鋳型造型用基準ピンの異常検出方法およびその装置
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する方法およびその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】鋳物を鋳造する手段の一つとして、砂型鋳型を内蔵した上・下鋳枠を型合わせして所定の製品キャビティを形成し、そのキャビィ内に注湯するようにしたものがある。これら上・下鋳枠の相互の位置決めは、上・下鋳枠のいずれか一方に取り付けられたブッシュと、他方の鋳枠に取り付けられた合わせピンとの嵌合により行われている。そして、砂型鋳型の造型における鋳枠の模型板に対する位置決めは、模型板あるいは鋳型造型機に突設された基準ピンを前記ブッシュに嵌入させる方法によって行われている。
【０００３】
【本発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような従来の上・下鋳枠の合わせ方法においては、前記基準ピンが曲がったりして基準ピンに異常が発生した場合、上・下鋳枠内の各砂型鋳型が前記ブッシュあるいは合わせピンに対して位置ずれを起こし、その結果、形成される製品キャビティにおける上・下砂型鋳型間にずれが生じて不良鋳物を誘発するなどの問題があった。本発明は上記の事情に鑑みて為なされたもので、その目的は曲がったりして発生した基準ピンの異常を容易に検出することができる方法およびその装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するために本発明における鋳型造型用基準ピンの異常検出方法は、鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する方法であって、予め前記鋳枠に設けられた目印の所定位置を測定する工程と、予め前記模型板に設けられた目印用模型部によって造型された鋳型の目印の所定位置を測定する工程と、前記測定された鋳枠の目印の所定位置と前記測定された鋳型の目印の所定位置との間の距離を算出する工程と、前記鋳枠の目印の所定位置と前記鋳型の目印の所定位置との間の距離について実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックする工程と、を有することを特徴とする。
【０００５】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例の形態について図１〜図５に基づき詳細に説明する。図１に示すように、図示しない鋳型造型機から送り出された鋳枠１付き砂型鋳型２の上方位置には、非接触反射型光学変位センサとしてのレーザビーム測長器１４をＸＹＺ座標で表示可能な三次元に移動させる装置が設けてある。そして、図２に示すように、前記砂型鋳型２の上面の左右両側部には、図示しない模型板の目印用模型部によって成型された目印２０が設けてあり、この目印２０は、図３に示すように、平面図で見て十字状を成すものであって、図４R>４および図５に示すように横断面がＶ字形状を成す２個の溝で構成してある。また、図２に示すように、鋳枠１の表面にも同様な目印２０ａを刻設してある。
【０００６】また、前記砂型鋳型２の上方には、門型フレーム３の天井部が配設してあり、門型フレーム３の天井部にはＸ座標用の左右移動手段４が装着してある。左右移動手段４においては、門型フレーム３上に敷設されたレール５上に走行台６が走行可能に装架して配設してあり、走行台６には、門型フレーム３に装着された第１サーボモータ式シリンダ７のピストンロッドの先端が連結してあって、第１サーボモータ式シリンダ７の伸縮作動により、走行台６は門型フレーム３の長手方向へ往復移動するようになっている。
【０００７】また、前記左右移動手段４の走行台６上にはＹ座標用の前後移動手段８が装着してあり、前後移動手段８においては、走行台６の移動方向と直交する方向へ延ばして走行台６に装着したリニアガイド機構９に、走行フレーム１０が、走行可能に装着してあり、走行フレーム１０には第２サーボモータ式シリンダ１１のピストンロッドの先端が連結してあって、第２サーボモータ式シリンダ１１の伸縮作動により、走行フレーム１０は前記走行台６の走行方向と直交する方向へ往復移動するようになっている。
