
【００１２】
駆動アセンブリ１２は、使用者からの、例えば、１つ若しくは複数の押しボタンを通じた操作コマンドを受信するためにハウジング１６に関連して使用者に対して外側から接近可能なように設置されたユーザインターフェイス２０をさらに有し、使用者に情報を表示するためのディスプレイ、例えば、１つ若しくは複数のライト又はＬＣＤ（液晶ディスプレイ）も有し得る。コントローラ２２は、例えば、ワイヤケーブル、プリント回路、などのような通信回線２４を介してユーザインターフェイス２０に通信可能なように連結されている。コントローラ２２は、例えば、生検方法の間に生検組織サンプルの採取に関連する機能を実行するためにプログラム命令を実行するためのマイクロプロセッサ及び関連するメモリ（図示せず）を有し得る。
【００１３】
ハウジング１６の内部に電気的機械ドライブ２６及び圧力源２８が含まれる。電気的機械ドライブ２６は、例えば、ワイヤケーブル、プリント回路のような通信回線３０を介してコントローラ２２に電気的通信で接続されている。電気的機械ドライブ２６は、生検プローブ機構１４及び圧力源２８を選択的及び稼働的に制御するための生検プローブ機構１４及び圧力源に駆動可能なように連結（破線で描画されている）されている。電気機械的ドライブ２６は、例えば、生検プローブ機構１４及び／若しくは圧力源２８を稼働させるために、回転動作を直線状動作に変換する線形ドライブ（例えば、ウォームギア配置、ランクアンドオピニオン配置、ソレノイド−スライド配置、など）と、１つ若しくは複数のギア、ギア列、ベルト／プーリ配置、など、を有する回転ドライブと、を有する
圧力源２８は、例えば、螺動ポンプ、ダイヤフラムポンプ、シリンジ型のポンプ、などであり得る。圧力源２８は、ドライバアセンブリ１２に取り外せないように一体化され得る、若しくは、他の方法として、生検プローブ機構１４の１部分に取り外せないように一体化され得る。いずれにせよ、圧力源２８は、生検プローブ機構１４、例えば、コンジット３２を介して流体連結で結合され、負の圧力（真空）を生じ、且つ同様の実施形態で正の圧力も生じ得る。
【００１４】
生検プローブ機構１４は、一般的にユニットとして使い捨てを意図し、単独の患者に使用を意図される。生検プローブ機構１４は、生検プローブ３６を取り付けられたフレーム３４を有する。生検プローブ３６は、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０は、フレーム３４に同軸ケーブルのユニットとして取り付けられている。本実施形態において、例えば、サンプル受けメンバ３８は、共に移動可能なように連結されているカッティングカニューレ４０及びサンプル受けメンバ３８を有する、フレーム３４に固定して取り付けられる、そしてカッティングカニューレ４０は、フレーム３４に移動可能なように取り付けられている。
【００１５】
サンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０の各々は、例えば、ステンレススティール、チタン、若しくはニッケル合金で形成され得る。フレーム３４は、例えば、プラスティックで形成され得る。
【００１６】
サンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０は、長手軸４２に従って同軸上に配置され、長手軸４２に従ってもう一方に関連して移動可能である。図１に示される本実施形態において、例えば、カッティングカニューレ４０は、ルーメン４４を有する円筒型チューブ及び先端カッティングエッジ４６として形成される。サンプル受けメンバ３８は、カッティングカニューレ４０のルーメン４４に設置されるので、サンプル受けメンバ３８は、カッティングカニューレ４０の内部で長手方向にスライドする。
【００１７】
本実施形態で、サンプル受けメンバ３８は、例えば、近位端４８を有する細長い円筒チューブ、遠位端５０、サンプル受けノッチ５２及び（破線で示される）ルーメン５４のように、形成され得る。本実施形態において、貫通先端５６は、遠位端５０に設置される。長手軸４２は、ルーメン５４の中央部で近位端４８と遠位端５０とを通って延長している。
【００１８】
当業者は、カッティングカニューレ４０の内部でスライド可能なように設置されるサンプル受けメンバ３８を有する一例の実施形態の構成の代わりとして、また、カッタカニューレ４０はサンプル受けメンバ３８のチューブと共にスライド可能なように設置される大きさにされ得ることを理解するだろう。
【００１９】
