【課題】従来のハーネス検査は、目視検査による挿嵌位置と挿嵌状態の検査を信号ケーブル毎に手作業により検査しているため、検査時間を要し負担が大きく人為ミスが発生する虞がある。
【解決手段】本発明は、リード端子をコネクタ部の端子孔に挿嵌した際に、対向側から可動軸を有するリニアスケールプローブが配置された検査治具が装着され、予め指定された端子孔に挿嵌した際に、リニアスケールプローブの可動軸の移動距離と電気的な位置検出により、挿嵌位置と挿嵌状態を検査するため、製作作業と検査作業が同時に行われるハーネス検査システムである。 （もっと読む）

【課題】従来のテープキャリアを搬送する搬送機構は、パーフォレーションを利用する搬送機構、ローラ対で挟持して搬送するグリップローラ搬送機構、又はテープ表裏面をクランプして搬送するクランプ機構があるがいずれも、テープ表面に損傷を与えている。
【解決手段】スライド搬送部６Ａ，６Ｂにおける吸着パッド２５，３０が交互にテープ状基板５の裏面を吸着保持したまま、搬送方向の上流から下流に搬送移動する。このような交互の往復移動を連続的に行うことにより、搬送方向上流側から下流側にテープ状基板５を移動させる基板テスタの搬送機構である。 （もっと読む）

【課題】回路パターン検査装置における検査基板を載置するステージ載置面に形成した窪み部分による検査基板との非密着の面積又は容量結合の変化に伴う検出信号の急峻な変化に伴う回路パターンの断線又は短絡の誤判定を防止する。
【解決手段】回路パターン検査装置は、検査用センサ電極を回路パターンに非接触で電気的な容量結合を行い、検出信号により複数の回路パターンの良否判定を行う検査装置であり、回路パターンが形成された検査基板を載置するステージ載置面に形成された溝や穴が各回路パターンに対して同じ結合容量となるように配置する、又は溝や穴のエッジ部分を丸める処理又はテーパー処理を施すことにより、隣り合う回路パターンに対して受信する検出信号の急峻な変化を緩和して、良否判定に用いる検出信号から算出される閾値の変化を検出信号の変化に追従するように補正して誤判定を防止する。 （もっと読む）

【課題】 回路パターンの電気的な短絡と断線の位置を短時間で特定可能な検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】 本発明の回路パターン検査装置は、ガラス基板３上に列状に配設された導電パターン２に検査信号を供給する給電部１２と、その信号を検出するためのセンサ１３と、導電パターン２を含むガラス基板３上の短絡、突起、断線、欠落等を検出するカメラ５０とから概略構成されており、カメラ５０で撮像した測定画像データ上の不良箇所の座標データと、センサ１３で検出されたセンサ出力信号が正常ではない導電パターンの位置情報とを比較して、特定の導電パターン上の不良位置を特定する。 （もっと読む）

【課題】非接触方式の回路パターン検査装置におけるセンサ電極の位置校正は、直線パターンにセンサ電極から信号を印加し、受信した測定結果に基づいて位置校正を行うため、複数回の校正や測定を行う場合がある。
【解決手段】非接触検査を行う回路パターン検査装置の一対のセンサ電極１１の位置校正のために用いられ、基板上の両外側に基準ライン２３，２４が設けられて基板上中央に配置される直線位置校正用配線Ｌ１を線対称に、校正用信号の印加側と受信側が異なるピッチで途中に段差を有する複数の位置校正用配線２２が形成されたセンサ電極位置校正用治具であり、信号を印加しながら位置校正用配線２２を横切るようにセンサ電極１１を走査移動し、検出された信号データから該当する位置校正用配線２２の段差に見合う位置ずれを校正する。 （もっと読む）

【課題】確実かつ容易に回路基板の不良を検出できる回路検査装置を提供する。
【解決手段】少なくとも端部が列状に配設された検査対象パターンを検査する際に、検査対象パターン１５の両端部にパターンと所定距離離間させた状態を保ちつつ検査信号供給電極３５と検査信号検出センサ電極２５とが、パターンを横切るように移動されて、供給電極３５から容量結合により検査対象パターン１５に供給された検査信号を同じく検査対象パターンと容量結合されたセンサ電極で検出し、検出信号値が所定範囲より下がった場合にはパターン断線、検出信号値が所定範囲より大きかった場合にはパターン短絡と判断する。 （もっと読む）

【課題】 被検査品のマイクロクラックを電気的に精度良く検出することができるマイクロクラック検査方法とマイクロクラック検査装置とを提供すること。
【解決手段】 ワークの検査方法は、弾性体１２と、前記弾性体１２上に配設された導体部１１とを備えたワーク１０を検査する方法において、前記弾性体１２を変形させ、前記導体部１１の電気出力値のパラメータに基づいてマイクロクラックの検出ができるようにした。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、通過周波数域での伝送利得がフォワード利得以下の負帰還となるようにループ利得を変更した伝達関数を有し、低雑音特性化を図った帰還形信号処理回路を提供する。
【解決手段】 帰還形信号処理回路は、入力信号に所定の伝達特性を付与し所定利得で出力するフォワード回路、フォワード回路の出力の一部を入力信号に負帰還する帰還回路を有する。フォワード回路は、入力信号が入力されるベース接地トランジスタ、伝達インピーダンス特性を有する回路、電圧出力するエミッタホロアトランジスタを備えた電流制御電圧出力回路である。該電流制御電圧出力回路を、オペアンプを用いて構成することもできる。伝達インピーダンス特性は、ハイパス、ローパス、バンドパスの各種フィルタで実現する。 （もっと読む）

【課題】 導電パターンのオープン／ショートを検出可能な検査装置と検査方法を提供する。
【解決手段】 規則的に配列された導電パターン１５ａ，１５ｂのいずれか一つの一方端のみにプローブ３０の先端部を接触させるとともに、その配線パターンと隣接パターンに跨る大きさを有するセンサ部２０を、それらのパターンから所定距離離間した位置に非接触で位置決めし、それらプローブ３０とセンサ部２０とを同期させて検査対象基板上を移動させる。そして、例えば、正常時の検出信号レベルと異常時の検出対象レベルの差や、検出信号間のレベル変化の傾向をもとにパターンの短絡等を判断する。 （もっと読む）

【課題】 確実かつ容易に回路基板の不良を検出できる回路検査装置を提供する。
【解決手段】 少なくとも端部が列状に配設された検査対象パターンを検査する際に、検査対象パターン１５の両端部にパターンと所定距離離間させた状態を保ちつつ検査信号供給電極３５と検査信号検出センサ電極２５をパターンを横切るように移動させ、供給電極３５から容量結合により検査対象パターン１５に供給された検査信号を同じく検査対象パターンと容量結合されたセンサ電極で検出し、検出信号値が所定範囲より下がった場合にはパターン断線、検出信号値が所定範囲より大きかった場合にはパターン短絡と判断する。 （もっと読む）