【０００８】また、前記走行フレーム１０にはＺ座標用の昇降手段１２としての第３サーボモータ式シリンダ１３が装着してあり、第３サーボモータ式シリンダ１３のピストンロッドの下端には前記レーザー測長器１４が装着してある。レーザー測長器１４にはコントローラ１７が電気的に接続してあり、コントローラ１７は、鋳枠１の目印２０の所定位置と砂型鋳型２の目印２０ａの所定位置との間の距離について実測値と予め設定された設定値との間の偏差の有無をチェックする偏差チェック手段としての機能を有している。また、前記第１〜第３サーボモータ式シリンダ７、１１、１３のサーボモータ７ａ、１１ａ、１３ａには制御盤１８が電気的に接続してあり、この制御盤１８は前記コントローラ１７に電気的に接続されている。
【０００９】次に、このようにして構成した装置を用いて、砂型鋳型２の目印２０の中心部Ｏを所定位置とし、この目印２０の中心部Ｏと前記鋳枠２の目印２０ａの中心部Ｏａとの間の距離について実測値と、予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックする手順について説明する。まず、第１・第２・第３サーボモータ式シリンダ７，１１，１３を適宜伸縮作動させてレーザー測長器１４を砂型鋳型２の目印２０の真上位置に移動させ、砂型鋳型２の目印２０の中央位置を測定する。すなわち、第３サーボモータ式シリンダ１３を適宜伸縮作動させてレーザー測長器１４を所定の高さにし、続いて、第１サーボモータ式シリンダ７を伸長あるいは収縮作動させ、図３においてレーザー測長器１４におけるＹ座標の値を一定値のＹａにしてＸ座標の値を変化させ、Ｙａ値におけるレーザー測長器１４とＶ字型溝の表面との距離を連続的にしてかつ時々刻々と測定する。
【００１０】この測定結果を図示しない記録器により記録してＸＺ座標で表示する。そして、図４に示すように、こうして得られた測定値のうち図４における任意の２つの測定値ａ１、ａ２間に係る関係式を、最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線Ｌ１として導き、同様にして、図４における任意の２つの測定値ａ３、ａ４も、図４に示すように、ＸＺ座標で表示し、この２つの測定値ａ３、ａ４間に係る関係式を最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線Ｌ２として導き、これら２本の回帰線Ｌ１、Ｌ２の交点から、Ｖ字型溝の最深部に係るＡ点の座標（Ｘａ，Ｙａ）を割り出す。
【００１１】上述したと同様にして、図３におけるＶ字型溝の最深部に係るＣ点の座標（Ｘｃ，Ｙｃ）を割り出す。また、前記回帰線Ｌ１、Ｌ２と同様にして、図５におけるＬ３、Ｌ４を導き、これら２本の回帰線Ｌ３、Ｌ４の交点から、Ｖ字型溝の最深部のＢ、Ｄの座標（Ｘｂ，Ｙｂ）、（Ｘｄ，Ｙｄ）を割り出す。次いで、線分ＡＣと線分ＢＤとの交点Ｏを求める。上述したと同様にして、前記鋳枠１の目印２０ａの交点Ｏａの位置を求め、続いて、コントローラ１７により交点Ｏ、Ｏａ間の距離を算出する。次いで、この交点Ｏ、Ｏａ間の距離について実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをコントローラ１７によりチェックする。これら２つの交点間距離の間に偏差が存在する場合する場合には、基準ピンは曲がりなどの異常が生じていることとなる。
【００１２】なお、上記の実施例では、鋳枠１および砂型鋳型２の目印２０ａ、２０に係る交点Ｏａ、Ｏの間の距離について実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックするようにしたが、鋳枠１の２個の目印２０ａ、２０ａの交点Ｏａ、Ｏａを結ぶ線を基準線とし、測定された砂型鋳型２の目印２０ａの所定位置と前記決定された基準線との間に偏差が存在するか否かについてチェックするようにしてもよい。
【００１３】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明は、予め前記鋳枠に設けられた目印の所定位置を測定する工程と、予め前記模型板に設けられた目印用模型部によって造型された鋳型の目印の所定位置を測定する工程と、測定された前記鋳枠の目印の所定位置と測定された鋳型の目印の所定位置との間の距離を算出する工程と、前記鋳枠の目印の所定位置と前記鋳型の目印の所定位置との間の距離について実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックする工程と、を有するから、基準ピンの異常を容易に検出することができるなどの優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例の概略を示す斜視図である。