サンプル受けノッチ５２は、例えば、サンプル受けノッチ５２がサンプル受けメンバ３８の内側６０中に延長するようにサンプル受けメンバ３８の側壁５８の部分（図２Ｂを参照）を機構加工することによって、サンプル受けメンバ３８で形成される。サンプル受けノッチ５２は、サンプル受けメンバ３８の遠位端５０の近くに設置されている。サンプル受けノッチ５２は、生検方法の間に、生検が行われ、組織から採取された組織サンプルを収集するための組織を受ける。サンプル受けノッチ５２は、時々サンプルチャンバとして参照もされ得る。サンプル受けメンバ３８のサンプル受けノッチ５２は、コンジット３２を介して圧力源２８の流体管路に連結される。しかし、生検装置１０の幾つかの設計は、圧力源を活用されない。
【００２０】
図２Ａ、２Ｂ及び３でも参照されるように、サンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０は、サンプル受けノッチ５２はカッティングカニューレによって閉じられている第１の相対的位置６２（図３）と、サンプル受けノッチ５２が開いている第２の相対的位置６４（図２Ａ及び図２Ｂ）と、の間の長手軸４２に従ってもう一方に関連して移動可能であり得る。“閉じた”という用語は、通路が生検プローブ３６の外側の領域からサンプル受けノッチ５２を介してサンプル受けメンバ３８の内側６０への通路が存在しないことを意味する。“開いた”という用語は、生検プローブ３６の外側の領域からサンプル受けノッチ５２を介してサンプル受けメンバ３８の内側６０へ妨げるものない通路が存在することを意味する。
【００２１】
図２Ａ及び２Ｂに示されるように、生検プローブ機構１４の生検プローブ３６は、複数の音波発生機能６６を有する。一例の本実施形態で、複数の音波発生機能６６は、２つの個別の音波発生機能７０、７２を有する第１の音波発生機能６６の一式と、２つの個別の音波発生機能７６、７８を有する第２の音波発生機能７４の一式と、を含む。
【００２２】
一例の本実施形態で、複数の音波発生機能６６の各音波発生機能７０、７２、７６、７８は、超音波画像処理の間の単独の音波発生の反射を形成する少なくとも１つの円周のバンド、即ち、１つの円周のバンド、若しくは代わりにしっかりと間隔を空けられた複数の円周のバンド、の代表である。円周の音波発生バンドは、関連する物質の円周の周囲に、部分的に若しくは完全に拡張し得ることが予測される。また、各円周の音波発生バンドは、円周で連続的な、円周で区切られた若しくは不規則な形状である。各音波発生機能７０、７２、７６、７８は、超音波画像処理の間に周囲の領域のそれからはっきりと区別できる対照的な音波発生の反射を供給するために、例えば、粗面、埋め込まれた材料、機械加工されたパターン及び部分的なコーティング、で形成され得る。
【００２３】
図２Ａ、２Ｂ及び３に示された実施形態で、第１の音波発生機能６８の一式の２つの音波発生機能７０、７２は、長手方向に距離Ｄ１の間隔を空けられ、サンプル受けメンバ３８で設置されている。サンプル受けノッチ５２は、２つの長手方向で間隔を空けられた音波発生機能７０、７２の間に設置されている。即ち、音波発生機能の１つ、例えば、音波発生機能７０は、サンプル受けノッチ５２の末端部に設置され、その他の音波発生機能、例えば、音波発生機能７２は、サンプル受けノッチ５２の近くに設置されている。
【００２４】
第２の音波発生機能７４の一式の音波発生機能７６、７８は、距離Ｄ２で長手方向に間隔を空けられて、カッティングカニューレ４０に設置されている。本実施形態で、第１の音波発生機能６８の一式の２つの長手方向に間隔を空けられた音波発生機能７０、７２の間隔距離Ｄ１は、第２の音波発生機能７４の一式の２つの長手方向に間隔を空けられた音波発生機能７６、７８の間隔距離Ｄ２と同等である。
【００２５】
従って、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０が相対的位置６４にある場合に、図２Ａ及び図２Ｂに示すように、第１の音波発生機能６８の一式は、音波発生機能７４の一式の長手方向へ配列の外であるように、第１の音波機能６８の一式及び第２の音波機能７４の一式の両方は、超音波的に明らかである、即ち、４つの音波発生機能７０、７２、７６、７８は、超音波的に明らかである４つの対応する音波発生の反射を生成する。
【００２６】
反対に、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッタカニューレ４０は、相対的位置６２にある場合に、図３に示されるように、第１の音波機能６８の一式は、第２の音波機能７４の一式の長手方向に配置してあり、音波発生機能の一式の１つ（即ち、２つの音波発生の反射）は、超音波的に明らかである、即ち、２つの音波発生バンドは、超音波的に明らかである。従って、生検プローブ３６は、患者の組織に配置された場合に、超音波画像を見る医師は、サンプル受けノッチ５２がカッティングカニューレ４０の先端カッティングエッジ４６を通り過ぎて遠位に延長されているかに関わらず、サンプル受けメンバ３８のサンプル受けノッチ５２が関心の障害に隣接して配置されたかどうかと、サンプル受けノッチ５２が開いて若しくは閉じられているかどうかと、を容易に判別できる。
