説明

株式会社サキコーポレーションにより出願された特許

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【課題】 本発明は、被検査体の外観検査において、拡張性が高くフレキシブルなシステム構成を可能とし、また基板などの被検査体の検査時間を短縮し、または検査精度を向上することを目的とする。
【解決手段】 基板2の外観検査装置200において、複数のスレーブPC140は、基板2の撮像を行う複数の撮像部30と、該複数の撮像部30の各々に対応して設けられ、対応する撮像部30により撮像された基板2の撮像データに基づいて基板2の検査を行う。該複数のスレーブPC140の各々は他のスレーブPC140に、該他のスレーブPC140による検査に必要な共用データを送信する。共用データは、各々のスレーブPC140が対応する撮像部30により撮像された基板2の撮像データから取得してものである。スレーブPC140は各々、他のスレーブPC140から受信した共用データを参照して基板2の外観検査を行う。 (もっと読む)


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