【課題】手動でフィルタの交換を簡単かつ容易に交換することができる安価な蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】蛍光Ｘ線分析装置１００は、Ｘ線管１と、リッド２を有する試料室３と、試料室リークバルブ４１と、蛍光Ｘ線１２を検出する検出手段４を有する分光室５と、分光室リークバルブ５１と、試料室３と分光室５との間の開口１０を開閉する真空シャッタ６と、１次Ｘ線１１をろ波するフィルタ７が交換可能に取り付けられるフィルタ進退手段と、試料交換機２０と、Ｘ線管１、リッド２、真空ポンプ９、試料室リークバルブ４１、分光室リークバルブ５１、真空シャッタ６、フィルタ進退手段８および、試料交換機２０を制御する制御手段３０とを有し、制御手段３０が第１指示に応じて、フィルタ交換準備手順を実行し、第２指示に応じて、前記手順実行前の状態に戻す初期化手順を実行する。 （もっと読む）

【課題】試料を汚染させず、短時間で乾燥させる試料乾燥装置を提供する。
【解決手段】試料乾燥装置１００は、試料Ｓまたは試料Ｓを保持している保持体８、９が内部に収容され、開閉自在の扉１１が閉じられることにより密閉される箱状の乾燥室１と、乾燥室１内を真空にする真空ポンプ２と、乾燥室１内に設けられ、試料Ｓまたは試料Ｓを保持している保持体８、９が載置される載置部３１と、載置部３１の下面３２に直接接続されている加熱器４と、真空ポンプ２および加熱器４を制御する制御手段５とを有する。 （もっと読む）

【課題】パルスモータが通常有している原点センサを利用して簡便に脱調を検出できるパルスモータの制御装置などを提供する。
【解決手段】原点センサ付きのパルスモータ２の制御装置２５であって、まず、パルスモータ２の回転位置において現在位置Ｐｓから最終目的位置Ｐｔまでの間で原点センサが原点を検出すべき位置のうち最後の位置を中間目標位置Ｐｉとし、現在位置Ｐｓから中間目標位置Ｐｉに到達するだけのパルスをパルスモータ２に与えて実際に到達した位置を脱調検出位置Ｐｄとする。そして、その脱調検出位置Ｐｄで原点センサが原点を検出するか否かを調べ、脱調検出位置Ｐｄで原点センサが原点を検出しない場合には、パルスモータ２が脱調したと判断し、脱調検出位置Ｐｄで原点センサが原点を検出した場合には、中間目標位置Ｐｉから最終目的位置Ｐｔに到達するだけのパルスをパルスモータ２に与える。 （もっと読む）

【課題】本発明は厚い窓材を有する撮像窓を備える分析室内の試料に対して、分析室外から分析対象位置を鮮明に撮像できるようにして、分析位置の特定ができなかった試料の分析を可能にするＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】窓材４１を有する撮像窓４０を備える分析室２内でＸ線を試料Ｓに照射して分析を行うＸ線分析装置であって、窓材４１を透過させて試料Ｓを照明する試料照明手段７と、試料Ｓを分析室２の外部から撮像する撮像手段８であって、撮像部８１とフード８２を有し、試料照明手段７からの照射光が、窓材の裏面４１ｂで反射光となって撮像部８１内に入射しないように形成されている撮像手段８とを有し、試料照明手段７がフードを取り囲むように配置され、フードの窓近位部８２ｂの端部が撮像窓４０に近接しているＸ線分析装置。 （もっと読む）

【課題】試料中に含有される指定された元素については、その元素からの蛍光Ｘ線の測定強度と試料の基板中に含有される内標準元素からの蛍光Ｘ線の測定強度との測定強度比をＦＰ法に用いて、精度よく分析できる蛍光Ｘ線分析装置およびその方法を提供する。
【解決手段】試料１３、Ｘ線管１、試料台８、検出手段１０および算出手段１６を備え、ＦＰ法で分析を行い、算出手段１６が、試料のコーティング層１３Ａ中に含有される指定された元素については、その元素からの蛍光Ｘ線の測定強度と試料の基板１３Ｂに含有される内標準元素からの蛍光Ｘ線の測定強度との測定強度比に基づく理論強度スケールへの換算強度比と、指定された元素からの蛍光Ｘ線の理論強度と内標準元素からの蛍光Ｘ線の理論強度との理論強度比が合致するように前記コーティング層の厚さおよび各元素の含有率を算出する蛍光Ｘ線分析装置。 （もっと読む）