【００２７】
他の方法で説明すると、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０が相対的位置６４にある場合に、図２Ａ及び２Ｂに示されるように、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７０は、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６の長手方向への配列の外にあり、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２はカッティングカニューレ４０の音波発生機能７８の長手方向の配列の外にあり、従って４つの音波発生の反射、例えば、バンドは、超音波的に明らかである。
【００２８】
反対に、細長いサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０は相対的位置６２にある場合に、図３に示すように、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７０は、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６の長手方向への配置にあり、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２は、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７８の長手方向への配置にあり、従って２つの音波発生の反射は、超音波的に明らかである。図３を通して音波発生機能７０、７２は、カッティングカニューレ４０で全体を被覆されていることを留意すべきであり、音波発生機能７０、７２は、カッティングカニューレ４０を通してさらに超音波的に明らかであり、従って第１の相対的位置６２（図３）でのサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０の相対的位置は、ただ２つの音波発生バンドが音波発生機能配置に従って超音波的に明らかであることを確認される。
【００２９】
従って、前述された構成の一態様は、サンプル受けメンバ３８に関連する音波機能７０、７２は、サンプル受けノッチ５２の範囲の輪郭を示すこということであり、従って医師は、サンプルノ受けノッチ５２が開口若しくは閉口かに関わらず、サンプル受けメンバ３８に対応するサンプル受けメンバ３８の部分の正確な位置を超音波画像によって知るだろう。
【００３０】
その他の一態様は、インターフェイスの事象でのように、サンプル受けノッチ５２の開いている若しくは閉じている間の生検プローブ３６のサンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０の相対的位置の確認についてである。例えば、カッタカニューレ４０で被覆されているときでさえサンプル受けメンバ３８の音波発生機能７０、７２は超音波的に明らかであるので、以下で詳細に記載するように、サンプル受けメンバ３８のサンプル受けノッチ５２の開口若しくは閉口の経過を追うことができる。
【００３１】
図４乃至７も参照して、例えば、サンプル受けノッチ５２が閉じられ（図３に示された相対的位置）、生検プローブ３６が、生検を取得する目的で患者の組織ＴＳへ、手動若しくは貫通射撃でのいずれか一方で、挿入されることを前提として、生検プローブ３６の位置は、超音波装置８０を適用して観測されている。患者へ生検プローブ機構１４の生検プローブ３６の挿入に備えて、例えば、カッティングカニューレ４０が、サンプル受けメンバ３８の（図１の極めて細い線で示された）サンプル受けノッチ５２を被覆するために長手方向の軸４２に従って線状に移動するようにコントローラ２２及び電機機械的ドライブ２６によって操作される。駆動中に、手動挿入若しくは貫通射撃のいずれか一方によって、使用者が生検部分に組織ＴＳを通る接続通路を設置するために生検プローブ３６の貫通先端５６を適用し得る。
【００３２】
最初に、図４に図式的に示されるように、医師は、図３に示される相対的位置６２での音波発生機能の配置に従って、音波発生機能７０及び音波発生機能７６に関連する単独の合成の音波発生の反射７０、７６として、且つ音波発生機能７２及び音波発生機能７８に関連する第２の単独の合成の音波発生の反射７２、７８として、２つの音波発生の反射、例えば、バンドを観測するだろう。２つの合成の音波発生の反射７０、７６及び７２、７８は、関心の障害ＬＳの位置に関連してサンプル受けノッチ５２を正確に配置するために適用され得る。
