ＩＣテストシステムのイベント制御装置

【目的】ＩＣテストシステム内で発生する全てのイベントを集中的に管理し、モジュールの可搬性、拡張性、保守性を高めるＩＣテストシステムのイベント制御装置を提供する。
【構成】ＩＣテストシステム内で、第１のモジュール群は非同期にイベントを発生し、イベント管理用モジュール３は第１モジュール群の発生イベントを集中して受け取り、第２のモジュール群はイベント管理用モジュール３により分配された、必要なイベントを受け取る。

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＩＣテストシステム内で非同期に発生するイベント、すなわちテスタハードウェアからの割り込み、ソフトウェア間の通信、ユーザからの要求、デバイス搬送装置からの要求等を、イベントを受け取るモジュールに分配するイベント制御装置についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術によるイベントを発生するモジュールとイベントを受け取るモジュールの接続状態を図３に示す。図３の１Ａ・１Ｂはイベントを発生するモジュール、２Ａ・２Ｂはイベントを受け取るモジュールである。図３では、説明を簡単にするため、モジュールがそれぞれ２つづつの場合について説明する。
【０００３】図３で、モジュール１Ａ・１Ｂは非同期にイベントを発生し、モジュール２Ａ・２Ｂはモジュール１Ａ・１Ｂの発生するイベントのうち、必要とするものをそれぞれ直接受け取って処理を実行する。このため、たとえばデバイステストの開始命令を待っているモジュールはハードウェアからのテストスタート割り込み、ユーザからの要求、ハンドラからのスタート信号などを全て監視する必要がある。また、テスト中断を指示する要求はデバイステストを中止するだけでなく、別のデータ処理中のモジュールにも同時に通達される必要があり、不特定多数のモジュールに通達する必要がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図３の構成では、受け取り手の各モジュールは直接イベントを受け取っているため、受け取り手のモジュールはイベントを受け取るための機構をそれぞれ組み込む必要があった。しかし、イベントは内容により受け取るための機構が異なり、イベントを受け取る各モジュールは受け取るイベントの内容に合わせた設計をする必要がある。たとえば、ハードウェアからの割り込みを待つモジュールと、別のソフトウェアからの同期信号を待つモジュールは、それぞれ違った方法でイベントを待つので、設計に画一性を欠く。
【０００５】また、イベントを発生するモジュールの仕様に変更があった場合に、そのイベントを受け取る全てのモジュールを変更する必要がある。複数のイベントを受け取るモジュールは、必要な全てのイベントのための受け取り機構を用意する必要があり、たとえば、ハードウェアからの割り込みと別のソフトウェアからの同期信号を両方必要とするモジュールは、両方のイベントを処理するための機構を持つ必要がある。
【０００６】また、イベントを発生するモジュールが受け取り側のモジュールに直接イベントを送るために、イベントの新しい受け取りモジュールを追加しようとした場合に、新しい受け取り手のために、イベントを発生するモジュールを変更する必要がある。さらに、イベントの受け取り手が動的に変化する場合、イベントを発生するモジュールが変化する受け手のモジュールを管理をする必要があり、たとえば、テスト中のデバイスのデータを処理しているモジュールは、デバイスのテストが中断されたことを知る必要があるため、テストを中断するような非同期のイベントを発生する場合、イベントが発生した時点でどのモジュールに通知する必要があるかを知る必要がある。
【０００７】この発明は、ＩＣテストシステム内で発生する全てのイベントを集中的に管理し、モジュールの可搬性、拡張性、保守性を高めるＩＣテストシステムのイベント制御装置の提供を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するために、この発明は、ＩＣテストシステム内で、非同期にイベントを発生する複数の第１モジュール群と、イベントを受け取る複数の第２モジュール群と、第１モジュール群の発生イベントを集中して受け取り、第２モジュール群に分配するイベント管理用モジュール３を備える。
【０００９】
【作用】次に、この発明によるＩＣテストシステムのイベント制御装置の構成を図１に示す。図１の３はイベント管理用モジュールであり、イベントを発生するモジュール１Ａ・１Ｂはともにイベント管理用モジュール３に接続され、イベントを受け取るモジュール２Ａ・２Ｂも、ともにイベント管理用モジュールに接続されている。イベント管理用モジュール３は、複数のモジュールからのイベントを集中して受け取り、受け取り手のモジュールに対して必要なイベントを分配する機能を備える。
【００１０】次に、図１の作用を図２を参照して説明する。図２で、イベントを発生するモジュール群１０は、発生するイベントを特定するための既知の名前あるいは管理番号と、イベントを伝達する手段、およびそれに付随するポート番号・割り込みベクトル番号・シグナル番号などの情報をイベント管理用モジュール３に登録する。
【００１１】この時、同一のイベントに対して複数のモジュールが登録を行うことができる。イベント管理用モジュール３は指定されたイベント伝達手段およびその付随情報と、指定された名前あるいは管理番号のイベントとを対応させて登録する。
【００１２】イベントを受け取る複数のモジュール群２０は、受け取ろうとするイベントの既知の名前あるいは管理番号とイベントを受け取るポートの番号をイベント管理用モジュールに登録する。この時、同一のイベントに対して複数のモジュールが登録を行うことができる。
【００１３】イベント管理用モジュール３は、指定されたイベントとポート番号を対応させて同様に登録する。イベントが発生する場合、イベントを発生するモジュールはすでにイベント管理用モジュール３に登録してある手段によりイベントを伝達する。イベント管理用モジュール３は伝達されたイベント伝達手段およびその付随情報からイベントを特定し、イベントを待っている全てのモジュールに、イベントが発生したことを伝える。この時、イベントの発生源とイベントの種類を特定できる情報を付加する。
【００１４】
【発明による効果】この発明によれば、イベントを受け取るモジュールは受け取ろうとするイベントの受け取り機構に依存しない画一的な設計をすることができ、設計品質を向上することができる。また、イベントを発生するモジュールに変更があった場合やイベントを受け取るモジュールを追加する場合など、イベント管理用モジュールを変更するだけでよく、保守性および拡張性に優れる。イベントを受け取るモジュールは、複数のイベントを受け取る必要がある場合も、イベント受け取り用の機構を追加するだけでよく、また、イベントを受け取るモジュールはイベントの本質に影響されないため、イベントの発生機構の異なる別のＩＣテストシステムまたはシミュレータで実行することが容易にでき、可搬性に優れる。また、イベントを発生するモジュールは、イベントを受け取るモジュールの状態を考慮する必要がなくなるため、設計を簡素化することができるので、経済性に優れ、設計品質を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明によるＩＣテストシステムのイベント制御装置の構成図である。
【図２】図１の作用説明図である。
【図３】従来技術によるイベントを発生するモジュールとイベントを受け取るモジュールの接続状態図である。
【符号の説明】
１Ａ・１Ｂモジュール
２Ａ・２Ｂモジュール
３イベント管理用モジュール

【特許請求の範囲】
【請求項１】ＩＣテストシステム内で、非同期にイベントを発生する複数の第１モジュール群と、イベントを受け取る複数の第２モジュール群と、第１モジュール群の発生イベントを集中して受け取り、第２モジュール群に分配するイベント管理用モジュール３を備えることを特徴とするＩＣテストシステムのイベント制御装置。

【図１】