【課題】ピーク測定条件で測定したネット強度とバックグラウンド測定条件で測定したバックグラウンド強度との強度比を用いて、測定値の統計変動を小さくし、分析を精度よく行うことができる蛍光Ｘ線分析装置およびその方法を提供する。
【解決手段】試料Ｓに１次Ｘ線２を照射するＸ線源１と、試料Ｓから発生する２次Ｘ線４の強度を測定する検出器８Ａ、８Ｂと、測定条件設定手段９１と、ピーク測定条件で測定したネット強度Ｉｎを記憶するネット強度測定手段９２と、バックグラウンド測定条件で測定したバックグラウンド強度Ｉｂｘを記憶するバックグラウンド強度測定手段９３と、ネット強度Ｉｎとバックグラウンド強度Ｉｂｘとの強度比を演算する強度比演算手段９４と、演算された演算値Ｉｎ／Ｉｂｘにより試料Ｓを定量分析する定量分析手段９５とを有する蛍光Ｘ線分析装置１０。 （もっと読む）

【課題】形状の異なる様々な試料を蛍光Ｘ線分析するために用いられる下面照射蛍光Ｘ線分析用の試料保持具ならびにそれを備えた下面照射型蛍光Ｘ線分析装置を提供することにより、異形試料の分析作業の効率化と費用の削減を図ることを目的とする。
【解決手段】試料の下面に１次Ｘ線を照射して蛍光Ｘ線分析するために用いられる下面照射蛍光Ｘ線分析用の異形試料保持具であって、枠体２と、枠体２に回転自在に支持された支持部３１を一端に有し、試料の下面Ｓａと当接する試料当接部４１および試料の側面を把持する把持部５１を他端に有し、支持部３１から把持部４１に延びるアーム部６１を有する４個の保持アーム１１〜１４とを備え、各試料当接部の試料の下面Ｓａとの当接面が同一平面上に位置するように保持アーム１１〜１４が枠体２に支持部３１〜３４で支持され、試料当接部４１〜４４および把持部５１〜５４によって枠体２の内周よりも内側で試料Ｓを保持する。 （もっと読む）

【課題】微量の液体試料を所定の部位に精度よく試料点滴基板上に点滴乾燥させている全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板および全反射蛍光Ｘ線分析装置ならびに全反射蛍光Ｘ線分析方法を提供し、液体試料の全反射蛍光Ｘ線分析の感度と精度を向上させることを目的とする。
【解決手段】液体試料を点滴乾燥させるための試料点滴基板であって、表面が疎水性であり、鏡面研磨の平面度を有する平面基板１５Ｋと、平面基板１５Ｋの表面の所定の部位に、合成樹脂を溶剤にて所定の濃度に溶解された合成樹脂溶液４０の所定量を点滴乾燥された合成樹脂点滴乾燥痕４１とを有する全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板１５。この全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板１５の合成樹脂点滴乾燥痕４１に試料溶液７０を点滴乾燥させて全反射蛍光Ｘ線分析を行う全反射蛍光Ｘ線分析装置およびその方法。 （もっと読む）

【課題】試料基板交換時に、操作が簡単で、短時間に試料基板の分析面を検出器の受光面に対し常に一定の面間距離に精度よく設定し、正確で精度の良い分析を行うことができ、かつ安価な全反射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】試料基板１５に１次Ｘ線１４を照射するＸ線源２と、１次Ｘ線が照射される試料基板１５より発生する蛍光Ｘ線１６を検出する検出器１７とを備える全反射蛍光Ｘ線分析装置であって、試料基板１５の分析面１５ａに当接する当接部２７と当接部２７を保持する保持部２６とを有する当接手段２５と、試料基板の分析面１５ａを当接部２７に押圧する押圧手段２０とを備え、試料基板の分析面１５ａと当接手段の保持部２６の試料対向面との間隙を１次Ｘ線１４および試料基板で反射する反射Ｘ線１８のＸ線通路Ｌとする全反射蛍光Ｘ線分析装置。 （もっと読む）

【課題】種々の形状の試料に対応した試料ホルダにより、試料より発生する蛍光Ｘ線の強度が最大になるようにＸ線源からの一次Ｘ線の照射位置を自動調整し、常に短時間で高感度、高精度の分析が行える斜入射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】環状の側部１１および底部１３を有する本体１８と、試料載置台１４と、試料載置台１４を支持し、その高さを調整する少なくとも３個の高さ調整具１５を有する試料ホルダ１と、試料ホルダの当接面１０４をセラミックスボール４７に押圧する押圧手段４０と、検出器３７が測定する試料Ｓより発生する蛍光Ｘ線３６の強度に基づき、Ｘ線管位置調整手段５５、分光素子位置調整手段５７および分光素子角度調整手段５８を制御する制御手段５６とを備え、試料Ｓより発生する蛍光Ｘ線３６の強度が最大になるようにＸ線源３からの一次Ｘ線３４の試料Ｓへの照射位置を自動調整する斜入射蛍光Ｘ線分析装置。 （もっと読む）