【００３３】
従って、カッティングカニューレ４０は、このため、サンプル受けノッチ５２を曝すように長手軸４２に従って線状に移動するために、コントローラ２２及び電気機械的ドライブ２６によって操作される。図５で図式的に示されるように、サンプル受けノッチ５２の開口の間に、例えば、サンプル受けメンバ３８に関連するカッティングカニューレ４０の後退によって、医師は、音波発生機能７０、７２、７６、７８に対応する、４つの音波発生の反射、例えば、バンドを観測するだろう。図５に示されるように、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６は、サンプル受けノッチ５２の音波発生機能７０に近接し、カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６及びサンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２の間の距離Ｄ３は、図６に示されるように、３つの音波発生の反射が観測されるまで減少する。カッティングカニューレ４０の音波発生機能７６は、合成の音波発生機能の反射７２、７６を発生するためにサンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２の、且つ超音波的にも明らかである個別の音波発生機能７０及び７８の長手方向の配置にある場合に、３つの音波発生の反射が、観測される。
【００３４】
その後直ぐに、サンプル受けメンバ３８に関連するカッティングカニューレ４０のさらに相対的移動において、４つの音波発生の反射は、図２Ａ及び図２Ｂに示すように、サンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２に近接されているカッティングカニューレ４０の音波発生機能７６で、且つ、サンプル受けノッチ５２が開き、相対的位置６４が到達されるまで増大するサンプル受けメンバ３８の音波発生機能７２及びカッティングカニューレ４０の音波発生機能７６の間の距離Ｄ４で、再び観測される。
【００３５】
従って、サンプル受けノッチ５２で真空を規定するために圧力源２８を起動し、その結果、サンプル受けノッチ５２へ障害ＬＳの全部若しくは一部分を引き込む。カッティングカニューレ４０は、このとき、図３に示すように、サンプル受けメンバ３８及びカッティングカニューレ４０の相対的位置６２が基準に達せられるまで、サンプル受けノッチ５２を閉じて、例えば、覆って、サンプル受けノッチ５２の組織を断ち切るように長手方向の軸４２に従って線状に移動するためにコントローラ２２及び電気機械的ドライブ２６によって操作される。また、カッティングカニューレ４０は、カッティングカニューレ４０の幾分かの前進で回転若しくは振動、又は独立して操作され得る。カッティング工程の間、即ち、サンプル受けノッチ５２の閉鎖の間に、音波発生機能７０、７２、７６及び７８の位置は、サンプル受けノッチ５２の開口に関連する前述の超音波観測の逆になるだろう。
【００３６】
組織サンプルが収集されており、生検プローブ３６が患者から引き抜かれ得る。
本発明は、実施形態に関連して開示された間に、本発明は、この開示の精神と範囲の中でさらに改良され得る。例えば、幾つかの応用において、サンプル受けメンバ及びカッティングカニューレの各々の単独の音波発生機能を有することが望まれ得る。また、例えば、幾つかの応用において、さらにサンプル受けメンバ及びカッティングカニューレの各々の２つの音波発生機能以上を有することが望まれ得る。この応用は、結果として、幾つかの種類、適用、その一般原則を適用した発明の適合を包含することが予測される。さらに、この応用は、本発明に関連し、添付された請求項の範囲に含まれる技術で既知若しくは従来のやり方であるような本開示からのこのような発展を包含することが予測される。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の相対位置及び第２の相対位置の間の長手軸に従ってもう一方に関連して移動できる、当該長手軸方向を有し、サンプル受けノッチを備えた細長いサンプル受けメンバ及び当該サンプル受けメンバと同軸上に配置されたカッティングカニューレと、
前記細長いサンプル受けメンバに設置された第１の音波発生機能と前記カッティングカニューレに設置された第２の音波発生機能とを含む複数の音波発生機能と、を具備し、
前記第１の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第１の相対位置にある場合に、前記第２の音波発生機能と長手方向に配列にあり、
