【課題】従来技術では、部分放電信号を精度良く検出することが難しかった。
【解決手段】インバータ装置と電気負荷を接続する電力線の一部に一端が接続され、インバータ装置の駆動によって発生し、部分放電信号に重畳される高周波ノイズの全部又は一部を除去するための「第一抵抗」２と、第一抵抗の他端と接続され、他のコンデンサと対となって部分放電電圧を分圧して低電圧にするための「第一コンデンサ」３と、第一コンデンサの他端と接続され、インバータ装置の駆動によって発生し、部分放電信号に重畳される高周波ノイズの全部又は一部を除去するための「第二抵抗」４と、第二抵抗の他端と接地との間に接続され、第一コンデンサと対となって前記分圧の機能を果たす「第二コンデンサ」５と、第二抵抗と第二コンデンサの両端にかかる電圧値を検出可能な「電圧検出センサ」６と、を有する「部分放電計測装置」１などを提案する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、Ｓ／Ｎ比が良好な微小信号検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】振動の一種である音を対象とした漏水検出装置１は、漏水音集音板１２と、漏水音を検出して微小音検出信号を出力する第１のピックアップセンサ１３と、第１のピックアップセンサ１３の近傍に配置されると共に、第１のピックアップセンサ１３と異なる感度で漏水音を検出して微小音検出信号を出力する第２のピックアップセンサ１４と、第１のピックアップセンサ１３が出力した微小音検出信号と、第２のピックアップセンサ１４が出力した微小音検出信号とを差動増幅する差動増幅アンプ１５と、フィルタ回路１６と、プリメインアンプ１７とを備える。 （もっと読む）

【課題】従来の放電電荷測定で測定される電荷は見かけの電荷であり、真電荷とは異なるものであった。このため、さらに精度の高い電荷校正装置が求められていた。
【解決手段】以上の課題を解決するため、本発明は、両電極を絶縁性材料からなる部材で支持することにより部分放電の際に外部回路に流れる電流を抑制し、ギャップに流れる電流を発生源とする電磁波を検出することで、真電荷の校正を行うことが可能な電荷校正装置を提案するものである。 （もっと読む）

【課題】被試験巻線の良否を高精度かつ容易に検査できる巻線の検査装置を提供する。
【解決手段】被試験巻線１０の端子間にインパルス電圧を印加するインパルス電圧発生手段２０と、インパルス電圧を印加することにより被試験巻線１０の端子間に発生する振動電圧の波形を検出する端子間電圧検出手段３０と、被試験巻線１０の放電により発生する電磁波を検出する電磁波検出手段４０と、検出された振動電圧の波形信号をＡ／Ｄ変換し、振動電圧波形として記憶する第１のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５１と、検出された電磁波の信号をＡ／Ｄ変換し、電磁波波形として記憶する第２のＡ／Ｄコンバータ・波形メモリ手段５２と、記憶された振動電圧波形及び電磁波波形を表示する表示手段６４を備える。 （もっと読む）

【課題】従来技術により作製された二分子膜は、電気的物性にかかわる膜面積と安定性については制御されていない。
【解決手段】二分子膜の形成装置は、交流電圧印加装置２により生成された任意の周波数を有し電流成分が排除又は極小化された交流電圧を二分子膜７に印加して、二分子膜７の膜面積を可変制御し、その二分子膜７の電気化学的信号による観測及び又は二分子膜の光学的観測を行う観測部４により二分子膜の膜状態を把握して、印加される交流電圧の周波数制御により所望する膜面積を有する二分子膜７を形成維持する二分子膜形成部１を備える。 （もっと読む）

【課題】半導体スイッチング素子の出力側にごく単純な回路素子を付加するだけで、半導体スイッチング素子の特性・性能を向上させたような動作を実現でき、高電圧及び急峻な高電圧パルスを出力することができる、低廉で小型化できる高電圧パルス電源を提供する。
【解決手段】半導体スイッチング素子１の出力側とトランス５の一次側との間に、半導体スイッチング素子１の出力を整流する高速リカバリダイオード４を接続し、スイッチング信号により半導体スイッチング素子１のターンオフが開始して終了するまでに、高速リカバリダイオード４の高速リカバリ動作により半導体スイッチング素子１をスイッチング信号とは無関係にターンオンさせる。 （もっと読む）

【課題】被試験巻線内部の微小な絶縁不良部分を検知することのできる巻線試験装置を提供する。
【解決手段】被試験巻線Ｍにパルス電圧を印加するパルス電圧印加回路２と、被試験巻線Ｍが装着される試験用回路３と、試験用回路Ｍから入力する信号を絶縁し、インピーダンス変換した信号を出力するオペアンプ４３と、オペアンプ４３から出力された信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータ４４とを有し、変換されたデジタル信号が被試験巻線Ｍの状態を判定するために供される巻線試験装置１であって、オペアンプ４３とＡ／Ｄコンバータ４４との間に、抵抗Ｒ１．Ｒ２とコンデンサＣ１とを含み、試験用回路３に生じる共振振動電圧を示す信号を遅延させることにより、被試験巻線Ｍ内部における欠陥に対応したスパイク信号を検出するためのスパイク信号検出用フィルタ回路６０を設けた。 （もっと読む）

【課題】個々の巻線の磁性にバラツキを有していても良否を正確に判定できる巻線良否判定装置を提供する。
【解決手段】巻線良否判定装置５は、被試験巻線にパルス電圧を印加することで被試験巻線の状態の良否を判定するものであって、被試験巻線に印加するパルス電圧の値を算出すると共にパルス電圧の値を所定幅で上昇させる印加パルス電圧算出部５１と、算出された値のパルス電圧が印加された被試験巻線に生じる共振振動電圧の信号の時間変化で表される波形面積を算出する振動波形面積算出部５７と、被試験巻線に印加するパルス電圧を上昇させる前後において、振動波形面積算出部５７で算出された波形面積の値を比較し、上昇後に算出された波形面積の値が上昇前に算出された波形面積の値よりも小さい場合に、被試験巻線に印加されたパルス電圧の値において、被試験巻線の状態を否と判定する良否判定部５８とを備える。 （もっと読む）

【課題】 供試巻線に通電させる電流の波形パターンが変化しても判別結果に影響の及ぶことがなく、供試巻線の良否の判別を正確に行うことができる巻線試験装置を提供する。
【解決手段】 巻線試験装置１は、供試巻線Ｍにインパルス電流を通電させることで、当該供試巻線の状態を判定するものであって、インパルス電流を発生させるインパルス電流発生源３と、電流値を測定する電流値計測手段５と、端子間電圧を測定する端子間電圧計測手段７と、インパルス電流発生源３および供試巻線Ｍからなる回路と等価となる等価回路のパラメータである等価回路定数を推定する等価回路定数推定手段９と、供試巻線Ｍの状態を判定する状態判定手段１１と、を備えた。 （もっと読む）