【図２】図１の主要部（鋳枠、砂型鋳型）の拡大平面図である。
【図３】図２のＥ部拡大平面図をＸＹ座標を用いてい表した図である。
【図４】図３におけるＸ−Ｘ断面と、この断面の表面とレーザー測長器との間の距離をＺＸ座標を用いて表した図である。
【図５】図３におけるＹ−Ｙ断面と、この断面の表面とレーザー測長器との間の距離をＺＹ座標を用いて表した図である。
【符号の説明】
４ 左右移動手段
８ 前後移動手段
１２ 昇降手段
１４ レーザー測長器
１７ 偏差チェック手段
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する方法およびその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】鋳物を鋳造する手段の一つとして、砂型鋳型を内蔵した上・下鋳枠を型合わせして所定の製品キャビティを形成し、そのキャビィ内に注湯するようにしたものがある。これら上・下鋳枠の相互の位置決めは、上・下鋳枠のいずれか一方に取り付けられたブッシュと、他方の鋳枠に取り付けられた合わせピンとの嵌合により行われている。そして、砂型鋳型の造型における鋳枠の模型板に対する位置決めは、模型板あるいは鋳型造型機に突設された基準ピンを前記ブッシュに嵌入させる方法によって行われている。
【０００３】
【本発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような従来の上・下鋳枠の合わせ方法においては、前記基準ピンが曲がったりして基準ピンに異常が発生した場合、上・下鋳枠内の各砂型鋳型が前記ブッシュあるいは合わせピンに対して位置ずれを起こし、その結果、形成される製品キャビティにおける上・下砂型鋳型間にずれが生じて不良鋳物を誘発するなどの問題があった。本発明は上記の事情に鑑みて為なされたもので、その目的は曲がったりして発生した基準ピンの異常を容易に検出することができる方法およびその装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するために本発明における鋳型造型用基準ピンの異常検出方法は、鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する方法であって、予め前記鋳枠に設けられた目印の所定位置を測定する工程と、予め前記模型板に設けられた目印用模型部によって造型された鋳型の目印の所定位置を測定する工程と、前記測定された鋳枠の目印の所定位置と前記測定された鋳型の目印の所定位置との間の距離を算出する工程と、前記鋳枠の目印の所定位置と前記鋳型の目印の所定位置との間の距離について実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックする工程と、を有することを特徴とする。
【０００５】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例の形態について図１〜図５に基づき詳細に説明する。図１に示すように、図示しない鋳型造型機から送り出された鋳枠１付き砂型鋳型２の上方位置には、非接触反射型光学変位センサとしてのレーザビーム測長器１４をＸＹＺ座標で表示可能な三次元に移動させる装置が設けてある。そして、図２に示すように、前記砂型鋳型２の上面の左右両側部には、図示しない模型板の目印用模型部によって成型された目印２０が設けてあり、この目印２０は、図３に示すように、平面図で見て十字状を成すものであって、図４R>４および図５に示すように横断面がＶ字形状を成す２個の溝で構成してある。また、図２に示すように、鋳枠１の表面にも同様な目印２０ａを刻設してある。
【０００６】また、前記砂型鋳型２の上方には、門型フレーム３の天井部が配設してあり、門型フレーム３の天井部にはＸ座標用の左右移動手段４が装着してある。左右移動手段４においては、門型フレーム３上に敷設されたレール５上に走行台６が走行可能に装架して配設してあり、走行台６には、門型フレーム３に装着された第１サーボモータ式シリンダ７のピストンロッドの先端が連結してあって、第１サーボモータ式シリンダ７の伸縮作動により、走行台６は門型フレーム３の長手方向へ往復移動するようになっている。