前記第１の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第２の相対位置にある場合に、前記第２の音波発生機能への長手方向の配列の外にある、生検プローブ装置。
【請求項２】
前記サンプル受けメンバは、近位端及び遠位端を有し、
前記サンプル受けノッチは、前記遠位端に隣接して設置され、
前記複数の音波発生機能は、前記サンプル受けメンバに設置された第３の音波発生機能を含み、
前記第１の音波発生機能及び前記第３の音波発生機能の１つは、前記サンプル受けノッチに遠位部分に設置され、前記第１の音波発生機能及び前記第３の音波発生機能のもう一方は、前記サンプル受けノッチに近位部分に設置される、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項３】
前記複数の音波発生機能は、前記第２の音波発生機能から離れて間隔を空けられた位置で前記カッティングカニューレに設置された第４の音波発生機能を含み、
前記第３の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは前記第１の相対位置にある場合に、前記第４の音波発生機能に長手方向に配列し、
前記第３の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは前記第２の相対位置にある場合に、前記第４の音波発生機能への長手方向の配列の外にある、請求項２の生検プローブ装置。
【請求項４】
前記複数の音波発生機能の各音波発生機能は、少なくとも１つの円周の音波発生バンドを有する、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項５】
前記複数の音波発生機能の各音波発生機能は、超音波画像処理の間に周囲の領域からはっきりと区別できる音波発生の反射を発生させるために、粗面、埋め込み材、機械加工された模様及び微粒子のコーティングの少なくとも１つで形成されている、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項６】
使い捨てユニットとして構成されている、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項７】
前記生検プローブ装置を駆動するためのドライバを有する生検装置に一体化されている、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項８】
サンプル受けノッチがカッティングカニューレによって閉じられる第１の相対的位置と、当該サンプル受けノッチが開いた第２の相対的位置と、の間の長手軸に従ってもう一方に関連して移動できる、長手軸を有し、当該サンプル受けノッチを有する細長いサンプル受けメンバ及び当該サンプル受けメンバと同軸上に配置されたカッティングカニューレと、
前記サンプル受けメンバに設置された第１の長手方向に離された音波発生機能の一式を有し、前記第１の音波発生機能の一式の２つの長手方向に離された音波発生機能の間に配置されている前記サンプル受けノッチを有する複数の音波発生装置と、を具備する超音波画像処理に適用される生検プローブ装置。
【請求項９】
前記カッティングカニューレに設置された第２の音波発生機能の一式を有する前記複数の音波発生機能と、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第１の相対的位置にある場合に、前記第１の音波発生機能の一式は、音波発生機能の一式の１つのみが超音波的に明らかであるように前記第２の音波発生機能の一式の長手方向へ配列され、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第２の相対的位置にある場合に、前記第１の音波発生機能の一式は、前記第１の音波発生機能の一式及び前記第２の音波発生機能の一式の両方が超音波的に明らかであるように前記第２の音波発生機能の一式の長手方向への配列の外にある、請求項８の生検プローブ装置。
【請求項１０】
前記複数の音波発生機能の各音波発生機能は、少なくとも１つの円周の音波発生バンドを有する、請求項９の生検プローブ装置。
【請求項１１】
前記複数の音波発生機能の各音波発生機能は、超音波画像処理の間の周囲の領域からはっきりと区別できる音波発生の反射を発生させるために、粗面、組み込み材、機械加工パターン及び微粒子のコーティングの少なくとも１つで形成されている、請求項８の生検プローブ装置。
【請求項１２】
使い捨てユニットとして構成されている、請求項８の生検プローブ装置。
【請求項１３】
前記生検プローブ装置を駆動するためのドライバを有する生検装置に一体化されている、請求項８の生検プローブ装置。
【請求項１４】
ドライバアセンブリと、
前記ドライバアセンブリに連結された生検プローブ装置と、具備し、
前記ドライバアセンブリは、前記生検プローブ装置を通って駆動操作を提供し、
前記生検プローブ装置は、長手軸と前記サンプル受けメンバと同軸上に配置されたカッティングカニューレを有する細長いサンプル受けメンバとを有し、
前記細長いサンプル受けメンバは、第１の音波発生機能を有し、
前記カッティングカニューレは、第２の音波発生機能を有し、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは、第１の相対的位置及び第２の相対的位置の間の前記ドライバアセンブリの制御によってもう一方に関連して移動でき、
前記第１の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは前記第１の音波発生機能及び前記第２の音波発生機能に関連する単一合成の音波発生の反射の生成を促進する前記第１の相対的位置にある場合に、前記第２の音波発生機能の長手方向に配列され、
前記第１の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは前記第１の音波発生機能及び前記第２の音波発生機能に関連する個別の音波発生の反射の生成を促進する前記第２の相対的位置にある場合に、前記第２の音波発生機能の長手方向の配列の外にある、超音波装置に連結して適用される生検装置。
【請求項１５】
前記サンプル受けメンバは、近位端及び遠位端を有し、
前記サンプル受けノッチは、前記遠位端に隣接して設置され、
前記サンプル受けメンバは、第３の音波発生機能を有し、前記第１の音波発生機能及び前記第３の音波発生機能の１つは、前記サンプル受けノッチに対して遠位に設置され、前記第１の音波発生機能及び前記第３の音波発生機能のもう１方は、前記サンプル受けノッチに対して近位に設置されている、請求項１４の生検装置。
【請求項１６】
前記カッティングカニューレは、前記第２の音波発生機能から離れて間隔を空けられた第４の音波発生機能を有し、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第１の相対的位置にある場合に、前記第３の音波発生機能は、前記第３の音波発生機能及び前記第４の音波発生機能に関連して単一合成の音波発生の反射の生成を促進するために前記第４の音波発生機能の長手方向の配列にあり、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第２の相対的位置にある場合に、前記第３の音波発生機能は、前記第３の音波発生機能及び前記第４の音波発生機能に関連して個別の音波発生の反射の生成を促進するために前記第４の音波発生機能の長手方向の配列の外にある、請求項１５の生検装置。
【請求項１７】
各音波発生機能は、少なくとも１つの円周の音波発生バンドを有する、請求項１４の生検装置。
【請求項１８】
各円周の音波発生バンドは、超音波画像処理の間の周囲の領域からのはっきりと区別できる音波発生の反射を提供するために、粗面、埋め込み材、機械加工パターン及び微粒子のコーティングの少なくとも１つで形成されている、請求項１７の生検装置。
【請求項１９】
使い捨てユニットで構成されている、請求項１４の生検装置。
【請求項２０】
前記サンプル受けノッチは、前記第１の相対的位置にある場合に前記カッティングカニューレによって閉じられ、前記サンプル受けノッチは、前記第２の相対的位置にある場合に開いている、請求項１４の生検装置。
【請求項１】
第１の相対位置及び第２の相対位置の間の長手軸に従ってもう一方に関連して移動できる、当該長手軸方向を有し、サンプル受けノッチを備えた細長いサンプル受けメンバ及び当該サンプル受けメンバと同軸上に配置されたカッティングカニューレと、
前記細長いサンプル受けメンバに設置された第１の音波発生機能と前記カッティングカニューレに設置された第２の音波発生機能とを含む複数の音波発生機能と、を具備し、
前記第１の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第１の相対位置にある場合に、前記第２の音波発生機能と長手方向に配列にあり、
前記第１の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第２の相対位置にある場合に、前記第２の音波発生機能への長手方向の配列の外にある、生検プローブ装置。
【請求項２】
前記サンプル受けメンバは、近位端及び遠位端を有し、
前記サンプル受けノッチは、前記遠位端に隣接して設置され、
前記複数の音波発生機能は、前記サンプル受けメンバに設置された第３の音波発生機能を含み、