【０００７】また、前記左右移動手段４の走行台６上にはＹ座標用の前後移動手段８が装着してあり、前後移動手段８においては、走行台６の移動方向と直交する方向へ延ばして走行台６に装着したリニアガイド機構９に、走行フレーム１０が、走行可能に装着してあり、走行フレーム１０には第２サーボモータ式シリンダ１１のピストンロッドの先端が連結してあって、第２サーボモータ式シリンダ１１の伸縮作動により、走行フレーム１０は前記走行台６の走行方向と直交する方向へ往復移動するようになっている。
【０００８】また、前記走行フレーム１０にはＺ座標用の昇降手段１２としての第３サーボモータ式シリンダ１３が装着してあり、第３サーボモータ式シリンダ１３のピストンロッドの下端には前記レーザー測長器１４が装着してある。レーザー測長器１４にはコントローラ１７が電気的に接続してあり、コントローラ１７は、鋳枠１の目印２０の所定位置と砂型鋳型２の目印２０ａの所定位置との間の距離について実測値と予め設定された設定値との間の偏差の有無をチェックする偏差チェック手段としての機能を有している。また、前記第１〜第３サーボモータ式シリンダ７、１１、１３のサーボモータ７ａ、１１ａ、１３ａには制御盤１８が電気的に接続してあり、この制御盤１８は前記コントローラ１７に電気的に接続されている。
【０００９】次に、このようにして構成した装置を用いて、砂型鋳型２の目印２０の中心部Ｏを所定位置とし、この目印２０の中心部Ｏと前記鋳枠２の目印２０ａの中心部Ｏａとの間の距離について実測値と、予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックする手順について説明する。まず、第１・第２・第３サーボモータ式シリンダ７，１１，１３を適宜伸縮作動させてレーザー測長器１４を砂型鋳型２の目印２０の真上位置に移動させ、砂型鋳型２の目印２０の中央位置を測定する。すなわち、第３サーボモータ式シリンダ１３を適宜伸縮作動させてレーザー測長器１４を所定の高さにし、続いて、第１サーボモータ式シリンダ７を伸長あるいは収縮作動させ、図３においてレーザー測長器１４におけるＹ座標の値を一定値のＹａにしてＸ座標の値を変化させ、Ｙａ値におけるレーザー測長器１４とＶ字型溝の表面との距離を連続的にしてかつ時々刻々と測定する。
【００１０】この測定結果を図示しない記録器により記録してＸＺ座標で表示する。そして、図４に示すように、こうして得られた測定値のうち図４における任意の２つの測定値ａ１、ａ２間に係る関係式を、最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線Ｌ１として導き、同様にして、図４における任意の２つの測定値ａ３、ａ４も、図４に示すように、ＸＺ座標で表示し、この２つの測定値ａ３、ａ４間に係る関係式を最小２乗法等の回帰式により１本の回帰線Ｌ２として導き、これら２本の回帰線Ｌ１、Ｌ２の交点から、Ｖ字型溝の最深部に係るＡ点の座標（Ｘａ，Ｙａ）を割り出す。
【００１１】上述したと同様にして、図３におけるＶ字型溝の最深部に係るＣ点の座標（Ｘｃ，Ｙｃ）を割り出す。また、前記回帰線Ｌ１、Ｌ２と同様にして、図５におけるＬ３、Ｌ４を導き、これら２本の回帰線Ｌ３、Ｌ４の交点から、Ｖ字型溝の最深部のＢ、Ｄの座標（Ｘｂ，Ｙｂ）、（Ｘｄ，Ｙｄ）を割り出す。次いで、線分ＡＣと線分ＢＤとの交点Ｏを求める。上述したと同様にして、前記鋳枠１の目印２０ａの交点Ｏａの位置を求め、続いて、コントローラ１７により交点Ｏ、Ｏａ間の距離を算出する。次いで、この交点Ｏ、Ｏａ間の距離について実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをコントローラ１７によりチェックする。これら２つの交点間距離の間に偏差が存在する場合する場合には、基準ピンは曲がりなどの異常が生じていることとなる。
【００１２】なお、上記の実施例では、鋳枠１および砂型鋳型２の目印２０ａ、２０に係る交点Ｏａ、Ｏの間の距離について実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックするようにしたが、鋳枠１の２個の目印２０ａ、２０ａの交点Ｏａ、Ｏａを結ぶ線を基準線とし、測定された砂型鋳型２の目印２０ａの所定位置と前記決定された基準線との間に偏差が存在するか否かについてチェックするようにしてもよい。