前記第１の音波発生機能及び前記第３の音波発生機能の１つは、前記サンプル受けノッチに遠位部分に設置され、前記第１の音波発生機能及び前記第３の音波発生機能のもう一方は、前記サンプル受けノッチに近位部分に設置される、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項３】
前記複数の音波発生機能は、前記第２の音波発生機能から離れて間隔を空けられた位置で前記カッティングカニューレに設置された第４の音波発生機能を含み、
前記第３の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは前記第１の相対位置にある場合に、前記第４の音波発生機能に長手方向に配列し、
前記第３の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは前記第２の相対位置にある場合に、前記第４の音波発生機能への長手方向の配列の外にある、請求項２の生検プローブ装置。
【請求項４】
前記複数の音波発生機能の各音波発生機能は、少なくとも１つの円周の音波発生バンドを有する、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項５】
前記複数の音波発生機能の各音波発生機能は、超音波画像処理の間に周囲の領域からはっきりと区別できる音波発生の反射を発生させるために、粗面、埋め込み材、機械加工された模様及び微粒子のコーティングの少なくとも１つで形成されている、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項６】
使い捨てユニットとして構成されている、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項７】
前記生検プローブ装置を駆動するためのドライバを有する生検装置に一体化されている、請求項１の生検プローブ装置。
【請求項８】
サンプル受けノッチがカッティングカニューレによって閉じられる第１の相対的位置と、当該サンプル受けノッチが開いた第２の相対的位置と、の間の長手軸に従ってもう一方に関連して移動できる、長手軸を有し、当該サンプル受けノッチを有する細長いサンプル受けメンバ及び当該サンプル受けメンバと同軸上に配置されたカッティングカニューレと、
前記サンプル受けメンバに設置された第１の長手方向に離された音波発生機能の一式を有し、前記第１の音波発生機能の一式の２つの長手方向に離された音波発生機能の間に配置されている前記サンプル受けノッチを有する複数の音波発生装置と、を具備する超音波画像処理に適用される生検プローブ装置。
【請求項９】
前記カッティングカニューレに設置された第２の音波発生機能の一式を有する前記複数の音波発生機能と、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第１の相対的位置にある場合に、前記第１の音波発生機能の一式は、音波発生機能の一式の１つのみが超音波的に明らかであるように前記第２の音波発生機能の一式の長手方向へ配列され、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第２の相対的位置にある場合に、前記第１の音波発生機能の一式は、前記第１の音波発生機能の一式及び前記第２の音波発生機能の一式の両方が超音波的に明らかであるように前記第２の音波発生機能の一式の長手方向への配列の外にある、請求項８の生検プローブ装置。
【請求項１０】
前記複数の音波発生機能の各音波発生機能は、少なくとも１つの円周の音波発生バンドを有する、請求項９の生検プローブ装置。
【請求項１１】
前記複数の音波発生機能の各音波発生機能は、超音波画像処理の間の周囲の領域からはっきりと区別できる音波発生の反射を発生させるために、粗面、組み込み材、機械加工パターン及び微粒子のコーティングの少なくとも１つで形成されている、請求項８の生検プローブ装置。
【請求項１２】
使い捨てユニットとして構成されている、請求項８の生検プローブ装置。
【請求項１３】
前記生検プローブ装置を駆動するためのドライバを有する生検装置に一体化されている、請求項８の生検プローブ装置。
【請求項１４】
ドライバアセンブリと、
前記ドライバアセンブリに連結された生検プローブ装置と、具備し、
前記ドライバアセンブリは、前記生検プローブ装置を通って駆動操作を提供し、
前記生検プローブ装置は、長手軸と前記サンプル受けメンバと同軸上に配置されたカッティングカニューレを有する細長いサンプル受けメンバとを有し、
前記細長いサンプル受けメンバは、第１の音波発生機能を有し、
前記カッティングカニューレは、第２の音波発生機能を有し、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは、第１の相対的位置及び第２の相対的位置の間の前記ドライバアセンブリの制御によってもう一方に関連して移動でき、
前記第１の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは前記第１の音波発生機能及び前記第２の音波発生機能に関連する単一合成の音波発生の反射の生成を促進する前記第１の相対的位置にある場合に、前記第２の音波発生機能の長手方向に配列され、
前記第１の音波発生機能は、前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレは前記第１の音波発生機能及び前記第２の音波発生機能に関連する個別の音波発生の反射の生成を促進する前記第２の相対的位置にある場合に、前記第２の音波発生機能の長手方向の配列の外にある、超音波装置に連結して適用される生検装置。
【請求項１５】
前記サンプル受けメンバは、近位端及び遠位端を有し、
前記サンプル受けノッチは、前記遠位端に隣接して設置され、
前記サンプル受けメンバは、第３の音波発生機能を有し、前記第１の音波発生機能及び前記第３の音波発生機能の１つは、前記サンプル受けノッチに対して遠位に設置され、前記第１の音波発生機能及び前記第３の音波発生機能のもう１方は、前記サンプル受けノッチに対して近位に設置されている、請求項１４の生検装置。
【請求項１６】
前記カッティングカニューレは、前記第２の音波発生機能から離れて間隔を空けられた第４の音波発生機能を有し、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第１の相対的位置にある場合に、前記第３の音波発生機能は、前記第３の音波発生機能及び前記第４の音波発生機能に関連して単一合成の音波発生の反射の生成を促進するために前記第４の音波発生機能の長手方向の配列にあり、
前記細長いサンプル受けメンバ及び前記カッティングカニューレが前記第２の相対的位置にある場合に、前記第３の音波発生機能は、前記第３の音波発生機能及び前記第４の音波発生機能に関連して個別の音波発生の反射の生成を促進するために前記第４の音波発生機能の長手方向の配列の外にある、請求項１５の生検装置。
【請求項１７】
各音波発生機能は、少なくとも１つの円周の音波発生バンドを有する、請求項１４の生検装置。
【請求項１８】
各円周の音波発生バンドは、超音波画像処理の間の周囲の領域からのはっきりと区別できる音波発生の反射を提供するために、粗面、埋め込み材、機械加工パターン及び微粒子のコーティングの少なくとも１つで形成されている、請求項１７の生検装置。
【請求項１９】
使い捨てユニットで構成されている、請求項１４の生検装置。
【請求項２０】
前記サンプル受けノッチは、前記第１の相対的位置にある場合に前記カッティングカニューレによって閉じられ、前記サンプル受けノッチは、前記第２の相対的位置にある場合に開いている、請求項１４の生検装置。
【図１】
【図２Ａ】
【図２Ｂ】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２Ａ】
【図２Ｂ】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公表番号】特表２０１３−５１５５６７（Ｐ２０１３−５１５５６７Ａ）
【公表日】平成２５年５月９日（２０１３．５．９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１２−５４６０４１（Ｐ２０１２−５４６０４１）
【出願日】平成２２年１２月１５日（２０１０．１２．１５）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＵＳ２０１０／０６０４８２
【国際公開番号】ＷＯ２０１１／０８７６９１
【国際公開日】平成２３年７月２１日（２０１１．７．２１）
【出願人】（５９１０１８６９３）シー・アール・バード・インコーポレーテッド (106)
【氏名又は名称原語表記】Ｃ Ｒ ＢＡＲＤ ＩＮＣＯＲＰＯＲＡＴＥＤ
【Ｆターム（参考）】
【公表日】平成２５年５月９日（２０１３．５．９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１２月１５日（２０１０．１２．１５）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＵＳ２０１０／０６０４８２
【国際公開番号】ＷＯ２０１１／０８７６９１
【国際公開日】平成２３年７月２１日（２０１１．７．２１）
【出願人】（５９１０１８６９３）シー・アール・バード・インコーポレーテッド (106)
【氏名又は名称原語表記】Ｃ Ｒ ＢＡＲＤ ＩＮＣＯＲＰＯＲＡＴＥＤ
【Ｆターム（参考）】
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