【００１３】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明は、予め前記鋳枠に設けられた目印の所定位置を測定する工程と、予め前記模型板に設けられた目印用模型部によって造型された鋳型の目印の所定位置を測定する工程と、測定された前記鋳枠の目印の所定位置と測定された鋳型の目印の所定位置との間の距離を算出する工程と、前記鋳枠の目印の所定位置と前記鋳型の目印の所定位置との間の距離について実測値と予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックする工程と、を有するから、基準ピンの異常を容易に検出することができるなどの優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例の概略を示す斜視図である。
【図２】図１の主要部（鋳枠、砂型鋳型）の拡大平面図である。
【図３】図２のＥ部拡大平面図をＸＹ座標を用いてい表した図である。
【図４】図３におけるＸ−Ｘ断面と、この断面の表面とレーザー測長器との間の距離をＺＸ座標を用いて表した図である。
【図５】図３におけるＹ−Ｙ断面と、この断面の表面とレーザー測長器との間の距離をＺＹ座標を用いて表した図である。
【符号の説明】
４ 左右移動手段
８ 前後移動手段
１２ 昇降手段
１４ レーザー測長器
１７ 偏差チェック手段
【特許請求の範囲】
【請求項１】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する方法であって、予め前記鋳枠に設けられた目印の所定位置を測定する工程と、予め前記模型板に設けられた目印用模型部によって鋳型に成型された目印の所定位置を測定する工程と、前記測定された鋳枠目印所定位置と、前記測定された鋳型目印所定位置との間の距離を算出する工程と、前記鋳枠目印所定位置と、前記鋳型目印所定位置との間の距離について、実測値と、予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックする工程と、を有することを特徴とする鋳型造型用基準ピンの異常検出方法。
【請求項２】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する方法であって、予め前記鋳枠に設けられた少なくとも２個の目印の所定位置を測定する工程と、前記測定された鋳枠の２個の目印の所定位置により基準線を決定する工程と、予め前記模型板に設けられた目印用模型部によって造型された鋳型の目印の所定位置を測定する工程と、測定された鋳型の目印の所定位置と前記決定された基準線との間に偏差が存在するか否かについてチェックする工程と、を有することを特徴とする鋳型造型用基準ピンの異常検出方法。
【請求項３】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する装置であって、鋳型の目印の所定位置を測定する非接触反射型光学変位センサ１４と、この非接触反射型光学変位センサを昇降させる昇降手段１２と、この昇降手段１２および前記非接触反射型光学変位センサを前後方向へ移動させる前後移動手段８と、この前後移動手段８、前記昇降手段１２および前記非接触反射型光学変位センサを左右方向へ移動させる左右移動手段４と、鋳枠の目印の所定位置と鋳型の目印の所定位置との間の距離について実測値と予め設定された設定値との間の偏差の有無をチェックする偏差チェック手段１７と、を備えたことを特徴とする鋳型造型用基準ピンの異常検出装置。
【請求項４】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する装置であって、鋳型の目印の所定位置を測定する非接触反射型光学変位センサ１４と、この非接触反射型光学変位センサを昇降させる昇降手段１２と、この昇降手段１２および前記非接触反射型光学変位センサを前後方向へ移動させる前後移動手段８と、この前後移動手段８、前記昇降手段１２および前記非接触反射型光学変位センサを左右方向へ移動させる左右移動手段４と、測定された鋳型の目印の所定位置が前記鋳枠に設けられた２個以上の目印の所定位置の測定により決定された基準線との間に偏差が存在するか否かについてチェックするチェック手段と、を備えたことを特徴とする鋳型造型用基準ピンの異常検出装置。
【請求項１】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する方法であって、予め前記鋳枠に設けられた目印の所定位置を測定する工程と、予め前記模型板に設けられた目印用模型部によって鋳型に成型された目印の所定位置を測定する工程と、前記測定された鋳枠目印所定位置と、前記測定された鋳型目印所定位置との間の距離を算出する工程と、前記鋳枠目印所定位置と、前記鋳型目印所定位置との間の距離について、実測値と、予め設定された設定値との間に偏差が存在するか否かをチェックする工程と、を有することを特徴とする鋳型造型用基準ピンの異常検出方法。
【請求項２】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する方法であって、予め前記鋳枠に設けられた少なくとも２個の目印の所定位置を測定する工程と、前記測定された鋳枠の２個の目印の所定位置により基準線を決定する工程と、予め前記模型板に設けられた目印用模型部によって造型された鋳型の目印の所定位置を測定する工程と、測定された鋳型の目印の所定位置と前記決定された基準線との間に偏差が存在するか否かについてチェックする工程と、を有することを特徴とする鋳型造型用基準ピンの異常検出方法。
【請求項３】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する装置であって、鋳型の目印の所定位置を測定する非接触反射型光学変位センサ１４と、この非接触反射型光学変位センサを昇降させる昇降手段１２と、この昇降手段１２および前記非接触反射型光学変位センサを前後方向へ移動させる前後移動手段８と、この前後移動手段８、前記昇降手段１２および前記非接触反射型光学変位センサを左右方向へ移動させる左右移動手段４と、鋳枠の目印の所定位置と鋳型の目印の所定位置との間の距離について実測値と予め設定された設定値との間の偏差の有無をチェックする偏差チェック手段１７と、を備えたことを特徴とする鋳型造型用基準ピンの異常検出装置。
【請求項４】 鋳枠の模型板に対する位置を決定する基準ピンの異常を検出する装置であって、鋳型の目印の所定位置を測定する非接触反射型光学変位センサ１４と、この非接触反射型光学変位センサを昇降させる昇降手段１２と、この昇降手段１２および前記非接触反射型光学変位センサを前後方向へ移動させる前後移動手段８と、この前後移動手段８、前記昇降手段１２および前記非接触反射型光学変位センサを左右方向へ移動させる左右移動手段４と、測定された鋳型の目印の所定位置が前記鋳枠に設けられた２個以上の目印の所定位置の測定により決定された基準線との間に偏差が存在するか否かについてチェックするチェック手段と、を備えたことを特徴とする鋳型造型用基準ピンの異常検出装置。
【図１】
【図２】
【図４】
【図３】
【図５】
【図２】
【図４】
【図３】
【図５】
【特許番号】特許第３０７６７４６号（Ｐ３０７６７４６）
【登録日】平成１２年６月９日（２０００．６．９）
【発行日】平成１２年８月１４日（２０００．８．１４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願平７−２８６８５３
【出願日】平成７年１０月６日（１９９５．１０．６）
【公開番号】特開平９−１０３８４４
【公開日】平成９年４月２２日（１９９７．４．２２）
【審査請求日】平成１０年３月１９日（１９９８．３．１９）
【出願人】（５９１２０９７６３）中小企業総合事業団 (2)
【参考文献】
【文献】特開 平４−１１１９４２（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開 昭５１−６４４２２（ＪＰ，Ａ）
【文献】実開 平７−２１２３７（ＪＰ，Ｕ）
【文献】特許３０１１８７６（ＪＰ，Ｂ２）
【登録日】平成１２年６月９日（２０００．６．９）
【発行日】平成１２年８月１４日（２０００．８．１４）
【国際特許分類】
【出願日】平成７年１０月６日（１９９５．１０．６）
【公開番号】特開平９−１０３８４４
【公開日】平成９年４月２２日（１９９７．４．２２）
【審査請求日】平成１０年３月１９日（１９９８．３．１９）
【出願人】（５９１２０９７６３）中小企業総合事業団 (2)
【参考文献】
【文献】特開 平４−１１１９４２（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開 昭５１−６４４２２（ＪＰ，Ａ）
【文献】実開 平７−２１２３７（ＪＰ，Ｕ）
【文献】特許３０１１８７６（ＪＰ，Ｂ２）
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